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orientation measurementとは 意味・読み方・使い方
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「orientation measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 108件
POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT DEVICE AND POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
位置姿勢計測装置及び位置姿勢計測方法 - 特許庁
To provide an X-ray crystal orientation measuring device capable of simultaneously performing plane orientation measurement and notch orientation measurement by one measurement.例文帳に追加
面方位測定とノッチ方位測定の両方を1つの測定で同時に行うことができるようにする。 - 特許庁
AUXILIARY APPARATUS FOR ORIENTATION MEASUREMENT AND METHOD FOR ORIENTATION MEASURING PROCESSING例文帳に追加
方位測定補助装置及びそれを用いた方位測定加工方法 - 特許庁
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「orientation measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 108件
METHOD FOR CALCULATING CORRECTION FACTOR IN ORIENTATION MEASUREMENT例文帳に追加
配向測定における補正係数算出方法 - 特許庁
CORRECTION FACTOR CALCULATING METHOD IN MEASUREMENT OF ORIENTATION AND ORIENTATION MEASURING METHOD例文帳に追加
配向測定における補正係数算出方法および配向測定方法 - 特許庁
CORRECTION COEFFICIENT CALCULATION METHOD IN ONLINE ORIENTATION MEASUREMENT AND ORIENTATION MEASURING METHOD例文帳に追加
オンライン配向測定における補正係数算出方法および配向測定方法 - 特許庁
METHOD FOR DYNAMIC MEASUREMENT OF POSITION AND ORIENTATION OF WHEEL例文帳に追加
ホイールの位置および方向を動的に測定する方法 - 特許庁
An orientation measurement value acquisition unit 145 acquires an orientation measurement value measured by an orientation sensor 110 mounted on the image capturing apparatus 120, and an orientation measurement value measured by a sensor 115 mounted on the physical object 125.例文帳に追加
姿勢計測値取得部145は、撮像装置120に装着された姿勢センサ110による姿勢計測値、現実物体125に装着されたセンサ115による姿勢計測値を取得する。 - 特許庁
To execute both orientation measurement performed by irradiating the end face with an X-ray such as cut face measurement and orientation measurement performed by irradiating the peripheral face with the X-ray such as the orientation measurement of an orientation flat face by a common measuring device without requiring relocation of a measuring object.例文帳に追加
カット面測定のようにX線を端面に照射して行う方位測定と、オリフラ面の方位測定のようにX線を外周面に照射して行う方位測定とを、共通の測定装置によって、しかも測定物の着け変えを行う必要なく、実行できるようにする。 - 特許庁
To implement both an orientation measurement carried out by emitting X-rays to the end face of a monocrystal like a cut-face measurement, and an orientation measurement carried out by emitting X-rays to the outer peripheral surface of a monocrystal like an orientation measurement of an oriflam surface by using a common measuring apparatus and without exchanging an object under measurement.例文帳に追加
カット面測定のようにX線を単結晶体の端面に照射して行う方位測定と、オリフラ面の方位測定のようにX線を単結晶体の外周面に照射して行う方位測定とを、共通の測定装置によって、しかも測定物の着け変えを行う必要なく、実行できるようにする。 - 特許庁
MEASUREMENT RESULT DISPLAY METHOD FOR SUPER-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT, AND ANALYZING METHOD OF ORIENTATION BASED ON ULTRA-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT例文帳に追加
超小角X線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角X線散乱測定に基づく配向度の解析方法 - 特許庁
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