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Defect Classificationとは 意味・読み方・使い方
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「Defect Classification」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 99件
DEFECT CLASSIFICATION EQUIPMENT, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
欠陥分類装置、欠陥分類方法およびプログラム - 特許庁
DEFECT CLASSIFICATION SYSTEM, IMAGE FORMING APPARATUS AND DEFECT CLASSIFICATION PROGRAM例文帳に追加
欠陥分類システム、画像形成装置および欠陥分類プログラム - 特許庁
DEFECT CLASSIFICATION DICTIONARY TEACHING APPARATUS例文帳に追加
欠陥分類辞書教示装置 - 特許庁
DEFECT CLASSIFICATION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加
欠陥分類システム及び欠陥分類装置及び画像撮像装置 - 特許庁
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「Defect Classification」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 99件
DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND ITS COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
欠陥分類装置、欠陥分類方法およびそのコンピュータ・プログラム - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加
欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁
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