TP-Aとは 意味・読み方・使い方

The diffusion of the impurity can be suppressed first by keeping a semiconductor wafer W at a preheating temperature Tp satisfying a relation of tp≤847,500 exp (-0.01365 Tp) for a preheating time tp.例文帳に追加

まずｔｐ≦847500exp(-0.01365Ｔｐ)を満たすような予備加熱温度Ｔｐに半導体ウェハーＷを予備加熱時間ｔｐ維持することによって不純物の拡散を抑制することができる。 - 特許庁

150≤Ip×Tp≤320...(1) where Ip: Peak current (A), Tp: Peak time (msec).例文帳に追加

１５０ ≦ Ｉｐ×Ｔｐ ≦ ３２０ ・・・・・ （１） ただし、Ｉｐ：ピーク電流（Ａ）、Ｔｐ：ピーク時間（ｍｓｅｃ） - 特許庁

With respect to n-channel MOS transistors TN-A and TN-B and p-channel MOS transistors TP-A and TP-B comprising the level shift circuit, p-channel MOS transistors TP-C and TP-D comprising a current mirror circuit are formed at the drain of the p-channel MOS transistors TP-A and TP-B.例文帳に追加

レベルシフト回路を構成するＮチャネルＭＯＳトランジスタＴＮ‐Ａ、ＴＮ‐ＢおよびＰチャネルＭＯＳトランジスタＴＰ‐Ａ、ＴＰ‐Ｂにおいて、ＴＰ‐Ａ、ＴＰ‐Ｂのドレインにカレントミラー回路を構成するＰチャネルＭＯＳトランジスタＴＰ‐ＣおよびＴＰ‐Ｄを構成する。 - 特許庁

The voltage control circuit includes a transformer primary side TP and a transformer secondary side TS.例文帳に追加

トランス一次側ＴＰと、トランス二次側ＴＳと、を含む。 - 特許庁

In the COF substrate, the shape of a corner portion connecting the test pad TP to the wiring L is formed so that the arc of a circle having a larger distance as a radius, out of a distance between adjacent test pads TP and TP and a distance between the wiring L and the test pad TP, may contact the test pad TP and a straight line portion of the wiring L.例文帳に追加

テストパッドＴＰと配線Ｌをつなぐコーナー部の形状を、隣接するテストパッドＴＰ，ＴＰ間の間隔または配線ＬとテストパッドＴＰとの間の間隔のうちの、大きい方の間隔を半径とする円の円弧が、テストパッドＴＰ及び配線Lの直線部と接するように、形成したことを特徴とする。 - 特許庁

However, a period of the data pulses is selected as TP<TP2<TP4.例文帳に追加

但し、データパルスの周期はＴＰ＜ＴＰ２＜ＴＰ４である。 - 特許庁

A ratio (Tp/Tc) is not less than 0.021 and not more than 0.40.例文帳に追加

比（Ｔｐ／Ｔｃ）が０．０２１以上０．４０以下である。 - 特許庁

Then, a timing pulse TP is obtained from the logical product of outputs C2 and C3 obtained from the second and third flip flops 3 and 4.例文帳に追加

第２、第３のフリップフロップ３、４から得られる出力Ｃ2及びＣ3の論理積より、タイミングパルスTPを得る。 - 特許庁