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JP5528596B2 - Wafer storage device and wafer storage / immersion method - Google Patents
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JP5528596B2 - Wafer storage device and wafer storage / immersion method - Google Patents

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JP5528596B2 JP2013062378A JP2013062378A JP5528596B2 JP 5528596 B2 JP5528596 B2 JP 5528596B2 JP 2013062378 A JP2013062378 A JP 2013062378A JP 2013062378 A JP2013062378 A JP 2013062378A JP 5528596 B2 JP5528596 B2 JP 5528596B2
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Description

本発明は、半導体製造工程で用いられるウェーハを収納するためのウェーハ収納装置、及び、半導体製造工程で用いられるウェーハを収納・浸漬するためにウェーハ収納・浸漬方法に関するものであり、特に、ウェーハ収納治具を傾斜させる傾斜手段にて収納治具を傾斜させ昇降手段により収納治具を水槽内に鉛直方向に下降させ浸漬させるウェーハ収納装置、及び、収納治具を水槽水に相対的に鉛直方向に下降させてウェーハを所定量浸させる工程を含むウェーハ収納・浸漬方法に関するものである。   The present invention relates to a wafer storage apparatus for storing a wafer used in a semiconductor manufacturing process, and a wafer storage / immersion method for storing / immersing a wafer used in a semiconductor manufacturing process. A wafer storage device in which the storage jig is inclined by the inclination means for inclining the jig and the storage jig is vertically lowered and immersed in the water tank by the elevating means, and the storage jig is relatively vertical to the water in the water tank. The present invention relates to a wafer storage / immersion method including a step of lowering to a predetermined level and immersing a predetermined amount of the wafer.

従来より、半導体製造工程において、ウェーハをカセットに収納して水没させながら搬送又は洗浄する技術が広く知られている。例えば、ウェーハの洗浄から乾燥までを行う自動洗浄装置において、デバイス形成面を所定の角度だけ傾斜させて洗浄乾燥を行い、所定の角度だけ傾斜させた状態で処理槽間を搬送する技術が開示されている(例えば、特許文献1参照)。また、ウェーハのパターン面を水平方向に対して所定の角度だけ保持した状態で処理槽から引き上げる搬送装置も開示されている(例えば、特許文献2参照)。さらに、洗浄時においてウェーハとカセットが接触するのを防止するために、ウェーハを傾けて浸漬させる技術が開示されている(例えば、特許文献3参照)。また、ウェーハを傾斜させながらエッチングや純水洗浄やIPA乾燥などを行う技術も開示されている。このようにしてウェーハを傾斜させることにより、ウェーハの裏面からのダストの回り込みやウォータマークの発生を抑止することができる(例えば、特許文献4参照)。また、ウェーハの洗浄・乾燥時において、ウェーハを垂直姿勢から水平姿勢に変換する機構に関する技術も開示されている(例えば、特許文献5参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, a technique for transporting or cleaning a wafer while storing it in a cassette and submerging it is widely known. For example, in an automatic cleaning apparatus that performs wafer cleaning to drying, a technique is disclosed in which a device forming surface is inclined by a predetermined angle to perform cleaning and drying, and the wafer is transported between processing tanks while being inclined by a predetermined angle. (For example, refer to Patent Document 1). In addition, a transfer device is also disclosed that pulls up from the processing tank while holding the pattern surface of the wafer at a predetermined angle with respect to the horizontal direction (see, for example, Patent Document 2). Furthermore, in order to prevent the wafer and the cassette from coming into contact with each other during cleaning, a technique in which the wafer is tilted and immersed is disclosed (for example, see Patent Document 3). Also disclosed is a technique for performing etching, pure water cleaning, IPA drying and the like while tilting the wafer. By tilting the wafer in this way, it is possible to suppress the wraparound of dust and the generation of watermarks from the back surface of the wafer (see, for example, Patent Document 4). Further, a technique related to a mechanism for converting a wafer from a vertical posture to a horizontal posture at the time of cleaning and drying of the wafer is also disclosed (for example, refer to Patent Document 5).

特許第3167765号公報Japanese Patent No. 3167765 特開平6−314677号公報Japanese Patent Laid-Open No. 6-314677 特開平8−64570号公報JP-A-8-64570 特開平10−177988号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-177988 特許第3066986号公報Japanese Patent No. 3066986

しかしながら、特許文献1に開示された自動洗浄装置は、ウェーハのデバイス形成面がウェーハ収納治具と接触するのを防ぐためになされたものであり、一枚ごとに研磨したウェーハを順次カセット内に収納して、それらを水没させるようなカセット機構に使用することはできない。さらに、一枚一枚研磨されてきたウェーハをカセット内に収納する場合を想定できたとしても、毎回カセットを全て水中に浸漬したり、水から持ち上げたりする必要があり、カセットを動作する工程も一つ一つのウェーハ収納に対して、無駄に動作することが多くなる。その結果、余分なパーティクルなどを水中に持ち込むことが多くなり、水槽内が汚れるほか、スループットも非常に悪くなる。   However, the automatic cleaning apparatus disclosed in Patent Document 1 is designed to prevent the device forming surface of the wafer from coming into contact with the wafer storage jig, and stores the polished wafers one by one in the cassette. Therefore, it cannot be used for a cassette mechanism that submerges them. Furthermore, even if it can be assumed that the wafers that have been polished one by one are stored in the cassette, it is necessary to immerse all the cassettes in the water every time or lift them from the water, and the process of operating the cassettes In many cases, each wafer is stored unnecessarily. As a result, extra particles are often brought into the water, the inside of the water tank becomes dirty, and the throughput becomes very poor.

また、特許文献2に開示された搬送装置は、ウェーハのパターン面を所定の角度だけ傾けて処理槽から引き上げるため、ウォータマークの発生を抑止することはできるが、一枚ずつ処理されたウェーハをロボット搬送して収納することはできない。さらにウェーハを傾斜させて引き上げたとしても、ウェーハをほぼ鉛直に立てた状態で水没させるため、水の力によってウェーハのパターン形成面がスロットに当たりウェーハ収納治具と接触するおそれがある。また、複雑な内部機構を有するため、研磨したウェーハをカセット内に収納するときウェーハがウェーハ収納治具の部品に接触するおそれがある。   In addition, since the transfer device disclosed in Patent Document 2 tilts the pattern surface of the wafer by a predetermined angle and pulls it up from the processing tank, it is possible to suppress the generation of watermarks. The robot cannot be transported and stored. Further, even if the wafer is tilted and pulled up, the wafer is submerged in a substantially vertical state, so that the pattern forming surface of the wafer may hit the slot and come into contact with the wafer storage jig due to the force of water. Moreover, since it has a complicated internal mechanism, when a polished wafer is stored in a cassette, the wafer may come into contact with components of the wafer storage jig.

また、特許文献3に開示された技術は、ウェーハを傾斜させることでカセット内のウェーハの姿勢を安定化させることはできるが、研磨後のウェーハを簡単に収納できるカセットの機構とはなっていない。さらに、特許文献4 の技術においては、ウォータマークの発生を抑止することはできるが、研磨後のウェーハを簡単に省スペースで収納したり、スラリーを完全に洗い流したり、別に設けられた搬送機構からウェーハを取り出して簡単にカセットに収納する場合等において、構造上の難点がある。また、特許文献5の技術においては、ウェーハを垂直姿勢から水平姿勢に変換する機構が複雑になったり、ウェーハを姿勢変換させるためのスペースが多くなってスペース利用率が悪くなったり、ウェーハの姿勢変換において大きく稼動する部分が多いために槽内が汚れやすくなるなどの問題がある。また、一枚ずつ処理されて搬送されるウェーハに対して、少ない移動量で安全かつ効率的に水没させる構造になっていない。さらに、ウェーハ上に存在する水がどのような状態で後退していくかについての考慮もなされていない。   Moreover, although the technique disclosed in Patent Document 3 can stabilize the posture of the wafer in the cassette by tilting the wafer, it is not a cassette mechanism that can easily store the polished wafer. . Furthermore, in the technique of Patent Document 4, generation of a watermark can be suppressed, but the polished wafer can be easily stored in a small space, the slurry can be completely washed away, or a separate transfer mechanism can be used. There is a structural problem when taking out a wafer and storing it in a cassette easily. Further, in the technique of Patent Document 5, the mechanism for converting the wafer from the vertical posture to the horizontal posture becomes complicated, the space for changing the posture of the wafer increases, and the space utilization rate deteriorates. There is a problem that the inside of the tank tends to become dirty because there are many parts that operate greatly in conversion. Further, the wafers processed and transferred one by one are not structured to be submerged safely and efficiently with a small amount of movement. Further, no consideration is given to how water existing on the wafer is retreated.

すなわち、従来のウェーハ収納装置は、研磨後のウェーハを湿潤状態で保管する場合の機構において、以下に述べるようなさまざまな問題がある。すなわち、カセットを垂直に立てて水槽から持ち上げる場合、ウェーハがスロット内でそれぞれ前後に傾いたり、隣り合うウェーハ同士の傾きが逆になったりして、水の張力によって隣り合うウェーハがこすれ合うことがある。また、カセットを水槽から持ち上げる際に、水がウェーハから流れ落ちるときにライン状の縞をつくって流れ落ちるため、ウェーハに縞状のラインができる。ウェーハを少し傾けて略垂直にした場合でも、同様に、水が流れ落ちるラインが縞状にでき、それがウォータマークとして残るために、後工程の洗浄でも取り除くことができず、ウェーハの表面に汚れが残る場合がある。   That is, the conventional wafer storage apparatus has various problems as described below in the mechanism for storing the polished wafer in a wet state. That is, when the cassette is set up vertically and lifted from the water tank, the wafers may be tilted back and forth in the slot, or the tilt of adjacent wafers may be reversed, and the adjacent wafers may be rubbed due to water tension. is there. Further, when the cassette is lifted from the water tank, when the water flows down from the wafer, a line-shaped stripe is formed and flows down, so that a striped line is formed on the wafer. Similarly, even when the wafer is tilted slightly vertically, the line where water flows down can be striped, and it remains as a watermark. May remain.

また、カセットを垂直に立てた状態でロボットによってウェーハをカセット内に収納する場合はウェーハが様々な方向に傾いてしまい、カセット内に収納されたウェーハの間隔を十分にとることができない。そのため、ウェーハを挿入する際にロボットのアームが隣のウェーハに当たってしまうおそれがある。また、カセットを略垂直に立てた場合は、一枚のウェーハを挿入してから次のウェーハを挿入するまでの間、ウェーハを水槽内に水没させなければならないが、ウェーハの径が300mm程度ある場合、ウェーハを水没させるために毎回ウェーハを300mm近く昇降させる必要がある。このときのウェーハの昇
降距離が長いために作業時間のロスとなる。また、全てのウェーハが繰り返し水槽から上げ下げされるため、そのたびにウェーハ上に水の流れ落ちるラインが形成され、結果的に、非常に多くのウォータマークが形成されるおそれがある。
In addition, when a wafer is stored in the cassette by a robot with the cassette standing upright, the wafer is inclined in various directions, and a sufficient interval between the wafers stored in the cassette cannot be secured. Therefore, when inserting a wafer, there is a possibility that the arm of the robot may hit an adjacent wafer. Further, when the cassette is set up substantially vertically, the wafer must be submerged in the water tank between the time when one wafer is inserted and the time when the next wafer is inserted, but the diameter of the wafer is about 300 mm. In this case, it is necessary to raise and lower the wafer by about 300 mm every time in order to submerge the wafer. At this time, since the ascending / descending distance of the wafer is long, work time is lost. In addition, since all the wafers are repeatedly raised and lowered from the water tank, a line where water flows down is formed on the wafer each time, and as a result, a very large number of watermarks may be formed.

また、ウェーハの収納されたカセットを水平にして持ち上げる場合、水の表面張力によってウェーハがスロット内を泳いでしまい、ウェーハ表面がカセットの案内溝に擦れてウェーハに傷がつくおそれがある。さらに、カセットを水平にして、ウェーハを水槽の中にそのまま沈める場合、ウェーハ上に水が浸入する方向がウェーハごとに様々な方向となるためにウェーハがカセットの案内溝で泳ぐおそれがある。また、ウェーハ表面がカセットと擦れて粉末が蔓延して水槽の水が汚れるおそれがある。さらに、ウェーハ上に存在する水の切れ方が、どの部分から水が流れ落ちるか定まらないため、ウェーハによってウォー
タマークが様々な状態となる。特にカセットの案内溝とウェーハとの間に水が溜まる部分ができ、そこにウォータマークが形成されることがある。また、ウェーハを引き上げた際に、ウェーハの裏面に付着した水が下側に存在するウェーハ上に流れ落ちて、その水が下側に存在するウェーハにウォータマークを形成するおそれがある。
In addition, when the cassette containing the wafer is horizontally lifted, the wafer may swim in the slot due to the surface tension of water, and the wafer surface may be rubbed against the guide groove of the cassette and the wafer may be damaged. Furthermore, when the cassette is leveled and the wafer is submerged in the water tank as it is, the direction in which water enters the wafer varies in various directions for each wafer, which may cause the wafer to swim in the guide groove of the cassette. In addition, the wafer surface may rub against the cassette and the powder may spread to contaminate the water in the water tank. Further, since it is not determined from which part the water flows out on the wafer, the water mark is in various states depending on the wafer. In particular, there is a portion where water accumulates between the guide groove of the cassette and the wafer, and a watermark may be formed there. Further, when the wafer is pulled up, the water adhering to the back surface of the wafer may flow down onto the lower wafer, and the water may form a watermark on the lower wafer.

従って、研磨後にウェーハを水没させて搬送する工程において、ウェーハの表面にウォータマークが形成されたり傷がついたりすることのないようにするために解決すべき技術的課題が生じてくるのであり、本発明はこの課題を解決するウェーハ収納装置、ウェーハ収納方法・浸漬方法を提供することを目的とする。   Therefore, in the process of submerging and transporting the wafer after polishing, a technical problem to be solved arises so that a watermark is not formed or scratched on the surface of the wafer. It is an object of the present invention to provide a wafer storage device, a wafer storage method and a dipping method that solve this problem.

本発明は上記目的を達成するために、提案されたものであり、請求項1記載の発明は、 研磨後のウェーハを収納するウェーハ収納装置において、前記ウェーハを水平に収納するための収納治具と、前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させる傾斜手段と、前記収納治具に収納されたウェーハを水没させるための水槽と、傾斜手段により所定の角度に傾斜角度が維持された前記収納治具を、前記所定の角度に傾斜角度が維持された状態のままで前記水槽内の水に対して相対的に昇降させる昇降手段と、を備え、前記昇降手段により前記収納治具を、前記傾斜手段により前記収納治具の前部のウェーハ収納開口部を高い位置にして前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させた状態で、前記水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させて、前記ウェーハを所定量浸漬させることを特徴とするウェーハ収納装置を提供するものである。 The present invention has been proposed in order to achieve the above object, and the invention according to claim 1 is a storage jig for storing the wafer horizontally in a wafer storage apparatus for storing a polished wafer. An inclination means for inclining the storage jig by a predetermined angle, a water tank for immersing the wafer stored in the storage jig, and the storage jig in which the inclination angle is maintained at a predetermined angle by the inclination means. Elevating means for elevating and lowering the tool relative to the water in the water tank while maintaining the inclination angle at the predetermined angle, and the elevating means causes the storage jig to be inclined. With the means, the wafer storage opening at the front of the storage jig is placed at a high position and the storage jig is tilted by a predetermined angle, and is lowered in the vertical direction relative to the water in the water tank. And The present invention provides a wafer storage apparatus in which a predetermined amount of wafer is immersed.

このような構成によれば、ウェーハを所定の角度傾斜角度を維持させながら水中に浸漬させることを通じて、水に対する浮力によってウェーハが浮き上がることを防ぎ、ウェーハがカセットの周囲に接触してウェーハが傷つくおそれがない。
また、水の表面張力によってウェーハの外周部において水が盛り上がり、その水がいっきにウェーハの表面にランダムな方向から侵入するおそれもあるが、それも回避することができ、ウェーハの状況を安定させることができる。
さらに、昇降手段が、収納治具を所定の傾斜角度に傾斜角度を維持した状態で水槽から上昇させることにより、ウェーハ表面から水が緩やかに滑り落ちる。
According to such a configuration, the wafer is prevented from being lifted by buoyancy against water by immersing the wafer in water while maintaining a predetermined angle of inclination, and the wafer may come into contact with the periphery of the cassette and damage the wafer. There is no.
In addition, the surface tension of the water swells at the outer periphery of the wafer due to the surface tension of the water, and there is a possibility that the water may invade the wafer surface from a random direction at the same time. Can do.
Further, the lifting means raises the storage jig from the water tank while maintaining the tilt angle at a predetermined tilt angle, so that water gently slides down from the wafer surface.

請求項2記載の発明は、ウェーハを収納し、水の中に浸漬するウェーハ収納・浸漬方法において、収納治具にウェーハを水平に収納させる工程と、前記ウェーハを収納した前記収納治具を、ウェーハ収納開口部を高い位置にして所定の角度だけ傾斜させる工程と、前記所定の傾斜角度を維持した前記収納治具を、水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させて前記ウェーハ所定量浸漬させる工程と、を含むことを特徴とするウェーハ収納・浸漬方法を提供するものである。   The invention according to claim 2 is a wafer storage / immersion method for storing a wafer and immersing it in water, the step of horizontally storing the wafer in a storage jig, and the storage jig storing the wafer, The step of inclining the wafer storage opening by a predetermined angle with a high position, and the storage jig maintaining the predetermined inclination angle is lowered relative to the water in the water tank in the vertical direction. And a step of immersing a predetermined amount of the wafer.

このようなウェーハ収納・浸漬方法によれば、ウェーハ収納開口部を高い位置にして所定の角度だけ傾斜させ、その浸漬状態を維持しつつ水槽水に相対的に鉛直方向に下降させてウェーハを所定量浸漬するから、水に対してウェーハが緩やかに浸入、浸漬することができて作業を円滑に進めることができる。
また、上昇する際には、ウェーハ表面から水が緩やかに後退する。これにより、ウェーハとウェーハの間に水が残ることはなく、水切れよくウェーハを取り出すことができる。また、収納治具上昇時、ウェーハが開口部の方へ泳ぎ出し、収納治具からウェーハがこぼれて落ち出すこともない。
According to such a wafer storage / immersion method, the wafer storage opening is inclined at a predetermined angle with a high position, and while maintaining the immersion state, the wafer is lowered in a vertical direction relative to the aquarium water to place the wafer. Since the fixed immersion is performed, the wafer can be gradually infiltrated and immersed in the water, so that the operation can proceed smoothly.
Moreover, when it rises, water slowly recedes from the wafer surface. Thereby, water does not remain between wafers, and the wafer can be taken out with good water drainage. Further, when the storage jig is raised, the wafer swims toward the opening, and the wafer does not spill out from the storage jig.

請求項1記載の発明によれば、傾斜手段により前記収納治具の前部のウェーハ収納開口部を高い位置にして前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させ、前記昇降手段により前記収納治具を前記水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させ、前記ウェーハを所定量浸漬させるので、ウェーハを所定の角度傾斜角度を維持させながら水中に浸漬させることを通じて、水に対する浮力によってウェーハが浮き上がることを防ぎ、ウェーハがカセットの周囲に接触してウェーハが傷つくおそれを防止する。
また、水の表面張力によってウェーハの外周部において水が盛り上がり、その水がいっきにウェーハの表面にランダムな方向から侵入するおそれもあるが、それも回避することができ、ウェーハを安定的にさせ、ウェーハ収納作業を円滑に進めることができる。
さらに、水槽から収納治具を上昇させる際に、ウェーハ表面から水が緩やかに流れ落ちるため、ウェーハ表面にウォータマークが形成されることを抑制することができる。
According to the first aspect of the present invention, the storage jig is inclined by a predetermined angle with the wafer storage opening at the front portion of the storage jig being at a high position by the tilting means, and the storage jig is tilted by the lifting means. The wafer is lowered in the vertical direction relative to the water in the water tank and the wafer is immersed in a predetermined amount. Prevents the wafer from coming into contact with the periphery of the cassette and damaging the wafer.
In addition, the surface tension of the water swells at the outer periphery of the wafer, and there is a risk that the water may invade the wafer surface from a random direction all at once, which can also be avoided, making the wafer stable, The wafer storage operation can be carried out smoothly.
Further, when the storage jig is raised from the water tank, water gently flows down from the wafer surface, so that formation of a watermark on the wafer surface can be suppressed.

請求項2記載の発明によれば、収納治具にウェーハを水平に収納させる工程と、前記ウェーハを収納した前記収納治具を、ウェーハ収納開口部を高い位置にして所定の角度だけ傾斜させる工程と、前記所定の傾斜角度を維持した前記収納治具を、水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させて前記ウェーハ所定量浸漬させる工程を含むところ、ウェーハ収納開口部を高い位置にして所定の角度だけ傾斜させながら該所定の傾斜角度を維持した前記収納治具を、水槽水に対し相対的に鉛直方向に下降させてウェーハを所定量浸漬させるので、ウェーハを所定の角度傾斜角度を維持させながら水中に浸漬させることを通じて、水に対する浮力によってウェーハが浮き上がることを防ぎ、ウェーハがカセットの周囲に接触してウェーハが傷つくという虞を回避することができる。
また、収納治具のウェーハ収納開口部を高くするように収納治具を傾斜させて水槽内に浸漬水没させているので、ウェーハを水槽から出す際、水切れがよくウォータマークを生じるおそれも防がれる。
According to the second aspect of the present invention, the step of horizontally storing the wafer in the storage jig, and the step of inclining the storage jig storing the wafer by a predetermined angle with the wafer storage opening at a high position. And the step of lowering the storage jig maintaining the predetermined inclination angle in a vertical direction relative to the water in the water tank and immersing the wafer in a predetermined amount, the wafer storage opening is located at a high position. The storage jig that maintains the predetermined inclination angle while being inclined by a predetermined angle is lowered in a vertical direction relative to the aquarium water so that the wafer is immersed in a predetermined amount, so that the wafer is inclined at a predetermined angle. By immersing in water while maintaining the angle, the wafer is prevented from floating due to buoyancy against water, and the wafer contacts the periphery of the cassette and damages the wafer. It is possible to avoid the possibility that say.
In addition, since the storage jig is tilted so as to raise the wafer storage opening of the storage jig and immersed in the water tank, it is possible to prevent the water from draining well and causing a watermark when the wafer is taken out of the water tank. It is.

ウェットカセットステーションに構成された本発明の実施例に係るウェーハ収納装置を示し、(a)は平面図、(b)は側面図。The wafer storage apparatus which concerns on the Example of this invention comprised in the wet cassette station is shown, (a) is a top view, (b) is a side view. 図1に示すウェーハ収納装置において研磨後のウェーハをウェーハ収納装置のカセットに収納する状態を示す解説図。The explanatory view which shows the state which accommodates the wafer after grinding | polishing in the cassette of a wafer storage apparatus in the wafer storage apparatus shown in FIG. ウェーハが収納されたウェーハ収納装置を傾斜させて水槽内に水没させる状態を示す解説図。Explanatory drawing which shows the state which inclines the wafer storage apparatus in which the wafer was accommodated in the water tank. 本発明のウェーハ収納装置において、ウェーハのロボット搬送から水没までの処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of the process from the robot conveyance of a wafer to submergence in the wafer storage apparatus of this invention. 水没の際のウェーハに対する水等の挙動を説明するための図であり、(a)はウェーハを水平状態で水中に浸漬させる態様を示す図、(b)はウェーハを(a)の状態で水中に浸漬させたとき水の表面張力によってウェーハの外周部で水が盛り上がる状態を示す図、(c)はウェーハを傾斜させながら水没させる状態を示す図、(d)はウェーハを(c)の状態で水中に浸漬させたとき水がウェーハの表面部分に緩やかに浸入することを示す図。It is a figure for demonstrating the behavior of the water etc. with respect to the wafer at the time of submergence, (a) is a figure which shows the aspect which immerses a wafer in water in a horizontal state, (b) is underwater in the state of (a). The figure which shows the state which water rises in the outer peripheral part of a wafer by the surface tension of water when it is immersed in (c), the figure which shows the state which immerses the wafer while inclining, (d) is the state of (c) The figure which shows that water permeates the surface part of a wafer gradually when it is made to immerse in water by. 本発明のウェーハ収納装置において、水没状態からウェーハを引き上げて取り出すまでの処理の流れを示すフローチャート。The wafer storage apparatus of this invention WHEREIN: The flowchart which shows the flow of a process until it pulls out a wafer from a submerged state. 水没状態から引き上げる際のウェーハに対する水等の挙動を説明するための図であり、(a)はウェーハを傾斜状態で引き上げる態様を示す図、(b)はウェーハを(a)の状態で引き上げるとき水がウェーハ表面上を緩やかに滑り落ちることを示す図、(c)はウェーハを水平状態で引き上げる態様を示す図、(d)はウェーハを(c)の状態で引き上げたときウェーハ上に水がのるとともに上下のウェーハ間に水が溜まることを示す図、(e)はウェーハを急傾斜状態で引き上げる態様を示す図。It is a figure for demonstrating the behavior of the water etc. with respect to a wafer at the time of pulling up from a submerged state, (a) is a figure which shows the aspect which pulls up a wafer in an inclined state, (b) is when pulling up a wafer in the state of (a) The figure which shows that water slides down on the wafer surface gently, (c) is a figure which shows the aspect which pulls up a wafer in a horizontal state, (d) is water on a wafer when a wafer is pulled up in the state of (c). The figure which shows that water accumulates between upper and lower wafers, and (e) is a figure which shows the aspect which pulls up a wafer in a steep inclination state.

本発明は、ウェーハの研磨後に該ウェーハを水没させて搬送する工程において、ウェーハの表面にウォータマークや傷がつかないようにするという目的を達成するために、研磨後のウェーハを収納するウェーハ収納装置において、ウェーハを収納するための収納治具と、ウェーハが挿入された収納治具を所定の角度だけ傾斜させる傾斜手段と、収納治具に収納されたウェーハを水没させるための水槽と、傾斜手段によって傾斜された収納治具を水槽内の水に対して相対的に昇降させる昇降手段とを備え、傾斜手段により前記収納治具の前部のウェーハ収納開口部を高い位置にして前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させ、前記昇降手段により前記収納治具を前記水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させ、前記ウェーハを所定量浸漬させることを通じて、ウェーハを収納するウェーハ収納装置を提供することによって実現したものである。   The present invention provides a wafer storage for storing a polished wafer in order to prevent the wafer surface from being damaged or damaged in a process of submerging and transferring the wafer after polishing the wafer. In the apparatus, a storage jig for storing the wafer, a tilting means for tilting the storage jig in which the wafer is inserted by a predetermined angle, a water tank for submerging the wafer stored in the storage jig, and a tilt Lifting and lowering means for raising and lowering the storage jig inclined by the means relative to the water in the aquarium, and the storage jig with the wafer storage opening at the front portion of the storage jig placed at a high position by the inclination means. The tool is inclined by a predetermined angle, the storage means is lowered in a vertical direction relative to the water in the water tank by the lifting means, and the wafer is immersed in a predetermined amount. Through Rukoto is obtained by achieved by providing a wafer housing unit for housing the wafer.

以下、本発明の好適な実施例を図1乃至図7に従って詳述する。図1に於いて、符号1はウェットカセットステーションを示し、同図(a)は平面図、同図(b)は側面図である。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a wet cassette station, wherein FIG. 1 (a) is a plan view and FIG. 1 (b) is a side view.

図1に於いて、ウェットカセットステーション1は2組のウェーハ収納装置2が備え付けられており、何れのウェーハ収納装置2も同じ構成である。ウェーハ収納装置2は、研磨後のウェーハ3を収納するためのカセット(ウェーハ収納治具)4と、カセット4に収納されたウェーハ3を水没させるための水槽5と、ウェーハ3を一枚ずつカセット4に収納するための搬送機構6と、カセット4を水槽5の水に対して昇降させるカセット昇降機構(昇降手段)7と、カセット4を所定の角度だけ傾斜させる傾斜手段8とを有する。   In FIG. 1, the wet cassette station 1 is provided with two sets of wafer storage devices 2, and both wafer storage devices 2 have the same configuration. The wafer storage device 2 includes a cassette (wafer storage jig) 4 for storing the polished wafer 3, a water tank 5 for submerging the wafer 3 stored in the cassette 4, and one wafer 3 at a time. 4 includes a transport mechanism 6 for storing the cassette 4, a cassette lifting / lowering mechanism (lifting / lowering means) 7 for raising / lowering the cassette 4 with respect to the water in the water tank 5, and an inclination means 8 for tilting the cassette 4 by a predetermined angle.

こうしたカセット4は、水に浸漬しても浮くことがない安定したカセット4が使用され、例えば、PTFEやPFA等でできたテフロン(登録商標)製のカセット4などが望ましい。   As such a cassette 4, a stable cassette 4 that does not float even when immersed in water is used. For example, a Teflon (registered trademark) cassette 4 made of PTFE, PFA, or the like is desirable.

尚、カセット昇降機構7は、サーボモータとボールネジの機構によってカセット4の昇降を行うが、このときの昇降スピードは5〜30mm/secの速さで可変することができる。また、傾斜手段8は、エアシリンダの機構によってカセット4を所定の角度だけ傾斜させることができるが、サーボモータによってカセット4を傾斜させることもできる。   The cassette elevating mechanism 7 elevates and lowers the cassette 4 by a servo motor and ball screw mechanism, and the elevating speed at this time can be varied at a speed of 5 to 30 mm / sec. The tilting means 8 can tilt the cassette 4 by a predetermined angle by the mechanism of the air cylinder, but can tilt the cassette 4 by a servo motor.

また、図1には図示されてないが、ウェーハ収納装置2は、水槽5の水を排水するためのドレイルバルブや、該ドレイルバルブの飛び出し防止手段に取り付けられたパブリング機能や、密閉容器にして不活性ガスやIPAガスを充満させる機能などを備えている。さらに、ウェーハ収納装置2は、ノズルバー(図示せず)を備えてウェーハ3が前方へ泳ぎ出すのを防止したり、ノズルバーから水を流してウェーハ3の表面のスラリーを洗い流したりする機能を備えている。また、ウェーハ収納装置2は、ノズルバーのストッパー機能を果たしたり、水槽5の水位を流水洗浄部分よりウェーハ3の一枚分だけ下に設定したりするように構成されている。   Although not shown in FIG. 1, the wafer storage device 2 is inactive as a drain valve for draining water from the water tank 5, a publishing function attached to the pop-up prevention means of the drain valve, or a sealed container. It has a function to fill gas and IPA gas. Further, the wafer storage device 2 includes a nozzle bar (not shown) to prevent the wafer 3 from swimming forward, and has a function of flowing water from the nozzle bar to wash away the slurry on the surface of the wafer 3. Yes. Further, the wafer storage device 2 is configured to perform a stopper function of the nozzle bar, or to set the water level of the water tank 5 by one wafer 3 below the running water cleaning portion.

次に、ウェーハ収納装置2を傾けながら水槽5に水没させる仕組みについて説明する。
図2は、図1に示すウェーハ収納装置2において研磨後のウェーハ3をウェーハ収納装置2のカセット4に収納する状態を示す解説図である。また、図3は、ウェーハ3が収納されたウェーハ収納装置2を傾斜させて水槽5内に水没させる状態を示す解説図である。尚、図2及び図3において、図の左方がウェーハ3の出し入れを行うカセット4のウェーハ収納開口部である。
Next, a mechanism for immersing the wafer storage apparatus 2 in the water tank 5 while tilting it will be described.
FIG. 2 is an explanatory view showing a state in which the polished wafer 3 is stored in the cassette 4 of the wafer storage apparatus 2 in the wafer storage apparatus 2 shown in FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a state in which the wafer storage device 2 storing the wafer 3 is tilted and submerged in the water tank 5. 2 and 3, the left side of the drawing is a wafer storage opening of the cassette 4 for taking in and out the wafer 3.

図2に示すように、カセット台4aの内部にはカセット4が収納されているが、研磨後のウェーハ3をカセット4に収納するときはカセット台4a及びカセット4は水平状態に置かれている。このときは、カセット台4a及びカセット4は水槽5の内部にある水5aの水面より上部に置かれている。このような状態において、搬送機構6によって研磨後のウェーハ3をカセット4の内部に一枚ずつ収納する。   As shown in FIG. 2, the cassette 4 is stored inside the cassette table 4a. However, when the polished wafer 3 is stored in the cassette 4, the cassette table 4a and the cassette 4 are placed in a horizontal state. . At this time, the cassette stand 4 a and the cassette 4 are placed above the water surface of the water 5 a inside the water tank 5. In such a state, the wafers 3 after polishing are stored one by one in the cassette 4 by the transport mechanism 6.

そして、全てのウェーハ3がカセット4へ収納されたら、図3に示すように、傾斜手段8(図1参照)によってカセット台4a及びカセット4を傾斜させてからカセット昇降機構7(図1参照)によってカセット台4a及びカセット4を水槽5の内部の水5aの中へ沈める。尚、カセット台4a及びカセット4を水槽5に沈めた状態でウェーハ3の洗浄を行ってもよい。また、カセット台4a及びカセット4を水槽5から引き上げるときも、傾斜手段8によってカセット台4a及びカセット4を傾斜させた状態で引き上げる。   When all the wafers 3 are stored in the cassette 4, as shown in FIG. 3, the cassette stand 4a and the cassette 4 are tilted by the tilting means 8 (see FIG. 1) and then the cassette lifting mechanism 7 (see FIG. 1). As a result, the cassette table 4 a and the cassette 4 are submerged in the water 5 a inside the water tank 5. The wafer 3 may be cleaned in a state where the cassette table 4 a and the cassette 4 are submerged in the water tank 5. Also, when the cassette table 4 a and the cassette 4 are pulled up from the water tank 5, the cassette table 4 a and the cassette 4 are pulled up with the tilting means 8 tilted.

このとき、傾斜手段8がカセット台4a及びカセット4を傾斜させる傾斜角度は、水槽5内にある水5aの水面の垂直軸に対して1°〜20° の傾斜範囲であることが望ましい。   At this time, it is desirable that the inclination angle by which the inclination means 8 inclines the cassette table 4a and the cassette 4 is in the range of 1 ° to 20 ° with respect to the vertical axis of the water surface of the water 5a in the water tank 5.

すなわち、図2に示すように、研磨後のウェーハ3が搬送機構6によってカセット4内の所定の部分に水平な状態で収納され、ウェーハ3の収納後、カセット4のウェーハ収納開口部を前面とし、傾斜手段8によって、その前面を高くして所定の角度(1°〜20°)カセット台4a及びカセット4を傾斜させる。そして、カセット昇降機構7(図1参照)によって、カセット台4a及びカセット4を水槽5内の水5aの内部に下降させて所定量(例えば、ウェーハ3の1枚分の間隔)だけ浸漬させてウェーハ3の洗浄を行う。   That is, as shown in FIG. 2, the polished wafer 3 is stored in a horizontal state in a predetermined portion in the cassette 4 by the transfer mechanism 6, and after the wafer 3 is stored, the wafer storage opening of the cassette 4 is set as the front surface. The front surface of the cassette 4a and the cassette 4 are inclined by a predetermined angle (1 ° to 20 °) by the tilting means 8. Then, the cassette lifting / lowering mechanism 7 (see FIG. 1) lowers the cassette base 4a and the cassette 4 into the water 5a in the water tank 5 and immerses them by a predetermined amount (for example, an interval corresponding to one wafer 3). The wafer 3 is cleaned.

次に、研磨後のウェーハ3をロボット搬送してからウェーハ収納装置の水槽に水没させるまでの処理の流れを図4のフローチャート及び図5の(a)〜(d)を用いて説明する。図4は本発明のウェーハ収納装置において、ウェーハのロボット搬送から水没までの処理の流れを示すフローチャート、図5の(a)〜(d)は水没の際のウェーハに対する水等の挙動を説明するための図である。   Next, the flow of processing from when the polished wafer 3 is transported by robot until it is submerged in the water tank of the wafer storage device will be described with reference to the flowchart of FIG. 4 and FIGS. FIG. 4 is a flowchart showing the flow of processing from wafer transfer to submergence in the wafer storage apparatus of the present invention, and FIGS. 5A to 5D illustrate the behavior of water and the like with respect to the wafer during submersion. FIG.

先ず、カセット4が水槽5の上で水平に待機する(ステップS1)。次に、ロボット(搬送機構6)によって、ウェーハ3をカセット4のスロットに挿入する(ステップS2)。さらに、カセット4の前面開口部(ウェーハ収納開口部)をやや高くして後へ傾斜させる(ステップS3)。そして、カセット4内のウェーハ3をゆっくりと水槽5に浸漬させる(ステップS4)。このようにして1スロット分ずつカセット4を水槽5内に降下させていく。   First, the cassette 4 stands by horizontally on the water tank 5 (step S1). Next, the wafer (transfer mechanism 6) inserts the wafer 3 into the slot of the cassette 4 (step S2). Further, the front opening (wafer storage opening) of the cassette 4 is slightly raised and inclined backward (step S3). Then, the wafer 3 in the cassette 4 is slowly immersed in the water tank 5 (step S4). In this way, the cassette 4 is lowered into the water tank 5 by one slot at a time.

すなわち、ウェーハ3を水平状態で水中に浸漬させると(図5(a))、水の浮力によってウェーハ3が浮き上がり、ウェーハ3の表面がカセット4の周囲に接触してウェーハ3を傷つけるおそれがある。また、水の表面張力によってウェーハ3の外周部で水が盛り上がり、その水がいっきにウェーハ3の表面へランダムな方向から浸入するおそれがある(図5(b))。   That is, when the wafer 3 is immersed in water in a horizontal state (FIG. 5A), the wafer 3 is lifted by the buoyancy of water, and the surface of the wafer 3 may come into contact with the periphery of the cassette 4 to damage the wafer 3. . In addition, the surface tension of the water causes the water to swell at the outer peripheral portion of the wafer 3, and the water may enter the surface of the wafer 3 from a random direction all at once (FIG. 5B).

そこで、このような不具合を無くすため、ウェーハ3を傾斜させながら水槽5に水没させることにより(図5(c))、水がウェーハ3へ浸入する方向が、カセット4の前面開口部側から後面への一定方向となる。さらに、ウェーハ3の傾斜角度が1°〜20°と緩やかであるため、水がウェーハ3 の表面部分に緩やかに浸入するため、ウェーハ3が浮き上がるおそれはない(図5(d))。また、カセット4の溝に沿って水位が上昇するため、ウェーハ3上へ滑らかに水が上がってくる。これによって、ウェーハ3を傷つけることなく表面をきれいに洗浄することができる。   Therefore, in order to eliminate such a problem, the wafer 3 is submerged in the water tank 5 while being inclined (FIG. 5C), so that the direction in which water enters the wafer 3 is from the front opening side of the cassette 4 to the rear surface. It becomes a certain direction to. Furthermore, since the inclination angle of the wafer 3 is gentle, 1 ° to 20 °, water slowly enters the surface portion of the wafer 3, so there is no possibility that the wafer 3 will float (FIG. 5D). Further, since the water level rises along the groove of the cassette 4, the water smoothly rises onto the wafer 3. As a result, the surface can be cleaned cleanly without damaging the wafer 3.

次いで、ウェーハ3を水中に保管している状態から引き上げて該ウェーハ3を取り出す際の処理の流れを図6 のフローチャート及び図7の(a)〜(e)を用いて説明する。図6は本発明のウェーハ収納装置において、水没状態からウェーハを引き上げて取り出すまでの処理の流れを示すフローチャート、図7の(a)〜(d)は水没状態から引き上げる際のウェーハに対する水等の挙動を説明するための図である。   Next, the flow of processing when the wafer 3 is lifted from the state stored in water and taken out will be described with reference to the flowchart of FIG. 6 and FIGS. 7A to 7E. FIG. 6 is a flowchart showing the flow of processing from the submerged state until the wafer is lifted and taken out in the wafer storage apparatus of the present invention, and FIGS. 7A to 7D show water and the like for the wafer when it is lifted from the submerged state. It is a figure for demonstrating a behavior.

図6のフローチャートにおいて、ウェーハ3は水中で傾斜状態で洗浄され保管されている(ステップS11)。カセット昇降機構7によりカセット4を傾斜状態でゆっくり上昇させる(ステップS12)。上昇過程においてウェーハ3の表面上の水はカセット4の前側から後側に緩やかに滑り落ちる(ステップS13)。ウェーハ3が水から上がると傾斜手段8によりカセット4を水平にする。このとき、取り出す予定のウェーハ3のみを水より高い位置として次のウェーハ3は水中に保管されたままとする(ステップS14)。水の上に出されたウェーハ3をロボット(搬送機構6)でつかむ(ステップS15)。ロボ
ットでつかんだウェーハ3をそのまま次工程へ搬送する(ステップS16)。
In the flowchart of FIG. 6, the wafer 3 is cleaned and stored in an inclined state in water (step S11). The cassette lifting mechanism 7 slowly raises the cassette 4 in an inclined state (step S12). In the ascending process, water on the surface of the wafer 3 slides gently from the front side to the rear side of the cassette 4 (step S13). When the wafer 3 rises from the water, the cassette 4 is leveled by the tilting means 8. At this time, only the wafer 3 to be taken out is positioned higher than the water, and the next wafer 3 is kept stored in the water (step S14). The wafer 3 placed on the water is grasped by the robot (conveyance mechanism 6) (step S15). The wafer 3 held by the robot is transferred to the next process as it is (step S16).

上記のように、ウェーハ3を水没状態から引き上げる際は、該ウェーハ3を緩やかな傾斜状態とすることで(図7(a))、ウェーハ3表面上の水は、後退する水槽5の水の表面に引きずられるように緩やかに一団となって滑り落ちる(図7(b))。これにより、ウェーハ3表面にウォータマークが形成されない。また、ウェーハ3の引き上げに大きな力が必要とされない。そして、水の上に引き上げ後に、ウェーハ3を水平状態にすることで、ロボットが取り出しやすく次の工程への搬送も容易になる。   As described above, when the wafer 3 is pulled up from the submerged state, the wafer 3 is brought into a gentle inclined state (FIG. 7A), so that the water on the surface of the wafer 3 is the water in the retreating water tank 5. They slowly slide together as if dragged to the surface (FIG. 7B). Thereby, a watermark is not formed on the surface of the wafer 3. Further, a large force is not required for lifting the wafer 3. Then, after the wafer 3 is pulled up on the water, the wafer 3 is placed in a horizontal state so that the robot can be easily taken out and transported to the next process.

これに対し、ウェーハ3 を水没状態から引き上げる際に該ウェーハ3 を水平状態にすると(図7(c))、ウェーハ3上にのった水の流れ落ちる方向が定まらないため、ウェーハ3表面にウォータマークが様々な状態で形成されるおそれがある。また、ウェーハ3上に水がのるとともに上下のウェーハ3の間に水が溜まるので(図7(d))、ウェーハ3の引き上げに大きな力が必要となる。   On the other hand, if the wafer 3 is placed in a horizontal state when the wafer 3 is pulled up from the submerged state (FIG. 7 (c)), the direction in which the water flows on the wafer 3 cannot be determined. Marks may be formed in various states. In addition, since water accumulates on the wafer 3 and water accumulates between the upper and lower wafers 3 (FIG. 7D), a large force is required to pull up the wafer 3.

また、図7(e)に示すように、ウェーハ3を水没状態から引き上げる際に該ウェーハ3を急傾斜させると、ウェーハ3表面上を水が一団となって後退する力が働きにくくなる。そして、水が流れ落ちたウェーハ3の表面部にストリークラインが形成されるおそれがある。さらに、ウェーハ3の引き上げに非常に長い稼動範囲が必要となることからも、ウェーハ3を一枚一枚引き上げるには、不向きな態様である。   Further, as shown in FIG. 7E, when the wafer 3 is sharply inclined when the wafer 3 is pulled up from the submerged state, the force of retreating water as a group on the surface of the wafer 3 becomes difficult to work. In addition, a streak line may be formed on the surface portion of the wafer 3 from which water has flowed down. Further, since a very long operating range is required for lifting the wafer 3, it is not suitable for lifting the wafers 3 one by one.

なお、ウェーハ3が収納されたカセット4を水から相対的に持ち上げる方法は、カセット昇降機構7による場合に限らず、水槽5内の水をドレインする等の方法でもよい。   The method of relatively lifting the cassette 4 in which the wafers 3 are stored from the water is not limited to the case using the cassette lifting mechanism 7, and may be a method of draining the water in the water tank 5.

以上述べたように、本発明のウェーハ収納装置は、研磨されて一定間隔で搬送されるウェーハを効率よく収納することができる。また、本発明のウェーハ収納装置は複雑な機構を使用していないので他の搬送機構とアクセスしやすい。さらに、本発明のウェーハ収納装置によれば、ウェーハを収納した後に大きく稼動することなく効率的にウェーハを水没させることができる。このとき、ウェーハの姿勢が安定しているのでウェーハがカセットと擦れるおそれがない。   As described above, the wafer storage apparatus of the present invention can efficiently store wafers that are polished and transported at regular intervals. Further, since the wafer storage apparatus of the present invention does not use a complicated mechanism, it is easy to access other transfer mechanisms. Furthermore, according to the wafer storage apparatus of the present invention, the wafer can be submerged efficiently without large operation after the wafer is stored. At this time, since the posture of the wafer is stable, there is no possibility that the wafer will rub against the cassette.

また、ウェーハ収納装置によれば、省スペースでウェーハを順次ストックすることができ、上部のウェーハが下部のウェーハへ液滴をもたらすことがないので、ウェーハの表面にウォータマークが形成されるおそれはない。さらに、ウェーハを効率よく収納して浸漬及び洗浄を行うことができ、その後、順に搬送機構にウェーハを送り出すことができるので、搬送の際にウェーハを水槽から頻繁に出し入れすることがなくなり、安定した状態で浸漬及び洗浄を行うことができる。   Also, according to the wafer storage device, the wafers can be stocked sequentially in a space-saving manner, and the upper wafer does not bring droplets to the lower wafer, so there is a possibility that a watermark is formed on the surface of the wafer. Absent. In addition, the wafer can be efficiently stored and immersed and washed, and then the wafer can be sent out to the transport mechanism in order, so that the wafer is not frequently taken in and out of the water tank at the time of transport. Soaking and cleaning can be performed in the state.

また、カセット内に略鉛直にウェーハを格納する際、水切りのときに撥水面である場合に、水が流れ落ちることによって顕著にできるストリークラインやウォータマークをなくすことができる。さらに、カセット内にウェーハを格納するとき、それぞれのウェーハの間隔がばらついたりウェーハ同士が擦れたりすることを防止することができる。また、繰り返しウェーハを水槽から出し入れすることなく、順にウェーハをカセットに格納して水没させることができる。このとき、ウェーハを浸漬する際にウェーハ表面がカセットに当たることなく、静かに浸漬を行うことができる。また、浸漬状態からウェーハを取り出す際に、水がウェーハ表面を緩やかに後退するのでウォータマークが形成されるおそれはない。   Further, when the wafer is stored substantially vertically in the cassette, the streak line and the water mark that are noticeable when water flows down when the water repellent surface is used when draining water can be eliminated. Further, when the wafers are stored in the cassette, it is possible to prevent the intervals between the wafers from varying and the wafers from being rubbed. Further, the wafers can be sequentially stored in the cassette and submerged without repeatedly taking out and taking out the wafers from the water tank. At this time, when the wafer is immersed, the wafer surface can be gently immersed without hitting the cassette. Further, when the wafer is taken out from the immersed state, the water slowly moves back on the wafer surface, so there is no possibility that a watermark is formed.

なお、本発明は、本発明の精神を逸脱しない限り種々の改変をなすことができ、そして、本発明が該改変されたものにも及ぶことは当然である。   The present invention can be variously modified without departing from the spirit of the present invention, and the present invention naturally extends to the modified ones.

1 ウェットカセットステーション
2 ウェーハ収納装置
3 ウェーハ
4 カセット(収納治具)
4a カセット台
5 水槽
6 搬送機構
7 カセット昇降機構(昇降手段)
8 傾斜手段


























1 Wet cassette station 2 Wafer storage device 3 Wafer 4 Cassette (storage jig)
4a cassette stand 5 water tank 6 transport mechanism 7 cassette lifting mechanism (lifting means)
8 Inclination means


























Claims (2)

研磨後のウェーハを収納するウェーハ収納装置において、
前記ウェーハを水平に収納するための収納治具と、
前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させる傾斜手段と、
前記収納治具に収納されたウェーハを水没させるための水槽と、
傾斜手段により所定の角度に傾斜角度が維持された前記収納治具を、前記所定の角度に傾斜角度が維持された状態のままで前記水槽内の水に対して相対的に昇降させる昇降手段と、を備え、
前記昇降手段により前記収納治具を、前記傾斜手段により前記収納治具の前部のウェーハ収納開口部を高い位置にして前記収納治具を所定の角度だけ傾斜させた状態で、前記水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させて、
前記ウェーハを所定量浸漬させることを特徴とするウェーハ収納装置。
In the wafer storage device that stores the polished wafer,
A storage jig for storing the wafer horizontally;
Tilting means for tilting the storage jig by a predetermined angle;
A water tank for submerging the wafer stored in the storage jig;
Elevating means for raising and lowering the storage jig whose inclination angle is maintained at a predetermined angle by the inclination means relative to the water in the water tank while maintaining the inclination angle at the predetermined angle ; With
In the state in which the storage jig is tilted by a predetermined angle with the storage jig being tilted by a predetermined angle with the elevation means and the wafer storage opening at the front of the storage jig being at a high position by the tilting means. Lower it vertically relative to the water,
A wafer storage apparatus that immerses a predetermined amount of the wafer.
ウェーハを収納し、水の中に浸漬するウェーハ収納・浸漬方法において、
収納治具にウェーハを水平に収納させる工程と、
前記ウェーハを収納した前記収納治具を、ウェーハ収納開口部を高い位置にして所定の角度だけ傾斜させる工程と、
前記所定の傾斜角度を維持した前記収納治具を、水槽内の水に対して相対的に鉛直方向に下降させて前記ウェーハ所定量浸漬させる工程と、
を含むことを特徴とするウェーハ収納・浸漬方法。
In the wafer storage / immersion method in which the wafer is stored and immersed in water,
A step of horizontally storing the wafer in a storage jig;
The step of tilting the storage jig storing the wafer by a predetermined angle with the wafer storage opening at a high position;
The step of immersing the wafer in a predetermined amount by lowering the storage jig maintaining the predetermined inclination angle in a vertical direction relative to the water in the water tank;
A method for storing and immersing a wafer, comprising:
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