「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, since an input/output port of the network device 1 desired to be inspected is automatically inspected based on the inspection process by the inspection module 4, the quality and the production efficiency of the network device is enhanced.例文帳に追加

このため、検査モジュール４は検査プロセスに基づいて検査したいネットワーク装置１の入出力ポート１１を自動的に検査するので、ネットワーク装置の品質および生産効率を向上できる。 - 特許庁

Cleaning and inspection are executed under a state that a probe is fixed by mounting a cleaning unit 11 for removing foreign matters from a probe by means of laser radiation and a work unit 12 for executing an inspection process inside the probe inspection apparatus 1 so that the cleaning unit 11 and the work unit 12 can move.例文帳に追加

プローブ検査装置１の内部に、レーザ照射によってプローブから異物を除去するクリーニングユニット１１と検査処理を実行するワークユニット１２とを移動可能に設けることでプローブを固定した状態でクリーニングと検査処理とを実行可能とする。 - 特許庁

In the product inspection software 30, a product inspection function 31 acquires the execution time of an executed inspection process, an execution time display function 34 accumulates the execution time in an information storage DB 32, and the accumulated execution time is displayed in a display part 4.例文帳に追加

製品検査ソフトウェア３０において、製品検査機能３１が、実行した検査工程の実行時間を取得し、その実行時間を実行時間表示機能３４が情報蓄積ＤＢ３２に蓄積し、蓄積された実行時間を表示部４に表示する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection apparatus and a PTP packaging machine for suppressing an enlargement of the apparatus and a degradation in the inspection efficiency, and drastically improving the inspection accuracy when an abnormality in an appearance of a tablet is inspected in the process for manufacturing a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観異常を検査するに際し、装置の大型化や検査効率の低下を抑制しつつ、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a low-cost and miniaturization-actualized inspection device for an optical member to perform light amount adjustment at an arbitrary time without lowering work efficiency in an inspection process, and to provide a light amount adjustment method used for the same inspection device.例文帳に追加

検査工程の作業効率を低下させることなく任意のタイミングで光量調整をすることができ、しかも安価かつ小型化が実現された光学部材の検査装置、および該検査装置で使用される光量調整方法を提供すること。 - 特許庁

In the inspection system (50), a nuclear fuel rod manufacturing process (2) may be able to integrate the inspection system (50) for fully or partially automating inspection of all fuel rods (10) produced within a facility for manufacturing the fuel rods.例文帳に追加

検査システム（５０）のいくつかの実行において、燃料棒製作施設内で生産された全燃料棒（１０）の検査を全自動化または部分的に自動化することにより、核燃料棒製作工程（２）に検査システム（５０）を組み入れることが可能となり得る。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a plasma display panel that enables sure detection of barrier rib cracks, in an inspection process after the formation of the barrier rib.例文帳に追加

隔壁形成後の検査工程で確実に隔壁クラックが検出できるようにしたプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To develop an inspection process using an easier method without inspecting an image forming device by actually displaying an image.例文帳に追加

実際に画像表示を行って画像形成装置の検査を行うのではなく、より簡易な方法を用いた検査工程を開発する。 - 特許庁

Two kinds; a line pattern and a space pattern formed by a negative-to-positive reversal thereof are used as a dimensional inspection pattern to be used in a wafer process.例文帳に追加

ウェハプロセスで用いる寸法検査パタンとして、ラインパタンとこれをネガポジ反転したスペースパタンの２種類を用いるようにする。 - 特許庁

To carry out the inspection of the drain discharging means of a ceiling-embedded type air conditioner efficiently in the relatively early period of the construction process of a building.例文帳に追加

天井埋込型空調機のドレン排出手段の検査を建物の建設工程の比較的早い時期に能率よく実施する。 - 特許庁

The film thickness measurement of the bare wafer resist-coated in the coating treatment unit SC is performed in the inspection unit 11 after prebaking process.例文帳に追加

塗布処理ユニットＳＣにおいてレジスト塗布されたベアウエハはプリベーク処理後、検査ユニット１１において膜厚測定が行われる。 - 特許庁

In an electronic control apparatus 40, a first constant "0X00" is written in a prescribed area of a memory 46 in the finished product inspection process.例文帳に追加

電子制御装置４０は、完成品検査工程においてメモリ４６の所定の領域に第１の定数“０Ｘ００”が書込まれる。 - 特許庁

To provide a shape inspection system in which changes in patterns during a developing process of a micropattern such as a semiconductor integrated circuit can be browsed.例文帳に追加

半導体集積回路等の微細パターンの開発工程におけるパターンの変遷を閲覧可能な形状検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL device of COG (Chip On Glass) type capable of shortening the time required for a leak current inspection process.例文帳に追加

リーク電流検査工程にかかる時間を短縮することが可能なＣＯＧ型の有機ＥＬ装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROVIDING SNAPSHOT ACTION THERMAL INFRARED IMAGING WITHIN AUTOMATED PROCESS CONTROL ARTICLE INSPECTION APPLICATION例文帳に追加

自動化されたプロセス制御物品検査アプリケーションの中でスナップショット動作熱赤外線イメージングを提供するための装置および方法 - 特許庁

To detect a defect in a groove part as a part of a manufacturing process by executing the inspection of the defect in the groove part at the stage of a film.例文帳に追加

溝部の欠陥検査をフィルムの段階で実行することにより、製造工程の一環として上記欠陥の検出を行う。 - 特許庁

This method of processing a sample for inspection in inspecting the quality of the semiconductor crystal includes at least an automatic cleaning process 400 for automatically cleaning the sample for inspection, and an automatic heat treatment process 500 for automatically performing the heat treatment to the cleaned sample for inspection.例文帳に追加

半導体結晶の品質を検査する際の検査用サンプルを処理する方法であって、少なくとも、前記検査用サンプルを自動的に洗浄する自動洗浄工程４００と、該洗浄された検査用サンプルを自動的に熱処理する自動熱処理工程５００とを含むことを特徴とする半導体結晶検査用サンプルの自動処理方法。 - 特許庁

Between a first welding process and a second welding process, the spot welding automatic inspection device 20 performs inspection of a welded position welded by a spot welding machine 3 by the welding inspection machine 21 so as to determine the quality of welding, and carries out rewelding to the welded position in which the determination result is negative by the recovery welding machine 22.例文帳に追加

スポット溶接自動検査装置２０は、第一溶接工程と第二溶接工程との間において、溶接検査機２１によりスポット溶接機３により溶接された溶接位置の検査を行い溶接の良否を判定するとともに、判定結果が否である溶接位置に対してリカバリ溶接機２２による再溶接を実施する。 - 特許庁

In manufacturing the game board, when an inspection result that a part of a cutter used in each punching process S11-S13 is mixed as a metal piece in the game base plate in a game base plate inspection process S14, the base plate can be immediately recognized as a defective game base plate.例文帳に追加

遊技盤を製造するに当たり、遊技基板検査工程Ｓ１４で各ポンチング工程Ｓ１１〜Ｓ１３で使用された刃物の一部が遊技基板内に金属片として混入しているとの検査結果が得られた場合には、当該基板を不良な遊技基板であると即座に認識できる。 - 特許庁

To provide a release film in which detection of defects, foreign substances, or the like is carried out with high accuracy in a visual inspection by a cross-Nicol method, one of the inspection methods of a polarizing plate, and which is not easily scratched in the production process of the release film or the process in which the release film is used.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルムを提供する。 - 特許庁

The method of evaluating gray hair to an inspection object has: a specific process for specifying the measured part of the inspection object; and an alignment process for obtaining a group of arrayed hair by aligning a group of hair existing a specified part to be measured through a hair fixing member.例文帳に追加

検査対象に対する白髪の評価方法であって：前記検査対象の測定部位を特定する特定工程；及び毛髪固定部材を介して、前記の特定された測定部位に存在する毛髪群を整列して配列毛髪群を得る整列工程；を有することを特徴としている。 - 特許庁

The sorted final defect distributions and layer defect distributions obtained by each in-line inspection process 10a, 10e and 10f are compared, respectively, and the in-line inspection process 10e obtaining the layer defect distributions (such as 31b) similar to the final defect distributions (such as 26a) is specified.例文帳に追加

分類された最終欠陥分布と各インライン検査工程１０ａ、１０ｅ、１０ｆによって得られたレイヤ欠陥分布とをそれぞれ比較して、最終欠陥分布（例えば２６ａ）に対して類似するレイヤ欠陥分布（例えば３１ｂ）が得られたインライン検査工程１０ｅを特定する。 - 特許庁

A waveform inspection unit 10 constituting a PLC comprises a characteristic quantity calculation process 12c for determining a characteristic quantity to a waveform signal given through a data input process 12a and a filtering process 12b; a result determination process 12d for determining normality/abnormality based on the characteristic quantity; and a result output process 12e for outputting the determination result.例文帳に追加

ＰＬＣを構成する波形検査ユニット１０は、データ入力プロセス１２ａ，フィルタ処理プロセス１２ｂを介して与えられた波形信号に対して特徴量を求める特徴量計算プロセス１２ｃと、その特徴量をもとに正常／異常を判定する結果判定プロセス１２ｄと、その判定結果を出力する結果出力プロセス１２ｅを備える。 - 特許庁

To provide a work process management device capable of preventing failure in work process such as inspection/adjustment of a product and data writing and unconformity in a history of a work result.例文帳に追加

製品の検査・調整・データの書き込みなどの作業工程の飛ばしや、作業結果の履歴の不整合などを防止することによって、作業効率を高める作業工程管理装置を提供すること。 - 特許庁

The sensitivity inspection method of a chemical substance has a process (a) for mixing a fluorescent cysteine derivative with a sensitive substance and a process (b) for judging the presence of the bonded substance by instrumental analysis.例文帳に追加

ａ）蛍光システイン誘導体と感作性物質とを混合させる工程；及び、（ｂ）結合物の有無を機器分析により判定する工程を有する化学物質の感作性検定方法。 - 特許庁

Imaged images in each different inspection voltage value are acquired (imaged image acquisition process S2), and each difference between every two picked up images is taken successively, and a differential image is generated (differential image generation process S4).例文帳に追加

異なる検査用電圧値ごとの撮像画像を取得し（撮像画像取得工程Ｓ２）、２つの撮像画像ごとに順次差分をとって差分画像を作成する（差分画像作成工程Ｓ４）。 - 特許庁

To fairly and properly calculate an assessed price by using an IC card by implementing an authentication process and a process for calculating the assessed price and storing a history of repairs and a record of periodic inspection and maintenance.例文帳に追加

ＩＣカード用いて、認証処理や査定評価額算出処理および修理履歴や定期点検整備記録内容の保存・蓄積を行うことにより、公正且つ適正に査定価格を算出する。 - 特許庁

To set easily a criterion whereby such a frequency that the inconsistency between the inspection results obtained in an intermediate process and a final process is generated thereat approaches to an allowable value.例文帳に追加

中間工程における検査結果と最終工程における検査結果との間に不整合が生じる頻度が許容値付近までに収められるような判定基準値を、容易に設定できるようにする。 - 特許庁

To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加

半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To securely and briefly vent air of an ink cartridge used in a process for indicating a bad mark in a chip region which is determined as defect in an electrical characteristic inspection process after completion of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ完成後の電気特性検査工程で不良と判定されたチップ領域にバッドマークを表示する工程で使用するインクカートリッジのエア抜きを短時間で確実に行う。 - 特許庁

Next, inspection of areas divided by the grooves 4 in the glass substrate 2 is performed and the birefringent plate 1 is obtained by cutting the glass substrate 2 along the grooves 4 in a cutting process (process ST8).例文帳に追加

次にガラス基板２において溝４で区画された領域の各々について検査した後、切断工程（工程ＳＴ８）において溝４に沿ってガラス基板２を切断して複屈折板１を得る。 - 特許庁

In a first leak inspection process S4, a predetermined reverse bias voltage is impressed between a positive electrode and a negative electrode after an element formation process A1 for measuring a first leak current value.例文帳に追加

第１のリーク検査工程Ｓ４は、素子形成工程Ｓ１後に、陽極及び陰極からなる両電極間に所定の第１の逆バイアス電圧を印加し、第１の漏れ電流値を計測する。 - 特許庁

Moreover, it is preferable to roughen the silicone rubber layer surface by a dry etching process, thereby performing plate inspection without a dyeing process.例文帳に追加

またシリコーンゴム層表面をドライエッチング処理により粗面化することが好ましく、それにより染色工程を必要とせずに検版が可能である水なし平版印刷版原版を提供することができる。 - 特許庁

A limited pulse width is thereby determined from a record of a limited number of test patterns and an image processing, and the process load and expended hours relating to an inspection process are reduced more than ever before.例文帳に追加

これにより、限られた数のテストパターンの記録と画像処理から限界パルス幅を判定することが可能となり、検査工程に係る工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。 - 特許庁

To provide a method for controlling quality of a manufacturing process of a photoelectric conversion device, capable of integrating control of a manufacturing process of the photoelectric conversion device and control of inspection results thereof.例文帳に追加

光電変換装置の製造工程の管理、検査結果の管理を統一して行うことを可能とする、光電変換装置製造工程の品質管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The process inspection system includes a data acquisition portion 10, a statistical processor 20 and a process extractor 30, and inspects a plurality of the processes performed by an identical equipment.例文帳に追加

本実施形態に係る工程検査システムは、データ取得部１０、統計処理部２０および工程抽出部３０を備えており、同一設備により実行される複数の工程を検査するシステムである。 - 特許庁

Based on an image (inspection image data 102) obtained by imaging a substrate under inspection, the generating part 201 performs outline smoothing process for a pad pattern to be inspected and generates inspection mask data 103 by finding a logical sum of reference mask data 101 generated by the generating part 200.例文帳に追加

検査マスク生成部２０１が検査対象基板を撮像した画像（検査画像データ１０２）に基づいて、検査すべきパッドパターンに対して輪郭平滑化処理を行い、基準マスク生成部２００により生成された基準マスクデータ１０１との論理和をとって、検査マスクデータ１０３を生成する。 - 特許庁

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において４端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To make a condition set efficiently, to shorten an inspection time, and to enhance reliability of inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting a defect, a foreign matter, a residue or the like in the same design pattern of a semiconductor device on a wafer under a production process for the semiconductor device, by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

An inspecting apparatus is so designed that it can be easily installed without being accompanied with the remodeling of a process controller itself so that both an inspection within a periodic inspection of an operating plant and inspection and maintenance at the minimum costs during the operation halt period of an inactive plant or a plant with a low operating rate are made compatible.例文帳に追加

プロセス制御装置自体の改造を伴わずに簡単に点検装置を設置することができるようにして、稼働プラントの定期点検内での点検と、休止ないし低稼働率プラントの停止期間中の最少限度の費用による点検保守とを両立するようにした。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.例文帳に追加

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide the inspection equipment and the inspection method of a shadow mask which make generating of dent by an air-gun or handling decrease, and make adhered foreign substance remarkably decrease, in the inspection process of the shadow mask for SST systems with a metal thin board of the comparatively thin thickness.例文帳に追加

金属薄板の厚みが比較的に薄いＳＳＴ方式用のシャドウマスクの検査工程においてエアーガンや取り扱いによるペコの発生を減少させ、また、付着した異物を著しく減少させるシャドウマスクの検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which has a structure preventing a fracture of a semiconductor device caused by static electricity, an inspection method using the apparatus, and a method for manufacturing an electro-optical device in electrical characteristics inspection performed in a manufacturing process of electro-optical devices such as a liquid crystal display device.例文帳に追加

電気光学装置の製造工程中に行われる電気特性検査において、静電気による半導体素子の破壊を防止する構造を備えた検査装置、その検査装置を用いた検査方法及び電気光学装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁