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ion beam inducedとは 意味・読み方・使い方
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「ion beam induced」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 7件
The induced multiple bud callus is bombarded with heavy ion beam.例文帳に追加
次に、多芽体カルスに重イオンビームを照射した。 - 特許庁
To provide a method for removal of contaminants during electron beam-induced deposition, ion beam-induced deposition and laser beam-induced deposition, or a method for real-time inhibition of oxidation during deposition or etching of oxidizable materials.例文帳に追加
電子ビーム誘起付着、イオンビーム誘起付着およびレーザビーム誘起付着中に汚染物を除去する、または酸化可能な材料の付着またはエッチング中の酸化をリアルタイムで抑制する方法を提供する。 - 特許庁
The size of induced electromotive force generated in this coil accompanied with changes of the magnetic field caused by fluctuations of the ion beam current is measured, and based on the size of the induced electromotive force measured by an induced electromotive force measuring part, temporary fluctuations of the ion beam current is detected.例文帳に追加
イオンビーム電流の変動に起因した磁界の変化にともなう、このコイルに発生する誘起起電力の大きさを計測し、誘起起電力計測部によって計測された誘起起電力の大きさに基き、イオンビーム電流の一時的変動を検知する。 - 特許庁
To suppress a diffusion phenomenon of a metal element induced by oxygen ion beam irradiation as primary ion used for analysis, concerning a depth direction analysis method of the metal element and a secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加
金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。 - 特許庁
The thickness and radius of the coil spring 3 formed by a focused ion beam-induced chemical vapor growth method is controlled by controlling the raw material gas pressure or beam current to be supplied, or scanning direction and speed to have an appropriate spring constant.例文帳に追加
適切なバネ定数になるように、供給する原料ガス圧やビーム電流や走査方向・速度を制御して集束イオンビーム誘起化学気相成長で作製するコイルバネ3の太さ及び半径を制御する。 - 特許庁
The method for creating the mutant of the cyclamen plant comprises irradiating a tuber of the cyclamen plant with heavy ion beam, raising the tuber in which irradiation treatment was carried out and selecting a cyclamen plant in which mutation was induced.例文帳に追加
シクラメン植物の塊茎に重イオンビームを照射し、当該照射処理をした塊茎を育成し、変異の生じたシクラメン植物を選抜することを特徴とする、シクラメン植物の突然変異株の作出方法。 - 特許庁
Prior to defect correction of the isolated pattern 4, a conductive coil spring 3 is formed at a tip of a conductive probe 1 by a focused ion beam-induced chemical vapor-grown metal film, and the probe is conducted with the isolated pattern 4 while reducing the contact pressure with a mask pattern by the coil spring 3 to prevent the charge-up.例文帳に追加
導電性プローブ1の先端に集束イオンビーム誘起化学気相成長金属膜で導電性のコイルバネ3を形成し、コイルバネ3によりマスクパターンとの接触圧を緩和して孤立したパターン4との導通を取り、チャージアップが起こらないようにしてから集束イオンビーム7で欠陥修正を行う。 - 特許庁
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