「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection apparatus and an inspection method for a bearing device for a wheel for detecting the insufficiency of rolling elements after an assembling process, preventing a defective product from being mounted to a vehicle, and ensuring the stability for running the vehicle.例文帳に追加

組立工程後において転動体不足を検出できて、不良品を車両に搭載することがなくなって、車両の走行安定性を確保できる車輪用軸受装置の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus, whereby the boundary of parts can be surely detected, even when the parts are similar in optical characteristics by applying the method and the apparatus to, e.g. a manufacturing process for lithium ion secondary batteries.例文帳に追加

本発明は、検査方法及び検査装置に関し、例えばリチウムイオン二次電池の製造工程に適用して、部品の光学的な性質が似通っている場合でも、各部品の境界を確実に検出することができるようにする。 - 特許庁

In an inspectable circuit information output process 34, an inspection input circuit and an inspection output circuit are added to the connection relation information on the basis of the information 33 and inspectable integrated circuit information 23 is outputted.例文帳に追加

次に、検査可能回路情報出力工程３４において、ピン対応情報３３に基づいて、接続関係情報に検査入力回路及び検査出力回路を付加して、検査可能集積回路情報２３を出力する。 - 特許庁

The inspection method is constituted so as to inspect the wafer on the way of a processing process and has an analyzing process (step S101) for analyzing the material of foreign matter in the vicinity of the peripheral edge part of the wafer and a judging process (step S102) for judging whether the foreign matter exerts an effect on the processing process on and after the analyzing process.例文帳に追加

本発明に係る検査方法は、加工工程の途中でウェハに対して行う検査方法であって、ウェハの周縁部近傍で異物の材質を分析する分析工程（ステップＳ１０１）と、分析工程における分析の結果に基づいて、異物が分析工程以降の加工工程に影響を与えるか否かを判断する判断工程（ステップＳ１０２）とを有している。 - 特許庁

This soldering inspection and this soldering inspection method comprises a cooling process for spraying cooling gas to the solder bonding part, a measuring process for measuring the temperature of the solder bonding part to which the cooling gas is sprayed, and a determination process for determining the quality of the bonding state of the solder bonding part based on the measured temperature of the solder bonding part.例文帳に追加

半田接合部分に冷却気体を吹き付ける冷却工程と、前記冷却気体を吹き付けた半田接合部分の温度を計測する計測工程と、前記計測した半田接合部分の温度に基づいて、前記半田接合部分の接合状態の良・不良を判定する判定工程とを有することを特徴とする半田付け検査及び半田付け検査方法である。 - 特許庁

The method comprises (1) a process for obtaining inspected image information of an inspection objective area S by scanning the area S on a substrate 20 using electron beam, and (2) a process for analyzing a status of the area S according to inspection image information and reference image information for comparison.例文帳に追加

この方法は、（１）電子ビームにより基板２０上の検査対象領域Ｓを走査して、検査対象領域Ｓの検査画像情報を取得する工程と、（２）検査画像情報と基準となる比較画像情報とに基づいて、検査対象領域Ｓの状態を解析する工程と、を備える。 - 特許庁

To quickly and smoothly carry out inspection of the rightness of mounted parts or rightness of part mounting positions for a game board, the mounting of parts to which is finished in the part mounting process of a game board assembly line continuously following the process and carry out such inspection without omission, with accuracy and without causing irregularity in the result.例文帳に追加

遊技盤組立ラインの部品取付工程において部品取付が済んだ遊技盤につき、同工程に連続して迅速、円滑に取付部品の正誤や部品取付位置の正誤を検査でき、またそれらの検査を、漏れなく、かつ正確に、更に結果のばらつきを生じさせることなく行う。 - 特許庁

To provide: an inspection method capable of specifying the portion where junction leak defect is occurred, by irradiating a semiconductor device with an electron beam at a predetermined interval a plurality of times, and optimizing conditions of junction forming process by carrying out the inspection using wafer under a semiconductor manufacturing process; a device; and the method of manufacturing the semiconductor.例文帳に追加

半導体装置に電子線を所定の間隔で複数回照射して、接合リーク不良発生箇所を特定でき、半導体製造工程途中のウエハで本検査を実行することにより接合形成プロセス条件の最適化を行うことができる検査方法及び装置、半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polyester film allowing a worker to detect a defect, foreign matter or the like with high precision in a visual inspection by a crossed Nicol method which is one of inspection methods for polarizing plate and favorably usable as a mold releasing film hardly scratched in a manufacturing process for the mold releasing film and a process by use of the mold releasing film.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルム用として好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.例文帳に追加

この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁

A pattern inspection device is provided with: an optical image acquiring unit to acquire the optical image of the pattern of an inspection sample; an alignment processing unit to carry out an alignment process including correction processing of the optical image by a reference image; and a comparing unit to compare optical images different from each other subjected to the alignment process.例文帳に追加

被検査試料のパターンの光学画像を取得する光学画像取得部と、光学画像を参照画像により補正処理を含むアライメント処理するアライメント処理部と、アライメント処理部で処理された異なった光学画像同士を比較処理する比較処理部と、を備える、パターン検査装置。 - 特許庁

(1) The evaluation method of flow of a reactant gas in the fuel cell has a process of introducing an inspection gas from an inspection gas entrance 53 provided between an entrance 51 and an exit 52 of a normal reactant gas and a process of detecting a detection gas by a detection part 54 provided between the entrance and exit of the normal reactant gas.例文帳に追加

（１）正規の反応ガスの入口５１と出口５２との間に設けた検査ガス入口５３から検査ガスを導入する工程と、正規の反応ガスの入口と出口との間に設けた検出部５４にて検査ガスを検出する工程とを、有する燃料電池内の反応ガスの流動の評価方法。 - 特許庁

To provide a method for producing a prepreg containing an inorganic filler by which yield in a production process and an inspection process can be improved and process load can be reduced and to provide a metal foil-clad laminate excellent in resin surface appearance using the prepreg.例文帳に追加

無機充填材を含有するプリプレグの製造方法において、製造工程や検査工程での歩留まりの向上や工程負荷の低減が可能となる製造方法、並びに、このプリプレグを用いた樹脂表面外観に優れる金属箔張積層板を提供する。 - 特許庁

The inspection method of the laminated plate includes a heating process for heating the laminated plate from one side thereof, a photographing process for photographing the other side of the heated laminated plate by an infrared camera and a detection process for detecting the foam present in the laminated plate on the basis of the image photographed by the infrared camera.例文帳に追加

積層板を一面側から加熱する加熱工程と、加熱した積層板の他面側を赤外線カメラにより撮影する撮影工程と、赤外線カメラにより撮影した画像に基づいて積層板の内部に存在する泡を検出する検出工程とを行う。 - 特許庁

Moreover, as this method for inspecting water stain deposited on a transparent film, a water stain inspection method is used which is characterized by comprising a water stain imaging process for imaging the water stain, a contrast improvement process for improving the contrast of the water stain, and a defect determination process for determining the water stain to be a defect.例文帳に追加

また、透明フィルムに付着した水しみを検査する方法において、水しみを撮像する水しみ撮像工程、水しみのコントラストを改善するコントラスト改善工程、水しみを欠陥として判定する欠陥判定工程を有することを特徴とする水しみ検査方法を用いる。 - 特許庁

The inspection method comprises a first process B for performing many kinds of qualitative analyses for specifying the type of agricultural chemical residing in the object to be inspected; and a second process C for performing the qualitative analysis of the amount of residue in the agricultural chemical only for the specified type of agricultural chemical after the first process B.例文帳に追加

検査対象物に残留する農薬の種類を特定する多種類の定性分析を行って、残留する農薬の種類を特定する第１工程Ｂと、その後、その特定された種類の農薬のみについて農薬残留量を定量分析する第２工程Ｃとを、有する。 - 特許庁

When the inspection result satisfies the predetermined judgment conditions, the observation process of a new observation object is determined based on a change destination information table, and the determined observation process is instructed through an LAN 40 to an observation device 20 so as to be changed to the observation process of the observation object.例文帳に追加

検査結果が予め定める判定条件を満たしているとき、変更先情報テーブルに基づいて新たな観測対象の観測工程を決定し、決定した観測工程を観測対象の観測工程に変更するようにＬＡＮ４０を介して観測装置２０に指示する。 - 特許庁

To simply set optimum conditions of precharge to be carried out before inspection of a pattern formed during a semiconductor device manufacturing process to automatically determine whether the precharge is successful and feed back the results to subsequent operations so as to prevent degradation in reliability of inspection results for constantly stable inspection.例文帳に追加

半導体装置製造プロセスで形成されるパターンの検査前に実行されるプリチャージの最適な条件を簡易に設定できるようにし、プリチャージの良否を自動判定し、その後の動作にフィードバックするようにして、検査結果の信頼性の低下を防ぎ、常に安定した検査ができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which inhibits an increase of the number of power sources for inspection, makes it possible to supply a power source current over an amount of supply of a power source current of a single power source for inspection, and includes an inspection process that can efficiently, certainly inspect the semiconductor device; and provide a semiconductor device.例文帳に追加

検査用電源数の増大を抑制するとともに、単一の検査用電源の電源電流供給量を越える電源電流の供給を可能とし、半導体装置を効率的かつ確実に検査することができる検査工程を含む半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection image, inspection method and inspection device using electron beams, with an expanded beam scan dimension (a field of vision; FOV) and with uniform or near-uniform CD distribution in the field to stabilize measurement in the FOV, in order to make an easy process control including variations in local CD, CD difference of vertical and horizontal line and the like.例文帳に追加

ビームスキャン範囲（視野、ＦＯＶ）を拡大し、ＦＯＶ面内の測定値がばらつかないようにＣＤの面内分布を均一又は略均一に分布させ、ローカルなＣＤのばらつき、縦線と横線のＣＤの違いなどのプロセス管理が容易な、電子ビームを用いる検査画像、検査方法、検査装置を提供する。 - 特許庁

Finally, the inspection map is collated with each piece of data by performing a collation process 40, data coincident with the inspection map is searched among pieces of the data, the working area of the surface of the substrate is defined by the working area layout coincident with the inspection map, and the use classification of the substrates are confirmed and the substrates are sorted 46.例文帳に追加

最後に、照合プロセス４０を行って検査マップとそれぞれデータとを照合し、データの中から検査マップに一致したデータを探し出し、また検査マップに一致した作用面積レイアウトにより基板表面の作用面積を定義し、進んで基板の使用類別を確認して分類４６する。 - 特許庁

To provide an external appearance inspection method for a substrate sealed with the resin, which can effectively solve various problems of an external appearance inspection in response to the external appearance inspections with stability using an external appearance inspection mechanism, which externally inspects an anomalous formation and an anomalous external appearance of a resin surface formation of the substrate sealed with the resin by using an image process.例文帳に追加

樹脂封止済基板の樹脂成形体表面の成形不良や外観不良を画像処理して外観検査する外観検査機構において、安定して外観検査すると共に、外観検査上の諸問題を効率良く解決する、樹脂封止済基板の外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To connect an inspection process and a taping packing process and to realize the reduction of a lead time, the simplification of equipment and space saving by solving the problem of dielectric absorption the dielectric of a stacked capacitor without heat treatment.例文帳に追加

熱処理を行うことなく積層コンデンサの誘電体が持つ誘電吸収の問題を解決し、検査工程とテーピング包装工程とを連結可能にするとともに、リードタイムの短縮と設備の簡素化、省スペース化を図る。 - 特許庁

An analyzing section 10e prepares the process-quality model by carrying out an analysis by a data mining by using the process feature quantity and the inspection-result information associated with each other through the commonness of the related unit object.例文帳に追加

解析部１０ｅは、関連する単位対象品が共通していることによって対応付けられたプロセス特徴量と検査結果情報とを用いて、データマイニングによる解析を実行することにより、プロセス−品質モデルを作成する。 - 特許庁

To provide a selection method for a driving corrugation for an ink jet device capable of eliminating a process having low work efficiency including measurement of each component and an inspection of printing, or to reduce a time required for the process.例文帳に追加

各部品の寸法測定あるいは印字検査等の作業効率の低い工程を省略し、またはそれらの工程に要する時間を短縮することの出来るインク噴射装置の駆動波形の選択方法を提供すること。 - 特許庁

When a production line controller S controls the existing basic production line A, a data group creation unit 5 stores the first process recipe 1, the process data 2 and the inspection data 3 for the basic production line A in a database 8 while matching each other.例文帳に追加

生産ライン制御装置Ｓは、既存の基幹生産ラインＡを制御する際に、データグループ作成部５で、基幹生産ラインＡ用の第１プロセスレシピ１とプロセスデータ２と検査データ３とを対応付けてデータベース８に蓄積する。 - 特許庁

To provide a method for extracting a failure factor in a manufacturing process on the basis of a result of inspection process, which allows a user to quickly acquire the effect of the failure factor improvement before it is performed.例文帳に追加

検査工程の検査結果に基づいて、製造プロセスでの不良要因を抽出する不良要因抽出方法であって、不良要因を改善したときの効果をユーザが事前に迅速に把握できるものを提供すること。 - 特許庁

To laminate a wafer electrode and a contact by facilitating alignment of the wafer electrode and a contact probe stably over a long term even in a production process employing a large number of inspection boards and a large number of alignment devices when inspection of wafers is conducted in a block.例文帳に追加

ウエハ一括での検査を行う場合に、多数の検査ボード、多数のアライメント装置を用いる生産工程であっても、長期的に安定してウエハ電極とコンタクトプローブの位置合わせを容易に行いコンタクトと貼り合わせることを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for continuously non-contact-inspecting twist, short circuit, and break of each conductor strand directly before a laminate tape covering process of a tape electric wire, and surely conduct quality assurance of a constant size or long size tape electric wire.例文帳に追加

テープ電線のラミネートテープ被覆工程直前において各導体素線のねじれ、短絡、断線を連続して非接触検査し、定寸又は長尺のテープ電線の品質保証が確実に実施できる検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate management of a manufacturing process by supplying inspection data capable of inspecting the electrical characteristics of a TFT formed on the same substrate and the formation defect of a contact hole provided on a transparent organic insulating film to an inspection apparatus.例文帳に追加

同一基板上に形成されたＴＦＴの電気的特性及び透明有機絶縁膜に設けられたコンタクトホールの形成不良を検査可能な検査データを検査装置に供給し、製造プロセスの管理を容易にすることを課題とする。 - 特許庁

Inspection electrodes 31a are formed on the through-holes 22 by carrying out electrolytic plating by using the conductive layer 12 for a plating electrode, and a wiring layer 12a is formed by peeling off the insulation sheet 21 and by applying a patterning process to the conductive layer 12 100 to provide the inspection table.例文帳に追加

導体層１２をめっき電極にして、電解めっきを行い、貫通孔２２に検査電極３１ａを形成し、絶縁シート２１を剥離して、導体層１２をパターニング処理して配線層１２ａを形成し、検査治具１００を得る。 - 特許庁

As the result, in the manufacturing process of electronic equipment such as semiconductors or magnetic recording devices, the surface inspection method and the surface inspection apparatus which are capable of detecting ultrafine particles smaller than 0.1 μm deposited on a transferred substrate are achieved.例文帳に追加

その結果、半導体や磁気記録装置等の電子機器製造工程において、搬送した基板に付着した０．１μｍよりも小さい超微小粒子の検出を可能とする表面検査方法及び表面検査装置が実現する。 - 特許庁

To provide a cream solder print inspection method and a print inspection apparatus for preventing the production from being continued while the print is abnormal when abnormality occurs in the print process of cream solder, improving the productivity and improving a non-defective product rate.例文帳に追加

クリーム半田の印刷工程に異常が発生した場合に、印刷異常のまま生産が続行されることを防止して、生産性を向上させ良品率を向上させるクリーム半田印刷検査方法及び印刷検査装置を提供する。 - 特許庁

The characteristic impedance inspection apparatus inspects an object to be inspected while winding off the object, winds up to a reel form after the inspection, and provides the manufacturing process for the feedback of the identification of failure causes or the information to adjust the manufacturing conditions based on the obtained product information.例文帳に追加

被検査物を巻き出しながら検査し、検査後にリール形態に巻き取り、検査によって得た製品情報をもとにして、不良原因の特定、或いは製造条件を調整する情報を製造工程へフィードバックすること。 - 特許庁

The method comprises steps of receiving the occurrence of a failure in each process from the receipt of a part to the shipping thereof; and setting, for a part for which the occurrence of the failure is received, a stop plug for this part in an inspection reference master storing inspection results.例文帳に追加

部品を受け入れてから出荷するまでの各工程で障害の発生を受け付けるステップと、障害の発生を受け付けた部品について、検査結果を保存する検査基準マスタ中の部品のストップフラグをセットするステップとを有する。 - 特許庁

NISA used the risk information on a trial basis during their inspection on nuclear installations. In January 2009, as a part of improvement of the inspection system,it started to use the risk information by adopting the safety significance determination process.例文帳に追加

原子力安全・保安院では、原子炉施設の検査において、試行的にリスク情報を活用していたが、2009年1月の検査制度の改善の一要素として、安全重要度評価手法を取り入れることによって、リスク情報の導入を開始した。 - 経済産業省

To provide a manufacturing method, a multi-face attached antenna sheet and a multi-face non-contact IC card, allowing efficient operation inspection in a manufacturing process for a non-contact IC card.例文帳に追加

非接触ＩＣカードの製造工程における動作検査を効率的に行える製造方法と多面付けアンテナシート、多面付け非接触ＩＣカードを提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

Then a retrieving process is performed and all TOC descriptors which satisfy the selected inspection standard are obtained.例文帳に追加

この方法によれば、その記述と、表示された項目を用いたリンクを通じて、対応する電子的にアクセス可能なリソースと、をブラウジングすることができる（１６０２、１６０３）。 - 特許庁

To set such driving conditions as to make amounts of a liquid material arranged appropriate without the inspection process after drawing by predicting in advance unevenness of arrangement of the liquid material.例文帳に追加

液状体の配置ムラを事前に予測することにより、描画後の検査工程を経ることなく、液状体の配置量が適正となる駆動条件を設定する。 - 特許庁

To provide an automatic liquid penetrant inspection method of a steel plate capable of preventing liquid drop of wash water or penetrant, heightening efficiency of a drying process, and preventing clogging of a developer nozzle.例文帳に追加

洗浄水や浸透液の液ダレ防止、乾燥工程の効率化、現像液ノズルの詰まり防止を達成した鋼板の自動浸透探傷検査方法を提供する。 - 特許庁

This wire harness outward appearance inspection device has a touch screen 13 placed on a full-size drawing 11 wherein a harness full-size drawing 11b is displayed in the outward appearance inspecting process of a wire harness.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査工程でハーネス原寸図１１ｂを表示する原寸図面１１の上にタッチスクリーン１３を載せるワイヤハーネス外観検査装置を使用している。 - 特許庁

To provide a flaw detector capable of detecting layer separation inside a laminated roller used in a paper making process, with high inspection accuracy at a low cost and in a short time.例文帳に追加

製紙工程で使用される積層ロールの内部における層間剥離を、高い検査精度で低コストかつ短時間で探傷できる探傷装置を提供する - 特許庁

The current input terminal 106 and the battery terminal 108 also serve as terminals for measuring the resistance of the detection resistor Rsense in the inspection process.例文帳に追加

電流入力端子１０６、電池端子１０８は、検査工程において検出抵抗Ｒｓｅｎｓｅの抵抗値を測定するための端子としても機能する。 - 特許庁