JP6516521B2 - 電線束の判定装置 - Google Patents

Description

本発明は、コネクタを介して複数の電子機器間が、電線を含むワイヤハーネスで接続された多数の配線の接続情報を用いて、電気的な試験を行う際に、試験に用いられる電線束を判定する装置に関するものである。

例えば、入力装置、制御装置及び出力装置の間をワイヤハーネス（wire harness、以下単にハーネス）で接続することで構成される配線システムは、システムが組み上げられた後に、ハーネスを構成する電線が適正なルートで接続されているのかを確認する必要がある。ところが、ハーネスの数（配線数）、入力装置などの端末装置又は中継装置の数が多いシステムになると、複数にまたがる配線図から接続ルートの妥当性をチェックしたり、配線の安全性を確認したりするのは容易でない。

そこで本出願人はこれまで、大規模なシステムであっても、システムの設計者以外が単線単位で接続ルートを容易に確認できる配線の接続確認システムを特許文献１で、また、同束リスクのあるハーネス、及び、同時に故障すると安全性を損なうリスクのあるハーネスを容易に抽出するシステムを特許文献２で、さらに、複雑な配線構造に対しても、定性的に配線の安全性を解析できるシステムを特許文献３で提案している。
特許文献１〜特許文献３で提案した技術は、いかなる複雑な配線も、接続を示す情報は下記の（ａ）及び（ｂ）のいずれかに集約できることに基づいている。
（ａ）コネクタと電線
（ｂ）コネクタと端末装置または中継装置

特許第５１８２９７３号公報 特開２０１４−６１８４１号公報 特開２０１４−１９４６７６号公報

ハーネスを含む大規模な配線システムの設計がなされた後に、このシステムの動作確認を効率的、同時並行的に行うために、通常、システム全体をサブシステムに分割し、各サブシステムにおける試験で確証を得てから、全ての配線を組んだ実機試験で最終動作確認を行う手順を踏む。
特に、試験装置を限られた閉鎖空間内で行う必要がある場合は、サブシステム単位での試験が必須となる。なお、ここでいう閉塞空間としては、試験装置全体を、温度環境試験を行う場合の恒温室、電磁波・耐雷試験を行う場合の電波反響室等が該当する。
サブシステムの試験で、実機用ハーネスをそのまま用いて試験を行う事は原理的には不可能ではないが、試験を行う空間の制約等により、サブシステム試験では評価対象機器以外の機器、および不要なハーネスを除外する必要がある。

試験に必要なハーネスのみを選定するために、以下の２つの案が考えられる。
案１：サブシステム試験で通電する実機ハーネスをそのまま用いるが、実機ハーネスで接続先のない枝分岐ケーブルは分岐点から物理的に切断するか、または、枝分岐末端のコネクタでノイズが混入しないようシールドキャップを施す。なお、物理的に切断するには、切断箇所にて、通電する電線が１本も存在しないことが前提となり、多芯線の電線ケーブルに１本でも通電がある場合は切断不可であるために、シールドキャップを施す。
案１は、実機ハーネスをそのまま用いるので、実機を模擬している点で好ましい試験状態であるが、試験に直接関与しないハーネスが混在するため、試験規模が大きくなる。

案２：サブシステム試験で通電する実機ハーネスに用いられている電線のうち、試験で通電する電線のみを残し、不要な（不導通の）電線は全て取り除いたハーネスに設計し直して、試験用ハーネスとして用いる。
案２は、試験に不要な電線を除去するので、試験規模は小さくなるものの、電線束全体に流れる耐雷電流は変わらないために、電線が減少した本数分だけ、１本当たりに流れる耐雷電流が大きくなり、厳しい試験条件となる。

いずれの案においても、膨大な量のハーネス図面上で接続状態を追いながら、どのハーネス、どの電線がサブシステム試験に必要なのかを見極める事は非常に困難であった。また、図１８のように、外見上は、ハーネスを構成するそれぞれの芯線の接続状態は分別出来ないため、どれを除去して良いか解らない。
そこで本発明は、実機に適用される配線システムに関する設計データから、試験用ハーネスに必要な電線及びコネクタからなる配線経路を、電線束の単位で判定できる装置を提供することを目的とする。

そこでなされた本発明は、電線束を構成する複数の電線とこの電線が接続されるコネクタをそれぞれが備える複数のワイヤハーネスにより、端末装置の間を接続する配線構造体において、電気的な試験に用いられる試験用電線を含む電線束を判定する電線束の判定装置であって、電線とコネクタの接続関係を記憶する記憶部と、試験用電線を含む電線束を、記憶部に記憶されている接続関係に基づいて判定する処理部と、を備える。
そして、本発明における処理部は、同じ電線束に、端末装置と導通がある試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束について、試験に用いる電線束であることを示す評価Ａを付与し、同じ電線束に、端末装置と導通のない電線しか含まれていなければ、当該電線束を試験に用いない電線束であることを示す評価Ｃを付与する、ことを特徴とする。
評価Ａ及び評価Ｃを付与することで、上述した案２に対応することができる。

本発明における処理部は、同じ電線束に、端末装置と導通があるが、試験用電線に該当しない電線が少なくとも１本含まれていれば、当該電線束に対して、切断してはいけないことを示す評価Ｂを付与することができる。
このように、評価Ａ及び評価Ｃに加えて、評価Ｂを付与することにより、上述した案１に対応することができる。

本発明における処理部は、試験に用いられる端末装置が備える試験用コネクタのピンの識別情報に基づいて、記憶部に記憶される接続情報を紐づけ、紐づけられた電線のそれぞれについて、試験用電線に該当することを示すカテゴリａを付与することができる。そして、処理部は、カテゴリａが付与された試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束に前記評価Ａを付与することができる。

また、本発明における処理部は、試験に用いられる端末装置と嵌合されるコネクタのピンであって、試験用コネクタのピン以外のピンの識別情報に基づいて、記憶部に記憶される接続情報を紐づけ、紐づけられた電線のそれぞれについて、端末装置と導通があるが、試験用電線に該当しないことを示すカテゴリｂを付与することができる。そしてこの処理部は、カテゴリｂが付与された電線しか含まれていなければ、当該電線束に評価Ｂを付与することができる。

また、本発明における処理部は、接続情報に含まれる全ての電線及びコネクタに対して、端末装置と導通のないことのカテゴリｃを仮に付与することができる。そしてこの処理部は、カテゴリａ及びカテゴリｂが付与された電線について、カテゴリｃをカテゴリａ又はカテゴリｂに変更し、変更されなかったカテゴリｃしか含まれていない電線束に評価Ｃを付与することができる。

本発明の電線束の判定装置によれば、電線とコネクタの接続関係に基づいて、評価Ａ，Ｃを電線束に付与し、さらに、評価Ｂを電線束に付与することで、案１及び案２の両者に対して、試験に必要な配線経路を電線束の単位で容易に判定することができる。

本実施形態における電線束の判定装置の構成を示す図である。 電線、コネクタ及び機器が接続された配線例を示す図である。 第一記憶部に予め記憶されている、図２の示す配線例における電線とコネクタの接続情報をテーブル形式で示す図である。 （ａ）が案１における入力テーブルを示し、（ｂ）が案１における出力テーブルを示す図である。 案１における手順１を行った配線図を示している。 案１における手順１を行った接続情報テーブルを示している。 案１における手順２を行った配線図を示している。 案１における手順２を行った接続情報テーブルを示している。 案１における手順３を行った配線図を示している。 案１における手順３を行った接続情報テーブルを示している。 案１における手順４を行った配線図を示している。 案１における手順４を行った接続情報テーブルを示している。 案１における手順５を行った配線図を示している。 案２における手順４を行った配線図を示している。 （ａ）が案２における入力テーブルを、（ｂ）が案２における出力テーブルを示す図である。 案２における手順４を行った接続情報テーブルを示している。 案２における配線図の最終形態を示している。 本実施形態に用いられたハーネスの外観を示す図である。

以下、本発明を実施形態に基づいて説明する。
本実施形態による判定装置１０は、複数のハーネスが接続される配線システムの設計データである電線、コネクタ等の接続情報を参照することにより、数多く存在する電線の経路から、導通がある特定の電線の経路を電線束の単位で判定、抽出するものである。例えば、電気的な試験を行う際に、配線システムの中から試験に必要な配線経路を抽出することで、試験用のハーネスを正確にしかも効率よく作製するのを支援する。ここで、ハーネスは、コネクタと電線束（バンドル）で構成されるアセンブリである。各電線はコネクタのピン（又は端子）とそれぞれ電気的に接続されている。
図１に示すように、判定装置１０は、入力部１と、処理部２と、第一記憶部３と、第二記憶部４と、表示部５と、を備えている。判定装置１０は、パーソナルコンピュータ、その他のコンピュータ装置により構成することができる。
判定装置１０は配線描画システム２０と接続されている。配線描画システム２０もまた、コンピュータ装置により構成される。

［判定装置１０の概要］
入力部１は、判定装置１０を実行するために必要な指示を入力する部位である。コンピュータの入力装置としてのキーボードにより入力部１を構成できる。
処理部２は、第一記憶部３に記憶された接続情報及び必要コネクタ・ピン情報（入力テーブル）を読み出して、後述する手順1〜５を実行し、その結果を第二記憶部４に記憶させたり、表示部５に表示させたりする。第一記憶部３及び第二記憶部４に記憶される情報については、追って説明する。
表示部５は、処理部２により処理された結果を表示する。コンピュータの表示装置としての例えば液晶表示装置により表示部５を構成できる。

［配線描画システム２０の概要］
配線描画システム２０は、ＣＡＤ（Computer Aided Design）２１を備える。ＣＡＤ２１は、配線設計作業にともなうコネクタ、ケーブル及び機器に関する接続情報を取得して、結線図（Wiring Diagrams、以下単にＷＤということがある）を作成する。ＷＤはハーネスに属する電線とコネクタとの接続関係が図示されたものである。ＷＤに基づく接続情報は、ハーネスの識別情報（ハーネスＩＤ）と、電線の識別情報（電線ＩＤ）と、コネクタ及びピンの識別情報（コネクタＩＤ，ピンＩＤ）と、が対応付けられている。ＣＡＤ２１は、取得した接続情報を判定装置１０の第一記憶部３に提供する。第一記憶部３は、ＣＡＤ２１から提供される接続情報を記憶する。

［配線システムの例示］
図２に配線システムの一例を示す。
図２の例は、２台の端末装置３０，４０を備えており、端末装置３０，４０の間には２つのハーネスＷＨ１，ＷＨ２が介在している。各端末装置３０，４０は、ハーネスＷＨ１，ＷＨ２のコネクタＣ１，Ｃ５と電気的に接続されるコネクタＣ７，Ｃ８を備えている。なお、端末装置３０が試験対象となる端末装置である。
ハーネスＷＨ１は、端末装置３０と接続されるコネクタＣ１と、図示を省略する他のハーネスとの中継を担うコネクタＣ２，Ｃ９と、ハーネスＷＨ２との中継を担うコネクタＣ３と、を備えている。コネクタＣ１とコネクタＣ２は電線Ｗ１７，Ｗ１９で接続され、コネクタＣ１とコネクタＣ３は電線Ｗ１２，Ｗ１４，Ｗ１６，Ｗ１８で接続され、また、コネクタＣ１とコネクタＣ９は電線Ｗ１１，Ｗ１３，Ｗ１５で接続されている。電線Ｗ１２，Ｗ１４，Ｗ１６は、電線Ｗ１１，Ｗ１３，Ｗ１５から分岐した電線である。
なお、ここでは理解を容易にするために、９本の電線でハーネスＷＨ１を構成する例を示しているが、実際のハーネスにはこの本数を超える多数本の電線が束ねられることがある。また、ＷＨ１，ＷＨ２はハーネスを特定する識別記号（ハーネスＩＤ）を、同様に、電線についてのＷ１１等は電線を特定する特定する識別記号（電線ＩＤ）を、コネクタについてのＣ１等はコネクタを特定する識別記号（コネクタＩＤ）を意味するものとする。
また、図１８に基づいて説明したように、ハーネスＷＨ１，ＷＨ２に含まれる電線Ｗ１１等の接続状態は、その外観からは分別することができない。

ハーネスＷＨ２は、ハーネスＷＨ１のコネクタＣ３と接続されるコネクタＣ４と、端末装置４０と接続されるコネクタＣ５と、図示を省略する他のハーネスとの中継を担うコネクタＣ０，Ｃ６，Ｃ１０を備えている。コネクタＣ４とコネクタＣ５は電線Ｗ２１，Ｗ２２，Ｗ２３，Ｗ２４で接続され、コネクタＣ５とコネクタＣ６は電線Ｗ２５，Ｗ２６で接続され、また、コネクタＣ０とＣ１０は、電線Ｗ２７，Ｗ２８で接続されている。電線Ｗ２５，Ｗ２６は、それぞれ電線Ｗ２４，Ｗ２２から分岐した電線である。
図２は、ハーネスを備える配線システムの構成を理解するために用いたものであり、大規模なシステムにおいては、図２に例示した構成が多数組み合わされていることがある。

図２に示されるハーネスＷＨ１において、電線Ｗ１１，Ｗ１３，Ｗ１５が同じ電線束をなし、また、電線Ｗ１７，Ｗ１９が同じ電線束をなし、さらに、電線Ｗ１２，Ｗ１４，Ｗ１６，Ｗ１８が同じ電線束をなす。同様に、ハーネスＷＨ２において、電線Ｗ２１，Ｗ２２，Ｗ２３，Ｗ２４が同じ電線束をなし、また、電線Ｗ２５，Ｗ２６が同じ電線束をなし、さらに、電線Ｗ２７，Ｗ２８が同じ電線束をなす。図２を参照すれば判るように、電線束の単位は接続される一方のコネクタの単位と等価である。例えば、電線Ｗ１１，Ｗ１３，Ｗ１５からなる電線束はそれぞれの電線が接続されるコネクタＣ９に対応し、電線Ｗ２５，Ｗ２６からなる電線束はそれぞれの電線が接続されるコネクタＣ６に対応している。

［接続情報］
図３に、第一記憶部３に記憶される接続情報の一例を示す。
この接続情報は、図２に示されるハーネスＷＨ１，ＷＨ２に属する電線とコネクタの接続関係を対応付けている。図３は、互いに嵌合されるコネクタにおいて接続されるピンの対応関係をテーブル形式で示す接続情報（（ａ），（ｂ），（ｃ））と、それぞれの電線とその両端に接続されるコネクタの対応関係をテーブル形式で示す接続情報（（ｄ），（ｅ））を含んでいる。
コネクタＣ７とコネクタＣ１の接続情報を示す図３（ａ）を例にして説明すると、図３（ａ）には、コネクタＣ７（ＩＴＥＭ−１）とコネクタＣ１（ＩＴＥＭ−２）とが接続されることが示されている。次に、図３（ａ）には、コネクタＣ７がＰ１〜Ｐ９のピンＩＤで特定される６つのピンを備えていること、コネクタＣ１がＪ１〜Ｊ９というピンＩＤで特定される６つのピンを備えていること、さらに、Ｐ１〜Ｐ９とＪ１〜Ｊ９のそれぞれが接続されることが示されている。
次に、図３（ｄ）を例にすると、電線ＩＤがＷ１２，１４，１６，１８の電線はコネクタＣ１とコネクタＣ３に接続され、電線ＩＤがＷ１１，１３，１５の電線はコネクタＣ１とコネクタＣ９に接続され、電線ＩＤがＷ１７，１９の電線はコネクタＣ１とコネクタＣ２に接続されることが示されている。その中で、電線ＩＤがＷ１２，１４，１６，１８の電線は、コネクタＣ１とはピンＩＤがＪ１，Ｊ３，Ｊ５，Ｊ７のピンと接続され、コネクタＣ３とはピンＩＤがＪ２，Ｊ４，Ｊ６，Ｊ８のピンと接続されることが示されている。他の電線についても同様である。
図３に示す接続情報は、以上説明した以外に、試験に使用されるか否かに関する情報が記載されるカテゴリの欄及び総合評価の欄を含むが、これらについては追って言及する。

［必要コネクタ・ピン情報（入力テーブル）］
図４（ａ）に、第一記憶部３に記憶される必要コネクタ・ピン情報を記述する入力テーブルの一例を示す。
入力テーブルは、試験用のハーネスに必要なコネクタのコネクタＩＤと、そのコネクタが備えるピンの中で、試験に必要とされる電線が接続されるピンのピンＩＤが対応付けられたものである。
ここで、コネクタが、仮に１０本のピンを備えているものとする。実機に係る配線システムは１０本の全てのピンに電線が接続されるが、試験用のハーネスには１０本の中の１本のピンだけに電線が接続されれば足りることがある。これを示すのが入力テーブルであり、第一記憶部３に記憶されている。
図４（ａ）において、コネクタＣ７はピンＰ１とピンＰ５が試験に必要とされる電線と接続されることを示している。
入力テーブルは、配線設計の結果、つまり、ＷＤ及びＷＨＤを参照することにより特定しておき、予め第一記憶部３に記憶されている。
なお、以下の説明は、サブシステム試験で通電する実機ハーネスをそのまま用いる案１に対応するものである。

［要否コネクタ情報（出力テーブル）］
図４（ｂ）に、第二記憶部４に記憶される要否コネクタ情報（以下、出力テーブル）の一例を示す。
出力テーブルは、次に説明する本実施形態の判定処理を行った結果を示すものであり、同じハーネスＩＤに属するコネクタを、“必要コネクタ”と“不要コネクタ”の二つに区分し、さらに、不要コネクタを“導通有”と“導通無”の二つに区分して、第二記憶部４に記憶される。そして、この出力テーブルは、表示部５に表示させることができる。
ここで、必要コネクタとは、入力テーブルに記載されているピンＩＤに対応するピンと電線により接続され導通があり、試験に用いられるコネクタをいう。入力テーブルに記載されているコネクタも必要コネクタに該当する。
不要（導通有）コネクタとは、入力テーブルに記載されているコネクタと導通するが、入力テーブルに記載されているピンＩＤとは異なるピンで導通されており、試験には用いられないコネクタをいう。
また、不要（導通無）コネクタとは、入力テーブルに記載されているコネクタ及びピンとは全く導通がないコネクタをいう。

図４（ｂ）に示す出力テーブルの例において、ハーネスＷＨ１は、コネクタＣ１，Ｃ３，Ｃ９が必要コネクタであることが、また、コネクタＣ２が不要（導通有）コネクタであることが、さらに、不要（導通無）コネクタが含まれていないことが、テーブル形式の情報として示されている。ハーネスＷＨ２についても同様である。

［判定処理手順］
次に、本実施形態における電線束の判定手順を図５〜図１３を参照しながら説明する。なお、図２に示される配線図及び図３に示される接続情報は手順の初期状態を示しており、この初期状態に続いて、以下説明する手順１から手順５を順番に実行する。

＜手順１（図５，図６）＞
手順１は、接続情報テーブルの全てのコネクタ及び電線のカテゴリ「ａ」，「ｂ」，「ｃ」の中の「ｃ」が仮に付与される。なお、カテゴリａ，ｂ，ｃの内訳は以下の通りである。
これにより、図５に示される配線図の全ての電線Ｗ１１〜Ｗ２８がカテゴリｃに対応する破線で示されており、また、図６に示される接続情報テーブルの全てにおいてカテゴリの欄にｃが付与されている。この時点では、総合評価の欄は空いている。
図３以降に示される配線図において、カテゴリａを実線で、カテゴリｂを一点鎖線で、また、カテゴリｃを破線で示している。
カテゴリａ：端末装置３０と導通があり、試験で用いる電線（実線）
カテゴリｂ：端末装置３０と導通があるが、試験では使用しない電線（一点鎖線）
カテゴリｃ：端末装置３０と導通がなく、試験で使用しない電線（破線）

＜手順２（図７，図８）＞
手順２は、はじめに、入力テーブルに記述されるコネクタＩＤ及びピンＩＤをハーネスの接続情報と紐づける。この紐付けがなされたことは図８に示される通りであり、入力テーブルに記述されるコネクタＩＤ及びピンＩＤと同じコネクタＩＤ及びピンＩＤであって接続情報テーブルに記述されるものが、矢印で繋がれており、また、該当する欄が網掛けされている。例えば、入力テーブルに記述されるＰ１について、図８（ａ）の接続情報テーブルのコネクタＣ７におけるピンＰ１とコネクタＣ１におけるピンＪ１とが紐づけられている。さらに、図８（ｄ）のコネクタＣ１におけるピンＪ１と、ピンＪ１に接続される電線Ｗ１２と、電線Ｗ１２に接続されるコネクタＣ３のピンＪ２とが紐づけられている。

次に、紐づけられたコネクタ及び電線のカテゴリを、ｃ（使用しない）からａ（使用する）に変更して付与する。
この変更は、図７の電線Ｗ１１，１２，１５，１６が実線で示され、また、図８（ａ）の紐づけられているピンＪ１及びピンＪ５のカテゴリが「ａ」になり、図８（ｄ）の電線Ｗ１１，１２，１５，１６のカテゴリが「ａ」になっていることにより表されている。

次に、付与されたカテゴリに基づいて総合評価を行う。
この総合評価は、以下の基準に基づいて行われる。
すなわち、同じハーネスに異なるカテゴリの電線が存在した場合、以下のＡ，Ｂ，Ｃに区別できる。
そして、電線に対するカテゴリの優先順位をａ＞ｂ＞ｃとすると、コネクタの総合評価は、電線の優先順位の高いカテゴリを大文字で表している。
Ａ：１本でも端末装置３０と導通があり、試験で用いる電線が存在すれば、試験で用いる電線束
Ｂ：端末装置３０と導通があるが、試験では用いない電線が少なくとも１本存在すれば、試験対象である端末装置３０と導通があるため、物理的に枝線の根本で切断してはいけない電線束
Ｃ：全ての電線が、端末装置３０と導通がなく、試験で使用しない線であれば、枝分岐の根本で切断可能な電線束

総合評価の具体的な例として、図８（ａ）において、コネクタＣ１はカテゴリ「ａ」を含んでいるので総合評価は「Ａ」となる。同様に、図８（ｄ）において、コネクタＣ３に接続される電線Ｗ１２，Ｗ１６のカテゴリが「ａ」であり、コネクタＣ９に接続される電線Ｗ１１，Ｗ１５のカテゴリが「ａ」であるから、総合評価は「Ａ」となる。

＜手順３（図９，図１０）＞
次に、端末装置３０と接続されるコネクタＣ１のピンの中で、入力テーブルで指定されていないピンＩＤ、および当該ピンに接続されるハーネスＷＨ１の電線のカテゴリを「ｃ」から「ｂ（端末装置３０と導通があるが、試験では使用しない電線）」に変更する。
この変更は、図９の電線Ｗ１４，Ｗ１８，Ｗ１３，Ｗ１７，Ｗ１９が一点鎖線で示されていること、図１０（ａ）のピンＪ３，Ｊ７，Ｊ８，Ｊ９のカテゴリが「ｂ」で示されていること、図１０（ｄ）の電線Ｗ１４，Ｗ１８，Ｗ１３，Ｗ１７，Ｗ１９のカテゴリが「ｂ」で示されていることに表されている。
その後、ハーネスＷＨ１の電線で最もカテゴリの高いものを接続コネクタに対する総合評価とする。このことは、図１０（ｄ）のコネクタＣ２の総合評価が、電線Ｗ１７，Ｗ１９のカテゴリ「ｂ」に対応して、「Ｂ」であることに表されている。

＜手順４（図１１，図１２）＞
手順４は、手順２及び手順３をハーネスＷＨ２に拡張して実施する。
つまり、手順２として、図１２（ｄ），（ｂ），（ｅ），（ｃ）の順に紐づけられていることが矢印及び網掛けで示されている。また、図１２（ｂ）において、コネクタＣ４のカテゴリが「ｃ」から「ａ」又は「ｂ」に変更され、図１２（ｅ）において、電線Ｗ２１，２２，２３，２４，２５，２６のカテゴリが「ｃ」から「ａ」又は「ｂ」に変更され、図１２（ｃ）において、コネクタＣ８のカテゴリが「ｃ」から「ａ」又は「ｂ」に変更されている。
また、手順３として、図１２（ｂ）において、コネクタＣ４の総合評価が「Ａ」に、また、図１２（ｅ）において、コネクタＣ０，Ｃ５，Ｃ６の総合評価がそれぞれ「Ｃ」，「Ａ」，「Ｂ」となる。
図１１に示す配線例の電線の線種が、以上のカテゴリの変更を反映している。

以上の結果として、コネクタに接続する試験用ハーネスについては、総合評価により下記のように加工することができる。
総合評価Ａ：試験で用いる電線を含むために、何も加工しない。
総合評価Ｂ：試験に必要ない電線を含むが、試験対象とする端末装置３０と導通状態にあるため、途中で切断できない。よって、コネクタ末端に導体のキャップを被せる。
総合評価Ｃ：電線は全て試験に必要なく、かつ、試験対象の端末装置３０と導通状態にないため、コネクタを含むケーブルの枝分岐根本で切断できる。

＜手順５（図１３）＞
図４（ｂ）に示すように、出力テーブルに、各ワイヤハーネスに接続するコネクタの総合評価を集約する。
出力テーブルは、得られた評価の集約結果にすぎないので、試験でコネクタ（および付随ケーブル）の要否は分かるが、各電線の要否は、手順１〜４で得られた接続情報テーブルに記載した結果に基づくことになる。
図１３には、総合評価がＣのコネクタＣ１０，Ｃ０に接続される電線Ｗ２７，２８が切断され、総合評価がＢのコネクタＣ２，Ｃ６には導体のキャップ１５を被せている。

以上の判定装置１０を用いて得られた結果を表示部５に表示させることができる。表示内容としては、図１２に示される接続情報、図１３に示される配線図及び図４（ｂ）に示される出力テーブルのいずれか又は全てが掲げられる。

［効 果］
以上説明したように、判定装置１０によれば、試験に必要な配線経路を、電線束を単位として容易に判定できるとともに、試験に必要な電線束と不要な電線束とを明確に区別して表示させることができる。
しかも、判定装置１０によれば、配線設計が変更されたとしても、この変更に伴って接続情報及び入力テーブルを書き換えることにより、それまでと同様に、試験に必要な配線経路を備える電線束を容易に抽出するとともに、試験に必要な電線束と不要な電線束とを視覚的に明確に区別して表示させることができる。

次に、サブシステム試験で通電する実機ハーネスに用いられている電線のうち、試験で通電する電線のみを残し、不要な電線は全て取り除いたハーネスに設計し直す案２に対応する例を説明する。
なお、図２に示す配線例、図３に示す接続情報及び入力テーブル（図１５（ａ）に再掲）は、案１と同じものとし、以下では案１との相違点を中心に説明する。

試験用のハーネスを新規に製作する案２は、試験対象である端末装置３０のコネクタＣ７に、試験に不要な電線は接続しない。よって、案１で説明した「手順２」を経ずに、「手順３」を行うために、コネクタ及び電線のカテゴリは「ａ」または「ｃ」であり、ハーネスの総合評価は「Ａ」または「Ｃ」となる。その結果、図１４に示すように、配線図としては、電線がカテゴリ「ａ」に対応する実線とカテゴリ「ｃ」に対応する破線のいずれかで示されている。また、図１６に示すように、接続情報テーブルは、カテゴリが「ａ」及び「ｃ」のいずれかであり、総合評価が「Ａ」及び「Ｃ」のいずれかで示されている。
以上の結果より、新規に作製すべき配線図としては、図１７に示すように、試験で通電する電線、つまり図１５に実線で示されている電線Ｗ１２，Ｗ１６，Ｗ１１，Ｗ１５，Ｗ２１，Ｗ２３と、これら電線と接続されるコネクタ、端末装置３０，４０だけが示されている。そして、出力テーブルとしては、図１６（ｂ）に示すように、必要コネクタと不要（導通無）の二つに区分されている。

以上説明したように、カテゴリ及び総合評価をそれぞれ二種類に絞ることにより、試験用のハーネスを新規に製作する案２に適した配線図及び出力テーブルを生成し、また、表示させることができる。
案２と案１を比べると、案２はカテゴリｂに該当する不要（導通有）な電線を削除する分だけ、必要な他の電線に加わる耐雷電流が増えるために、実機を忠実に模擬する点では案１の方が好ましいと言える。したがって、案１は、試験機材、試験に要する手間が案２に比べて増える。

以上、本発明を好ましい実施形態に基づいて説明したが、本発明の主旨を逸脱しない限り、上記実施形態で挙げた構成を取捨選択したり、他の構成に適宜変更したりすることができる。
図３に示す接続情報テーブルは、理解を容易にするために、（ａ）〜（ｅ）に区分して示しているが、必要な紐づけ、カテゴリの付与及び総合評価ができるのであれば、図３に示す形態に限定されない。
また、例えば、案１の実施形態において、カテゴリｃを仮に付与した後、その中からカテゴリａに変更し、次いで、カテゴリｂに変更するという手順を踏んでいるが、最終的にａ，ｂ，ｃのカテゴリに区別できれば、この手順を変更してもよい。
そして、本発明の実施形態では、理解を容易にするために、入力テーブル（図４（ａ））には試験用のハーネスに必要なコネクタを１つ（コネクタＩＤ Ｃ７）だけ登録しているが、現実的には複数個のコネクタが必要な場合が多く、勿論、入力テーブルに複数のコネクタに対応するするピン情報（ピンＩＤ）を登録することができる。
その場合、上記の通り、１つのコネクタとそのコネクタが備えるピン情報からａ，ｂ，ｃのカテゴリに区別されたとしても、他のコネクタとそのコネクタが備えるピン情報が加わると、ｂ，ｃとカテゴリに区別されていた電線が、前者がカテゴリａに、また、後者がカテゴリａあるいはカテゴリｂにさらに変わることがありうることは言うまでもない。
さらに、入力テーブルに登録した複数のピン情報が結果として繋がっていた場合でも（即ち、接続情報が重複していても）、得られる結果は何も変わらないため、入力テーブルの作成時に重複の有無を留意する必要もない。

１ 入力部
２ 処理部
３ 第一記憶部
４ 第二記憶部
５ 表示部
１０ 判定装置
２０ 配線描画システム
３０，４０ 端末装置
Ｃ０〜Ｃ１０ コネクタ
Ｗ１１〜Ｗ１９ 電線
Ｗ２１〜Ｗ２８ 電線
ＷＨ１，ＷＨ２ ハーネス

Claims (5)

1. 電線束を構成する複数の電線と前記電線が接続されるコネクタをそれぞれが備える複数のワイヤハーネスにより、端末装置の間を接続する配線構造体において、電気的な試験に用いられる試験用電線を含む前記電線束を判定する電線束の判定装置であって、
   前記電線と前記コネクタの接続関係を記憶する記憶部と、
   前記試験用電線を含む前記電線束を、前記記憶部に記憶されている前記接続関係に基づいて判定する処理部と、を備え、
   前記処理部は、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通がある前記試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束について、前記試験に用いる電線束であることを示す評価Ａを付与し、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通のない前記電線しか含まれていなければ、当該電線束について、前記試験に用いない電線束であることを示す評価Ｃを付与する、
   ことを特徴とする電線束の判定装置。
2. 前記処理部は、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通があるが、前記試験用電線に該当しない前記電線が少なくとも１本含まれていれば、当該電線束について、切断してはいけないことを示す評価Ｂを付与する、
   請求項１に記載の電線束の判定装置。
3. 前記処理部は、
   前記試験に用いられる前記端末装置が備える前記コネクタのピンの識別情報に基づいて、前記記憶部に記憶される前記接続関係を紐づけ、
   紐づけられた前記電線のそれぞれについて、前記試験用電線に該当することを示すカテゴリａを付与し、
   前記処理部は、
   前記カテゴリａが付与された前記試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束に前記評価Ａを付与する、
   請求項１又は請求項２に記載の電線束の判定装置。
4. 電線束を構成する複数の電線と前記電線が接続されるコネクタをそれぞれが備える複数のワイヤハーネスにより、端末装置の間を接続する配線構造体において、電気的な試験に用いられる試験用電線を含む前記電線束を判定する電線束の判定装置であって、
   前記電線と前記コネクタの接続関係を記憶する記憶部と、
   前記試験用電線を含む前記電線束を、前記記憶部に記憶されている前記接続関係に基づいて判定する処理部と、を備え、
   前記処理部は、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通がある前記試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束について、前記試験に用いる電線束であることを示す評価Ａを付与し、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通のない前記電線しか含まれていなければ、当該電線束について、前記試験に用いない電線束であることを示す評価Ｃを付与し、かつ、
   前記処理部は、
   同じ前記電線束に、前記端末装置と導通があるが、前記試験用電線に該当しない前記電線が少なくとも１本含まれていれば、当該電線束について、切断してはいけないことを示す評価Ｂを付与し、かつ、
   前記処理部は、
   前記試験に用いられる前記端末装置が備える前記コネクタのピンの識別情報に基づいて、前記記憶部に記憶される前記接続関係を紐づけ、
   紐づけられた前記電線のそれぞれについて、前記試験用電線に該当することを示すカテゴリａを付与し、かつ、
   前記処理部は、
   前記カテゴリａが付与された前記試験用電線が１本でも含まれていれば、当該電線束に前記評価Ａを付与し、
   前記処理部は、
   前記試験に用いられる前記端末装置と嵌合されるコネクタのピンであって、前記コネクタのピン以外のピンの識別情報に基づいて、前記記憶部に記憶される前記接続関係を紐づけ、
   紐づけられた前記電線のそれぞれについて、前記端末装置と導通があるが、前記試験用電線に該当しないことを示すカテゴリｂを付与し、
   前記処理部は、
   前記カテゴリａが付与された電線を含まず、かつ前記カテゴリｂが付与された前記電線を含んでいれば、当該電線束に前記評価Ｂを付与する、
   ことを特徴とする判定装置。
5. 前記処理部は、
   前記接続関係に含まれる全ての前記電線及び前記コネクタに対して、前記端末装置と導
   通のないことのカテゴリｃを仮に付与し、
   前記処理部は、
   前記カテゴリａ及び前記カテゴリｂが付与された前記電線について、前記カテゴリｃを
   前記カテゴリａ又は前記カテゴリｂに変更し、
   変更されなかった前記カテゴリｃしか含まれていない前記電線束に前記評価Ｃを付与す
   る、
   請求項４に記載の電線束の判定装置。

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