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Process Inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1313件
Since the operation condition information is collected and recorded noncontactly with the electronic equipment in the present invention, the communication cable is not required to be connected and removed to/from the electronic equipment, in the inspection process, and the inspection process is simplified thereby.例文帳に追加
本発明によれば、動作状態情報は、電子機器に非接触で収集及び記録されるから、検査工程において電子機器への通信ケーブルの接続及び取外しが不要となり、検査工程の簡素化が図れる。 - 特許庁
The manufacturing condition of the equipment provided in the process before an inspection process is automatically controlled on the basis of the inspection data of the optical disk after lamination and the fluctuations in the quality of the optical disk caused by an external cause is automatically corrected.例文帳に追加
さらに、かつ貼り合わせ後の光ディスクの検査データを元に、検査工程より前の工程に備わる設備の製造条件を自動的にコントロールし、外的要因による光ディスクの品質変動を自動補正させた。 - 特許庁
This method of detecting stain flaw; includes a process of performing filtration processing for emphasizing the stain flaw of an inspection image and a process for detecting the presence of the stain flaw or evaluating the degree of stain flaw, on the basis of the inspection image subjected to filtration processing.例文帳に追加
検査画像のシミ欠陥の強調のためのフィルタ処理を行う工程と、前記フィルタ処理された検査画像に基づいてシミ欠陥の有無を検出し又はシミ欠陥の程度を評価する工程とを備える。 - 特許庁
According to this system (surface mounter Z3, solder printer Z2 and mounting line L), information (information about substrate inspection before printing) about inspection of a substrate P which has been executed before printing is utilized in a printing process and a mounting process.例文帳に追加
本発明(表面実装機Z3、半田印刷装置Z2、実装ラインL)によれば、印刷前に実施した基板Pの検査情報(印刷前基板検査情報)を印刷過程、実装過程において活用することとした。 - 特許庁
Furthermore, the database 1 holds a quality maintenance frequency, which is a minimum value necessary for maintaining the quality of a semiconductor device, correlating it with the inspection process, and the inspection frequency calculating device may be furthermore equipped with a judging unit 5 which selects the minimum values of the quality maintenance inspection frequency and the theoretical inspection frequency.例文帳に追加
工程データベース1は更に、半導体装置の品質保持に必要な検査頻度の最小値である品質保持検査頻度を、検査工程に対応付けて保持しており、品質保持検査頻度及び前記理論検査頻度の最小値を選択する判断部5を更に具備してもよい。 - 特許庁
An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal, an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction and an inspection method for predicting prognosis of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Hemopexin protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加
被検動物より採取された血液試料中のHemopexin蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、脳梗塞の病型診断のための検査方法、および脳梗塞の予後の予測のための検査方法。 - 特許庁
To provide an inspection device of transparent substrates capable of efficiently inspecting transparent substrates including such as glass substrates and transparent resin substrates, an inspection method of transparent substrates, and a manufacturing method of glass substrates having an inspection process to inspect glass substrates by the inspection method of transparent substrates.例文帳に追加
ガラス基板や透明な樹脂基板等を含む透明基板の検査を効率化できる透明基板の検査装置、透明基板の検査方法、及び前記透明基板の検査方法でガラス基板を検査する検査工程を有するガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
The inspection system 10 determines the content of quality inspection for a device 20 to be inspected, on the basis of information on claims to the device 20 from the market (hereinafter referred to as market claim information) and information on inspection during production processes (hereinafter referred to as production process inspection information).例文帳に追加
この検査システム10では、被検査機器20に対する市場からのクレーム情報(以下、市場クレーム情報)と、生産工程における検査情報(以下、生産工程検査情報)とに基づき被検査機器20に対して行う品質検査の内容を決定する。 - 特許庁
Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加
製造プロセス情報J1に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁
To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加
PTPシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、PTP包装機を提供する。 - 特許庁
This cooling storage using the combustible refrigerant for the cooling cycle is manufactured by a leakage inspection process 2 applying a gas pressure of 1 MPa or more to the inside and inspecting the leakage of the cooling cycle, a refrigerant sealing process 3 sealing the combustible refrigerant after finishing the leakage inspection process 2, and a sealing process 4 sealing a pipe after the refrigerant sealing process 3.例文帳に追加
冷凍サイクルに可燃性冷媒を用いる冷却貯蔵庫を、内部に1MPa以上の気体で圧力をかけて前記冷凍サイクルの漏れを検査する漏れ検査工程2と、前記漏れ検査工程2終了後、前記可燃性冷媒を封入する冷媒封入工程3と、前記冷媒封入工程3後、配管を封止する封止工程4とにより製造する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device and a PTP packing machine capable of enhancing inspection precision, in particular, for a pocket part side, to enhance visual appearance quality of a PTP sheet, in defect inspection in a manufacturing process for the PTP sheet.例文帳に追加
PTPシートの製造過程における不良検査に際し、特にポケット部側の検査精度の向上を図ることで、PTPシートの外観品質の向上を図ることができる不良検査装置、及び、PTP包装機を提供する。 - 特許庁
The inspection result every process of the building and a required treatment according to the inspection result are written in an inspection sheet every portion by a construction-side client machine 120, transmitted to a common file server 130 on the network 140 and stored therein.例文帳に追加
施工側クライアントマシン120によって、検査シートに建築物の工程毎の検査結果と該検査結果に応じた所要の処置とを部位毎に記入し、ネットワーク140上の共有ファイルサーバ130に送信して保存する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an organic EL display device in which judgement of propriety of repair at an inspection stage of a defective pixel can be made by a simple structure and a working loss at the repair process is reduced, its inspection device, and inspection method.例文帳に追加
簡易的な構成により欠陥画素の検査段階でリペアの可否判定を可能とし、リペア工程での作業ロスを低減した有機EL表示装置の製造方法、その検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a clinical inspection information managing device for checking the presence or the absence of a target specimen in each process of a clinical inspection which is easier than conventionally, and to provide a clinical inspection information management system and a computer program.例文帳に追加
従来に比して簡便に臨床検査の各工程において対象となる検体の有無を確認することができる臨床検査情報管理装置、臨床検査情報管理システム、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide an inspection device for detecting the flaw of a semiconductor and measuring the dimension of the flaw of the semiconductor as a technique for inspecting a wafer on the way of a semiconductor manufacturing process without applying damage to the inspection device by irradiation with an electron beam, and also to provide an inspection method of the semiconductor.例文帳に追加
半導体製造工程途中のウエハを検査する技術として、電子線照射によってデバイスにダメージを与えることなく、欠陥検出または寸法測定する検査装置および方法を提供する。 - 特許庁
An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal and an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Desmoglein-2 protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加
被検動物より採取された血液試料中のDesmoglein-2蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、および脳梗塞の病型診断のための検査方法。 - 特許庁
An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal and an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Bcl-XL protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加
被検動物より採取された血液試料中のBcl-XL蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、および脳梗塞の病型診断のための検査方法。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus capable of quickly detecting a defective region on the entire surface of a body to be inspected and reflecting the detection result on processes after the inspection process, and to provide an inspection method.例文帳に追加
本発明は、被検査体全面において短時間で不良領域を検出でき、かつ検出結果を検査工程以降の工程に反映することのできる検査装置及び検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal and an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Clusterin protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加
被検動物より採取された血液試料中のClusterin蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、および脳梗塞の病型診断のための検査方法。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a contact for inspection capable of processing the contact for inspection into a desired shape without the aid of a complicated process, and manufacturing simply a large quantity of contacts for inspection.例文帳に追加
煩雑な工程を経ることなく、検査用接触子を所望する形状に加工することができるとともに簡単に大量の検査用接触子を製造することができる検査用接触子の製造方法を提供する。 - 特許庁
Assemblage and inspection are performed on a common system line in at least an assembling and inspecting process in order to manufacture a wheel bearing having the different type number including a different manufacturing process.例文帳に追加
異なる製造工程を含む異なる型番の車輪軸受を製造するために、少なくとも組立・検査工程において共通のシステムライン上で組立・検査する。 - 特許庁
A converting means 10 repeatedly perform at least one of a translation process and a rotating process for an inspection image by a fixed quantity within a specific range.例文帳に追加
変換手段10は、検査画像に対して平行移動処理及び回転処理のうち少なくとも1つの処理を所定の範囲内で一定量毎に繰り返し実行する。 - 特許庁
In a defective factor extraction device, process data including information indicating manufacturing devices in which each part manufacturing process is performed per products is associated with inspection data and stored as a data set (S1).例文帳に追加
製造品毎に、各部分製造工程を実行した製造装置を示す情報を含んだプロセスデータと、検査データとを関連付けて、データセットとして記憶する(S1)。 - 特許庁
In this device, values of a photometer in the reaction process are measured in order to verify an analysis inspection result, and an analysis measured result is verified from reaction process data.例文帳に追加
分析検査結果の検証を実現するために、反応過程における光度計の値を計測し、反応過程データから分析測定結果を検証するものである。 - 特許庁
To provide an element for confirmation and an inspection method thereof for determining the end point of polishing process in the CMP process to form an embedded conductive layer within the recessed area of an insulation film.例文帳に追加
絶縁膜の凹部内に導電層を埋め込み形成するCMP工程おける研磨終点を判断できる確認用素子及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
Nonvolatile coating agent is covered on a tool used for an assembly process and an inspection process of such a pivot bearing unit for HDD swing arm.例文帳に追加
このようなHDDスイングアーム用ピボット軸受ユニットの組み立て工程及び検査工程で使用される冶工具には、不揮発性のコーティング剤が被覆されている。 - 特許庁
In a marking process, an ink 2 for visualizing by receiving irradiation of light having a specific wavelength is applied onto an inspection object 1 discriminated to have a failure in the primary discrimination process.例文帳に追加
マーキング工程では、一次判別工程で不良と判別された検査対象物1に、特定波長の光の照射を受けて可視化するインク2を塗布する。 - 特許庁
The waveform detected in the detection process is compared with and analyzed against a waveform in a normal state to inspect an inside state of moisture absorption in an inspection process.例文帳に追加
そして、検出工程で検出された波形と、正常状態の波形とを比較して分析することによって、内部の吸湿状態を検査する検査工程を実施する。 - 特許庁
To reduce the weight of a liquid contact type probe device and facility costs, and to efficiently carry out an inspection process.例文帳に追加
液体接触式プローブ装置を軽量化し、設備コストを削減し、検査工程を効率的に行うことを可能とする。 - 特許庁
To provide a thin film transistor substrate capable of removing an additional process necessary for cutting the wire for inspection.例文帳に追加
検査用配線切断のために必要な付加工程を除去することができる薄膜トランジスタ基板を提供する。 - 特許庁
The present invention relates to an inspection system for a process apparatus which processes a substrate such as a semiconductor wafer, a flat panel display or the like.例文帳に追加
本発明は、半導体ウエハまたはフラットパネルディスプレイ等の基板を処理するプロセス装置の検査システムに関する。 - 特許庁
This shortens the standby time of the inspection part 21 when conducting the needle polishing process to improve the throughput of the test.例文帳に追加
これにより針研処理を行うときの検査部21の待機時間を短縮して、テストのスループットを向上させる。 - 特許庁
Electrical inspection is performed after the second punching process is finished to measure whether or not there is electrical conduction between the terminals 13.例文帳に追加
2回の打ち抜き工程が終了した後に電気検査を行い、前記端子間13の導通の有無を測定する。 - 特許庁
To provide an inexpensive raw water treatment process preventing Cryptosporidium contamination, wherein maintenance and inspection are easy.例文帳に追加
クリプトスポリジウム汚染を防止し、かつ安価にして保守点検も容易な原水の処理方法を提案することを目的とする。 - 特許庁
To prevent deterioration of quality by improving inspection accuracy concerning existence of cracks generated in a manufacturing process.例文帳に追加
製造過程において生じ得るクラックの有無について検査精度の向上を図ることで、品質の低下を防止する。 - 特許庁
To provide a thin film transistor substrate capable of eliminating an additional process necessary for cutting off the wiring for inspection.例文帳に追加
検査用配線切断のために必要な付加工程を除去することができる薄膜トランジスタ基板を提供する。 - 特許庁
In addition, this inspection process is useful in simple and rapid detection of Staphylococcus aureus of low sensitivity to glycopeptide.例文帳に追加
さらにこの検査法は、グリコペプチド低感受性の黄色ブドウ球菌の簡易的、迅速検出に有用な検査法である。 - 特許庁
To provide a semiconductor chip with which appearance visual inspection after a completion of a wire bonding process is facilitated, using a simple configuration.例文帳に追加
簡単な構成でワイヤボンディング工程終了後の外観目視検査を容易にした半導体チップを提供する。 - 特許庁
When an EOL process is started, an inspection program and a storage program are stored in a RAM in an initial setting step.例文帳に追加
EOL工程が開始されると、初期設定ステップにおいて、検査プログラムと記憶プログラムとがRAMに記憶される。 - 特許庁
To provide a schedule determination apparatus determining an inspection schedule so as to allow the minimum number of equipment to be always secured to perform a certain process.例文帳に追加
ある工程を実施するために最低限の数の機材を常時確保できるように点検スケジュールを決定する。 - 特許庁
In an object spectrum acquisition process, an object spectrum FB_j(f), corresponding to the aperture which is an inspection object is acquired.例文帳に追加
対象スペクトル取得工程にて、検査対象となる空隙に対応する対象スペクトルFB_j(f)を取得する。 - 特許庁
To provide an automatic printing system, which allows to promote the full automatization of a total line including an inspection process.例文帳に追加
全ラインにわたって検査工程を含めて全自動化を推し進めることを可能にした自動印刷システムを提供する。 - 特許庁
An exciting method used during the NMR inspection includes a process of exposing a body (92) to an orientation magnetic field (BO).例文帳に追加
NMR検査の間で使用するための励起方法は、身体(92)を方向設定磁場(B0)にさらすことを含む。 - 特許庁
To simplify a troublesome inspection process and prevent a motor bearing member from playing and being detached in the thrust direction of the motor.例文帳に追加
煩雑な検査工程を簡略化しつつ、モータ軸受部材がモータスラスト方向に浮いたり、抜けることを防止する。 - 特許庁
To facilitate alignment at the time of mounting a semiconductor chip on a lead frame, and confirmation of the mounting position in the inspection process.例文帳に追加
リードフレームに半導体チップを載置するときの位置合わせ、および検査工程における載置位置の確認を容易にする。 - 特許庁
Due to the location where this re-boxing occurred, the product did not go through the normal plant inspection process.例文帳に追加
再箱詰めが行われていた場所の関係から、この箱は通常行われている施設の検査プロセスを経ていなかった。 - 厚生労働省
Erroneous determination that a good product is determined as a defective product in the inspection process is avoided, and correct determination is performed as originally expected.例文帳に追加
検査工程で不良と誤判定されることが回避され、所期通りに正しく良判定されることになる。 - 特許庁
An open-short inspection and a repair treatment of an electrode pattern after the electrode pre-calcining process can be done without any problem.例文帳に追加
電極仮焼成工程後の電極パターンに対してオープンショート検査およびリペア処理を問題なく実施できる。 - 特許庁
To provide a data management system and a method of manufacturing a display device which improve the production efficiency in a display device production process having a cutting process, and reduce the burden of an inspection process.例文帳に追加
切断工程を有する表示デバイス製造工程における生産効率を高めるとともに検査工程の負荷を軽減するようなデータ管理システム及び表示デバイスの製造方法を提供するものである。 - 特許庁
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