「insulation inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Inspection electrodes 31a are formed on the through-holes 22 by carrying out electrolytic plating by using the conductive layer 12 for a plating electrode, and a wiring layer 12a is formed by peeling off the insulation sheet 21 and by applying a patterning process to the conductive layer 12 100 to provide the inspection table.例文帳に追加

導体層１２をめっき電極にして、電解めっきを行い、貫通孔２２に検査電極３１ａを形成し、絶縁シート２１を剥離して、導体層１２をパターニング処理して配線層１２ａを形成し、検査治具１００を得る。 - 特許庁

A circular insulation layer exposing part 5 concentric to the through hole 1 is provided in the inner layer solid pattern 6 and the diameter of the insulation layer exposing part 5 is set equal to the sum of the diameter of the inspection through hole 1 and the shift allowance A of the inner layer solid pattern 6.例文帳に追加

しかも、内層ベタパターン６にスルーホール１と同心の円からなる絶縁層露出部５を設け、絶縁層露出部５の直径は、検査用スルーホール１の直径に内層ベタパターン６のずれ許容量Ａを加えた大きさとなるようにする。 - 特許庁

An inspection circuit 50 for a semiconductor device inspects a semiconductor device 100 which has an insulation gate G, a first terminal S, and a second terminal D, and controls a current flowing between the first terminal and second terminal according to a voltage between the insulation gate and first terminal.例文帳に追加

半導体デバイスの検査回路５０は、絶縁ゲートＧと第１端子Ｓと第２端子Ｄとを有し、絶縁ゲートと第１端子との間の電圧に応じて第１端子と第２端子との間に流れる電流を制御する、半導体デバイス１００を検査する。 - 特許庁

When an inspection pin Tp of a tester T is inserted into the tester insertion hole 70, the inspection pin Tp is guided so as to come close to a female terminal fitting 30 along the guide surface 72, and pressed against the outside surface of an insulation barrel 34 facing to the entrance 22B to contact it.例文帳に追加

テスタＴの検査ピンＴｐをテスタ挿入口７０に挿入すると、検査ピンＴｐは誘導面７２に沿って雌端子金具３０に接近するように誘導され、入口２２Ｂに臨んでいるインシュレーションバレル３４の外面に押し付けられて接触する。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for circuit board which can precisely judge quality in continuity/insulation performance of a circuit within the inspecting circuit board even if the circuit board has no inside layer conductive plane, in order to promote efficiency of circuit board inspection process.例文帳に追加

検査対象の回路基板が内層導電プレーンを持たなくとも、回路基板内の回路の導通性能、絶縁性能の良否を高速で高精度で判定できる回路基板検査装置及び検査方法を提供し、回路基板検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

To predetermine presence or a absence of voids of an embeddedly formed film formed by electrolytic plating in a groove part provided in an insulation film by a non-destruction inspection, when a wire is formed by a damascene method.例文帳に追加

ダマシン法による配線の形成に際して、絶縁膜に設けられた溝の部分に電解メッキにより形成した埋め込み成膜のボイドの有無を非破壊検査により判定する。 - 特許庁

To provide an insulation cover for preventing damage by birds that can surely prevent a permanent grounding accident due to contact of a nest- building material with an electric wire and can reduce the trouble for maintenance inspection.例文帳に追加

営巣材が電線に接触することによる永久地絡事故を確実に防止でき、保守点検の手数を軽減することができる鳥害防止絶縁カバーを提供する。 - 特許庁

To provide a gas sensor element capable of performing super-insulation inspection correctly at room temperature, securing water repellancy at a high temperature, and performing early activation.例文帳に追加

常温において超絶縁検査を正確に行うことができると共に、高温時において耐被水性を十分に確保することができ、さらには早期活性を図ることができるガスセンサ素子。 - 特許庁

An external connecting pad electrode 31, an alignment mark 32 for inspection and processing, and an alignment mark 33 for the stepper, which are all made of aluminum, are formed on the insulation film 13.例文帳に追加

絶縁膜１３の上には、外部接続パッド電極３１と、検査・加工用アライメントマーク３２と、ステッパ用アライメントマーク３３とが同じアルミニウム合金膜から形成されている。 - 特許庁

Since the highly reliable resistance-portion current and a resistance value can be measured and an insulation-deteriorated phase can be specified, inspection maintenance is enabled in advance by capturing the change of insulation deterioration with time and issuing an alarm, to thereby enable to prevent beforehand an accident.例文帳に追加

信頼性の高い抵抗分電流値及び抵抗値を測定すると共に絶縁劣化相を特定できるので、絶縁劣化の経時的変化を捉え警報を行うことにより、事前に点検保守を可能ならしめて事故を未然に防止することが可能となる。 - 特許庁

To provide a thermosetting resin composition having black appearance, no decrease in insulation and reliability as a printed circuit board, and capable of appearance inspection by fluorescent light inspection type appearance inspector and suitable for manufacturing a laminated sheet, prepreg, laminated sheet, and printed circuit board.例文帳に追加

外観が黒色であり、プリント配線板として絶縁性及ぴ信頼性の低下がなく、かつ蛍光検出型外観検査機による外観検査が可能な積層板を製造するために好適な熱硬化性樹脂組成物、プリプレグ、積層板およびプリント配線板を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a terminal directly connected to equipment which achieves improved maintenance operation by allowing maintenance including inspection of cables (insulation resistance measurements) without separating a power cable from the terminal directly connected to equipment, and to provide an inspection method of the power cable using the terminal directly connected to equipment.例文帳に追加

電力ケーブルを機器直結型端末から切り離すことなくケーブル点検（絶縁抵抗測定）等のメンテナンスができるようにして、メンテナンス作業性の向上を図った機器直結型端末および機器直結型端末を使用した電力ケーブルの点検方法を提供する。 - 特許庁

The ultrasonic inspection device 1 uses the optical fiber 211 for generating the ultrasonic wave and optical fiber 212 for inspection for measurement of the board thickness of the pipe 100, and hence can measure the board thickness of the pipe 100 even while the pipe 100 is covered with the thermal insulation 110.例文帳に追加

この超音波検査装置１は、配管１００の板厚の測定に超音波発生用光ファイバー２１１および検査用光ファイバー２１２を用いるので、配管１００が断熱材１１０で被覆された状態であっても配管１００の板厚を測定することができる。 - 特許庁

This inspection hole device 20 has an outer frame 30 installed in an inner peripheral edge part of an inspection hole, an inner frame 40 stored inside the outer frame 30 and detachably engaging with the outer frame 30, a cover plate 50 fitted inside the inner frame 40, and a thermal insulation body 60 installed on a reverse surface of the cover plate 50.例文帳に追加

点検口装置20は、点検口の内周縁部に取り付けられる外枠30と、外枠30の内側に収められて外枠30と着脱可能に係合する内枠40と、内枠40の内側に嵌め込まれる蓋板50と、蓋板50の裏面に取り付けられる断熱体60とを備える。 - 特許庁

To provide an inspection master, a device inspecting method, and an insulation inspecting apparatus which can deal with a plurality of measuring items, reduce the time and labor required for change-over works by a worker, and enable stable measurements.例文帳に追加

複数の測定項目に対応し，作業者による切り替え作業の手間が少なく，安定した測定が可能な検査マスタ，装置検査方法および絶縁検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a heat insulation device at a floor inspection hole having such an assemblable and disaassemblable structure that can be installed by a simple construction and enabling an effectively usable opening to be increased in size.例文帳に追加

簡単な工事で設置することができる組立分解可能な構造を有すると共に、有効利用できる開口を大きくすることができる床点検口における断熱装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an SOI wafer of a high quality in which a COP is not almost detected by an inspection of an SOI layer after a completion even when an insulation film or the SOI layer of the SOI wafer is formed thin.例文帳に追加

ＳＯＩウエーハの絶縁膜やＳＯＩ層を薄く形成した場合でも、完成後のＳＯＩ層の検査でＣＯＰがほとんど検出されないとともに、高品質のＳＯＩウエーハを提供する。 - 特許庁

An inspection device 20 includes a power source E for applying a voltage to the capacitor 12, a voltmeter 24 for measuring both-terminal voltages of the capacitor 12, and a determination means 26 for determining the quality of the insulation resistance R.例文帳に追加

検査装置２０は、コンデンサ１２に電圧を印加する電源Ｅ、コンデンサ１２の両端電圧を測定する電圧計２４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段２６を備える。 - 特許庁

To provide an automobile further friendly to the earth environment by mounting a vacuum heat insulation material for improving productivity, handling easiness, reliability, functionality, inspection performance, maintenance performance, and recyclability.例文帳に追加

生産性，取扱い性，信頼性，機能性，検査性，メンテナンス性、さらにはリサイクル性の向上を図り、真空断熱材を搭載することによって、地球環境により一層やさしい自動車を提供する。 - 特許庁

One surface of a silicon substrate 21, with desired elements formed thereon, is covered with an insulation film 22; a first layer Al wiring 23 is formed on the one surface and an inspection pattern 24 of a first layer Al film is formed at the same time.例文帳に追加

所望の素子が形成されたシリコン基板２１の絶縁膜２２で覆われた面に第１層Ａｌ配線２３を形成し、同時に第１層Ａｌ膜による検査パターン２４を形成する。 - 特許庁

To provide a test contact allowing accurate electrical measurement/inspection and yield enhancement with the contact accurately put into contact with an electrode of a semiconductor component with an insulation oxide film formed thereon.例文帳に追加

絶縁酸化膜が形成された半導体部品の電極に対してもコンタクトを正確に接触させることができ、正確な電気測定検査が可能で、歩留まりを向上させることのできるテストコンタクトを提供する。 - 特許庁

Based on this inspection, each electrode excluding those elements with the short-circuiting being connected to the first conductive layer through an electric insulation layer 44 contacting the rear side of the support body to manufacture the photoelectric conversion device.例文帳に追加

この検査結果に基づき、短絡があった素子を除く各素子の電極を、支持体の裏面側に接する電気絶縁層４４を介して第１導電体層に接続し、光電変換装置を製造する。 - 特許庁

To prevent generation of pin holes in a vacuum heat insulation material pierced therein from the inside even when its outer wrapping material uses a thin innermost layer, thereby dispensing with a bag breakage inspection process and suppressing temporal gas intrusion due to permeation through the innermost layer.例文帳に追加

真空断熱材の外包材の最内層を薄くした場合にも、内部からの突き刺しピンホールの発生を防止でき、破袋検査工程を不要とし、さらに最内層を透過する経時的なガス侵入を抑制する。 - 特許庁

The fixture for Kelvin inspection arranges two probes 20 in parallel to a socket 10, comprising an insulation material and brings plungers 24 of the two probes 20, together into elastic contact with one hand ball terminal 52 provided on the electronic component 50 to be inspected.例文帳に追加

２本のプローブ２０を、絶縁材からなるソケット１０に平行に配設し、被検査電子部品５０に設けた１つのハンダボール端子５２に２本のプローブ２０のプランジャー２４をともに弾接させるケルビン検査用治具である。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a foundation structure of a housing building and its construction method eliminating the horizontal leveling of the foundation surface, excellent underfloor insulation, facilitating the inspection of an under floor and maintenance and enabling the foundation structure of the housing building to be used as a storage in the under floor or a thermal storage type foundation or the like.例文帳に追加

基礎表面の水平レベル出しが不要、床下断熱性に優れ、床下の点検、メンテナンスが容易、床下収納や蓄熱型基礎等として活用できる住宅建築物の基礎構造及びその構築方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for inspecting circuit boards and capable of satisfactorily absorbing variations in the height of electrodes to be inspected of circuit boards to be inspected and securing insulation between adjacent inspection electrodes even if the electrodes to be inspected have fine pitches.例文帳に追加

被検査回路基板の被検査電極の高さバラツキを良好に吸収し、被検査電極が微細ピッチであっても隣接する検査電極間の絶縁性を確保できる回路基板の検査装置および回路基板の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.例文帳に追加

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a gas-insulated switchgear which is excellent in reliability by reducing the gas processing range in the case where a bus is broken up, and preventing the drop of insulation performance due to foreign matter generated at opening and closing of a earthing switch for inspection on bus side.例文帳に追加

母線を解体する場合のガス処理範囲を減少させると共に、母線側点検用接地開閉器の開閉時に発生した異物による絶縁性能低下を防止して信頼性に優れたガス絶縁開閉装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card and a wafer inspection device wherein good electric connection is attained certainly for each of an electrode to be inspected in the state where insulation required for an adjoining electrode to be inspected is secured, even if an electrode to be inspected of a wafer has a small pitch and has a large variation of a height level.例文帳に追加

ウエハの被検査電極が、ピッチが小さく、高さレベルのバラツキが大きいものでも、隣接する被検査電極に必要な絶縁性が確保された状態で被検査電極の各々に対する良好な電気的な接続が確実に達成されるプローブカードおよびウエハ検査装置の提供。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive connector in which required insulation between electrodes is ensured and required electrical connection is surely achieved even if a pitch of electrodes is minute and arranged in a very dense state, to provide a method of manufacturing it, and to provide an electric inspection device of an adaptor device and a circuit device.例文帳に追加

電極のピッチが微小で高密度に配置されていても、電極間の所要の絶縁性が確保され、所要の電気的接続が確実に達成される異方導電性コネクターおよびその製造方法、アダプター装置並びに回路装置の電気的検査装置を提供する。 - 特許庁

The compound semiconductor device includes an inspection region to measure insulation characteristic of a compound semiconductor substrate which has been formed as a p-type region and an n-type region on the compound semiconductor substrate with an interval between these regions.例文帳に追加

本発明では、化合物半導体基板上にＰ型領域とＮ型領域とを間隔をあけて形成した前記化合物半導体基板の絶縁特性を測定するための検査領域を有することを特徴とする化合物半導体装置を提供するものである。 - 特許庁

To solve problems wherein, although a porous and electrically insulating heat-resistant layer is formed on an electrode plate in order to secure safety of a lithium secondary battery recently, only stabilization of a film thickness by production conditions and inspection of an outer appearance are conducted to secure an electrical insulation property of the heat-resistant layer.例文帳に追加

近年、リチウム二次電池の安全性を確保するために、電極板上に多孔性と電気絶縁性をもつ耐熱層を設けたりしているが、この耐熱層の電気的絶縁性の確保として製造条件による膜厚の安定化や外観の検査しか行われていない。 - 特許庁

The inspection device (2) is equipped with an insulation resistance measuring section (22), a voltage/phase order measuring section (23), a communication terminal (26) exchanging information or measured data with the personal computer (1), a memory device (25) memorizing information and measured data of the check sheets downloaded from the personal computer (1), and a displaying section (24) displaying each information.例文帳に追加

検査装置(2)は、絶縁抵抗測定部(22)と、電圧・相順測定部(23)と、パーソナルコンピュータ(1)と情報または測定データのやり取りをするための通信端子(26)と、パーソナルコンピュータ(1)からダウンロードしたチェックシートの情報と測定データを記憶する記憶装置(25)と、各情報を表示する表示部(24)とを備えている。 - 特許庁

In the motor insulation inspection apparatus 100, a current detection sensor 62 is connected to a stator 2 of a body to be inspected 10, a current detection sensor 63 to a rotor 3, and a current sensor 64 to a case-equivalent electrode 41 having a recession part 411 molded in simulation of the inside shape of a case 4 of the body to be inspected 10.例文帳に追加

モータ絶縁検査装置１００では，被検体１０のステータ２に電流検出センサ６２を，ロータ３に電流検出センサ６３を，被検体１０のケース４の内側形状を模して成形された凹部４１１を有するケース相当電極４１に電流センサ６４をそれぞれに接続している。 - 特許庁

The irradiation position of the electron beam and the mounting base are relatively moved, data obtained by relating the detection result of the emitted secondary electrons to the irradiation position of the electron beam on the wafer W in the entire inspection object region of the wafer W are acquired, and presence of a defect where a part that should be a conductive part becomes an insulation part is inspected based on the data.例文帳に追加

電子線の照射位置と載置台とを相対的に移動させて、ウエハＷの検査対象領域全体において、放出された２次電子の検出結果と、ウエハＷ上の電子線の照射位置とを対応付けたデータを取得し、このデータに基づいて、導電部であるべき部位が絶縁部となっている欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

To provide a method of detecting pin holes and cracks in the FRP layer of an exterior wall comprising a steel sheet, heat insulation layer, and the outermost FRP layer when inspecting the exterior wall of a repository buried in an underground, and to provide an underground repository structured suitable for the method when performing the inspection.例文帳に追加

地下に埋設された収納庫の外壁の検査方法及び当該検査をするのに適した構造の地下収納庫に関し、鉄板と、断熱層と、最外側のＦＲＰ層とを備えた外壁のＦＲＰ層のピンホールやクラックを検出する方法、及び当該方法を実施するのに適した構造の地下収納庫を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid leakage inspection system capable of improving detection accuracy for a liquid leakage, of facilitating cleaning and recovery, and of improving degrees of freedom for setting of an insulation substrate, as well as detecting a trace of liquid leakage from an object to be inspected with no bad effect thereon by bringing a detection electrode into contact therewith.例文帳に追加

液漏れの検出精度を向上でき、かつ、清掃復旧作業を容易にできると共に、絶縁基板の設置の自由度を向上でき、被検査物に悪影響を及ぼすことなく、検出電極と被検査物との接触により被検査物の極微量の液漏れを検出することができる液漏れ検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrical inspection method of a film carrier tape for mounting determinable electronic components, without generating external appearance defects due to discharge breakage until a distance between projections extended between pieces of wiring is a comparatively long wiring pattern so that the insulation fault can be caused by folding a film carrier, and to provide an electrical device and a computer-readable recording medium.例文帳に追加

例えばフィルムキャリアを折り曲げることにより絶縁不良が引き起こされる可能性があるような、配線間に延出する突起間の距離が比較的長い配線パターンまで、放電破壊による外観不良を生じることなく判別可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。 - 特許庁

In the probe substrate for inspection that is provided with a substrate having insulation properties, a specific wiring pattern that is formed on the substrate, and a metal-plated projection that is formed, so that it is electrically connected onto the wiring pattern and comes into contact with the external terminal of a semiconductor device an electronic device, the metal- plated projection is formed through electroless plating method.例文帳に追加

絶縁性がある基板と、前記基板上に形成された所定の配線パターンと、前記配線パターン上に電気的に接続されるように形成され、半導体装置もしくは電子装置の外部端子と接触する金属めっき突起とを備えた検査用プローブ基板であって、前記金属めっき突起は、無電解めっき法で形成された金属めっき突起である。 - 特許庁

The pre-processing for applying electric inspection to the conductor pattern provided on at least one side of an insulation board for a printed wiring board by each piece inspects the conductor pattern by each piece to detect defective conductor patterns, and provides a conductive substance to defective pieces from which the defective conductor patterns are detected in a way of short-circuiting wires configuring each defective conductor pattern.例文帳に追加

プリント配線板用絶縁基板の少なくとも片面に設けられた導体パターンを各ピース毎に電気検査するための前処理に関し、導体パターンを各ピース毎に検査して不良導体パターンを検出し、不良導体パターンが検出された不良ピースについて不良導体パターンを構成する配線間を短絡させるように導電性物質を付与する。 - 特許庁

To easily and surely detect a coating defect of an insulation film coated on an inner circumferential side face of a pipe or tubular container, without using an electrolyte requiring complicated and troublesome work, and a conductive brush or the like having the tendency that the detection of the coating defect is unsure, and having the possibility of damaging a surface of the inside of an inspection object.例文帳に追加

煩雑な作業が必要となる電解質や被覆欠陥の検知が不確実になりやすくかつ検査対象の内部の表面を損傷するおそれのある導電性ブラシなどを用いることなく、管または管状の容器の内周側面にコーティングされた絶縁膜の被覆欠陥を簡易かつ確実に検知する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, the mentioned time is set much longer than the time constant of the RC product of a resistance component generated owing to the insulation characteristic defect and the capacity of a bit line, variation in bit line potential due to a leak can be detected by a sense amplifier at the inspection time, and the reliability defect having the resistance component can be detected as a defect in the beginning.例文帳に追加

この結果、セルプレート線信号（ＣＰ）活性化からセンスアンプ信号（ＳＡ）活性化までの時間が、絶縁特性不良によって発生する抵抗成分とビット線容量のＲＣ積の時定数より十分に長く設定され、リークによるビット線電位の変動を検査時にセンスアンプにより検出することが可能となり、抵抗成分を有する信頼性不良を初期に不良として検出することができる。 - 特許庁