defect clustersとは 意味・読み方・使い方

To provide a manufacturing method of a silicon single crystal ingot which method does not allow point defect clusters to occur in the drawing direction of the ingot and can draw the ingot comprising a perfect region substantially over its entire length and diameter.例文帳に追加

インゴットの引上げ方向に点欠陥の凝集体が発生せず、ほぼ全長及び全径にわたりパーフェクト領域となるシリコン単結晶インゴットを引上げる。 - 特許庁

To provide a method for growing a silicon single crystal which is capable of growing a silicon single crystal which contains a region wherein dislocation clusters are produced and is reduced in the density of the LPD (light point defect) having a size of 0.09 μm or more.例文帳に追加

転位クラスター発生領域を含み、０．０９μｍ以上のＬＰＤ密度が少ないシリコン単結晶を育成できるシリコン単結晶の育成方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, when a recording track is formed in the shape of spiral and a cluster is a fixed length, effects by the same defect appears cyclically for every several clusters within the range of several tracks.例文帳に追加

このため、記録トラックがスパイラル状に形成され且つクラスタ長が固定とされる場合、数トラックの範囲内では、同じ欠陥による影響は数クラスタごとに周期的に現れる。 - 特許庁

The target defect clusters classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups, so that the groups of substrates classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups (S105).例文帳に追加

未知グループに分類された対象欠陥クラスタを複数のサブグループに分類することによって、未知グループに分類された基板群を複数のサブグループに分類する（Ｓ１０５）。 - 特許庁

In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.例文帳に追加

情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁

The defect is formed in units of clusters, and formed by mixing at least, any two patterns among a first pattern formed by turns for each cluster, a second pattern formed of continuous clusters, and a third pattern formed of a specific part of an optical disk for each track or for each several tracks.例文帳に追加

欠陥は、クラスタ単位で形成され、かつ、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成される。 - 特許庁

The temporary defect management area includes a portion where a defective area list 1 constituted of clusters succeeded in first writing, a defective area list 2 constituted of clusters succeeded in writing retrial, and a defective area list 3 included in a last cluster including the structure information area are arrayed in order.例文帳に追加

この一時的欠陥管理領域には、最初の書き込みで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(1)、書き込みのリトライで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(2)、前記構造情報を含む最後のクラスタに含まれる欠陥領域リスト(3)の順に並べられている部分がある。 - 特許庁

A silicon single crystal ingot 20 which does not include COP (Crystal-Originated Particles) and dislocation clusters is grown by a CZ (Czochralski) method, a silicon wafer is cut out from the silicon single crystal ingot 20, and the silicon wafer as-grown is subjected to reactive ion etching, thus a grown-in defect including silicon oxide is actualized as a projection on an etching face.例文帳に追加

ＣＺ法によってＣＯＰ及び転位クラスタを含まないシリコン単結晶インゴット２０を育成し、シリコン単結晶インゴット２０からシリコンウェーハを切り出し、as-grown状態のシリコンウェーハに対して反応性イオンエッチングを施すことにより、酸化シリコンを含むgrown-in欠陥をエッチング面上の突起として顕在化させる。 - 特許庁