「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe block and a probe unit for inspection of a display panel, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるディスプレー検査用プローブブロック及びプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To make an inspection device detect defects with higher sensitivity without preparing a plurality of electron sources, where the inspection device detects the defects in circuit patterns for a semiconductor device on a wafer during a manufacturing process of the semiconductor device by using potential contrast.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の回路パターンの欠陥を電位コントラストにより検出する装置において、電子源を複数備えることなく高感度に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device/method for displaying a feature amount so that determination of propriety of a manufacture result of a circuit pattern in inspection of a semiconductor manufacture process becomes easy.例文帳に追加

半導体製造プロセスの検査における回路パターンの製造結果の良否の判定が容易となるように、特徴量を表示することができる半導体検査装置、及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

An information collecting portion 305 fetches status data and inspection results on substrates under its jurisdiction from manufacturing equipment 1 and inspection equipment 2 in each process at intervals of a predetermined period of time and rewrites databases 302 and 303.例文帳に追加

情報収集処理部３０５は、各工程の製造装置１および検査装置２から、所定の時間毎に、管轄する基板の基板状況データおよび検査結果を取り込んで、データベース３０２，３０３を書き換える。 - 特許庁

As a result, the characteristics of the image to be inspected are reflected on the reference image to be used for comparison inspection so that the accurate inspection of the pattern can be realized, regardless of the materials of the pattern or the kind of a process for the object to be inspected.例文帳に追加

その結果、比較検査に用いる参照画像は被検査画像の特徴を反映しているため、検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行える。 - 特許庁

To supply feeding speeds and regenerative signal output level values of respective frames stored in a storage means to a reproducing output inspection of magnetic information in a camera manufacturing process and to simplify the reproducing output inspection.例文帳に追加

記憶手段に記憶した各駒の給送速度と再生信号出力レベル値を、カメラの製造工程における磁気情報の再生出力検査に供せるようにし、再生出力検査の簡略化を図る。 - 特許庁

To enable the total inspection of thermocouples to be carried out automatically and effectively without the need for any inspection-use heat source, by utilizing welding heat generated in a welding process of an automatic assembling line.例文帳に追加

検査用の熱源を要することなく、自動組立ラインの溶接工程の溶接熱を利用してサーモカップルの検査を全数について自動的に効率良く行うことができるサーモカップルの検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of simultaneously performing the inspection of protective film thickness in an inspection process for electromagnetic conversion characteristic without any optical measurement, for a magnetic recording medium having a protective film on a magnetic recording layer.例文帳に追加

磁気記録層上に保護膜を有する磁気記録媒体について、光学的測定を行うことなく電磁変換特性検査工程の中で保護膜厚検査も同時に行うことが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

(2) If there is any disagreement regarding the rating results following completion of the on-site inspection, the inspected financial institution may, pursuant to the opinion submission process, file a statement to that effect with the Director-General of the Inspection Bureau and request a review. 例文帳に追加

（２）被検査金融機関は、立入検査終了後、評定結果について認識の相違がある場合は、意見申出制度に則り、その旨を検査局長に申し出て審理を求めることができるものとする。 - 金融庁

A pressing tool consisting of a constant load spring 11 utilizing the rewinding force of a winding take-like leaf spring, a rubber roller 12 and a grip 14 to be gripped by an operator is used as the pressing tool 1 for inspection in this inspection process step.例文帳に追加

この検査工程において、検査用押圧具１として、巻きテープ状の板バネの巻き戻し力を利用する定荷重バネ１１と、ゴムローラー１２と、作業員がつかむためのグリップ部１４とからなるものを用いる。 - 特許庁

To provide a visual appearance inspection device of a structure, wherein an inspection of blocked holes provided in a base film tape can be made at a speed to respond to a processing speed easily and automatically in the manufacturing process of a film carrier tape for a semiconductor IC.例文帳に追加

半導体ＩＣ用フィルムキャリアテープの製造工程において、ベースフィルムテープの閉塞孔の検査を加工スピードに対応した速度で、容易に、かつ自動で行える外観検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection program is described by a flow chart wherein the flow of the processing in the inspection process is described and a table format program wherein the inspection contents are described, the execution of the inspection program is advanced according to the flow chart, and the table format program described inside a step wherein the table format program is described is executed at the time of arrival at the step.例文帳に追加

検査プログラムを、検査工程の処理の流れを記述するフローチャートと、検査内容を記述する表形式プログラムにより記述し、検査プログラムの実行はフローチャートに従って進め、表形式プログラムが記述されているステップに到達した時点でそのステップの内部に記述されている表形式プログラムを実行する。 - 特許庁

To propose a method and apparatus for determining the accuracy of a process for determining whether the accuracy of determination, set initially in a processing of inspection in an inspection apparatus for determining the quality of test objects based on the inspection measured values obtained by using the inspection apparatus with respect to the test objects, is maintained.例文帳に追加

検査対象物について検査装置を用いて得た検査計量値を基に検査対象物の良否を判定する検査装置において、検査を行っている過程で初期に設定された判定制度が維持されているかどうかを判定する判定処理の精度判定方法及び判定処理精度判定装置を提案する。 - 特許庁

The imaging inspection device for inspecting the object in the moving article, which comprises the conveyer for conveying the article, having the object passing through the inspection place in the inspection device along the moving route; the frame construction; the plurality of imaging inspection device, arranged in the frame structure; and process analysis assembly.例文帳に追加

移動している物品内にある対象物を検査するための撮像検査装置であって、この撮像検査装置は、対象物を有する物品を前記撮像検査装置内の検査場所を通して移動経路に沿って運搬するためのコンベヤと、枠組構造体と、前記枠組に配置された複数の撮像検査器と、処理分析組立体とを有したこと。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device that can prevent wafer breakage in a grinding process for the rear side of the semiconductor wafer after the inspection of the properties.例文帳に追加

特性検査後の半導体ウェーハ裏面研削工程でのウェーハ割れを防止できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of sheetlike product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing process for detecting or specifying defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁

The order in which the multiple feature inspection parameters are considered is predefined so as to most efficiently complete an automatic tool recovery process.例文帳に追加

複数の特徴検査パラメータを考慮する順序は、最も効率的に自動ツールリカバリープロセスを実行できるように予め決まっている。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, which has an inspection process capable of accurately specifying the position of a chip to be inspected on a wafer.例文帳に追加

ウェーハ上の検査対象チップの位置を正確に特定可能な検査工程を有する、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To enable to practice inspection and repair after production with precision and reliability obtained at first production process.例文帳に追加

最初の製造工程において享有された精度と信頼度で製造後の検査や修理を実施できるタービン用のブレードやベーンを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection jig capable of acquiring high dimension accuracy with the small number of components in a simple manufacturing process, and applicable to a versatile design article.例文帳に追加

少ない部品点数、簡単な製造工程で高い寸法精度が得られ、汎用の設計品に対応可能な検査用治具を提供する。 - 特許庁

In the labeling inspection process, the fluorescence generated by ultraviolet irradiation is captured, and the presence of the label and/or the labeling position is inspected.例文帳に追加

ラベル装着検査工程では、紫外線を照射して発生する蛍光を捉え、ラベルの有無及び／又はラベルの装着位置を検査する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a sheet-like product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing a process for detecting or specifying a defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of microgap groove possessing matter capable of eliminating the time loss of a microgap groove possessing matter manufacturing process.例文帳に追加

微小間隙溝保有物体の作製工程時間ロスをなくすことができる微小間隙溝保有物体の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To discharge and dry a face cleaning liquid without leaving or splashing the face cleaning liquid in a head including a face cleaning process after shipping inspection during the manufacturing of the head.例文帳に追加

ヘッド製造時に出検後にフェイス洗浄工程を含むヘッドにおいて、フェイス面洗浄液の残留や飛散なく、排出乾燥する。 - 特許庁

When a product 2 is sent to an inspection process 3 by a conveyor 1, trigger sensors 5a, 5b detect the product 2 to operate an electronic camera 15.例文帳に追加

コンベア１により製品２が検査工程３に送られてくると、トリガセンサ５ａ、５ｂが製品２を検出し、電子カメラ１５を作動させる。 - 特許庁

To reduce time required for an inspection process of crystal, concerning a method of inspecting a crystal substrate.例文帳に追加

本発明は、結晶基板の検査方法に関するもので、結晶の検査工程に要する時間を短縮することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide an inspection device and method for curtailing work loss and material loss by inspecting an electrode sheet at a manufacturing process.例文帳に追加

製造プロセス段階で電極シートを検査することにより作業ロス、材料ロスを削減する検査装置および方法を提供すること。 - 特許庁

The calculated electric characteristics are displayed as a result of inspection, and fed back to the manufacturing process of a semiconductor device and the layout data of a mask.例文帳に追加

算出した電気的特性が検査結果として表示され、半導体装置の製造プロセスおよびマスクのレイアウトデータにフィードバックされる。 - 特許庁

After that, the characters for the steel material 11 is photographed again in an inspection process to obtain second image information to recognize the characters from the second image information.例文帳に追加

その後、検査工程にて、再度鋼材１１の文字を撮像して、第２画像情報を求め、この第２画像情報から文字を認識する。 - 特許庁

To provide an inspection device accurately and easily inspecting a filter cigarette bundle in a process of cigarette pack production on the basis of image processing.例文帳に追加

シガレットパックの製造過程にて、フィルタシガレット束の検査を画像処理に基づき、正確且つ容易に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To enhance the reliability of the inspection data on a process apparatus and to be able to grasp the condition of the apparatus at any time, thereby increase manufacturing yields of products.例文帳に追加

この発明は、検査資料の信頼性を上げることと、随時、装置の状態を把握し、製品の歩留まりを上げることを課題とする。 - 特許庁

(2) Notwithstanding the provisions of the preceding paragraph, a part of inspection for design or manufacturing process may not be performed for aircrafts listed in the following: 例文帳に追加

２　前項の規定にかかわらず、次に掲げる航空機については、設計又は製造過程について検査の一部を行わないことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To at least ease complications of the configuration of a communication apparatus resulting from preparation of a plurality of TTIs, signal processing, and product inspection process.例文帳に追加

複数のTTIを用意することに起因する通信装置の構成、信号処理及び製品検査工程の複雑化を少なくとも緩和すること。 - 特許庁

To provide a sensor module inspection apparatus or the like for easily measuring the characteristic of each sensor, without requiring an accurate axial alignment process.例文帳に追加

精密な軸合わせの工程を必要とせずに、簡易に個々のセンサの特性を測定することができるセンサモジュール検査装置などを提供する。 - 特許庁

To attain simplification of an assembling process, while making the assembling of a wire harness possible, by making the continuity inspection work possible simultaneously on one assembling work bench.例文帳に追加

一つの組立作業台上でワイヤハーネスを組立可能とすると共に、導通検査も同時に行い組立工程の簡素化を図る。 - 特許庁

To provide a recorder in which a total inspection step or an extraction refuse removing step can be eliminated from a process for boring a cord strip.例文帳に追加

コードストリップに穴を加工する工程において全数チェックや抜きカスを除去する工程を無くすことができる記録装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatically analyzing and controlling a loss factor generated in an inspection process.例文帳に追加

検査工程で発生する損失要因を自動的に分析し管理する損失要因自動分析管理システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To at least relieve complication in a configuration of a communication device, signal processing and a product inspection process caused by preparation of a plurality of TTIs.例文帳に追加

複数のTTIを用意することに起因する通信装置の構成、信号処理及び製品検査工程の複雑化を少なくとも緩和すること。 - 特許庁

The PC server is provided with a network (LAN) function, and an inspection process exists even in a production line to execute a test about the function.例文帳に追加

ＰＣサーバはネットワーク（ＬＡＮ）機能を備えており、生産ラインにおいてもこの機能に関するテストを実施する検査工程が存在している。 - 特許庁

The visual inspection method includes: a process for acquiring image data of a semiconductor chip; a process for binarizing the image data; a process for recognizing a reference line 17 provided in the semiconductor chip and a chipping end 23 from the binarized image data; and a process for measuring a distance from the reference line 17 to the chipping end 23.例文帳に追加

半導体チップの画像データを取得する工程と、前記画像データを二値化処理する工程と、前記二値化処理された画像データから、半導体チップに設けられた基準点１７およびチッピング端２３を認識する工程と、前記基準点１７からチッピング端２３までの距離を測定する工程と、を有する。 - 特許庁

A purchase support server 110 includes an information receiving part 301 for receiving sales plan information, acceptance inspection information and the like, a data sending part 302 for sending a settlement process request or the like, and a settlement requesting part 303 for performing a process about a settlement process, and performs a process about the basic purchase support of this embodiment.例文帳に追加

購買支援サーバ１１０には、売上予定情報や検収情報等を受信する情報受信部３０１、決済処理要求等を送信するデータ送信部３０２、決済処理についての処理を実行する決済要求部３０３を備え、本実施形態の基本的な購買支援に関する処理を実行する。 - 特許庁

The detection technique of pixel uneveness defects detects pixel uneveness defects (a detection process ST300 for uneven pixels) from images acquired in an inspection image acquiring process ST100, and by a quantitative evaluation, based on the detected result in the detecting process of pixel uneveness, discrimination of pixel uneveness defects is conducted (a discrimination process ST400 of defects) in the images.例文帳に追加

検査画像取得工程ＳＴ１００で取得した画像から画素ムラを検出して（画素ムラ検出工程ＳＴ３００）、画素ムラ検出工程で検出された結果に基づいた定量的な評価により、画像に画素ムラ欠陥があることの判別を行う（欠陥判別工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

In a manufacturing process of a rear spoiler 10 obtained via a blow molding process of molding a hollow resin member 16 by pumping a thermoplastic resin material injecting a gas from a blow pin passing through the thermoplastic resin material, and via a perforating process of perforating the hollow resin member 16, an inspection process of determining the presence or absence of the foreign substance produced in the blow molding process or the perforating process is carried out.例文帳に追加

熱可塑性樹脂材料を貫通したブローピンから気体を注入して該樹脂材料を膨らませることで中空の樹脂部材１６を成形するブロー成形工程および中空の樹脂部材１６に孔をあける穿孔工程を経て得られるリアスポイラ１０の製造過程では、ブロー成形工程または穿孔工程で生じた異物の有無を判定する検査工程が行われる。 - 特許庁

This method/device has an ozone cleaning process for decomposing the oily component or stain deposited on the inner face and the outer face of the inspected container 1 using a low concentration of ozone gas, and a leakage inspection process for inspecting the leakage of the inspected container using a high concentration of ozone gas after the ozone cleaning process.例文帳に追加

低濃度のオゾンガスを用いて被検容器１の内外面に付着する油分または汚れを分解するオゾンクリーニング工程と、オゾンクリーニング工程後に高濃度のオゾンガスを用いて被検容器の漏れを検査する漏れ検査工程とを有する。 - 特許庁

To shorten the process of periodical inspection by purifying water in a reactor residual heart removal system and facilitating the work of water filling in a reactor pressure vessel.例文帳に追加

原子炉残留熱除去系内の水を浄化して原子炉圧力容器内への水張り作業を容易にし、定期検査の工程を短縮する。 - 特許庁