「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform a rapid mask inspection for a stencil mask and the like used for the manufacturing process of a microelectronic circuit.例文帳に追加

超小型電子回路の製造プロセスに使用されるステンシルマスク等において素早くマスクの検査をすることを目的とする。 - 特許庁

Since merely observation using X-rays from a surface is required, a non-destructive inspection for dislocation amount is possible in a manufacturing process.例文帳に追加

また、表面よりＸ線にてマークを観察すれば良いので、製造工程内での位置ズレ量の非破壊検査が可能となる。 - 特許庁

To provide a device and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications.例文帳に追加

自動化されたプロセス制御物品検査アプリケーションの中でスナップショット動作熱赤外線イメージング装置および方法を提供する。 - 特許庁

A common basic inspection program to be executed in a manufacturing process is stored in a rewritable nonvolatile storage device (Flash ROM 6).例文帳に追加

書き換え可能な不揮発性記憶装置（Flash ROM６）に、製造工程で実行する共通の基本検査プログラムを格納しておく。 - 特許庁

The display manufacturing method includes an inspection process inspecting the presence or absence of faults in display loss in a liquid crystal display panel 20.例文帳に追加

本発明に係る製造方法は、液晶表示パネル２０の表示欠損不良の有無を検査する検査工程を含む。 - 特許庁

As a result, in the shift operation during the inspection process, all the FFs will not operate simultaneously, and maximum power consumption can be reduced.例文帳に追加

このため検査工程中のシフト動作時にはすべてのFFが同時に作動せず、最大消費電力の削減が可能となる。 - 特許庁

Additional data which facilitate an understanding of process errors are obtained by the succeeding detailed inspection and analysis of the details of the sampling defects.例文帳に追加

続くサンプリング欠陥の詳細な検査及び解析によって、工程誤差の把握を容易にする付加的なデータが得られる。 - 特許庁

To provide technique for applying a probe carrier quality-guaranteed by an effective inspection program and an effective production process.例文帳に追加

効果的な検査プログラム及び製造工程により品質保証されたプローブ担体を適用するための技術を提供すること。 - 特許庁

Therefore, the Food Safety and Inspection Service (FSIS) must continue to ensure a high level of integrity, security, and accuracy within the process.例文帳に追加

したがって、FSISは、このプロセスにおける統一性・安全性・正確性を今後も高いレベルで確保していかなければならない。 - 厚生労働省

To provide a method for writing application software at the time of an inspection process of an electronic system without changing the constitution of production lines.例文帳に追加

生産ライン構成を変更することなく、電子システムの検査工程時にアプリケーションソフトを書き込む方法を提供すること。 - 特許庁

It is diagnosed in an inspection process that an off-specification product is caused by a manufacturing device or a process, and the above diagnosis is made by the use of inspection data on each process in the manufacturing lines of various kinds of semiconductor devices and the actual values of the manufacturing conditions under which the manufacturing device operates in the processes.例文帳に追加

本発明は、多品種の半導体デバイス製造ラインにおける各工程毎の検査データおよびその際の製造装置の製造条件の実績値を用いて、半導体デバイス製造の検査工程における規格外れ要因を、製造装置起因とプロセス起因に分離する診断処理を行う。 - 特許庁

To improve quality of a product to be shipped to a market by investigating/solving a cause of defects discovered after an inspection process and after shipment of the product and to promptly reflect the investigated/result on a manufacturing process and the inspection process in a manufacturing plant to improve the quality of the product.例文帳に追加

一般的に製造業者には、製品の品質を向上させるため、検査工程や製品出荷後に発見された不具合事象の原因を究明・解決し、製造工場内の製造工程や検査工程へ迅速に反映することにより、市場へ出荷する製品の品質をいっそう向上することが望まれている。 - 特許庁

To enhance the inspection efficiency and precision of a flaw by simply and readily detecting the flaws in the lower layer of the respective layers of a substrate, even when the flaws formed in the previous manufacturing process have been detected in the inspection of flaws in the respective layers of the substrate, in a flaw inspection system and a flaw inspection method.例文帳に追加

欠陥検査システムおよび方法において、基板の各レイヤーでの欠陥検査で、それより下層レイヤー、すなわち前の製造工程で形成された欠陥が検出される場合でも、下層レイヤーの欠陥を簡素かつ容易に除去し、欠陥検査の効率、精度を向上することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for continuously manufacturing a liquid crystal element, for preventing reduction in the yield of an optical film and preventing decrease in the inspection accuracy of an optical inspection (for example, an inspection by reflected light and an inspection by transmitted light) in the process of laminating two or more sheet pieces of optical films on a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルに２以上の光学フィルムのシート片を積層する場合において、光学フィルムの歩留まりを低下させず、かつ、光学的検査（例えば、反射光による検査、透過光による検査）の検査精度を低下させないようにした液晶表示素子の連続製造方法を提供する。 - 特許庁

To surely discriminate a defective product through inspection of an information carrier and to avoid an adverse effect of defective product transportation in an inspection method and an inspection system of an information carrier for performing product inspection in a manufacturing process of an information carrier such as an IC tag, an IC label, an IC card and a magnetic card.例文帳に追加

本発明は、ＩＣタグ、ＩＣラベル、ＩＣカード、磁気カード等の情報担体の製造工程における製品検査を行う情報担体の検査方法及び検査システムに関し、情報担体の検査による不良品を確実に判別させることができると共に、不良品搬送の悪影響を回避することを目的とする。 - 特許庁

This device comprises a first voice synthesis output means 24 for calling attention so that a passenger inside the elevator car 13 does not influence the inspection during inspection of an elevator door and a second voice synthesis output means 25 for notifying the passenger of the inspection in process during the inspection that may cause vibration to the elevator car 13.例文帳に追加

エレベータドアの点検動作時に乗りかご１３内の乗客が点検に影響を及ぼさないように注意を促す第１の音声合成出力手段２４と、乗りかご１３に振動が発生する点検動作時に乗客に点検中である旨を報知する第２の音声合成出力手段２５とを備えた。 - 特許庁

To solve the problem in which, when a series of processes for image inspection is executed and image inspection and a process for displaying a result image after image inspection are simultaneously and plurally performed, since processing performance of an information processing apparatus is insufficient, although a load is reduced by decimating the result images of image inspection, a result image necessary for an operator is also decimated.例文帳に追加

画像検査を行う一連の処理を実行し、画像検査と画像検査後の結果画像を表示する処理を同時に複数おこなった場合、情報処理装置の処理能力が足りず、画像検査の結果画像を間引いて負荷の軽減をするが、作業者に必要な結果画像までも間引かれてしまう。 - 特許庁

To provide electronic equipment, capable of simplifying the process for inspection and that will not have an inspection program start up carelessly, and an inspection method therefor, as to the electronic equipment having a first substrate, and the second substrate connected to the first substrate and operated in cooperative manner with the first substrate, and to provide the inspection method therefor.例文帳に追加

第１の基板と、第１の基板に接続され、第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器及びその検査方法に関し、検査のための工程を簡略化でき、かつ、不用意に検査プログラムが起動することがない電子機器及びその検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

One part or each of the whole parts of a plurality of substrates of one set to be performed by the same content process is fed to one inspection part selected from the four inspection parts of the inspection unit 30, whereby not less than one sheet to less than the total number of the plurality of substrates of one set are fed to each of the four inspection parts.例文帳に追加

同一内容の処理を行うべき１組の複数の基板の一部または全部のそれぞれを検査ユニット３０の４つの検査部のうちから選択された１つの検査部に搬送することにより、４つの検査部のそれぞれには１組の複数の基板のうちの１枚以上全数未満が搬送される。 - 特許庁

After a first aging process for executing first aging discharge to a PDP that is formed in advance for a first time length, the lit state of the PDP is measured in an inspection process.例文帳に追加

あらかじめ形成したＰＤＰに第１エージング放電を第１時間長で実施させる第１エージング工程の後、検査工程でＰＤＰの点灯状態を測定する。 - 特許庁

To constitute a mold release device so that the leakage inspection of a vessel can be carried out within a time for injection-molding a preform as one process in a molding process in injection drawing blow molding.例文帳に追加

容器の漏洩検査を射出延伸ブロー成形における成形工程の一工程として、プリフォームの射出成形時間内にて行るように離型装置を構成する。 - 特許庁

This manufacturing method has a thin film forming process of forming a lamination film constituting the thin film magnetic head on a substrate, and an inspection process of measuring the size of a predetermined portion of the lamination film.例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドを構成する積層膜を基板上に形成する膜形成工程と、積層膜の予め定めた箇所についての寸法を計測する検査工程とを有する。 - 特許庁

Heat treatment is applied to the repair welded part, and it is preferable that the inspection in the electromagnetic acoustical type ultrasonic flaw detection is continued from the process of build up welding to the process of heat treatment.例文帳に追加

また、補修溶接部には熱処理が施されるが、肉盛り溶接の工程からこの熱処理の工程まで、電磁超音波探傷法による検査を継続することが好ましい。 - 特許庁

To reduce producing process time by optimizing inspection items in the producing process of an image formation device using a surface conductive type electron emission element.例文帳に追加

表面伝導型電子放出素子を用いた画像形成装置の作成プロセスにおける検査項目を最適化することにより作成プロセス時間の短縮化を計ることを目的とする。 - 特許庁

To accurately detect foreign matters stuck on the surface of a lens or an image pickup device in an inspection process in the production process of an image pickup device incorporated with lens or a small camera module.例文帳に追加

レンズ一体型撮像素子や小型カメラモジュールの製造工程における検査工程において、レンズまたは撮像素子の表面に付着した異物を精度良く検出する。 - 特許庁

In a second leak inspection process S6, a third reverse bias voltage substantially equal to the first reverse bias voltage is impressed after the stress impression process S5 for measuring a second leak current value.例文帳に追加

第２のリーク検査工程Ｓ６は、ストレス印加工程Ｓ５後に、前記第１の逆バイアス電圧と略同等な第３の逆バイアス電圧を印加し、第２の漏れ電流値を計測する。 - 特許庁

To enhance work efficiency by shortening the work time in a visual macro-inspection process and to prevent the outflow to a next process due to the overlooking of a substrate having a flaw.例文帳に追加

目視マクロ検査工程における作業時間の短縮による作業効率の向上と、欠陥が存在する基板の看過による次工程への流出防止を実現する。 - 特許庁

In addition, the inclination of the valve member 51 and the ink leakage can be visually determined through a first inspection hole 72, and therefore, defective products can be easily discovered in a manufacturing process and a shipping process.例文帳に追加

また、第１確認穴７２から、弁部材５１の傾斜又はインク漏れを目視で確認でき、製造過程及び出荷過程において不良品を容易に発見することができる。 - 特許庁

To facilitate the execution of an inspection process in a process for producing a liquid crystalt device and to prevent the useless consumption of ICs, polarizing plates, etc., for driving liquid crystals.例文帳に追加

液晶装置の製造方法における検査工程を容易に行えるようにすること及び液晶駆動用ＩＣや偏光板等といった要素が無駄に消費されるのを防止する。 - 特許庁

To precisely grasp a load on the environmental generated in a manufacturing stage including assembling process and inspection process in order to grasp the load on the environmental generated in the manufacturing stage of equipment.例文帳に追加

機器の製造段階で発生する環境負荷を把握するため、組立工程及び検査工程を含む、製造段階で発生する環境負荷を正確に把握すること。 - 特許庁

The electric inspection process S12 includes a coordinate detection process S13 for detecting a position coordinate of the unit region including the defect, when the defect of the unit region is detected.例文帳に追加

電気検査工程Ｓ１２には、単位領域の欠陥が検出された場合に、欠陥を含む単位領域の位置座標を検出する座標検出工程Ｓ１３が含まれる。 - 特許庁

On a lower face of the card connector 1, projections 22a, 33a, 85 capable of using as a measuring standard of coplanarity are provided in manufacturing methods, for instance, an assembling process, an inspection process and an adjusting process.例文帳に追加

カードコネクタ１の下面には、その製造過程の、例えば組み立て工程、検査工程および調整工程において、コプラナリティの測定基準として用いることが可能な２２ａ、３３ａ、８５の突起を設けて構成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor package with which alignment of a semiconductor element chip is easily done in a die bonding process, inspection for rotation and dislocation of the semiconductor element chip is easy in an inspection process, and a flow-out failure of die bonding paste is prevented.例文帳に追加

ダイボンディング工程において半導体素子チップのアライメントを行い易く、検査工程での半導体素子チップの回転や位置ズレなどの検査が容易となり、また、ダイボンディングペーストの流れ出しの不具合を防止することができる半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a slide thermostat assembling method by which working efficiency of an inserting process of a C-type snap ring for the slide thermostat is improved, the inserting work can safely be done and further inspection accuracy can be improved by improving efficiency of an inspection process.例文帳に追加

スライドサーモスタットのＣ形止め輪の挿入工程の作業能率の向上を図るとともに安全な作業を行うことができ、しかも検査工程における効率を向上して検査の精度をアップすることができるスライドサーモスタットの組立方法を提供する。 - 特許庁

This inspection method does not require a long time for inspection, can be conducted as a part of the manufacturing process of the electrode material can find out a wrong mixed composition ratio soon after a material mixing process to avoid the generation of a large amount of defectives.例文帳に追加

本検査方法では、検査に長時間を要せず、よって、電極材料の製造工程の一環として実施可能であるから、配合組成比の異常を材料配合工程の直後に素早く発見でき、不良品の大量発生を未然に回避できる。 - 特許庁

To provide a process cartridge, with which the efficiency of an inspection process when a solvent is used in fixing means between components in the assembling process of the process cartridge is significantly improved and sure infiltration (jointed) of the solvent between the components can be easily inspected.例文帳に追加

プロセスカートリッジの組立て工程において、部品間の固定手段に溶剤を用いた際の検査工程の効率を大幅に向上させ、部品間の間に確実に溶剤が浸透している（接合されている）ことを容易に検査可能なプロセスカートリッジを提供すること。 - 特許庁

To achieve the improvement in the throughput of a manufacturing process step and inspecting process step for a phase shift mask and the lower cost thereof by making inspection and quality control of high accuracy possible while simplifying the inspecting process step and manufacturing process step for performance to give rise to a phase difference in the phase shift mask.例文帳に追加

位相シフトマスクにおける位相差を生じさせる性能の検査工程や製造工程を簡易なものとしながらも高精度な検査や品質管理を可能とすることで、位相シフトマスクの製造工程や検査工程のスループットの向上および低コスト化を達成する。 - 特許庁

Inspection conditions of one liquid crystal display panel 10 are set during the time when another liquid crystal display panel 10 is inspected, so that the time required in the inspection process of the liquid crystal display panel 10 is shortened.例文帳に追加

1個の液晶表示パネル１０が検査されている間に他の液晶表示パネル１０の検査条件がセットされるので、液晶表示パネル１０の検査工程時間が短縮される。 - 特許庁

The inspection method for the surface state of the elastic roller includes a process for adjusting load so that penetrated amounts of an inspection roller in the axial direction of the elastic body roller are made equal to each other.例文帳に追加

弾性体ローラの軸方向で検査ローラの侵入量が等しくなるように荷重を調整する工程を含むことを特徴とする弾性体ローラの表面状態の検査方法 - 特許庁

In the inspection process of a liquid crystal device having such a constitution, a plurality of inspection terminals for supplying a prescribed driving signal to each wiring is brought into contact with the second part of each wiring.例文帳に追加

かかる構成を有する液晶装置の検査工程においては、各配線に所定の駆動信号を供給するための複数の検査用端子を、当該各配線の第２の部分に接触させる。 - 特許庁

In a next punching process, a through hole 20 is formed at the first inspection section C1, and a non-through hole 21 is formed at the second inspection section C2, thus also punching a machining section B under the same conditions.例文帳に追加

次の穿孔工程で、第一検査部Ｃ１には貫通孔２０が形成され、第二検査部Ｃ２には非貫通孔２１が形成されるようにして、同じ条件で加工部Ｂも穿孔する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspection of a packaged state of electronic components, capable of avoiding a problem wherein congested indentation is regarded as a mixture of foreign matters in an automatic inspection process, and to provide a method of manufacturing electronic equipment.例文帳に追加

自動検査工程において密集圧痕を異物の混入とみなしてしまう問題を回避し得る電子部品の実装状態検査装置及び電子機器の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tablet inspecting device for inspecting inclusion of different tablets in a PTP sheet manufacturing process which can improve inspection efficiency and inspection accuracy dramatically, and to provide a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における異種錠の混入検査に関し、検査効率及び検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

A CPU 10 applies an image inspection process to medical image data if the image inspection operation by a user for the medical image data is detected based on an operation signal from an input part 20.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、ユーザによる医用画像データに対する検像の操作を入力部２０からの操作信号に基づいて検知した場合には、当該医用画像データに検像のデータ処理を施す。 - 特許庁

The inspection device 1 generates and outputs a plurality of monochromatic L shaped patterns provided by each of printing process coloring materials by being regularly adjacent with each other and the patterns are stored in a memory as an image position shift inspection file.例文帳に追加

検査装置１は、印刷プロセス色材毎用意される単色Ｌ字パターンを隣接させ規則性をもって複数生成出力し、これを画像位置ずれ検査ファイルとしてメモリに格納する。 - 特許庁