JPS594075B2 - パタ−ンケンサソウチ - Google Patents
パタ−ンケンサソウチInfo
- Publication number
- JPS594075B2 JPS594075B2 JP50153100A JP15310075A JPS594075B2 JP S594075 B2 JPS594075 B2 JP S594075B2 JP 50153100 A JP50153100 A JP 50153100A JP 15310075 A JP15310075 A JP 15310075A JP S594075 B2 JPS594075 B2 JP S594075B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- inspected
- pattern
- width
- pattern body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、紙幣などシート状の被検査パターン体があら
かじめ設定された真正パターンの巾ならびに長さと一致
するか否かによつて、当該被検査５ パターン体を検査
する装置に係り、該パターン検査装置の構成を改良して
比較的少ない検知器群により被検査パターン体の送り速
度などに関係なく、当該被検査パターン体を正確に判別
しようとする目的から開発されたものである。
かじめ設定された真正パターンの巾ならびに長さと一致
するか否かによつて、当該被検査５ パターン体を検査
する装置に係り、該パターン検査装置の構成を改良して
比較的少ない検知器群により被検査パターン体の送り速
度などに関係なく、当該被検査パターン体を正確に判別
しようとする目的から開発されたものである。
１０まず、実施例を添付図面にもとづき説明すると、Ｐ
ｉは１０００円紙幣など一定の巾Ｗと一定の長さｄとを
有する被検査パターン体、１はこの被検査パターン体を
通過せしむ通路ケースで、該通路ケースは被検査パター
ン体Ｐｉを挿入する挿入口１５２ならびに排出する排出
口３を有している。
ｉは１０００円紙幣など一定の巾Ｗと一定の長さｄとを
有する被検査パターン体、１はこの被検査パターン体を
通過せしむ通路ケースで、該通路ケースは被検査パター
ン体Ｐｉを挿入する挿入口１５２ならびに排出する排出
口３を有している。
Ｄ１は通路ケース１の挿入口２寄りに設けられる被検査
パターン体Ｐｉの挿入確認用の検出器群で、該挿入確認
用検出器は光源ならびに受光素子あるいは磁気検出素子
などからなり、被検査パタク０−ン体Ｐｉの挿入口２へ
の投入を検出して、当該被検査パターン体を通路ケース
１内にさらに引き込む装置（図示省略）を作動する。Ｄ
ｅｌ、Ｄｅ２は通路ケース１の中央寄りに設けられる被
検査パターン体Ｐｉの一方、他方サイドを２５検出する
エッジ検出器で、該エッジ検出器は被検査パターン体Ｐ
ｉのサイドにおけるパターンに対応した信号を発し、光
源ならびに受光素子あるいは磁気検出素子などからなり
、通路ケース１内を移動する被検査パターン体Ｐ１の両
エッヂを検出３０して、第２図、第３図の如く、両検出
信号の和であるエッジ検出信号ｅを出力する。
パターン体Ｐｉの挿入確認用の検出器群で、該挿入確認
用検出器は光源ならびに受光素子あるいは磁気検出素子
などからなり、被検査パタク０−ン体Ｐｉの挿入口２へ
の投入を検出して、当該被検査パターン体を通路ケース
１内にさらに引き込む装置（図示省略）を作動する。Ｄ
ｅｌ、Ｄｅ２は通路ケース１の中央寄りに設けられる被
検査パターン体Ｐｉの一方、他方サイドを２５検出する
エッジ検出器で、該エッジ検出器は被検査パターン体Ｐ
ｉのサイドにおけるパターンに対応した信号を発し、光
源ならびに受光素子あるいは磁気検出素子などからなり
、通路ケース１内を移動する被検査パターン体Ｐ１の両
エッヂを検出３０して、第２図、第３図の如く、両検出
信号の和であるエッジ検出信号ｅを出力する。
第２図のＤＡは差動（比較）増巾器で、該差動増巾器は
エッジ検出信号ｅ）ならびに被検査パターン体Ｐｉの真
正パターン体の巾にもとづきあら３５かじめ設定された
真正信号ｔｗをそれぞれ入力比較して巾検査信号ｉを出
力する。
エッジ検出信号ｅ）ならびに被検査パターン体Ｐｉの真
正パターン体の巾にもとづきあら３５かじめ設定された
真正信号ｔｗをそれぞれ入力比較して巾検査信号ｉを出
力する。
言い換えると、エッジ検出信号ｅが真正巾信号ｔｗより
も大きけれ１ηハば、エツジ検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２の両
方が被検査パターンＰｉを検出していることになるから
、巾検査信号１が低レベルになるか否かにようて被検査
パターン体Ｐｉの巾ｗが真正パターンの巾と同一である
か否かを検査できることになる。
も大きけれ１ηハば、エツジ検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２の両
方が被検査パターンＰｉを検出していることになるから
、巾検査信号１が低レベルになるか否かにようて被検査
パターン体Ｐｉの巾ｗが真正パターンの巾と同一である
か否かを検査できることになる。
ＴＳは差動増巾器ＤＡの後段に設けられるイキ値判別器
で、該イキ値判別器は一対の比較器ＣＭｌ，ＣＭ２など
からなり巾検査信号１を入力して、該検査信号があらか
じめ設定されるイキ値巾ｈを越えると高レベルとなり、
イキ値巾ｈ内にあれば、低レベルとなるパルス信号Ｐを
出力する。Ｇはイキ値判別器ＴＳの後段に設けられるナ
ンドゲートで、該ゲートはパルス信号Ｐを入力すると共
に、被検査パターン体Ｐｉの通路ケース１内への引き込
み速度すなわち送り速度に同期したパルス列信号Ｐｄを
入力してパルス信号Ｐが低レベルであるときにパルス列
信号Ｐｄを通過させ、検査パルス信号ｗ＆ｄを出力する
。ＣＴはナンドゲートＧの後段に設けられるカウンタで
、該カウンタは検査パルス信号ｗ＆ｄを入力して計数し
計数信号αを出力する。
で、該イキ値判別器は一対の比較器ＣＭｌ，ＣＭ２など
からなり巾検査信号１を入力して、該検査信号があらか
じめ設定されるイキ値巾ｈを越えると高レベルとなり、
イキ値巾ｈ内にあれば、低レベルとなるパルス信号Ｐを
出力する。Ｇはイキ値判別器ＴＳの後段に設けられるナ
ンドゲートで、該ゲートはパルス信号Ｐを入力すると共
に、被検査パターン体Ｐｉの通路ケース１内への引き込
み速度すなわち送り速度に同期したパルス列信号Ｐｄを
入力してパルス信号Ｐが低レベルであるときにパルス列
信号Ｐｄを通過させ、検査パルス信号ｗ＆ｄを出力する
。ＣＴはナンドゲートＧの後段に設けられるカウンタで
、該カウンタは検査パルス信号ｗ＆ｄを入力して計数し
計数信号αを出力する。
なお、ＲはカウンタＣＴをりセツトする信号で、該信号
は、たとえば被検出パターン体Ｐｉが通路ケース１内に
挿入されて検出器Ｄｉにより検出されたときなどのスタ
ート時に印加される。ＰＳは設定器で、該設定器は被検
出パターン体Ｐｉの真正パターン体にもとづく真正計数
信号βを出力する。Ｇ１はカウンタＣＴの後段に接続さ
れるアンドゲートで、該ゲートは計数信号αならびに真
正計数信号βをそれぞれ入カチエツクして、当該計数信
号αが真正計数信号βと一致するときのみ、真正信号ｗ
′０Ｃｄ′を出力する。第３図波形図について説明する
と、Ｄｅｌ，Ｄｅ２のエツジ検出器出力ｅは第３図ｅ及
びｉの波形のようであり左側が正常検出パターンで右側
が異常（黒いもの）検出パターンの波形である。
は、たとえば被検出パターン体Ｐｉが通路ケース１内に
挿入されて検出器Ｄｉにより検出されたときなどのスタ
ート時に印加される。ＰＳは設定器で、該設定器は被検
出パターン体Ｐｉの真正パターン体にもとづく真正計数
信号βを出力する。Ｇ１はカウンタＣＴの後段に接続さ
れるアンドゲートで、該ゲートは計数信号αならびに真
正計数信号βをそれぞれ入カチエツクして、当該計数信
号αが真正計数信号βと一致するときのみ、真正信号ｗ
′０Ｃｄ′を出力する。第３図波形図について説明する
と、Ｄｅｌ，Ｄｅ２のエツジ検出器出力ｅは第３図ｅ及
びｉの波形のようであり左側が正常検出パターンで右側
が異常（黒いもの）検出パターンの波形である。
ＲＩｕｈは次段のイキ値判別の巾である。各出力はＰ波
形のようにイキ値判別回路で作られる。被検出パターン
の送り速度に同期したパルスＰｄ波形図の様であり、Ｐ
．ｌｌ！ｌ：Ｐｄの同期によりＣＴ回路に計数カウント
される。被検出パターンが送り込まれて停止するとｗ〜
ｄ′の出力が第３図ｗ′０Ｃｄ′波形のように左側は出
力されるが、右側では出力されない。
形のようにイキ値判別回路で作られる。被検出パターン
の送り速度に同期したパルスＰｄ波形図の様であり、Ｐ
．ｌｌ！ｌ：Ｐｄの同期によりＣＴ回路に計数カウント
される。被検出パターンが送り込まれて停止するとｗ〜
ｄ′の出力が第３図ｗ′０Ｃｄ′波形のように左側は出
力されるが、右側では出力されない。
上記の如くなる本発明は、１０００円紙幣などの被検査
パターン体Ｐｉを通路ケース１の挿入口２内に投入する
と、該被検査パターン体Ｐｉが検出器Ｄｉによつて検出
され、図示省略の引き込み装置により当該被検査パター
ン体Ｐｉが通路ケース１内にさらに引き込まれると共に
、検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２群によつて移動する該被検査パ
ターン体の両サイド部が検出されてエツジ検出信号ｅが
出力されることになる。
パターン体Ｐｉを通路ケース１の挿入口２内に投入する
と、該被検査パターン体Ｐｉが検出器Ｄｉによつて検出
され、図示省略の引き込み装置により当該被検査パター
ン体Ｐｉが通路ケース１内にさらに引き込まれると共に
、検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２群によつて移動する該被検査パ
ターン体の両サイド部が検出されてエツジ検出信号ｅが
出力されることになる。
かくして、あらかじめ設定された真正巾信号Ｔｗを入力
する差動増巾器ＤＡを介してエツジ検出信号ｅが比較検
査され、被検査パターン体Ｐｉの巾ｗが真正パターンの
巾と同一であることを意味する巾検査信号１が当該差動
増巾器ＤＡから出力されると共に、イキ値判別器ＴＳを
介在してパルス信号Ｐが出力される。
する差動増巾器ＤＡを介してエツジ検出信号ｅが比較検
査され、被検査パターン体Ｐｉの巾ｗが真正パターンの
巾と同一であることを意味する巾検査信号１が当該差動
増巾器ＤＡから出力されると共に、イキ値判別器ＴＳを
介在してパルス信号Ｐが出力される。
つぎに、被検査パターン体Ｐｉの送り速度に同期された
パルス列信号Ｐｄ及びパルス信号Ｐを入力するナンドゲ
ートＧを介してパルス信号Ｐが低レベルであるとき（幅
検出信号がイキ値ｈ内にあるとき）のみパルス列信号Ｐ
ｄを検査パルス信号ｗ＆ｄとして通過させる。
パルス列信号Ｐｄ及びパルス信号Ｐを入力するナンドゲ
ートＧを介してパルス信号Ｐが低レベルであるとき（幅
検出信号がイキ値ｈ内にあるとき）のみパルス列信号Ｐ
ｄを検査パルス信号ｗ＆ｄとして通過させる。
該検査パルス信号ｗ＆ｄは、カウンタＣＴで計数され、
該カウンタＣＴの計数信号αが被検査パターン体Ｐｉの
真正パターンの長″さに対応する真正計数信号βと一致
すると、アンドゲートＧ１から真正信号ｗ′＆Ｄ７を出
力し、被検査パターンを真とみなし、逆に真正信号１＆
ｄ勺｛発せられず、被検査パターンを偽とみなして、被
検査パターン体Ｐｌの巾ｗならびに長さｄが検査される
ことになる。以上の如くなる本発明は、被検出パターン
の両サイドを検出する一対のエツジ検出器に基づく工ツ
ジ検出信号と、真正パターンの巾に対応する真正巾信号
とを差動比較した幅検出信号が予め設定されたイキ値に
あるか否かによつて被検査パターン体の幅を検査し、こ
の幅検出信号がイキ値内にあるときのみ被検査パターン
体の送り速度に同期したパルス列信号を検査パルス信号
として出力させ、該検査パルス信号を計数するカウンタ
の計数するカウンタの計数信号が被検査パターン体の真
正パターン体の真正パターンの長さ基づく真正計数信号
に等しいときに真正信号を発し、被検査パターン体の長
さを検査しているから、検出器群を２個と比較的少ない
数にすることができると共に、被検査パターン体Ｐｌの
移動速度に関係なく、当該被検査パターン体Ｐｉの巾ｗ
ならびに長さｄを正確に検査できることになるなど、実
用上の効果大なるものがある。
該カウンタＣＴの計数信号αが被検査パターン体Ｐｉの
真正パターンの長″さに対応する真正計数信号βと一致
すると、アンドゲートＧ１から真正信号ｗ′＆Ｄ７を出
力し、被検査パターンを真とみなし、逆に真正信号１＆
ｄ勺｛発せられず、被検査パターンを偽とみなして、被
検査パターン体Ｐｌの巾ｗならびに長さｄが検査される
ことになる。以上の如くなる本発明は、被検出パターン
の両サイドを検出する一対のエツジ検出器に基づく工ツ
ジ検出信号と、真正パターンの巾に対応する真正巾信号
とを差動比較した幅検出信号が予め設定されたイキ値に
あるか否かによつて被検査パターン体の幅を検査し、こ
の幅検出信号がイキ値内にあるときのみ被検査パターン
体の送り速度に同期したパルス列信号を検査パルス信号
として出力させ、該検査パルス信号を計数するカウンタ
の計数するカウンタの計数信号が被検査パターン体の真
正パターン体の真正パターンの長さ基づく真正計数信号
に等しいときに真正信号を発し、被検査パターン体の長
さを検査しているから、検出器群を２個と比較的少ない
数にすることができると共に、被検査パターン体Ｐｌの
移動速度に関係なく、当該被検査パターン体Ｐｉの巾ｗ
ならびに長さｄを正確に検査できることになるなど、実
用上の効果大なるものがある。
第１図は本発明の実施例要部をしめす略示的な平面図、
第２図は同上実施例の配線図、第３図は動作波形図であ
る。 Ｐｉ・・・・・・被検査パターン体、Ｄｅｌ，Ｄｅ２・
・・・・・検出器、ＤＡ・・・・・・室動（比較）増巾
器、ＴＳ・・・・・・イキ値判別器、Ｇ・・・・・・ナ
ンドゲート、Ｔｗ・・・・・・真正巾信号、Ｐｄ・・・
・・・真正長さパルス信号、ｗ・・・・・巾、ｄ・・・
・・・長さ 。
第２図は同上実施例の配線図、第３図は動作波形図であ
る。 Ｐｉ・・・・・・被検査パターン体、Ｄｅｌ，Ｄｅ２・
・・・・・検出器、ＤＡ・・・・・・室動（比較）増巾
器、ＴＳ・・・・・・イキ値判別器、Ｇ・・・・・・ナ
ンドゲート、Ｔｗ・・・・・・真正巾信号、Ｐｄ・・・
・・・真正長さパルス信号、ｗ・・・・・巾、ｄ・・・
・・・長さ 。
Claims (1)
- １ 移動する被検査パターン体の一方及び他方サイドを
検出する一対のエッジ検出器と、該検出器の検出信号の
和であるエッジ検出信号と被検査パターン体の真正パタ
ーン体の巾に基づき予め設定された真正巾信号とを差動
増巾して巾検出信号を出力する増巾器と、該増巾器から
の巾検出信号を予め設定されたイキ値にて判別してパル
ス信号に変換するイキ値判別器と、該イキ値判別器から
巾検出信号が上記イキ値にあることを示す信号が発せら
れているときのみ、上記被検査パターン体の送り速度に
同期されたパルス列信号を検査パルス信号として出力さ
せるゲートと、該ゲートからの検査パルス信号を計数す
るカウンタと、該カウンタの計数信号が被検査パターン
体の真正パターンの長さに基づく真正計数信号に等しい
ときのみ真正信号を発するゲートとからなり、上記被検
査パターン体の巾ならびに長さを検査するようにしたこ
とを特徴とするパターン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50153100A JPS594075B2 (ja) | 1975-12-15 | 1975-12-15 | パタ−ンケンサソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50153100A JPS594075B2 (ja) | 1975-12-15 | 1975-12-15 | パタ−ンケンサソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5273057A JPS5273057A (en) | 1977-06-18 |
| JPS594075B2 true JPS594075B2 (ja) | 1984-01-27 |
Family
ID=15554963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50153100A Expired JPS594075B2 (ja) | 1975-12-15 | 1975-12-15 | パタ−ンケンサソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS594075B2 (ja) |
-
1975
- 1975-12-15 JP JP50153100A patent/JPS594075B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5273057A (en) | 1977-06-18 |
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