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JPH0766931B2 - TAB tape - Google Patents
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JPH0766931B2 - TAB tape - Google Patents

TAB tape

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Publication number
JPH0766931B2
JPH0766931B2 JP2019265A JP1926590A JPH0766931B2 JP H0766931 B2 JPH0766931 B2 JP H0766931B2 JP 2019265 A JP2019265 A JP 2019265A JP 1926590 A JP1926590 A JP 1926590A JP H0766931 B2 JPH0766931 B2 JP H0766931B2
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adhesive
organic insulating
insulating film
resin
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美和 塚本
忠弘 大石
淳 越村
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Tomoegawa Co Ltd
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/386Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体デバイスの組み立て工程において、デ
バイスの多ピン化、小型化、高密度実装に際し、注目さ
れているTAB(Tape Automated Bonding)方式に用いら
れる保護層、多層構成接着剤層及び有機絶縁フィルムの
多層構成からなるテープ(以下、TAB用テープという)
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention is a TAB (Tape Automated Bonding) method that is attracting attention in the process of assembling semiconductor devices, in order to increase the number of pins of the device, reduce the size of the device, and mount the device in high density. A tape having a multilayer structure of a protective layer, a multilayer adhesive layer and an organic insulating film used for the following (hereinafter referred to as TAB tape)
Regarding

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、TAB用テープは、次のように加工されてフィルム
キャリアテープを形成する。
Conventionally, the TAB tape is processed as follows to form a film carrier tape.

1)スプロケット・デバイスホールをスタンピングによ
り穿孔する。
1) Drill sprocket device holes by stamping.

2)穿孔されたテープに銅箔を熱圧着した後、加熱によ
り接着剤を硬化させる。
2) After the copper foil is thermocompression bonded to the punched tape, the adhesive is cured by heating.

3)フォトレジストを塗布し、マスクを通して紫外線等
を照射した後、現像する。
3) Apply a photoresist, irradiate with ultraviolet rays through a mask, and then develop.

4)デバイスホールの裏打ち、銅のエッチング、レジス
ト除去、裏打ちの除去を行い、回路を作製し、ソルダー
レジストをかける。
4) Line the device hole, etch copper, remove the resist, remove the line, make a circuit, and apply solder resist.

5)錫、金メッキを行う。5) Perform tin and gold plating.

以上の工程を経て作成されたテープに、チップがインナ
ーリードボンディングされた後、リードを切断し、プリ
ント基板等にアウターリードボンディングし、樹脂で封
止する。或いは、インナーリードボンディングした後、
樹脂で封止し、周辺回路も含め切断し、アウターリード
ボンディングする。
After the chip is inner lead bonded to the tape produced through the above steps, the lead is cut, outer lead bonding is performed on a printed board or the like, and the tape is sealed with resin. Alternatively, after inner lead bonding,
Seal with resin, cut peripheral circuits, and perform outer lead bonding.

接着剤及び有機絶縁フィルムは、周辺回路、封止樹脂中
に残ることが多い。この様な場合、益々高密度化が進む
中、銅箔のパターン間の絶縁信頼性やチップのAl配線の
腐蝕に影響するイオン性不純物が問題になる。絶縁信頼
性やイオン性不純物は主に接着剤の特性に起因するとこ
ろが多い。即ち、イオン性不純物は、上記工程3)ない
し5)において、接着剤がアルカリ(例えば、金メッキ
時や、レジスト剥離時はカリウムイオンの含有)、酸
(例えば、錫メッキ時は塩素イオン、硫酸イオンの含
有)、エッチング液(塩素イオンの含有)などにさられ
る為に生じたり、また接着剤そのものに含まれていたり
する場合がある。また、絶縁信頼性は、接着剤の耐湿熱
性、電気抵抗、上記イオン性不純物などにより支配され
る。
The adhesive and the organic insulating film often remain in the peripheral circuit and the sealing resin. In such a case, as the density becomes higher and higher, ionic impurities that affect the insulation reliability between the patterns of the copper foil and the corrosion of the Al wiring of the chip become a problem. Insulation reliability and ionic impurities are mainly due to the characteristics of the adhesive. That is, the ionic impurities are, in the above steps 3) to 5), that the adhesive is alkali (for example, containing potassium ions during gold plating or resist stripping), acid (for example, chlorine ions or sulfate ions during tin plating). May be contained in the adhesive itself, or may be contained in the adhesive itself. Also, the insulation reliability is governed by the moist heat resistance of the adhesive, the electrical resistance, the ionic impurities, and the like.

従来用いられてきたTAB用テープの接着剤層は、エポキ
シ系のものであるが、これは、a)加工中にイオン性不
純物(特にC1イオン)が含有されやすい、b)湿熱によ
り加水分解されやすい、c)電気抵抗が低い、等の性質
により、パターン間の金属移行等を含め、絶縁劣化が問
題になっている。
The adhesive layer of the TAB tape that has been used in the past is of epoxy type. It is a) that ionic impurities (particularly C1 ions) are easily contained during processing, and b) it is hydrolyzed by wet heat. Due to the properties such as easy, c) low electric resistance, etc., insulation deterioration is a problem including metal transfer between patterns.

また、TAB用テープに用いられる接着剤は、金属であるC
u箔と有機絶縁フィルムとの層間を構成するものである
ため、金属及び有機絶縁フイルムの双方に高い接着力を
持つことが要求される。
The adhesive used for the TAB tape is C, which is a metal.
Since it forms the interlayer between the u foil and the organic insulating film, it is required to have high adhesive strength to both the metal and the organic insulating film.

従来用いられてきたTAB用テープの接着剤層は、いずれ
も単層構成のものであって、これ等単層構成のものは、
a)上記工程において接着剤層がアルカリ(例えば金メ
ッキ時、レジスト剥離時)、酸(例えば錫メッキ時)、
エッチング液等にさらされることによるCu箔に対する接
着力の低下、及びb)インナーリード及びアウターリー
ドボンディング時、高温下での有機絶縁フィルムに対す
る接着力の低下、等の欠点があり、益々デバイスの高密
度化、多ピン化が進む中で、多ピンチップのボンディン
グミスやリードの変形、剥がれ等が問題になっている。
本発明は、従来のTAB用テープにおける上記のような問
題を解決することを目的とするものである。
The adhesive layers of the TAB tapes that have been used conventionally have a single-layer structure.
a) In the above step, the adhesive layer is alkali (for example, during gold plating or resist stripping), acid (for example, tin plating),
There are drawbacks such as a decrease in the adhesive strength to Cu foil due to exposure to etching liquid, and b) a decrease in the adhesive strength to the organic insulating film at high temperature during inner lead and outer lead bonding. As the density and the number of pins increase, the problems such as bonding mistakes of multi-pin chips, lead deformation, and peeling are becoming problems.
The present invention aims to solve the above-mentioned problems in the conventional TAB tape.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

本発明のTAB用テープは、有機絶縁フィルム上に、接着
剤層及び保護層を設けてなり、該接着剤層が少なくとも
2層より構成され、かつ、有機絶縁フィルムと接する側
の接着剤層は、ポリアミド樹脂を主成分とし、保護層と
接する側の接着剤層は、ポリアミド樹脂とレゾール型フ
ェノール樹脂を主成分とすることを特徴とする。
The tape for TAB of the present invention comprises an adhesive layer and a protective layer provided on an organic insulating film, the adhesive layer is composed of at least two layers, and the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film is The polyamide resin is the main component, and the adhesive layer on the side in contact with the protective layer is characterized in that the polyamide resin and the resol-type phenol resin are the main components.

第1図は本発明のTAB用テープの模式的断面図であっ
て、有機絶縁フィルム1の片面に、第1の接着剤層21及
び第2の接着剤層22よりなる半硬化状の接着剤層2と、
保護層となる保護フィルム3が順次積層された層構成を
有する。図において、接着剤層2は2層構成になってい
るが、本発明においては、2層以上の層構成を有するも
のであってもよい。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a TAB tape of the present invention, which is a semi-cured adhesive consisting of a first adhesive layer 21 and a second adhesive layer 22 on one side of an organic insulating film 1. Layer 2 and
It has a layer structure in which protective films 3 to be protective layers are sequentially laminated. In the figure, the adhesive layer 2 has a two-layer structure, but in the present invention, it may have a layer structure of two or more layers.

有機絶縁フィルムとしては、厚さ25〜188μm、好まし
くは50〜125μmのポリイミド、ポリエーテルイミド、
ポリフェニレンサルファイド、ポリエーテルエーテルケ
トン等の耐熱性フィルムや、エポキシ樹脂−ガラスクロ
ス、エポキシ樹脂−ポリイミド−ガラスクロス等の複合
耐熱フィルムからなる有機絶縁フィルムが使用できる。
The organic insulating film has a thickness of 25 to 188 μm, preferably 50 to 125 μm of polyimide, polyetherimide,
An organic insulating film made of a heat-resistant film such as polyphenylene sulfide or polyether ether ketone or a composite heat-resistant film such as epoxy resin-glass cloth or epoxy resin-polyimide-glass cloth can be used.

接着剤層は、熱硬化型のもので半硬化状であることが必
要であり、少なくとも2層より構成される。接着剤層の
総膜厚は、10〜50μm、好ましくは15〜30μmの範囲に
ある。また、有機絶縁フィルムと接する側の接着剤層及
び保護層と接する側の接着剤層は、それぞれ、少なくと
も1μmの膜厚を有するのが望ましい。
The adhesive layer is a thermosetting type and needs to be semi-cured, and is composed of at least two layers. The total thickness of the adhesive layer is in the range of 10 to 50 μm, preferably 15 to 30 μm. Further, it is desirable that the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film and the adhesive layer on the side in contact with the protective layer each have a film thickness of at least 1 μm.

各接着剤層のうち、有機絶縁フィルムと接する側の接着
剤層は、有機絶縁フィルムに直接接するので、高温時に
おいても高い粘着性を有し、有機絶縁フィルムとの高い
接着力を示すような接着剤が使用される。そのような接
着剤として、本発明においては、ポリアミド樹脂を主成
分とするものが使用される。この接着剤層には、耐薬品
性を付与する為に、エポキシ樹脂やノボラック型フェノ
ール樹脂を併用することが可能である。更にまた、ポリ
エステル樹脂、NBR、SBR等の熱可塑性樹脂を配合するこ
とも可能である。いずれの場合においても、有機絶縁フ
ィルムに直接接する接着剤層においては、ポリアミド樹
脂は、50重量%以上含有されるようにするのが好まし
い。
Of the adhesive layers, the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film is in direct contact with the organic insulating film, and thus has high adhesiveness even at high temperatures and exhibits high adhesive strength with the organic insulating film. Adhesive is used. As such an adhesive, in the present invention, an adhesive containing a polyamide resin as a main component is used. An epoxy resin or a novolac type phenol resin can be used in combination with this adhesive layer in order to impart chemical resistance. Furthermore, it is possible to blend a thermoplastic resin such as polyester resin, NBR or SBR. In any case, the polyamide layer is preferably contained in the adhesive layer which is in direct contact with the organic insulating film in an amount of 50% by weight or more.

ポリアミド樹脂の含有量が50重量%よりも低くなると、
接着剤層の有機絶縁フィルムに対する接着力が弱くな
り、TAB用テープの加工工程や、加工後にフィルムキャ
リアテープとして使用する際の折り曲げにより接着剤層
と有機絶縁フィルムとの界面において剥離する現象が生
じ、半導体デバイスに重大な信頼性の低下を引き起こ
す。また、ボンディング時に銅箔のパターンが有機絶縁
フィルムから剥離しやすくなり、上記と同様に半導体デ
バイスの信頼性が体かするという問題が生じる。
When the content of polyamide resin becomes lower than 50% by weight,
The adhesive strength of the adhesive layer to the organic insulating film becomes weak, and there is a phenomenon that peeling occurs at the interface between the adhesive layer and the organic insulating film due to the TAB tape processing step and bending when used as a film carrier tape after processing. , Causing a serious decrease in reliability of semiconductor devices. Further, the pattern of the copper foil is easily peeled off from the organic insulating film during bonding, which causes a problem that the reliability of the semiconductor device is deteriorated similarly to the above.

他方、保護フィルムと接する側の接着剤層は、フィルム
キャリアテープへの加工時に、銅箔と接するようになる
ので、銅箔との高い接着性とフィルムキャリアへの加工
時にさらされるような薬液に対する優れた耐薬品性を持
つような接着剤が使用される。本発明においては、その
様な接着剤として、ポリアミド樹脂及びレゾール型フェ
ノール樹脂を主成分とするものが使用される。
On the other hand, the adhesive layer on the side in contact with the protective film comes into contact with the copper foil during processing into the film carrier tape, and therefore has high adhesiveness with the copper foil and a chemical solution exposed during processing into the film carrier. Adhesives with excellent chemical resistance are used. In the present invention, as such an adhesive, one having a polyamide resin and a resol-type phenol resin as main components is used.

この接着剤層においては、ポリアミド樹脂とレゾール型
フェノール樹脂との比率は、ポリアミド樹脂100重量部
に対し、レゾール型フェノール樹脂4〜100重量部の範
囲にあることが好ましく、また、ポリアミド樹脂は、全
接着剤中の50重量%未満であることが好ましい。
In this adhesive layer, the ratio of the polyamide resin and the resole-type phenol resin is preferably in the range of 4 to 100 parts by weight of the resole-type phenol resin with respect to 100 parts by weight of the polyamide resin, and the polyamide resin is It is preferably less than 50% by weight of the total adhesive.

ポリアミド樹脂の含有量が50重量%以上であると、接着
剤層の耐熱性が低下し、高温領域の雰囲気(例えば、錫
メッキ時における70〜80℃の温度)において、絶縁抵抗
の低下または変動を生じ、半導体デバイスが誤動作する
ようになる。また、接着剤層の耐薬品性が低下し、接着
剤層が、例えば金メッキ時やレジスト剥離時に強アルカ
リにさらされたり、錫メッキ時に強酸にさらされたりす
ることにより劣化して、或いはエッチング液により劣化
して銅箔との接着力の低下を生じる。そしてこれらの薬
液が不純物として接着剤層に吸収されやすくなり、電気
的信頼性を低下させ、前記と同様に半導体デバイスが誤
動作するようになる。
When the content of the polyamide resin is 50% by weight or more, the heat resistance of the adhesive layer decreases, and the insulation resistance decreases or fluctuates in the high temperature atmosphere (for example, the temperature of 70 to 80 ° C during tin plating). And the semiconductor device malfunctions. Further, the chemical resistance of the adhesive layer is lowered, and the adhesive layer is deteriorated by being exposed to a strong alkali during gold plating or resist stripping, or exposed to a strong acid during tin plating, or an etching solution. And the adhesive strength with the copper foil decreases. These chemicals are more likely to be absorbed as impurities in the adhesive layer, reducing the electrical reliability and causing the semiconductor device to malfunction similarly to the above.

また、この接着剤層には、さらにエポキシ樹脂、ノボラ
ック型フェノール樹脂等の熱硬化性樹脂及びイミダゾー
ル等の硬化促進剤を併用することができる。
In addition, a thermosetting resin such as an epoxy resin or a novolac type phenol resin, and a curing accelerator such as imidazole can be used in combination with this adhesive layer.

本発明における上記各接着剤層において使用するポリア
ミド樹脂としては、公知の種々のものが使用できる。
As the polyamide resin used in each of the adhesive layers in the present invention, various known ones can be used.

使用するポリアミド樹脂の分子量は、フレキシビリティ
ー、テープと銅箔との熱圧着時や、接着剤の硬化時の溶
融特性(デバイスホールからの接着剤のはみ出し)に関
連するものであって、分子量が低すぎると溶融温度が低
くなり、はみ出しの問題が生じる。また、分子量が高す
ぎると銅箔との熱圧着温度が高くなり過ぎるという問題
が生じる。したがって、本発明においては、分子量30,0
00〜150,000の範囲で、軟化温度100〜180℃のポリアミ
ド樹脂を用いるのが好ましい。
The molecular weight of the polyamide resin used is related to flexibility, melting characteristics when the tape and copper foil are thermocompression-bonded, and when the adhesive cures (extrusion of the adhesive from the device hole). If is too low, the melting temperature will be low and the problem of protrusion will occur. Further, if the molecular weight is too high, there arises a problem that the thermocompression bonding temperature with the copper foil becomes too high. Therefore, in the present invention, a molecular weight of 30,0
It is preferable to use a polyamide resin having a softening temperature of 100 to 180 ° C. in the range of 00 to 150,000.

更にまた、デバイスホールからの接着剤のはみ出し等に
関連する溶融特性に影響を与える因子として、分子量分
布があり、分子量分布が狭い場合には、熱による急激な
粘度低下を起こし、テープと銅箔との熱圧時デバイスホ
ールからのはみ出しのない熱圧条件が狭くなり好ましく
ない。したがって、本発明において使用するポリアミド
樹脂は、分子量分布の広いものが望ましい。
Furthermore, there is a molecular weight distribution as a factor that influences the melting characteristics related to the protrusion of the adhesive from the device hole, and when the molecular weight distribution is narrow, a rapid decrease in viscosity due to heat occurs and the tape and copper foil It is not preferable because the heat and pressure conditions that do not cause protrusion from the device hole during heat and pressure are narrow. Therefore, the polyamide resin used in the present invention preferably has a wide molecular weight distribution.

また、ポリアミド樹脂として、例えば、アミド基当量
(分子量/アミド基1個)が200ないし400のポリアミド
樹脂を用いると、接着剤層の吸湿性が低くなり、また、
吸湿による電気抵抗の低下を1桁程度に抑えることがで
き、そして、加水分解などの耐湿性が向上し、結果的に
絶縁劣化を防止することができるので、特に好ましい。
When a polyamide resin having an amide group equivalent (molecular weight / one amide group) of 200 to 400 is used as the polyamide resin, the hygroscopicity of the adhesive layer becomes low, and
It is particularly preferable because the decrease in electric resistance due to moisture absorption can be suppressed to about one digit, the moisture resistance such as hydrolysis is improved, and the insulation deterioration can be prevented as a result.

また、ポリアミド樹脂としては、その1分子鎖の中でア
ミド基間の炭化水素の分子量が100から800の広範囲にわ
たるもの、そして、異なる分子量をもつアミド基間炭化
水素分子が不規則に並んで入ったものを用いてもよい。
これ等のポリアミド樹脂は、アミド基当量が大きいにも
かかわらず、接着性を有し、フレキシビリティも大きい
ので好ましく使用される。
Polyamide resin has a wide range of molecular weight of hydrocarbons between amide groups from 100 to 800 in one molecular chain, and hydrocarbon molecules between amide groups having different molecular weights are randomly arranged. You may use the thing.
These polyamide resins are preferably used because they have adhesiveness and flexibility even though the amide group equivalent is large.

上記ポリアミド樹脂と併用させるレゾール型フェノール
樹脂としては、フェノール成分がビスフェノールA及び
アルキルフェノールから選択された1種又は2種よりな
るビスフェノールA型、アルキルフェノール型、又はそ
れらの共縮合型のものが使用できる。アルキルフェノー
ル型のレゾール型フェノール樹脂は、フェノール性水性
基のo−又はp−位に、メチル基、エチル基、プロピル
基、t−ブチル基、ノニル基等を有するものがあげられ
る。レゾール型フェノール樹脂は、加熱により反応し
て、接着力を有する不溶不融の固体になり、接着剤の接
着力、絶縁信頼性、耐薬品制、耐熱性を向上させる作用
をする。
As the resole-type phenol resin used in combination with the above polyamide resin, a bisphenol A type, an alkylphenol type, or a cocondensation type thereof in which the phenol component is one or two selected from bisphenol A and alkylphenol can be used. Examples of the alkylphenol type resol type phenolic resin include those having a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a t-butyl group, a nonyl group or the like at the o- or p-position of the phenolic aqueous group. The resol type phenol resin reacts by heating to become an insoluble and infusible solid having an adhesive force, and acts to improve the adhesive force, insulation reliability, chemical resistance, and heat resistance of the adhesive.

接着剤層の保護層となる保護フィルムとしては、ポリエ
チレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン
等のフィルムが使用できる 次に、本発明のTAB用テープの製造法について説明す
る。第2図は、製造工程を示すもので、保護フィルム3
の上に、所定の配合を有する2種類の接着剤を、それぞ
れ乾燥後の膜厚が上記の範囲になるように塗布して第1
の接着剤層21及び第2の接着剤層22を形成するか、又
は、予め、単層に製膜した二種類の接着剤よりなるフィ
ルムを、保護フィルム3上に熱圧着により積層する。こ
の際、半硬化状の状態にするために、その加熱条件は15
0〜180℃で乾燥させることが必要である。
A film made of polyethylene, polyethylene terephthalate, polypropylene, or the like can be used as a protective film for the protective layer of the adhesive layer. Next, a method for producing the TAB tape of the present invention will be described. FIG. 2 shows the manufacturing process, and the protective film 3
First, two kinds of adhesives having a predetermined composition are applied so that the film thickness after drying falls within the above range.
The adhesive layer 21 and the second adhesive layer 22 are formed, or a film composed of two kinds of adhesives formed in advance into a single layer is laminated on the protective film 3 by thermocompression bonding. At this time, the heating condition is 15 to obtain a semi-cured state.
It is necessary to dry at 0-180 ° C.

次に、形成された接着剤層2の表面に、有機絶縁フィル
ム1を重ね合わせ、100〜130℃で1kg/cm2以上の条件で
熱圧着する。
Next, the organic insulating film 1 is superposed on the surface of the formed adhesive layer 2 and thermocompression-bonded at 100 to 130 ° C. under the condition of 1 kg / cm 2 or more.

得られたTAB用テープは巻回されて、例えば幅30〜200mm
で30〜300mの長さのものが得られる。
The obtained TAB tape is wound, for example, width 30-200mm
The length of 30-300m can be obtained.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を実施例によって説明する。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to examples.

実施例1 厚さ38μmのポリエチレンテレフタレートフィルムから
なる保護フィルムに下記組成の接着剤層用塗料を塗布
し、160℃で2分間加熱乾燥して膜厚15μmの接着剤層
を形成した。
Example 1 A coating film for an adhesive layer having the following composition was applied to a protective film made of a polyethylene terephthalate film having a thickness of 38 μm and dried by heating at 160 ° C. for 2 minutes to form an adhesive layer having a film thickness of 15 μm.

ポリアミド樹脂(トーマイドTXC−232−B富士化成工業
社製)の25%イソプロピルアルコール/水混合溶液60部 レゾールフェノール樹脂(CKM−1282、昭和高分子社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 6部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 14部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 14部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 次に、上記接着剤層の上に、下記組成の接着剤層用塗料
を塗布し、160℃で2分間乾燥して、膜厚5μmの接着
剤層を形成した。
Polyamide resin (Tomide TXC-232-B manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution 60 parts Resol phenol resin (CKM-1282, Showa Polymer Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 6 parts Epoxy resin ( Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 14 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 14 parts 2-Ethylimidazole 1% methyl ethyl ketone solution
10 parts Next, an adhesive layer coating composition having the following composition was applied onto the adhesive layer and dried at 160 ° C. for 2 minutes to form an adhesive layer having a film thickness of 5 μm.

ポリアミド樹脂(トーマイドTXC−232−B富士化成工業
社製)の25%イソプロピルアルコール/水混合溶液 100
部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 8部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液2−エチルイミダゾ
ールの1%メチルエチルケトン溶液 10部 次に厚さ50μmのポリイミドフィルムからなる有機絶縁
フィルムを重ね合わせ、130℃、1kg/cm2の条件で加熱加
圧して、TAB用テープを作製した。
25% isopropyl alcohol / water mixed solution of polyamide resin (Tomide TXC-232-B manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.) 100
Part Epoxy resin (Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 8 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 2 parts 1% methyl ethyl ketone solution of 2-ethylimidazole 10 parts Polyimide with a thickness of 50 μm Organic insulating films made of films were stacked and heated and pressed under the conditions of 130 ° C. and 1 kg / cm 2 to prepare a TAB tape.

次に、このTAB用テープの保護フィルムを剥離し、1オ
ンスの電解銅箔(厚さ35〜40μm)を貼り合わせ、130
℃、1kg/cm2の条件で加熱加圧処理を行った。その後更
に60℃で6時間、80℃で6時間、120℃で3時間、及び1
50℃で5時間、順次加熱を行い、各接着剤層の硬化を行
った。更に、常法により銅箔上にフォトレジスト膜を形
成して処理し、銅箔をエッチングし、櫛型回路を形成し
てフィルムキャリアテープを作成した。
Next, the protective film of this TAB tape was peeled off, 1 ounce electrolytic copper foil (thickness 35-40 μm) was attached, and
The heating and pressurizing treatment was performed under the conditions of ℃ and 1 kg / cm 2 . After that, 60 ° C for 6 hours, 80 ° C for 6 hours, 120 ° C for 3 hours, and 1
Each adhesive layer was cured by sequentially heating at 50 ° C. for 5 hours. Further, a photoresist film was formed on the copper foil by a conventional method and treated, and the copper foil was etched to form a comb-shaped circuit to prepare a film carrier tape.

実施例2 接着剤層用塗料として、下記組成のものを用いた以外
は、実施例1と同様にしてTAB用テープ及びフィルムキ
ャリアテープを作製した。
Example 2 A TAB tape and a film carrier tape were produced in the same manner as in Example 1 except that the adhesive layer coating material having the following composition was used.

(保護フィルム側の接着剤)ポリアミド樹脂(マクロメ
ルト6212ヘンケル白水社製)の25%イソプロピルアルコ
ール/水混合溶液 60部 レゾールフェノール樹脂(CKM−1282、昭和高分子社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 6部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 14部 ノボラツクフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液2−エチルイミダゾ
ールの1%メチルエチルケトン溶液 10部 (有機絶縁フィルム側の接着剤)ポリアミド樹脂(マク
ロメルト6212ヘンケル白水社製)の25%イソプロピルア
ルコール/水混合溶液 100部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 8部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 8部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 実施例3 接着剤層用塗料として、下記組成のものを用いた以外
は、実施例1と同様にしてTAB用テープ及びフィルムキ
ャリアテープを作製した。
(Adhesive on protective film side) Polyamide resin (Macromelt 6212 Henkel Hakusui Co., Ltd.) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution 60 parts Resol phenol resin (CKM-1282, Showa Polymer Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 6 Part Epoxy resin (Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 14 parts Novorask phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 2-ethyl imidazole 1% methyl ethyl ketone solution 10 parts (on the organic insulating film side) Adhesive) Polyamide resin (Macromelt 6212 Henkel Hakusui Co., Ltd.) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution 100 parts Epoxy resin (Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 8 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) ) 50% methyl ethyl ketone solution 8 parts 2-ethyl imidazole 1 Methyl ethyl ketone solution
10 parts Example 3 A TAB tape and a film carrier tape were produced in the same manner as in Example 1 except that the adhesive layer coating material having the following composition was used.

(保護フィルム側の接着剤) ポリアミド樹脂(プラタボンダM−1276日本リルサン社
製)の25%イソプロピルアルコール/水混合溶液 60部 レゾールフェノール樹脂(PR−11078、住友デュレズ社
製)の50%メチルエチルケント溶液 6部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 14部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 14部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 (有機絶縁フィルム側の接着剤)ポリアミド樹脂(プラ
タボンダM−1276日本リルサン社製)の25%イソプロピ
ルアルコール/水混合溶液 100部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 8部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 8部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 比較例1 接着剤層用塗料として、下記組成のものを用い、接着剤
層を単層構造としてTAB用テープを作製した以外は、実
施例1と同様にしてフィルムキャリアテープを作製し
た。
(Adhesive on protective film side) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution of polyamide resin (Platabonda M-1276, manufactured by Rilsan Japan) 60 parts Resol phenol resin (PR-11078, manufactured by Sumitomo Durez) 50% methyl ethyl kent Solution 6 parts Epoxy resin (Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 14 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 14 parts 2-Ethylimidazole 1% methyl ethyl ketone solution
10 parts (adhesive for the organic insulating film) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution of polyamide resin (Platabonda M-1276 manufactured by Rilsan Japan) 100 parts Epoxy resin (Epicoat 828, Yuka Shell Co.) 8 parts Novolac phenol Resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 8 parts 2-ethyl imidazole 1% methyl ethyl ketone solution
10 parts Comparative Example 1 A film carrier tape was produced in the same manner as in Example 1 except that the adhesive layer coating material having the following composition was used and the adhesive layer had a single-layer structure to produce a TAB tape.

ポリアミド樹脂(トーマイドTXC−232−B富士化成工業
社製)の25%イソプロピルアルコール/水混合溶液60部 レゾールフェノール樹脂(CKM−1282、昭和高分子社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 6部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 14部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製)の50%メチルエチルケトン溶液 14部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 比較例2 接着剤層用塗料として、下記組成のものを用い、接着剤
層を単層構造としてTAB用テープを作製した以外は、実
施例1と同様にしてフィルムキャリアテープを作製し
た。
Polyamide resin (Tomide TXC-232-B manufactured by Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.) 25% isopropyl alcohol / water mixed solution 60 parts Resol phenol resin (CKM-1282, Showa Polymer Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 6 parts Epoxy resin ( Epicoat 828, Yuka Shell Co., Ltd.) 14 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, Arakawa Chemical Co., Ltd.) 50% methyl ethyl ketone solution 14 parts 2-Ethylimidazole 1% methyl ethyl ketone solution
10 parts Comparative Example 2 A film carrier tape was produced in the same manner as in Example 1 except that the adhesive layer coating material having the following composition was used and the adhesive layer had a single-layer structure to produce a TAB tape.

ポリアミド樹脂(プラタボンダM−1276、日本リルサン
社製)のイソプロピルアルコール/水混合溶液 100部 エポキシ樹脂(エピコート828、油化シェル社製) 8部 ノボラックフェノール樹脂(タマノル752、荒川化学社
製) 8部 2−エチルイミダゾールの1%メチルエチルケトン溶液
10部 (特性評価試験) 上記実施例1ないし3及び比較例1及び2のフィルムキ
ャリアテープに対し、下記の特性評価試験を行った。
Polyamide resin (Platabonda M-1276, manufactured by Rilsan Japan) isopropyl alcohol / water mixed solution 100 parts Epoxy resin (Epicoat 828, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 8 parts Novolac phenolic resin (Tamanor 752, manufactured by Arakawa Chemical Co., Ltd.) 8 parts 2-Ethylimidazole 1% methyl ethyl ketone solution
10 Parts (Characteristic Evaluation Test) The film carrier tapes of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 and 2 were subjected to the following characteristic evaluation test.

1.耐薬品性試験 エッチング液及び無電界メッキ液に浸された際の銅箔と
接着剤層との間の接着力を調べるために、エッチングに
よって、200μm、100μm及び50μmのパターン巾に形
成した銅箔パターンの接着力を測定し、さらに無電界メ
ッキを行った後の接着力を測定した。結果を第1表に示
す。なお、第1表の数値は、180°剥離力をテンシロン
引張り強度測定機によって測定した値である。
1. Chemical resistance test In order to investigate the adhesive force between the copper foil and the adhesive layer when immersed in the etching solution and the electroless plating solution, the pattern width of 200 μm, 100 μm and 50 μm was formed by etching. The adhesive force of the copper foil pattern was measured, and the adhesive force after electroless plating was measured. The results are shown in Table 1. The numerical values in Table 1 are values obtained by measuring 180 ° peeling force with a Tensilon tensile strength measuring machine.

2.耐熱接着性 1cm幅のCu箔が形成されたフィルムキャリアテープを、3
50℃の熱板上に、その有機絶縁フィルムの背面が接する
ように固定し、Cu箔を180°の方向に5cm/minの剥離速度
で剥離して、その際の剥離力を測定した。結果を第2表
に示す。
2. Heat-resistant adhesive property 3 cm of film carrier tape with 1 cm width Cu foil formed
The organic insulating film was fixed on a hot plate at 50 ° C so that the back surface of the organic insulating film was in contact, and the Cu foil was peeled at a peeling speed of 5 cm / min in the direction of 180 °, and the peeling force at that time was measured. The results are shown in Table 2.

第1表及び第2表の結果から明らかなように、本発明の
TAB用テープは、上記試験によって、優れた耐薬品性及
び耐熱接着性を示すことが確認された。
As is clear from the results of Table 1 and Table 2,
The above test confirmed that the TAB tape exhibited excellent chemical resistance and heat-resistant adhesiveness.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明のTAB用テープは、接着剤層が2層以上の積層構
造を有し、かつ、有機絶縁フィルムに接する側の接着剤
層と保護層に接する側の接着剤層とが、前記した接着剤
組成を有するから、接着剤が、エッチング、メッキ、レ
ジスト剥離等の加工工程中にアルカリ、酸或いはエッチ
ング液などにさらされても、Cu箔に対する接着力の低下
を引き起こすことがない。また、インナーリード及びア
ウターリードボンディング時の高温下で、有機絶縁性フ
ィルムに対する接着力の低下が生じることもない。
In the TAB tape of the present invention, the adhesive layer has a laminated structure of two or more layers, and the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film and the adhesive layer on the side in contact with the protective layer have the above-mentioned adhesion. Since it has an agent composition, even if the adhesive is exposed to an alkali, an acid, an etching solution, or the like during processing steps such as etching, plating, and resist stripping, the adhesive strength to the Cu foil does not decrease. Further, the adhesive strength to the organic insulating film does not decrease under high temperature during the inner lead and outer lead bonding.

したがって、本発明のTAB用テープは、高密度化した回
路に適用することが可能になる。また、本発明のTAB用
テープは、絶縁信頼性が高く、リード間の絶縁性に問題
が生じないので、チップと外部回路との接続に使用され
る際に、リードの数が増えても、リード部分にテープを
残留させることができる。したがって、多ピンチップを
実装する場合、ボンディングミスが生じ難く、搬送工
程、ボンディング工程等において、リードの変形が少な
く歩留まりが大巾に上昇する。
Therefore, the TAB tape of the present invention can be applied to a high-density circuit. Further, the tape for TAB of the present invention has high insulation reliability and does not cause a problem in insulation between leads. Therefore, when used for connection between a chip and an external circuit, even if the number of leads increases, The tape can be left on the lead portion. Therefore, when a multi-pin chip is mounted, bonding mistakes are less likely to occur, and lead deformation is small in the carrying process, the bonding process, etc., and the yield is greatly increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明のTAB用テープの模式的断面図であり、
第2図は本発明のTAB用テープの製造工程図である。 1……有機絶縁フィルム、2……接着剤層、21……第1
の接着剤層、22……第2の接着剤層、3……保護フィル
ム。
FIG. 1 is a schematic sectional view of the TAB tape of the present invention,
FIG. 2 is a manufacturing process drawing of the TAB tape of the present invention. 1 ... Organic insulating film, 2 ... Adhesive layer, 21 ... First
Adhesive layer of 22 ... Second adhesive layer, 3 ... Protective film.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】有機絶縁フィルム上に、接着剤層及び保護
層を設けてなり、該接着剤層が少なくとも2層より構成
され、かつ、有機絶縁フィルムと接する側の接着剤層
は、ポリアミド樹脂を主成分とし、保護層と接する側の
接着剤層は、ポリアミド樹脂とレゾール型フェノール樹
脂を主成分とすることを特徴とするTAB用テープ。
An adhesive layer and a protective layer are provided on an organic insulating film, the adhesive layer is composed of at least two layers, and the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film is a polyamide resin. Is a main component, and the adhesive layer on the side in contact with the protective layer is mainly composed of a polyamide resin and a resol-type phenolic resin.
【請求項2】有機絶縁フィルムと接する側の接着剤層に
おけるポリアミド樹脂の含有量が50重量%以上であるこ
とを特徴とする請求項(1)記載のTAB用テープ。
2. The tape for TAB according to claim 1, wherein the content of the polyamide resin in the adhesive layer on the side in contact with the organic insulating film is 50% by weight or more.
【請求項3】保護層と接する側の接着剤層におけるポリ
アミド樹脂の含有量が50重量%未満であることを特徴と
する請求項(1)又は(2)記載のTAB用テープ。
3. The TAB tape according to claim 1, wherein the content of the polyamide resin in the adhesive layer on the side in contact with the protective layer is less than 50% by weight.
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