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JPH0797451B2 - Ceramic, method for manufacturing the same, substrate for electronic circuit using the same, and electronic circuit - Google Patents
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JPH0797451B2 - Ceramic, method for manufacturing the same, substrate for electronic circuit using the same, and electronic circuit - Google Patents

Ceramic, method for manufacturing the same, substrate for electronic circuit using the same, and electronic circuit

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JPH0797451B2
JPH0797451B2 JP60275489A JP27548985A JPH0797451B2 JP H0797451 B2 JPH0797451 B2 JP H0797451B2 JP 60275489 A JP60275489 A JP 60275489A JP 27548985 A JP27548985 A JP 27548985A JP H0797451 B2 JPH0797451 B2 JP H0797451B2
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electronic circuit
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はセラミック、特に磁器コンデンサー等の電子部
品基材乃至はコンデンサー内蔵磁器基板等の電子部品内
蔵電子回路用基体など電子材料として利用し得るセラミ
ック、該セラミックを製造する方法及び前記セラミック
を用いた電子回路用基体、及び電子回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention can be used as an electronic material such as a ceramic, particularly an electronic component substrate such as a porcelain capacitor or a substrate for an electronic circuit containing an electronic component such as a ceramic substrate with a built-in capacitor. The present invention relates to a ceramic, a method for producing the ceramic, a substrate for an electronic circuit using the ceramic, and an electronic circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、電子回路用基体は、導体回路のみ、導体回路と抵
抗、もしくは導体回路と抵抗と限られた範囲のコンデン
サーを具備して構成され、その他の機能部分は、素子と
して分離して基体に装着されていた。
Conventionally, an electronic circuit substrate is configured to include only a conductor circuit, a conductor circuit and a resistor, or a conductor circuit and a resistor and a limited range of capacitors, and other functional parts are separated as elements and mounted on the substrate. It had been.

即ち、例えば、従来の磁器基板においては、導体と抵抗
体の内蔵基板が中心であり、コンデンサーはチップ部品
等としてはんだ付により装着していた。この為、電子回
路の小型化には限界があった。第12図にその1例を示
す。121は磁器基板、122は導体回路、123は抵抗体、124
はチップコンデンサーである。
That is, for example, in the conventional porcelain substrate, the substrate having the conductor and the resistor built therein is the center, and the capacitor is mounted by soldering as a chip component or the like. Therefore, there is a limit to downsizing the electronic circuit. Fig. 12 shows one example. 121 is a porcelain substrate, 122 is a conductor circuit, 123 is a resistor, 124
Is a chip capacitor.

近年、同一の磁器基板内で誘電率を変化させる事によ
り、基板内に複数個のコンデンサーを内蔵させようとす
る試みがなされている。つまり、第13図に示すように、
高誘電率εの部分131,133と低誘電率εの部分132を
分離する事により同一基板上に複数個のコンデンサーを
形成させようとする試みである。しかしながら、従来、
同一基板内に異なった誘電体部分を形成する方法が非常
に難しく、例えば積層セラミックコンデンサーを作製す
る場合の煩雑さを考えれば自明である様に、複数個のコ
ンデンサーを内蔵する基板は、未だ実現乃至実用化され
ていないのが現状である。また、高誘電率の部分131,13
3を限られた構造スベースのなかで動作上互いに影響を
及ぼし合わない程度に素子機能部分として十分に分離さ
れた状態にすることも、重要な技術的課題となってい
た。
In recent years, attempts have been made to incorporate a plurality of capacitors in a substrate by changing the dielectric constant within the same porcelain substrate. That is, as shown in FIG.
This is an attempt to form a plurality of capacitors on the same substrate by separating the portions 131 and 133 having a high dielectric constant ε 1 and the portion 132 having a low dielectric constant ε 2 . However, conventionally,
It is very difficult to form different dielectric parts on the same substrate, and it is obvious that considering the complexity of making a monolithic ceramic capacitor, for example, a substrate containing multiple capacitors has not yet been realized. The current situation is that it has not been put to practical use. Also, the high dielectric constant parts 131, 13
It was also an important technical issue to keep 3 sufficiently isolated as the functional parts of the device so that they would not affect each other in the operation in a limited structure.

更に、この様な電子部品乃至は電子回路用基体にまつわ
る機能部分の分離内蔵の問題点は、誘電体磁器に限ら
ず、セラミック内に2つ以上の同種又は異種の機能部分
を形成しようとする場合に、普く顕現されていた。
Further, the problem of the separation and incorporation of the functional portion related to the electronic component or the electronic circuit substrate as described above is not limited to the dielectric porcelain, and when two or more functional portions of the same type or different types are formed in the ceramic. It was usually revealed.

〔発明の目的及び概要〕[Object and Summary of Invention]

本発明の第1の目的は、複数の機能部分を十分に分離さ
れた状態で画成して内蔵し得るセラミックを提供するこ
とにある。
A first object of the present invention is to provide a ceramic capable of defining and incorporating a plurality of functional parts in a sufficiently separated state.

本発明の第2の目的は、この様に複数の機能部分の十分
に分離された状態で形成し得るセラミックの製造法を提
供することにある。
A second object of the present invention is to provide a method of manufacturing a ceramic which can be formed in such a manner that a plurality of functional parts are sufficiently separated.

本発明の第3の目的は、前述した様に複数の機能部分を
十分に分離された状態で画成して内蔵し得るセラミック
によって構成されることにより、互いに素子機能部分と
して十分に分離された状態で複数の電子部品構成単位を
内蔵し得る電子回路用基体を提供することにある。
A third object of the present invention is that, as described above, the plurality of functional portions are made of ceramics that can be defined and incorporated in a sufficiently separated state, so that the functional portions are sufficiently separated from each other as element functional portions. An object of the present invention is to provide a substrate for an electronic circuit that can contain a plurality of constituent units of electronic components in a state.

上記第1の目的は、表層部分乃至は内部を構成する粒子
の大きさを異ならせた誘導率の異なる領域を互いに分離
して有することを特徴とするセラミックによって達成さ
れる。
The above-mentioned first object is achieved by a ceramic characterized in that it has regions having different inductivities in which the sizes of particles constituting the surface layer portion or the inside thereof are different from each other and are separated from each other.

上記第2の目的は、成型体の表層部分乃至は内部に焼成
による粒成長を強制的に促進または抑制して誘電率の異
なる部分を形成するために、粒成長促進剤を添加しまた
は焼成時の加熱条件を部分的に変え、構成される粒子の
大きさの異なる領域を形成することを特徴とするセラミ
ックの製造方法によって達成される。
The second purpose is to add a grain growth accelerator or to calcine at the surface layer portion or inside of the molded body in order to forcibly promote or suppress grain growth due to firing to form a portion having a different dielectric constant. This is achieved by a method for producing a ceramic, characterized in that the heating conditions of (4) are partially changed to form regions having different sizes of the constituent particles.

上記第3の目的は、表層部分乃至は内部を構成する粒子
の大きさを異ならせた誘電率の異なる領域を互いに分離
して有するセラミックを用いたことを特徴とする電子回
路用基体によって達成される。
The third object is achieved by an electronic circuit substrate characterized by using a ceramic having regions having different dielectric constants having different sizes of particles constituting the surface layer portion or the inside thereof, which are separated from each other. It

また、表層部分乃至は内部を構成する粒子の大きさを異
ならせた誘電率の異なる領域を互いに分離して有するセ
ラミックと該セラミックに更に導体、抵抗体及び絶縁体
の内少なくともいずれか一つを有することを特徴とする
電子回路によっても、上記目的が達成される。
Further, a ceramic having regions having different permittivities in which the sizes of particles constituting the surface layer portion or the inside are different from each other, and at least any one of a conductor, a resistor and an insulator are added to the ceramic. The above object is also achieved by an electronic circuit characterized by having.

〔発明の具体的説明及び実施例〕[Specific Description and Examples of Invention]

本発明のセラミックは誘電率を異ならせた領域を形成す
ることによって2つ以上の機能部分を形成することがで
きるが、この機能部分として、例えばコンデンサー、抵
抗、絶縁体、ダイオード、トランジスター等の電子部分
構成単位を例示することができる。この様な機能部分
は、前記誘電率の異なる物体自体を互いに分離してセラ
ミック内に配置することにより構成することができる
し、あるいは、前記誘電率の異なる物体を介在させるこ
とにより互いに分離してセラミック内に配置することに
より構成することもできる。
The ceramic of the present invention can form two or more functional parts by forming regions having different permittivities, and as the functional part, for example, capacitors, resistors, insulators, diodes, transistors, and other electronic parts can be formed. Partial structural units can be exemplified. Such a functional part can be configured by separating the objects having different dielectric constants from each other and arranging them in the ceramic, or by separating the objects having different dielectric constants from each other. It can also be constructed by placing it in a ceramic.

本発明のセラミックを構成する前記誘電率の異なる領域
は、構成粒子の大きさの相違により異なる誘電率を有す
るものであり、構成粒子の組成が同じであっても誘電率
の異なる領域を形成せしめることができる。あるいは、
構成粒子の組成や粒子構造乃至は微構造(例えば結晶構
造や非晶質ネットワーク等)を変えることにより更に積
極的に誘電率を異ならしめることもできる。
The regions having different dielectric constants constituting the ceramic of the present invention have different dielectric constants due to the difference in size of the constituent particles, and even if the composition of the constituent particles is the same, regions having different dielectric constants are formed. be able to. Alternatively,
The dielectric constant can be more positively changed by changing the composition of the constituent particles or the particle structure or the fine structure (for example, crystal structure or amorphous network).

以下、本発明のセラミックの1つの具体例として、誘電
体磁器について詳しく説明する。
Hereinafter, a dielectric ceramic will be described in detail as one specific example of the ceramic of the present invention.

誘電体磁器は、通常例えばBaTiO3,SrTiO3,MgTiO3(Ba,S
r)(Ti,Sn)O3系複合酸化物(固溶体も含む)、(Ba,S
r)TiO3系複合酸化物(固溶体も含む)、(Mg,Sr,Ca)T
iO3系複合酸化物(固溶体も含む)、(Sr,Pb)TiO3系複
合酸化物(固溶体も含む)、(SrCa)TiO3系複合酸化物
(固溶体も含む)、Fe2O3、ZnOなどの誘電体成分の1種
又は2種以上を用い、成形、焼成して焼結体を得る方法
や、前記誘電体成分に半導体化に必要な成分としてLa,D
y,Nd,Y,Nb,Ta,Er,Gd,Ho,Ce等の酸化物などを添加し混合
した後、圧粉状の成形体を得、一次焼成して半導体化
し、次いで焼成体表面に金属又は金属参加物(例えばC
u,CuO,MnO2,Tl2O3,PbO,P2O5,Bi2O3,Nb2O,ZnO等)を塗布
し、二次焼成して粒界絶縁層を形成せしめることにより
得られる。
Dielectric porcelain is usually composed of, for example, BaTiO 3 , SrTiO 3 , MgTiO 3 (Ba, S
r) (Ti, Sn) O 3 -based composite oxide (including solid solution), (Ba, S
r) TiO 3 composite oxide (including solid solution), (Mg, Sr, Ca) T
iO 3 -based complex oxide (including solid solution), (Sr, Pb) TiO 3 -based complex oxide (including solid solution), (SrCa) TiO 3 -based complex oxide (including solid solution), Fe 2 O 3 , ZnO A method of obtaining a sintered body by molding and firing using one or two or more of the dielectric components such as, and La, D as a component necessary for forming a semiconductor in the dielectric component.
After adding and mixing oxides such as y, Nd, Y, Nb, Ta, Er, Gd, Ho, Ce, etc., a powdered compact is obtained, which is primarily fired into a semiconductor, and then on the fired body surface. Metals or metal participants (eg C
The resulting u, CuO, MnO 2, Tl 2 O 3, PbO, P 2 O 5, Bi 2 O 3, Nb 2 O, ZnO , etc.) is applied, by allowed to form a grain boundary insulating layer by firing the secondary To be

本発明のセラミックとしての誘電体磁器は、例えば前記
半導体化を経て得られる誘電体磁器で構成される。
The dielectric porcelain as the ceramic of the present invention is composed of, for example, the dielectric porcelain obtained through the above-mentioned semiconductor formation.

例えば板状の誘電体磁器について、前記誘電率の異なる
領域及び機能部分の形状例を示すと、第1図乃至第4図
の様になる。なお、第2図乃至第4図の例において、1
は板状誘電体磁器、Aは誘電率の異なる領域であり、B
は機能部分であり、A(B)は誘電率の異なる物体で置
換した領域であると同時に機能部分である。
For example, regarding a plate-shaped dielectric ceramic, examples of shapes of regions and functional portions having different permittivities are as shown in FIGS. 1 to 4. In the example of FIGS. 2 to 4, 1
Is a plate-shaped dielectric ceramic, A is a region having a different dielectric constant, and B is
Is a functional portion, and A (B) is a functional portion at the same time as a region replaced by an object having a different dielectric constant.

第1図においては、板状誘電体磁器1の両主面に到達す
る断面矩形の領域Aが設けられ、この領域Aを挾んで、
2つの互いに分離された機能部分B,Bが設けられてい
る。
In FIG. 1, an area A having a rectangular cross section that reaches both main surfaces of the plate-shaped dielectric ceramic 1 is provided.
Two functional parts B, B are provided which are separated from each other.

第2図の例では、磁器1の両主面の夫々の表層部分に断
面矩形の領域A,Aが設けられ、これらの領域A,Aを挾ん
で、2つの互いに分離された機能部分B,Bが設けられて
いる。
In the example of FIG. 2, regions A, A having rectangular cross sections are provided in the respective surface layer portions of both main surfaces of the porcelain 1, and the functional regions B, which are separated from each other, are sandwiched between the regions A, A. B is provided.

第3図の例では、磁器1の1方の主面の表層部分に断面
矩形の領域Aが設けられ、この領域Aを挾んで、2つの
互いに分離された機能部分B,Bが設けられている。
In the example of FIG. 3, an area A having a rectangular cross section is provided in the surface layer portion of one main surface of the porcelain 1, and two functional portions B and B separated from each other are provided across the area A. There is.

第4図の例では、互いに隔離して磁器1の両主面に到達
する断面矩形の領域A(B)が設けられ、2つの互いに
分離された機能部分を構成している。
In the example of FIG. 4, regions A (B) having a rectangular cross section that are isolated from each other and reach both main surfaces of the porcelain 1 are provided to form two mutually separated functional portions.

なお、第1図乃至第4図の例では、誘電率の異なる物体
で置換した領域Aを1つ又は2つ設けているが、これに
限定されず、所望する機能部分の数に応じて決めること
ができ、3つ以上の領域を設けてもよいことは、言うま
でもない。また、前述した様に、磁器1は主として前記
誘電体成分から半導体化を経ないで直接得られる焼結体
により構成されるが、例えばA,B及びA(B)の少なく
とも1つを前記半導体化を経て得られる誘電体磁器に置
き換えることもできる。
In the example of FIGS. 1 to 4, one or two regions A replaced with objects having different dielectric constants are provided, but the present invention is not limited to this, and it is determined according to the desired number of functional portions. It goes without saying that three or more regions may be provided. Further, as described above, the porcelain 1 is mainly composed of a sintered body directly obtained from the dielectric component without undergoing semiconductor formation. For example, at least one of A, B and A (B) is used as the semiconductor. It can be replaced with a dielectric porcelain obtained through chemical conversion.

前記機能部分B又はA(B)は、例えば高誘電体で構成
することができ、この場合、第1図乃至第3図の例では
領域AをBよりも低誘電率の物体で構成して機能部分B,
Bを分離を十分に行なうことができる。また、第4図の
例では機能部分A(B)を周囲よりも高誘電率の物体で
構成して分離することができる。
The functional part B or A (B) can be made of, for example, a high dielectric material. In this case, in the example of FIGS. 1 to 3, the area A is made of an object having a lower dielectric constant than B. Functional part B,
B can be sufficiently separated. Further, in the example of FIG. 4, the functional portion A (B) can be constituted by an object having a higher dielectric constant than the surroundings and separated.

前記誘電率の異なる物体で置換した領域を設ける方法と
しては、例えば本発明のセラミックの製造法を実施し
て、成形体を焼成するにあたり、成形体の表層部分乃至
は内部に焼成による粒成長が強制的に促進又は抑制され
て誘電率の異なる部分を形成せしめる。これにより、例
えば粒成長が促進されて高誘電率化された部分を互いに
離隔して設けたり、あるいは粒成長が抑制されて低誘電
率化された部分を挾んで互いに離隔した部分を確保する
ことにより、1つのセラミック内部に2つ以上の高誘電
体部分を形成せしめることができる。
As a method of providing a region replaced with an object having a different dielectric constant, for example, when the method for producing a ceramic of the present invention is carried out and a molded body is fired, grain growth due to firing occurs in the surface layer portion or inside of the molded body. It is forcibly promoted or suppressed to form a portion having a different dielectric constant. As a result, for example, the portions having a high dielectric constant by promoting the grain growth are provided apart from each other, or the portions having a low dielectric constant by suppressing the grain growth are sandwiched and secured to each other. Thereby, two or more high-dielectric-constant parts can be formed inside one ceramic.

なお、前記成形体とは、例えば圧粉体(原料となる例え
ば金属酸化物類の圧粉状の固体)、焼成体又は焼結体
(磁器類等)などを包含し、誘電体乃至は誘電体を形成
するための前駆体(例えば前述の圧粉状の固体や、粒界
絶縁型の高誘電体を合成するときに一次焼成により得ら
れる半導体磁器や半導体粒子群から成る固体等)を含む
ものを言う。
The molded body includes, for example, a green compact (a powder-like solid of a raw material such as a metal oxide), a fired body or a sintered body (porcelain, etc.), and the like. Including a precursor for forming a body (for example, a powdered solid described above, a semiconductor porcelain obtained by primary firing when synthesizing a grain boundary insulating type high dielectric material, or a solid composed of semiconductor particle groups) Say something.

例えば、前述した半導体化を経て得られる誘電体磁器に
ついて、本発明方法の具体例を説明する。
For example, a specific example of the method of the present invention will be described with respect to the dielectric ceramic obtained through the above-described semiconductor formation.

(i)圧粉体調製時 高誘電率所望部分には、例えば粒成長促進の効果のある
SiO2を十分添加した原料を充填し、他の部分、すなわち
低誘電率所望部分には粒成長に寄与するSiO2の量を絞っ
た原料を充填し、プレス成形を行う。前記プレス成形体
を一次焼成し半導体化を行い、添加剤を塗布した後二次
焼成を行い粒界絶縁化した磁器においては、SiO2を十分
添加した部分においては粒成長が十分行われ高誘電率と
なるが、SiO2絞った部分については粒成長が不十分であ
り、低誘電率となる。
(I) When preparing a green compact, a desired portion having a high dielectric constant has, for example, an effect of promoting grain growth.
A raw material sufficiently added with SiO 2 is filled, and the other portion, that is, a portion having a desired low dielectric constant is filled with a raw material with a reduced amount of SiO 2 contributing to grain growth, and press molding is performed. In the porcelain in which the press-molded body is primary-fired to be semiconducting, and the additive is applied and then secondary-fired to insulate the grain boundaries, grain growth is sufficiently performed in the portion where SiO 2 is sufficiently added, and high dielectric constant is achieved. However, the grain growth is insufficient in the SiO 2 narrowed portion, resulting in a low dielectric constant.

次いで焼成を含むその後の磁器基板を得るための工程を
経て、高誘電体部分を複数画成した磁器基板を得る。画
成される高誘電体部分の誘電率は互いに同じであっても
異なっていてもよい。
Then, through a subsequent process for obtaining a porcelain substrate including firing, a porcelain substrate having a plurality of high dielectric portions defined therein is obtained. The high permittivity portions defined may have the same or different dielectric constants.

なお、粒成長乃至は再結晶を促進して高誘電率化される
部分を形成する場合は、粒径を促進されていない部分の
1.5倍以上、更には4倍以上とするのが好ましく、一
方、粒成長乃至は再結晶を抑制して低誘電率化される部
分を形成する場合は、粒径を抑制されていない部分の2/
3以下、更には1/4以下とするのが好ましい。
When grain growth or recrystallization is promoted to form a part having a high dielectric constant, the part of which grain size is not promoted is
It is preferably 1.5 times or more, and more preferably 4 times or more. On the other hand, in the case where a portion having a low dielectric constant is formed by suppressing grain growth or recrystallization, the grain size is not suppressed. /
It is preferably 3 or less, more preferably 1/4 or less.

また、本発明方法においては、前述した様に、構成粒子
の大きさの相違により誘電率の異なる領域を形成すると
共に、この領域乃至は他の部分の構成物質の組成乃至は
構造を変えることにより、誘電率を異ならしめることが
できる。
Further, in the method of the present invention, as described above, by forming a region having a different dielectric constant due to the difference in the size of the constituent particles, and changing the composition or structure of the constituent material of this region or other parts. , The permittivity can be different.

構成物質の組成乃至は構造を変えて誘電率を異ならしめ
る具体的方法としては、次の様な方法が挙げられる。
The following method can be given as a specific method for changing the composition or the structure of the constituent substances to make the dielectric constants different.

(i) 誘電体乃至はその前駆体を含む成形体に空所を
設け、該空所内に誘電率の異なる物質を充填することに
より誘電率の異なる物体を構成する方法。
(I) A method of forming an object having a different dielectric constant by providing a cavity in a molded body containing a dielectric or a precursor thereof and filling the void with a substance having a different dielectric constant.

前記成形体とは、例えば圧粉体(原料となる例えば金属
酸化物類の圧粉状の固体)、焼成体又は焼結体(磁器類
等)などを言い、誘電体乃至は誘電体を形成するための
前駆体(例えば前述の圧粉状の固体や、粒界絶縁型の高
誘電体を合成するときに一次焼成により得られる半導体
磁器や半導体粒子群から成る固体等)を含むものを言
う。
The molded body refers to, for example, a green compact (a powdered solid of a metal oxide, which is a raw material), a fired body or a sintered body (porcelain, etc.), and forms a dielectric or a dielectric. That includes a precursor (for example, the above-mentioned powdered solid, or a solid composed of semiconductor porcelain or a group of semiconductor particles obtained by primary firing when synthesizing a grain boundary insulating high dielectric). .

この方法の特徴は、前記成形体に空所を設け、該空所内
に誘電率の異なる物質を充填し、必要に応じて焼成等の
工程を経て誘電率の異なる物体を形成せしめることにあ
る。従って、成形体に単一もしくは複数の空所を設け、
例えば低誘電率の物質を充填することにより、空所の周
囲で高誘電率化されるべき部分を2つ以上に分離して、
互いに離隔した2以上の高誘電体部分を画成せしめるこ
とができる。
The feature of this method is to provide a cavity in the molded body, fill the cavity with a substance having a different dielectric constant, and form a body having a different dielectric constant through a process such as firing, if necessary. Therefore, forming a single or multiple voids in the molded body,
For example, by filling a material with a low dielectric constant, the portion around the void that is to have a high dielectric constant is separated into two or more,
It is possible to define two or more high-dielectric parts that are separated from each other.

空所を設ける方法としては、例えば中子を用いた成形、
打ち抜き、レーザー加工、サンドブラスト、超音波加
工、放電加工、研削加工(ダイヤモンドツール等)、エ
ッチング(鉛レジスト、フッ酸処理等)などが挙げられ
る。
As a method of providing a void, for example, molding using a core,
Punching, laser processing, sand blasting, ultrasonic processing, electric discharge processing, grinding processing (diamond tool etc.), etching (lead resist, hydrofluoric acid treatment etc.) and the like can be mentioned.

空所に充填される、例えば低誘電率の物質としては、例
えば、融点が磁器本体よりも低いものがなお更よく、例
えばPbSiO3,BSiO3,LiSiO3、各種結晶化ガラス等が好適
である。あるいは、前述した誘電体成分や、粒界絶縁型
の高誘電体を形成するときに用いる前記半導体化に必要
な成分の種類を適宜変更した粉体を選択して誘電率の異
なる物体を構成することもできる。
Is filled into the cavity, for example, as a material having a low dielectric constant, for example, a melting point well lower ones still further than ceramic body, for example PbSiO 3, BSiO 3, LiSiO 3 , various crystallized glass is suitable . Alternatively, a powder having a different dielectric constant is selected by selecting a powder in which the kind of the above-mentioned dielectric component or the component necessary for forming the semiconductor used for forming the grain boundary insulating high dielectric is appropriately changed. You can also

(ii) 誘電率の異なる物体を形成し得る2種以上の誘
電体形成粒子群を互いに区画して充填して成形体を得る
方法。
(Ii) A method in which two or more kinds of dielectric-forming particles capable of forming objects having different dielectric constants are partitioned and filled to obtain a molded body.

前記誘電体形成粒子群とは、例えば誘電体を形成し得る
金属酸化物類等の粒子群、誘電体自体の粒子群、前記粒
界絶縁型の高誘電体を形成するための半導体粒子群、あ
るいはこれらの混合物などを意味する。2種以上の誘電
体形成粒子群を互いに区画して充填する方法としては、
例えば、常温圧縮成形において用いる金型内を有機樹脂
等焼成による加熱により分解や蒸発等で揮散し得る物質
から成る仕切材で区画し、各区画内に各々所望の異種の
誘電体形成粒子群を充填し、その後の焼成などの加熱に
より仕切材を揮散させる。あるいは、前記仕切材とし
て、金型内に異種物質を詰めた後に容易に取外すことの
できるものを用い、異種物質を詰め、仕切材を取外して
加圧成形する方法などがある。
The dielectric forming particle group, for example, a particle group such as metal oxides capable of forming a dielectric, a particle group of the dielectric itself, a semiconductor particle group for forming the grain boundary insulating high dielectric, Alternatively, it means a mixture of these. As a method of partitioning and packing two or more types of dielectric-forming particles,
For example, a mold used in room temperature compression molding is partitioned by a partitioning material made of a substance that can be volatilized by decomposition or evaporation by heating by firing an organic resin or the like, and each desired group of different kinds of dielectric-forming particles is formed. After filling, the partitioning material is volatilized by heating such as firing thereafter. Alternatively, there is a method in which as the partition material, a material that can be easily removed after the foreign material is packed in a mold, the foreign material is packed, the partition material is removed, and pressure molding is performed.

(iii) 成形体が半導体磁器であり、該半導体磁器の
内部に電子部品形成用拡散源からの拡散層を形成せしめ
て誘電率の異なる物体を構成する方法。
(Iii) A method in which the molded body is a semiconductor porcelain, and a diffusion layer from a diffusion source for forming an electronic component is formed inside the semiconductor porcelain to form an object having a different dielectric constant.

この方法においては、前述した一次焼成により得られる
半導体磁器の表面上に、電子部品形成用拡散源として、
例えば前述した金属又は金属酸化物を互いに離隔した部
位で塗布して拡散源の層を形成し、次いで通常酸化性雰
囲気中で二次焼成することにより、半導体磁器内部に前
記拡散源からの、互いに離隔した2つ以上の拡散層を形
成することにより、2つ以上の高誘電体部分を形成す
る。
In this method, on the surface of the semiconductor porcelain obtained by the above-mentioned primary firing, as a diffusion source for electronic component formation,
For example, the above-mentioned metal or metal oxide is applied to the portions separated from each other to form a diffusion source layer, and then secondary firing is usually performed in an oxidizing atmosphere. By forming two or more spaced diffusion layers, two or more high dielectric portions are formed.

あるいは、低誘電率化し得る拡散源として、例えばMgTi
O3,SiO2,Al2O3等の層を形成して二次焼成により半導体
磁器の内部に低誘電率の拡散層を形成せしめると共に、
この拡散層の周囲に互いに離隔した状態で前述した金属
又は金属酸化物による高誘電率の拡散層を形成せしめる
か、あるいは半導体化を経ない高誘電体部分を形成せし
めておき、2つ以上の高誘電体部分を低誘電率の拡散層
を介して分離せしめる。
Alternatively, as a diffusion source capable of reducing the dielectric constant, for example, MgTi
O 3 , SiO 2 , Al 2 O 3 etc. layers are formed and a low dielectric constant diffusion layer is formed inside the semiconductor porcelain by secondary firing.
A high dielectric constant diffusion layer made of the above-mentioned metal or metal oxide is formed in the state of being separated from each other around the diffusion layer, or a high dielectric portion which does not undergo semiconductor formation is formed and two or more of them are formed. The high dielectric portion is separated via the diffusion layer having a low dielectric constant.

なお、この方法において、使用する拡散源は適宜変えて
もよいし、また、形成されるコンデンサー構成単位の数
にも特に制限はない。
In this method, the diffusion source used may be appropriately changed, and the number of capacitor constituent units formed is not particularly limited.

(iv) 成形体が、誘電体乃至はその前駆体を含むもの
であり、該成形体を部分溶融することにより誘電率の異
なる物体を構成する方法。
(Iv) A method in which a molded body contains a dielectric or a precursor thereof and a body having a different dielectric constant is formed by partially melting the molded body.

前記成形体とは、前記(i)項で説明した成形体と同じ
意味を有する。
The molded body has the same meaning as the molded body described in the item (i).

この方法の特徴は、前記成形体を部分溶融して誘電率の
異なる部分を形成せしめることにある。従って、成形体
に単一もしくは複数の部分溶融部分を形成し、これらの
部分のそれぞれを例えば周囲より低誘電率化することに
より、これらの部分を挾んで、高誘電率化されるべき部
分を2つ以上に分離して、互いに離隔した2つ以上の高
誘電体部分を画成せしめることができる。
The feature of this method is that the molded body is partially melted to form portions having different dielectric constants. Therefore, by forming a single or a plurality of partial melted portions in the molded body and lowering the dielectric constant of each of these portions from, for example, the surroundings, these portions are sandwiched and the portion to be made to have a high dielectric constant is formed. It can be separated into two or more parts to define two or more high-dielectric parts that are separated from each other.

部分溶融の方法としては、例えばレーザー(CO2レーザ
ー、YAGレーザー等)照射、電子線照射等の方法が優れ
ている。
As a method of partial melting, for example, laser (CO 2 laser, YAG laser, etc.) irradiation, electron beam irradiation, or the like is excellent.

かくして得られる磁器等の本発明のセラミックを用いて
例えば電子回路用基体を構成する場合、各々の高誘電体
部分の表面上に導体部分(電極、引出し部等)を設ける
ことにより、複数個のコンデンサーを内蔵させることが
できる。また更に、磁器基板の内部乃至は周囲に、導体
部分、抵抗体乃至は絶縁体部分(例えば通常の薄膜乃至
は厚膜形成法により形成される)を形成して、多くの機
能部分を備えた基体とすることができる。
When the ceramic of the present invention such as the porcelain thus obtained is used to form, for example, an electronic circuit substrate, a plurality of conductor portions (electrodes, lead portions, etc.) are provided on the surface of each high-dielectric-constant portion to form a plurality of A condenser can be built in. Furthermore, a conductor portion, a resistor or an insulator portion (for example, formed by an ordinary thin film or thick film forming method) is formed inside or around the porcelain substrate to provide many functional portions. It can be the substrate.

以下、具体的実施例を示して、本発明を更に詳しく説明
するが、本発明の実施の態様はこれにより限定されな
い。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to specific examples, but the embodiments of the present invention are not limited thereto.

実施例1 第5図に本実施例の工程フローチャートを示す本実施例
においてはプレス成形時に第6図に示すような原料充填
を行うすなわち高温で分解してしまう物質(例えばポリ
ビニルアルコール)で作られた薄い仕切板62で仕切られ
た部分63及び64には下記配合表1の原料粉末を充填し65
には下記配合表2の原料粉末を充填しプレス成形を行う
ここで高温で分解する仕切板には多数の小孔を有してい
るものが望ましい。小孔を有していれば仕切板によって
隣接している成形された物質が仕切板を高温で分解した
時、離れる可能性が小さくなる。
Example 1 FIG. 5 shows the process flow chart of this example. In this example, the raw material filling as shown in FIG. 6 is performed at the time of press molding, that is, it is made of a substance that decomposes at high temperature (for example, polyvinyl alcohol). The parts 63 and 64 partitioned by the thin partition plate 62 are filled with the raw material powder of the following composition table 65.
Is filled with the raw material powder of the following formulation table 2 and press-molded. Here, it is desirable that the partition plate that decomposes at a high temperature has a large number of small holes. The presence of the small holes reduces the likelihood that the molded material adjacent by the divider will separate when the divider decomposes at high temperatures.

この成形体を第5図の工程に従って焼成する事により第
7図のような焼結体が得られる。なお、添加材にはMnO2
を使用した。ここで71及び72部は粒成長に寄与するSiO2
が十分存在するため焼結体においては粒成長が十分であ
るので高誘電率となり73部分は粒成長に寄与するSiO2
抑えてあるため焼結体においては粒成長が不十分である
ので低誘電率となる。
A sintered body as shown in FIG. 7 is obtained by firing the molded body according to the process shown in FIG. The additive material is MnO 2
It was used. Here, 71 and 72 parts are SiO 2 which contributes to grain growth.
In the sintered compact, the grain growth is insufficient, and the high dielectric constant results in a high dielectric constant in the sintered body.Since the SiO 2 that contributes to the grain growth is suppressed in the sintered body, the grain growth is insufficient in the sintered compact. It has a dielectric constant.

下記表1に高誘電体部分71,72及び低誘電体部分73の各
々の平均粒径及び誘電率εを示した。
Table 1 below shows the average particle diameter and the dielectric constant ε of each of the high dielectric constant portions 71, 72 and the low dielectric constant portion 73.

(配合表1) BaTiO3 93.0 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 2.0%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 1) BaTiO 3 93.0%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 2.0%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

(配合表2) BaTiO3 94.9 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 0.1%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 2) BaTiO 3 94.9%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 0.1%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

前記焼結体に所定の導体部分、抵抗体部分及び絶縁体部
分を形成する事により、C,R内蔵基板が得られる。
By forming a predetermined conductor portion, resistor portion and insulator portion on the sintered body, a C, R built-in substrate can be obtained.

実施例2 第8図に本実施例の工程フローチャートを示す。本実施
例においては、プレス成形時に第9図に示すような原料
充填を行う。すなわち原料充填後取り去る事の可能な仕
切板92で仕切られた部分に93及び94には下記配合表3の
原料粉末を充填し、95には下記配合表4の原料粉末を充
填し、仕切板を取り去り、プレス成形を行う。この焼結
体を第8図の工程に従って焼成する事により、第10図に
示した様な焼結体が得られた。なお、添加剤にはMnO2
使用した。ここで、101及び102は、SiO2が十分存在する
為焼結体において粒成長が十分であり、且つLa2O3が十
分存在するので半導体化が十分であるので高誘電率とな
り、103は、SiO2が抑えてある為焼結体において粒成長
が不十分であり且つLa2O3が不十分であるので半導体化
が不十分であるので低誘電率となる。各々の誘電率εを
表2に示した。この焼結体は一枚の基板中に高誘電率部
と低誘電率部を有する前記焼結体に所定の導体部分、抵
抗体部分、及び絶縁体部分を形成する事により、CR内蔵
基板が得られる。
Embodiment 2 FIG. 8 shows a process flowchart of this embodiment. In this embodiment, raw material filling as shown in FIG. 9 is performed during press molding. That is, 93 and 94 are filled with the raw material powder of the following composition table 3, and 95 is filled with the raw material powder of the following composition table 4 in the part partitioned by the partition plate 92 which can be removed after filling the raw material. Then, press molding is performed. By firing this sintered body according to the process shown in FIG. 8, a sintered body as shown in FIG. 10 was obtained. Note that MnO 2 was used as an additive. Here, 101 and 102 have sufficient grain growth in the sintered body because SiO 2 is sufficiently present, and La 2 O 3 is sufficiently present so that the semiconductor is sufficiently made to have a high dielectric constant, and 103 is , SiO 2 is suppressed, grain growth is insufficient in the sintered body, and La 2 O 3 is insufficient, so that semiconductor formation is insufficient, resulting in a low dielectric constant. Table 2 shows the respective dielectric constants ε. This sintered body has a CR built-in substrate by forming a predetermined conductor portion, resistor portion, and insulator portion on the sintered body having a high dielectric constant portion and a low dielectric constant portion in one substrate. can get.

(配合表3) BaTiO3 93.0 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 2.0%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 3) BaTiO 3 93.0%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 2.0%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

(配合表4) BaTiO3 93.0 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.02%、SiO2 0.1%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 4) BaTiO 3 93.0%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.02%, SiO 2 0.1%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

実施例3 本実施例においては、第8図に示した工程フローチャー
トに従いプレス成形時に第9に示すような原料充填を行
う。すなわち原料充填後取り去る事の可能な仕切板92で
仕切られた部分に93及び94には下記配合表3の原料粉末
を充填し、95には下記配合表4の原料粉末を充填し、仕
切板を取り去り、プレス成形を行う。この焼結体を第8
図の工程に従って焼成する事により、第10図に示した様
な焼結体が得られた。なお、添加剤にはMnO2を使用し
た。ここで、101及び102は、配合表3の原料の用い且つ
粒成長が十分であるので高誘電率となり、103は、配合
表4の原料を用い且つ粒成長が不十分であるので低誘電
率となる。各々の誘電率εを表2に示した。この焼結体
は一枚の基板中に高誘電率部と低誘電率部を有する前記
焼結体に所定の導体部分、抵抗体部分、及び絶縁体部分
を形成する事によりCR内蔵基板が得られる。
Example 3 In this example, raw material filling as shown in FIG. 9 is performed at the time of press molding according to the process flowchart shown in FIG. That is, 93 and 94 are filled with the raw material powder of the following composition table 3, and 95 is filled with the raw material powder of the following composition table 4 in the part partitioned by the partition plate 92 which can be removed after filling the raw material. Then, press molding is performed. This sintered body is
By firing according to the steps shown in the figure, a sintered body as shown in FIG. 10 was obtained. Note that MnO 2 was used as an additive. Here, 101 and 102 have a high dielectric constant because the raw materials of Recipe 3 are used and the grain growth is sufficient, and 103 is a low dielectric constant because the raw materials of Recipe 4 are used and the grain growth is insufficient. Becomes Table 2 shows the respective dielectric constants ε. This sintered body has a CR built-in substrate by forming a predetermined conductor portion, resistor portion, and insulator portion on the sintered body having a high dielectric constant portion and a low dielectric constant portion in one substrate. To be

(配合表5) BaTiO3 93 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 2.0%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 5) BaTiO 3 93%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 2.0%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

(配合表6) BaTiO3 85.9%、MgTiO3 10.2%、 TiO2 2.8%、SiO2 0.1%。(Formulation Table 6) BaTiO 3 85.9%, MgTiO 3 10.2%, TiO 2 2.8%, SiO 2 0.1%.

SrTiO3 1.0%、 実施例4 本実施例においては第5図に示した工程フロチャートに
従いプレス成形時に第6図に示すような原料充填を行
う。すなわち高温で分解してしまう物質(例えばポリビ
ニルアルコール)で作られた薄い仕切板62で仕切られた
部分63及び64には下記配合表7の原料粉末を充填し65に
は下記配合表8の原料粉末を充填しプレス成形を行う。
ここで高温で分解する仕切板には多数の小孔を有してい
るものが望ましい小孔を有していれば仕切板によって隣
接している成形された物質が、仕切板を高温で分解した
時、離れる可能性が小さくなる。
SrTiO 3 1.0%, Example 4 In this example, according to the process flow chart shown in FIG. 5, raw material filling as shown in FIG. 6 is performed at the time of press molding. That is, parts 63 and 64 partitioned by a thin partition plate 62 made of a substance that decomposes at a high temperature (for example, polyvinyl alcohol) are filled with the raw material powder of the following composition table 7, and 65 is the material of the following composition table 8. Fill with powder and press-mold.
Here, it is desirable that the partition plate that decomposes at high temperature has a large number of small holes If the small plate has the small holes, the molded material adjacent to the partition plate decomposes the partition plate at high temperature. At times, the chance of leaving is reduced.

この成形体を第5図の工程に従って焼成する事により、
第7図の様な焼結体が得られる。ここで添加剤の塗布
は、成形体の63,64の部分にMnO2、65の部分にCuOを用い
て行った。ここで71,72の部分は、粒成長に寄与するSiO
2が十分存在するため焼結体においては粒成長が十分で
あり、また粒界絶縁物質としてMnO2を用いているため高
誘電率となり、73の部分は粒成長に寄与するSiO2が抑え
てあるため焼結体においては粒成長が不十分であり、ま
た粒界絶縁物質としてCuOを用いているので低誘電率と
なる。
By firing this molded body according to the process of FIG. 5,
A sintered body as shown in FIG. 7 is obtained. Here, the application of the additive was performed using MnO 2 in the 63 and 64 parts of the molded body and CuO in the 65 part. Here, 71 and 72 are SiO that contributes to grain growth.
2 is present sufficiently, grain growth is sufficient in the sintered body, and MnO 2 is used as a grain boundary insulating material, resulting in a high dielectric constant, and part 73 has SiO 2 that contributes to grain growth suppressed. Therefore, grain growth is insufficient in the sintered body, and CuO is used as the grain boundary insulating material, resulting in a low dielectric constant.

下記表4に高誘電体部分71,72及び低誘電体部分73の各
々の誘電率εを示した。
Table 4 below shows the permittivity ε of each of the high dielectric portions 71, 72 and the low dielectric portion 73.

(配合表7) BaTiO3 93.0 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 2.0%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 7) BaTiO 3 93.0%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 2.0%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

(配合表8) BaTiO3 94.9 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 0.1%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 8) BaTiO 3 94.9%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 0.1%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

前記焼結体に所定の導体部分、抵抗体部分及び絶縁体部
分を形成する事により、C,R内蔵基板が得られる。
By forming a predetermined conductor portion, resistor portion and insulator portion on the sintered body, a C, R built-in substrate can be obtained.

実施例5 本実施例では第8図に示した工程フローチャートに従
い、プレス成形時に第9図に示す様な原料充填を行う。
即ち、原料充填後取り去ることの可能な仕切板92で仕切
られた部分93及び94には下記配合表9の原料粉末を充填
し、95には下記配合表10の原料粉末を充填し、仕切板を
取り去り、プレス成形を行う。この焼結体を第8図の工
程に従って焼成する事により、第10図の様な焼結体が得
られる。なお、添加剤の塗布は、成形体の93,94の部分
にはMnO2、95の部分にはCuOを塗布して行った。ここで1
01,102は、配合表9の組成であり、粒成長が十分であ
り、且つ粒界絶縁物質としてMnO2を使用しているため高
誘電率となり、103は、配合表10の組成であり、粒成長
が不十分であり、且つ粒界絶縁物質としてCuOを使用し
ているため低誘電率となる。各々の誘電率とを表5に示
した。この焼結体は一枚の基板中に高誘電率部と低誘電
率部を有する前記焼結体に所定の導体部分、抵抗体部
分、及び絶縁体部分を形成する事によりCR内蔵基板が得
られる。
Example 5 In this example, according to the process flow chart shown in FIG. 8, raw material filling as shown in FIG. 9 is performed at the time of press molding.
That is, the parts 93 and 94 partitioned by the partition plate 92 that can be removed after filling the raw material are filled with the raw material powder of the following recipe table 9, and 95 is filled with the raw material powder of the following recipe table 10, Then, press molding is performed. By firing this sintered body according to the process shown in FIG. 8, a sintered body as shown in FIG. 10 is obtained. The additives were applied by applying MnO 2 to the 93, 94 parts and CuO to the 95 parts of the molded body. Where 1
01 and 102 have the composition of Recipe Table 9, the grain growth is sufficient, and since MnO 2 is used as the grain boundary insulating material, the dielectric constant is high, and 103 is the composition of Recipe Table 10, and the grain growth is Is insufficient and CuO is used as the grain boundary insulating material, resulting in a low dielectric constant. The respective dielectric constants are shown in Table 5. This sintered body has a high dielectric constant part and a low dielectric constant part in one substrate, and by forming a predetermined conductor part, resistor part, and insulator part on the sintered body, a CR built-in substrate is obtained. To be

(配合表9) BaTiO3 93 %、BaSnO2 2.0%、 La2O3 0.12%、SiO2 2.0%、 Al2O3 1.88%、SrTiO3 1.0%。(Formulation Table 9) BaTiO 3 93%, BaSnO 2 2.0%, La 2 O 3 0.12%, SiO 2 2.0%, Al 2 O 3 1.88%, SrTiO 3 1.0%.

(配合表10) BaTiO3 85.9%、MgTiO3 10.2% TiO2 2.8%、SiO2 0.1%、 SrTiO3 1.0%。(Recipe 10) BaTiO 3 85.9%, MgTiO 3 10.2% TiO 2 2.8%, SiO 2 0.1%, SrTiO 3 1.0%.

なお第11図に例えば前記実施例に示した様な方法により
得られる磁器基板の例を示す。第11図(a)及び(b)
は、それぞれ磁器基板の平面図及び断面図であり、111
が高誘電体部分、112が低誘電体部分である。また第11
図(c)は、更に導体部分113、抵抗体部分114、及び絶
縁体部分115を形成した磁器基板を示している。
Note that FIG. 11 shows an example of a porcelain substrate obtained by the method as shown in the above embodiment, for example. 11 (a) and (b)
Are a plan view and a cross-sectional view of a porcelain substrate, respectively.
Is a high dielectric portion, and 112 is a low dielectric portion. Also the 11th
FIG. 6C shows a porcelain substrate on which a conductor portion 113, a resistor portion 114, and an insulator portion 115 are further formed.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明のセラミックは、電子部品構成単位等の機能部分
を複数画成し得る。従って、これを用いて構成される電
子部品や電子回路用基体等は、各種容量のコンデンサー
等の素子機能部分を複数内蔵することができ、また例え
ば前記基体に導体、抵抗体、絶縁体等の各種機能部分を
形成することにより、多くの機能部分を備え、しかも小
型化され安価な電子回路用基体等となる。また、この様
に基体内でのコンデンサー、抵抗等の設計の自由度を大
幅に向上させることができる。
The ceramic of the present invention can define a plurality of functional parts such as electronic component units. Therefore, an electronic component, an electronic circuit substrate, etc. configured by using this can incorporate a plurality of element functional parts such as capacitors of various capacities, and, for example, conductors, resistors, insulators, etc. can be provided on the substrate. By forming various functional portions, a small-sized and inexpensive electronic circuit substrate having many functional portions can be obtained. Further, in this way, the degree of freedom in designing capacitors, resistors, etc. in the substrate can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図乃至第4図は、それぞれ本発明に係るセラミック
の断面図である。 第5図は、本発明の一実施例である磁器基板の製造工程
を説明するための工程説明図であり、第6図はこのとき
に使用する成形金型の斜視図、第7図はかくして得られ
る磁器基板の斜視図を示している。 第8図は、本発明の1実施例である磁器基板の製造工程
を説明するための工程説明図であり、第9図はこのとき
に使用する成形金型の斜視図、第10図はかくして得られ
る磁器基板の斜視図を示している。 第11図の(a)は、本発明の1実施例である磁器基板の
平面図、(b)は(a)中A−A断面図であり、(c)
は更にこの磁器基板に導体、抵抗体、絶縁体等の機能部
分を形成したR,C内蔵の磁器基板の断面図である。 第12図は、従来の磁器基板の断面図である。 第13図は、従来試みられている方法による複数の高誘電
体部分を有する磁器基板の断面図である。 A……誘電率の異なる領域、B……機能部分、A(B)
……誘電率の異なる領域且つ機能部分。
1 to 4 are sectional views of ceramics according to the present invention. FIG. 5 is a process explanatory view for explaining a manufacturing process of a porcelain substrate which is one embodiment of the present invention, FIG. 6 is a perspective view of a molding die used at this time, and FIG. The perspective view of the obtained porcelain substrate is shown. FIG. 8 is a process explanatory view for explaining a manufacturing process of a porcelain substrate which is one embodiment of the present invention, FIG. 9 is a perspective view of a molding die used at this time, and FIG. The perspective view of the obtained porcelain substrate is shown. 11A is a plan view of a porcelain substrate which is one embodiment of the present invention, FIG. 11B is a sectional view taken along line AA in FIG. 11A, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a porcelain substrate with built-in R and C in which functional parts such as conductors, resistors, and insulators are further formed on this porcelain substrate. FIG. 12 is a sectional view of a conventional porcelain substrate. FIG. 13 is a cross-sectional view of a porcelain substrate having a plurality of high-dielectric-constant portions according to a conventionally attempted method. A: area with different permittivity, B: functional part, A (B)
...... Regions and functional parts with different permittivities.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 1/03 7011−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 1/03 7011-4E

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】表層部分乃至は内部を構成する粒子の大き
さを異ならせた誘電率の異なる領域を互いに分離して有
することを特徴とするセラミック。
1. A ceramic characterized by having regions having different dielectric constants in which the sizes of particles constituting the surface layer portion or the inside are different from each other.
【請求項2】前記セラミックは半導体磁器である特許請
求の範囲第(1)項に記載のセラミック。
2. The ceramic according to claim 1, wherein the ceramic is semiconductor porcelain.
【請求項3】成型体の表層部分乃至は内部に焼成による
粒成長を強制的に促進または抑制して誘電率の異なる部
分を形成するために、粒成長促進剤を添加しまたは焼成
時の加熱条件を部分的に変え、構成される粒子の大きさ
の異なる領域を形成することを特徴とするセラミックの
製造方法。
3. A grain growth promoter is added or heating is performed during firing in order to forcibly promote or suppress grain growth due to firing to form a portion having a different dielectric constant in the surface layer portion or inside of the molded body. A method for producing a ceramic, characterized in that the conditions are partially changed to form regions having different grain sizes.
【請求項4】前記粒成長の促進により、粒径が粒成長の
促進がなされていない部分の1.5倍以上とされ高誘電率
化されている特許請求の範囲第(3)項に記載のセラミ
ックの製造方法。
4. The ceramic according to claim 3, wherein the grain growth is promoted so that the grain size is 1.5 times or more higher than that of the portion where the grain growth is not promoted, and the dielectric constant is increased. Manufacturing method.
【請求項5】前記粒成長の抑制により、粒径が粒成長の
抑制がなされていない部分の2/3以下とされ低誘電率化
されている特許請求の範囲第(3)項に記載のセラミッ
クの製造方法。
5. The grain size is controlled to be 2/3 or less of a portion where grain growth is not suppressed by the grain growth suppression, thereby lowering the dielectric constant. Ceramic manufacturing method.
【請求項6】前記焼成時の加熱条件の部分的な変化はレ
ーザー照射または電子線照射によって行なわれる特許請
求の範囲第(3)項に記載のセラミックの製造方法。
6. The method for producing a ceramic according to claim 3, wherein a partial change in the heating condition during the firing is carried out by laser irradiation or electron beam irradiation.
【請求項7】前記セラミックは半導体磁器である特許請
求の範囲第(3)項乃至第(6)項12記載のセラミック
の製造方法。
7. The method of manufacturing a ceramic according to claim 3, wherein the ceramic is semiconductor porcelain.
【請求項8】前記粒成長促進剤はSiO2である特許請求の
範囲第(3)項乃至第(7)項に記載のセラミックの製
造方法。
8. The method for producing a ceramic according to claim 3, wherein the grain growth promoter is SiO 2 .
【請求項9】前記構成される粒子の大きさの異なる領域
を形成した後に、拡散源を付与して更に焼成する特許請
求の範囲第(3)項乃至第(8)項に記載のセラミック
の製造方法。
9. The ceramic according to claim 3, further comprising a step of applying a diffusion source and further firing after forming regions having different sizes of the constituent particles. Production method.
【請求項10】前記拡散源は金属または金属酸化物であ
る特許請求の範囲第(9)項に記載のセラミックの製造
方法。
10. The method for producing a ceramic according to claim 9, wherein the diffusion source is a metal or a metal oxide.
【請求項11】表層部分乃至は内部を構成する粒子の大
きさを異ならせた誘電率の異なる領域を互いに分離して
有するセラミックを用いたことを特徴とする電子回路用
基体。
11. A substrate for an electronic circuit, comprising a ceramic having regions having different dielectric constants having different sizes of particles constituting the surface layer portion or the inside thereof, which are separated from each other.
【請求項12】前記セラミックに更に導体、抵抗体及び
絶縁体の内少なくともいずれか一つが設けられている特
許請求の範囲第(11)項に記載の電子回路用基体。
12. The electronic circuit substrate according to claim 11, wherein the ceramic is further provided with at least one of a conductor, a resistor and an insulator.
【請求項13】前記セラミックは半導体磁器である特許
請求の範囲第(11)項または第(12)項に記載の電子回
路用基体。
13. The electronic circuit substrate according to claim 11, wherein the ceramic is semiconductor porcelain.
【請求項14】表層部分乃至は内部を構成する粒子の大
きさを異ならせた誘電率の異なる領域を互いに分離して
有するセラミックと該セラミックに更に導体、抵抗体及
び絶縁体の内少なくともいずれか一つを有することを特
徴とする電子回路。
14. A ceramic having regions having different permittivities in which the size of particles constituting the surface layer portion or the inside is different from each other, and at least one of a conductor, a resistor and an insulator in the ceramic. An electronic circuit having one.
【請求項15】前記セラミックは半導体磁器である特許
請求の範囲第(14)項に記載の電子回路。
15. The electronic circuit according to claim 14, wherein the ceramic is semiconductor porcelain.
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