projection microscopeとは 意味・読み方・使い方

This optical deflection unit 5 is insertably and removably disposed within the optical paths of the vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope, by which the inexpensive vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope capable of making the sharp color observation can be achieved without providing the space and mechanical structure for arranging the phase plate 2, such as the sharp color plate.例文帳に追加

この光偏向ユニット５を落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡の光路内外に挿脱可能に備えることで、安価で、鋭敏色板等の位相射板を配置するスペースやメカ構造を設けることなく鋭敏色観察を行うことが可能な落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡を達成することができる。 - 特許庁

A light irradiation section 1 irradiates a mask M with exposure light, and an alignment microscope 10 receives a projection image of a mask mark MAM, and position coordinates of the projection image are found and stored.例文帳に追加

光照射部１からマスクＭに露光光を照射し、アライメント顕微鏡１０でマスクマークＭＡＭの投影像を受像し、その位置座標を求め記憶する。 - 特許庁

A body case 11 has a dovetail part 11a connected to the microscope, and a projection optical system 12 is fixed inside the case 11.例文帳に追加

本体ケース１１は、顕微鏡に接続するアリ部１１ａを有し、内部に投影光学系１２を固定している。 - 特許庁

To provide a light ray coupling device which is simply and versatilly applicable to a projection lighting optical path of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の投射照明光路に対して、簡単に、そして多面的に適用できる光線連結装置の提供である。 - 特許庁

To realize a biaxial stage for microscope with thin shape, low vibration, corresponding to speed up of a stage and in which the floor projection area does not change even when it is arranged in a chamber.例文帳に追加

薄型で低振動及びステージ高速化に対応し、チャンバ内に配置しても床投影面積の変化しない顕微鏡用２軸ステージを実現する。 - 特許庁

Light from a light source section 1 is introduced in a primary microscope body 3 through a single-fiber unit 2 having a single fiber and an image at an exit end of the fiber unit 2 is projected on the pupil of an objective 33 through a projection lens 31 in the primary microscope body 3.例文帳に追加

光源部１からの光を単芯のコアを有するファイバ単芯２により顕微鏡本体３に導入し、顕微鏡本体３内の投影レンズ３１によりファイバ２の出射端の像を対物レンズ３３の瞳に投影する。 - 特許庁

The transmission electron microscope having a sample arranged in a sample surface 9b includes an objective lens 11b, a first projection lens system 61b having a plurality of lenses, a second projection lens system 63b having a plurality of lenses, and the analysis system.例文帳に追加

試料面内９ｂに試料を配置した透過電子顕微鏡は、対物レンズ１１ｂ、複数のレンズを有する第１投影レンズ系６１ｂ、複数のレンズを有する第２投影レンズ系６３ｂ、および分析系を備える。 - 特許庁

A projection aligner 10 is provided with an atomic force microscope(AFM) for measuring a latent image formed on a wafer W with a surface-reaction type resist subjected to silylation as a photosensitive layer.例文帳に追加

露光装置１０に、表面反応型のシリル化レジストを感光層としたウエハＷに形成される潜像を計測するため、原子間力顕微鏡ＡＦＭを備える構成とした。 - 特許庁