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JPS6314341B2 - - Google Patents
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JPS6314341B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6314341B2
JPS6314341B2 JP9590180A JP9590180A JPS6314341B2 JP S6314341 B2 JPS6314341 B2 JP S6314341B2 JP 9590180 A JP9590180 A JP 9590180A JP 9590180 A JP9590180 A JP 9590180A JP S6314341 B2 JPS6314341 B2 JP S6314341B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
butyl
substituent containing
isocyanuric acid
bond
group
Prior art date
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Expired
Application number
JP9590180A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5720733A (en
Inventor
Yoshuki Harita
Seiji Fukuhara
Yoichi Kamoshita
Toko Harada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Japan Synthetic Rubber Co Ltd filed Critical Japan Synthetic Rubber Co Ltd
Priority to JP9590180A priority Critical patent/JPS5720733A/ja
Publication of JPS5720733A publication Critical patent/JPS5720733A/ja
Publication of JPS6314341B2 publication Critical patent/JPS6314341B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/008Azides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、ジエン系重合体環化物を主成分とす
るホトレジスト組成物の熱安定性の改良に関する
ものである。 集積回路の製造のような、微細加工用レジスト
材としては、ゴム系レジストと称されている天然
ゴムまたはポリイソプレンの環化物あるいはポリ
ブタジエンの環化物を主成分とするホトレジスト
組成物が使用されている。しかし、今後この加工
技術の進歩とともに、高感度、高耐蝕性、耐熱性
がますます要求されるようになり、現有ホトレジ
ストの改善が必要とされている。 とくにポリブタジエン環化物を主成分とするホ
トレジスト組成物は、基材に塗布後80℃の乾燥工
程を通すと“かぶり”と称する現象が起こり、高
解像力が出せず、かぶりを避けるためには60℃に
温度を下げる必要があつた。このため、乾燥が十
分に行なわれず、解像力も市販品と同等の2μm
程度しか得られなかつた。 本発明者らは、ポリブタジエン環化物からなる
ホトレジスト組成物の耐熱性を改良すべく検討を
試みたところ、イソシアヌル酸誘導体が、高感
度、高耐蝕性を損うことなく、熱処理に対してホ
トレジスト組成物を安定化させ得ることを見出
し、本発明に到達した。 すなわち、本発明の要旨は、ジエン系重合体環
化物と光架橋剤および/または光増感剤ならびに
イソシアヌル酸誘導体を含むことを特徴とするホ
トレジスト組成物にある。 本発明によれば、熱的に安定化したホトレジス
ト組成物を提供することができる。 本発明に用いられるイソシアヌル酸誘導体は、
一般式 で表わされ、R1、R2およびR3は、同一又は異な
つて、アルキル基、アルケニル基、アラルキル
基、アリール基、エーテル結合を含む置換基、チ
オエーテル結合を含む置換基、エステル結合を含
む置換基、アミノ結合を含む置換基、またはフエ
ノール性水酸基を含む置換基から選ばれ、さらに
R1、R2およびR3のうち少なくとも1つはフエノ
ール性水酸基を含む置換基から選ばれる。 上記フエノール性水酸基をもつ置換基は、 一般式 で表わされ、Q1、Q2、Q3、Q4およびQ5は同一又
は異なつて、水素原子、水酸基またはアルキル基
から選ばれ、Q1、Q2、Q3、Q4およびQ5の少なく
とも1つは水酸基である。またRはアルキレン
鎖、またはエーテル結合、チオエーテル結合、エ
ステル結合もしくはアミノ結合を含むアルキレン
鎖を表わす。具体例としては、4−ヒドロキシフ
エニル、2,4−ジヒドロキシフエニル、4−メ
チル−2,5−ジヒドロキシフエニル、3−メチ
ル−5−t−ブチル−4−ヒドロキシフエニル、
2,3−ジエチル−5−ヒドロキシフエニル、
2,4,6−トリヒドロキシフエニル、4−ヒド
ロキシベンジル、4−エチル−3,5−ジヒドロ
キシフエニル、3−(3′,5′−ジ−t−ブチル−
4′−ヒドロキシフエニル)プロピオニルオキシエ
チル、4−(3′,5′−ジ−t−ブチル−4′−ヒドロ
キシフエニル)ブトキシエチル、3−(3′,5′−
ジ−t−ブチル−4′−ヒドロキシフエニル)−1
−プロペニル、3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒ
ドロキシベンジル、3−メチル−5−t−ブチル
−4−ヒドロキシベンジル、3−エチル−5−t
−ブチル−4−ヒドロキシベンジル、3−プロピ
ル−5−t−ブチル−4−ヒドロキシベンジル、
3,5−ジプロピル−4−ヒドロキシベンジル、
3−(3′−メチル−5′−t−ブチル−4′−ヒドロキ
シフエニル)プロピオニルオキシエチル、3−
(3′−エチル−5′−t−ブチル−4′−ヒドロキシフ
エニル)プロピオニルオキシエチル、3−(3′−
プロピル−5′−t−ブチル−4′−ヒドロキシフエ
ニル)プロピオニルオキシエチル、2,3−ジヒ
ドロキシベンジル、4−エチル−3,5−ジヒド
ロキシベンジル、4−t−ブチル−3,5−ジヒ
ドロキシベンジルなどをあげることができる。 また上記イソシアヌル酸誘導体の代表例として
は、1,3,5−トリス(3′,5′−ジ−t−ブチ
ル−4′−ヒドロキシベンジル)イソシアヌル酸、
1,3,5−トリス〔β−(3′,5′−ジ−t−ブ
チル−4′−ヒドロキシフエニル)プロピオニルオ
キシエチル〕イソシアヌル酸、1,3,5−トリ
ス(3′−エチル−5′−t−ブチル−4′−ヒドロキ
シベンジル)イソシアヌル酸、1,3,5−トリ
ス(2′,3′−ジヒドロキシベンジル)イソシアヌ
ル酸、1,3,5−トリス(4′−エチル−3′,
5′−ジヒドロキシベンジル)イソシアヌル酸、
1,3,5−トリス〔β−(3′,5′−ジ−t−ブ
チル−4′−ヒドロキシベンジル)エトキシプロピ
ル〕イソシアヌル酸、1,3−ビス(3′−メチル
−5′−t−ブチル−4′−ヒドロキシベンジル)−
5−(3′,5′−ジ−t−ブチル−4′−ヒドロキシベ
ンジル)イソシアヌル酸、1,3−ビス(3′,
5′−ジ−t−ブチル−4′−ヒドロキシベンジル)
−5−(4′−エチル−3′,5′−ジヒドロキシベンジ
ル)イソシアヌル酸などをあげることができる。 これらのイソシアヌル酸誘導体は、ジエン系重
合体環化物100重量部に対して好ましくは0.1〜
10.0重量部、さらに好ましくは0.5〜5.0重量部添
加する。また、他のゴム用のフエノール系、アミ
ン系老化防止剤を添加し併用することができる。 本発明で使用するジエン系重合体環化物は、ジ
エン系重合体を環化して得られる環化物であつ
て、ジエン系重合体のミクロ構造については特に
制限はない。また環化率についても特に制限はな
いが、好ましくは5〜95%、さらに好ましくは10
〜90%程度環化されているものが適当である。感
度などの点からは、シス−ポリブタジエンの環化
物を使用することが好ましい。なお、上記環化率
は (1−重合体の環化後の不飽和水素の全水素に
対する割合*/重合体の環化前の不飽和水素の全水素に
対する割合*)×100 で表わされる。(*:NMRにより測定) 本発明に用いられる光架橋剤としては特に限定
されないが、アジド系感光性物質、たとえば、
4,4′−ジアジドスチルベン、p−フエニレンビ
スアジド、4,4′−ジアジドベンゾフエノン、
4,4′−ジアジドジフエニルメタン、4,4′−ジ
アジドカルコン、2,6−ビス(4′−アジドベン
ザル)シクロヘキサノン、4,4′−ジアジドジフ
エニル、4,4′−ジアジド−3,3′−ジメチルジ
フエニル、2,7−ジアジドフルオレンなどを用
いることができる。しかし光架橋剤について、特
に制限があるものではなく、本発明で用いられる
ジエン系重合体環化物と組合せて効果のある光架
橋剤はすべて用いることができる。 本発明で用いられる光増感剤としては、たとえ
ばベンゾフエノン、アントラキノン、1,2−ナ
フトキノン、1,4−ナフトキノン、β−メチル
アントラキノン、ベンズアントロン、ビオラント
ロン、9−アントラアルデヒド、ベンジル、p,
p′−テトラメチルジアミノベンゾフエノン、クロ
ラニルなどのカルボニル化合物、アントラセン、
クリセンなどの芳香族炭化水素、ニトロベンゼ
ン、p−ジニトロベンゼン、α−ニトロナフタレ
ン、p−ニトロジフエニル、2−ニトロフルオレ
ン、5−ニトロアセナフテンなどのニトロ化合
物、ニトロアニリン、2−クロロ−4−ニトロア
ニリン、2,6−ジクロル−4−ニトロアニリ
ン、5−ニトロ−2−アミノトルエン、テトラシ
アノエチレンなどの窒素化合物、ジフエニルジス
ルフイドなどのイオウ化合物などがあげられる。
しかし光増感剤について特に制限があるものでは
なく、本発明で用いられるジエン系重合体環化物
と組合せて効果のある光増感剤はすべて用いるこ
とができる。 本発明で用いられる光架橋剤および/または光
増感剤は、ジエン系重合体環化物100重量部に対
して好ましくは0.5〜10重量部、さらに好ましく
は1〜5重量部配合される。 本発明で用いるジエン系重合体環化物の合成例
を次に示す。 市販のシス−1,4−ポリブタジエン(シス−
1,4結合含量98%、〔η〕30℃トルエン=2.70)27g
を窒素下乾燥トルエン4.0に溶かし均一な溶液
とする。塩化ベンジルの1モル/−トルエン溶
液を7.5ml(7.5ミリモル)、次いでジエチルアル
ミニウムクロリドの1モル/−トルエン溶液
を、5.0ml(5.0ミリモル)加えて反応させ、30分
後にごく少量の2,6−ジ−t−ブチル−p−ク
レゾールを含むメタノール中に入れて反応生成物
を回収し減圧乾燥させた。 NMRによる不飽和率38%、〔η〕30℃トルエン=
0.61の樹脂状のポリブタジエン環化物を得た。 実施例1〜8、比較例1〜10 ポリブタジエン環化物(合成例によるもの)
15.0g 光架橋剤 2,6−ビス(4′−アジドベンザル)
シクロヘキサノン 0.3g 安定剤 0.3gまたは0.6g キシレン 128ml 上記ホトレジスト組成物は、ポリブタジエン環
化物の13.5%溶液であり、25℃での粘度は40セン
チポイズとなる。孔径0.45μmのメンプランフイ
ルターで過して、以下の検討を行なつた。 1.0μmの厚みの熱酸化膜(SiO2層)をつけたシ
リコンウエルー上へ回転塗布法によりホトレジス
ト組成物を塗布し、膜厚1.0μmのレジスト層を作
製した。このシリコンウエハーを恒温槽に入れて
所定条件で熱処理した。 この結果、イソシアヌル酸誘導体を含むホトレ
ジスト組成物が非常に熱的に安定化させる性能を
有することがわかつた。
【表】 実施例 9 安定剤として2,6−ジ−t−ブチル−p−ク
レゾール0.3gと、1,3,5−トリス(3′,5′−
ジ−t−ブチル−4′−ヒドロキシベンジル)イソ
シアヌル酸0.3gを用いた以外は実施例1〜8と
全く同様に行なつた。熱処理雰囲気によらず80℃
60分、90℃30分の処理によく耐え、解像力も1.4μ
mとなつた。 比較例 11 安定剤としてフエニル−β−ナフチルアミン
0.3gと2,6−ジ−t−ブチル−p−クレゾー
ル0.3g(モル比約1)を用いた以外は実施例1
〜8と全く同様に行なつた。 60℃15分窒素中ではかぶりが発生せず、解像力
は2.0μmであつたが、雰囲気によらず80℃の熱処
理ではかぶりが発生し、解像力が出ないことがわ
かつた。 実施例 10 2,6−ビス(4′−アジドベンザル)シクロヘ
キサノンの代わりに、光増感剤としてベンゾフエ
ノン0.3gを用いた以外は実施例1〜8と全く同
様に行つた。熱処理雰囲気によらず80℃60分、90
℃30分の処理によく耐え、解像力も1.4μmとなつ
た。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ジエン系重合体環化物と光架橋剤および/ま
    たは光増感剤ならびにイソシアヌル酸誘導体を含
    むことを特徴とするホトレジスト組成物。 2 上記イソシアヌル酸誘導体は、 一般式 (ここで、R1、R2およびR3は、同一又は異なつ
    て、アルキル基、アルケニル基、アラルキル基、
    アリール基、エーテル結合を含む置換基、チオエ
    ーテル結合を含む置換基、エステル結合を含む置
    換基、アミノ結合を含む置換基またはフエノール
    性水酸基を含む置換基を表わし、R1、R2および
    R3のうち少なくとも1つはフエノール性水酸基
    を含む置換基である。) で表わされる特許請求の範囲第1項に記載のホト
    レジスト組成物。
JP9590180A 1980-07-14 1980-07-14 Photoresist composition Granted JPS5720733A (en)

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JP9590180A JPS5720733A (en) 1980-07-14 1980-07-14 Photoresist composition

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JP3843995B2 (ja) * 2002-05-27 2006-11-08 日本ゼオン株式会社 感放射線性樹脂組成物、パターン状樹脂膜を有する基板の製造方法、及び該樹脂組成物の利用
JP4912213B2 (ja) * 2007-05-09 2012-04-11 三菱電機株式会社 加熱調理器
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