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「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索
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Process inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1313



例文

Further, since the specimen treatment apparatus can smoothly be transferred to an inspection process after the release of the resting state of the measuring instrument 10, wasteful power consumption can be avoided.例文帳に追加

また、休止状態の解除の後、装置を検査工程へと円滑に移行させることができるため、無駄に電力が消費されるのを回避することができる。 - 特許庁

To provide a foreign material inspecting device and a foreign material inspection method, capable of inspecting the existence of foreign materials in an assembly line of solid-state imaging element and optical components, and preventing an assembly with foreign material mixed from being delivered in a post-process.例文帳に追加

固体撮像素子と光学部品の組み立てラインで異物の有無を検査可能であると共に、異物が混入した組み立て品を後工程に送らない。 - 特許庁

When the inspection process is not under operation, the count value of the charging counter is changed according to the number of image-formed paper sheet faces, and the charging information is calculated based on the count value.例文帳に追加

検査工程ではない場合には、画像形成した用紙面数に応じて課金カウンタのカウント値を変更し、カウント値に基づいて課金情報を算出する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method capable of manufacturing a high performance thin film magnetic head, including an inspection process in which the track width can be measured with high accuracy in a short time.例文帳に追加

トラック幅の高精度計測を短時間に可能とした検査工程を含み、高性能な薄膜磁気ヘッドを製造することのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a power supply inspection circuit capable of individually changing a process depending on the life of an article, relating to a plurality of circuits constituting a power supply circuit.例文帳に追加

電源回路を構成する複数の回路に対して、その製品寿命に応じて個別に処理を変更することが可能な電源検査回路を提供する。 - 特許庁


例文

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程10gにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンP1、P2毎に分類する。 - 特許庁

To perform an electric conduction inspection just after a flexible wiring board is connected with a plasma display panel without lighting up the plasma display panel to send only passed items to a subsequent process.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルにフレキシブル配線基板を接続した後、プラズマディスプレイパネルを点灯することなく、導通検査を直ちにおこない、良品のみを後工程に流す。 - 特許庁

In the process of this aging treatment, the stacked CSP 2 in the area 12 to be inspected is selected, and the flash memory 4 is inspected by the inspection circuit forming area 11.例文帳に追加

このエージング工程中に被検査領域12内にあるスタックドCSP2が選択され、そのフラッシュメモリ4が検査回路形成領域11によって検査される。 - 特許庁

The inspection and repair system 1 comprises an optical microscope 11, an video image retrieval device 12, a photon detector 13, a data process controller 14, and a high energy beam generating device 15.例文帳に追加

検査修復システム1は、光学顕微鏡11、映像取出し装置12、光子検知器13、データ処理コントローラ14、及び高エネルギービーム発生装置15を備える。 - 特許庁

例文

In inspection process, a reflectance of the table reflection light 8 is adjusted in a range of 30-70%, and a reflectance of the foreign substance reflection light 9 is adjusted in a range of not more than 10%.例文帳に追加

この検査工程において、台反射光8の反射率を30〜70%に調整し、異物反射光9の反射率を10%以下に調整する。 - 特許庁

例文

To provide a sensor, which has sufficient detection sensitivity, can greatly shorten the washing time in a sensing process, and enhances the efficiency of measurement and inspection.例文帳に追加

十分な検出感度を有し、かつ、センシング工程における洗浄時間を大幅に短縮することができ、測定や検査の効率化が計られたセンサーを提供すること。 - 特許庁

An inspection for verifying whether all the data of data storage areas 2 maintains the state of the presence of electric charge is added on the purchasing (purchasers') side (process S60).例文帳に追加

そして、購入(者)側においてデータ格納領域2の全てのデータが電荷有り状態を維持しているか否かの確認検査を追加させる(工程S60)。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects of optical fiber, which corrects the positional misalignment of the optical fiber and can surely detect the internal defects of the optical fiber in an inspection process.例文帳に追加

光ファイバの位置ズレを修正し、検査工程で光ファイバの内部欠陥を確実に検出することが可能な光ファイバの欠陥検出装置を提供する - 特許庁

To prevent an operator from being held between a battery and a body due to the operation of a reach lever in error in the process of maintenance and inspection of the battery drawn by the operator.例文帳に追加

オペレータがバッテリを引出して、保守点検をしている最中に、リーチレバーを誤って動かしてバッテリと車体の間にオペレータが挟まれる事故を防止する。 - 特許庁

In a labeling tabulation memory block 26, data for pattern inspection in the inspecting pattern is generated based on the result of the labeling process from both the labeling blocks 13 and 20.例文帳に追加

そして、ラベリング集計メモリブロック26では、前記両ラベリングブロック13,20のラベリング処理結果に基づいて前記被検査パターンにおけるパターン検査用データを生成する。 - 特許庁

To provide a highly accurate internal voltage generating circuit by generating supplementary voltage, according to use conditions, without necessity of performing trimming adjustment in an inspection process.例文帳に追加

検査工程でトリミング調整を行なう必要がなく、使用条件に応じて常に補正電圧を発生するより高精度な内部電圧発生回路を提供する。 - 特許庁

The electrode pad includes: a first region having connections with the rewiring layer; and a second region on which a test probe is abutted in an inspection process of the semiconductor substrate.例文帳に追加

電極パッドは再配線層との接続部を有する第1領域と、半導体基板の検査工程で検査プローブが当接される第2領域とからなる。 - 特許庁

To obtain an inspection method in which a decision can be made in a short time whether a hologram color filter has specified optical characteristics or not using a simple apparatus in the manufacturing process.例文帳に追加

製造工程等においてホログラムカラーフィルターが所定の光学特性を有するか否かを簡単な装置で短時間に検査することができる検査方法。 - 特許庁

To provide inspection equipment for paper cup that discriminates between paper cups of a normal type and paper cups of a different type and ejects the paper cups of the different type from a manufacturing process, and a method thereof.例文帳に追加

正規品種の紙カップと異品種の紙カップとを区別し、異品種の紙カップを製造工程から排出可能にする検査装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer in which a plurality of alignment marks or inspection marks can be arranged more densely than before, and to provide a semiconductor device and its fabrication process.例文帳に追加

複数のアライメントマーク又は検査マークを従来よりも密に配列することができる導体ウエハ、半導体装置、及び半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

In the second inspection process, brightness data of the isolated peculiar pixels is removed from the image data and close-packed peculiar pixels consisting of a set of several peculiar pixels is detected.例文帳に追加

第2検査工程では、画像データから孤立特異画素の輝度データが除去され、いくつかの特異画素の集合からなる密集特異画素が検出される。 - 特許庁

In a first inspection process, a source signal capable of alternately switching positive polarity voltage Vs(H) and negative polarity voltage Vs(L) at each prescribed time is applied to each data line 4.例文帳に追加

第1検査工程では、各データ線4に、正極性の電圧Vs(H)と負極性の電圧Vs(L)が所定時間ごとに交互に切り替わるソース信号を印加する。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, RECORDING METHOD, DEVICE AND PROGRAM OF INSPECTION RESULT IN MANUFACTURING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造工程中の検査結果の分析方法、分析装置、分析プログラム及び分析プログラムを記録した記録媒体並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an automatic ultrasonic flaw detecting method and apparatus discriminating the noise due to disturbance to enhance reliability and dispensing with a re-inspection process due to manual ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

外乱によるノイズを識別して信頼性を向上させ、手動超音波探傷による再検査工程を不要とする自動超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a silicon wafer backside projection that can easily and accurately evaluate projections produced at a silicon wafer backside and a production process of a silicon wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハ裏面生じた突起を容易かつ高精度に判別できるシリコンウェーハ裏面の突起検査方法およびこれを用いたシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

A chip is prepared which has a plurality of inspection areas 301 divided by a chip area 202 and includes an element formed by a semiconductor process in an element area 203.例文帳に追加

チップ領域202で分割される複数の検査領域301を有し、素子領域203に半導体プロセスによって形成された素子を有するチップを準備する。 - 特許庁

The system provides a customer with valuable information in order to analyze a problem peculiar to the plant, and presents an inspection method, a reduction method, and a process for solving the problem.例文帳に追加

システムは、プラント特有の問題を解析するために価値ある情報を顧客に提供し、検査方法、軽減方法及びその問題を解決するためのプロセスを提示する。 - 特許庁

To permit high-precision inspection by extracting candidate areas through the differentiating process of minimum spatial filters and discriminating color unevenness on the basis of image data of the areas before differentiation.例文帳に追加

最小限の空間フィルタによる微分処理で候補領域を抽出し、該領域の微分前の画像データを基に色ムラを判定し、高精度で検査できるようにする。 - 特許庁

The characteristic information of an automatic transmission body 10 which is acquired in a finished product inspection process is described in a code 12 and the code 12 is attached to the automatic transmission body 10.例文帳に追加

自動変速機本体10の完成品検査工程にて取得された特性情報は、コード12に記載されて自動変速機本体10に貼付される。 - 特許庁

An authorized inspector name is printed on each product being conveyed on the real time basis as the person in charge of the inspection in the production process together with the time display.例文帳に追加

認証された検査人員名を製造工程上の検査担当者名として、時間表示とともに流れている一つ一つの製品にリアルタイムに印刷する。 - 特許庁

To distinguish easily the deteriorated portion of quality in a packaging substrate and the cause of deterioration of the quality, even when the process for inspection is limited.例文帳に追加

検査を実行する工程が限定される場合でも、部品実装基板に品質が低下している部位やその品質の低下の原因を容易に判別できるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection device of a rolling roll flaw for precisely detecting the roll flaw in the rolling process of a steel sheet from a light degree to a heavy degree.例文帳に追加

鋼板の圧延プロセスにおけるロール疵を軽度なものから重度のものまで精度よく検出する圧延性ロール疵検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a jig which can operate efficiently a connecting and removing operation of a vehicle battery and a battery cord in a completion inspection process of a two-wheeled vehicle.例文帳に追加

二輪車の完成検査工程において、車載バッテリとバッテリコードとの接続作業ならびに取り外し作業を効率良く行なうことのできる治具を提供する。 - 特許庁

(5) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may, notwithstanding the provisions of the preceding paragraph, omit a part of the inspection for the design or manufacturing process concerning the aircraft listed below. 例文帳に追加

5 前項の規定にかかわらず、国土交通大臣は、次に掲げる航空機については、設計又は製造過程について検査の一部を行わないことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a game machine including a function of inspecting a storage means, surely preventing inspection for the storage means from being performed in the process of a game.例文帳に追加

記憶手段を検査する機能を備えた遊技機であって、遊技中に記憶手段の検査が実行されることを確実に防止できる遊技機を提供すること。 - 特許庁

To obtain a method and device for inspecting a pattern for operating accurate inspection of a pattern, regardless of the materials of a pattern or the kind of a process for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行えるパターン検査方法およびパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an oil-immersed transformer insulating oil processing device, that is capable of preventing environmental pollution and shortening a time required for a maintenance-inspection process.例文帳に追加

本発明の目的は、環境汚染を防止すると共に保守点検工程を短縮できる油入変圧器の絶縁油処理装置を提供することにある。 - 特許庁

White blemish correction information is recorded in a flash memory 20d of a digital camera 1 determined to have a correctable white blemish in an inspection process.例文帳に追加

検査工程で補正可能な白キズが発生するとされたデジタルカメラ1のフラッシュメモリ20dには、白キズを補正するための白キズ補正情報が記録されている。 - 特許庁

To provide a radio communication system to confirm prior to shipping whether a repair for a product requiring measures for the repair is completed or not in an inspection process.例文帳に追加

検査工程において、修理対応が必要な製品に対して修理が完了しているか出荷前に確認することが可能となる無線通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus which can surely carry out a filtering process to a scattering light from a measuring object,, and has its efficiency of utilizing light improved.例文帳に追加

測定対象からの散乱光に対して確実にフィルタ処理を行うことができるとともに、その光利用効率が向上される光学検査装置を提供する。 - 特許庁

The case 27 arrived at the physical distribution center 3 is carried to each of stores after information of the two-dimensional code label 26 is read by a scanner 32 and an inspection process is carried out.例文帳に追加

物流センタ3に入荷されたケース27は、スキャナ32により二次元コードラベル26の情報が読み取られ、検品処理が行われた後、各店舗に搬送される。 - 特許庁

To provide a rolling roll scratch inspection apparatus for accurately detecting roll scratches in a rolling process of a steel sheet from a light degree to a heavy degree.例文帳に追加

鋼板の圧延プロセスにおけるロール疵を軽度なものから重度のものまで精度よく検出する圧延性ロール疵検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The temperature control achieves a condition clarifying the transistor characteristics of the TFT substrate and increases the intensity of a detection signal, thereby allowing inspection in the array process.例文帳に追加

温度制御により、TFT基板のトランジスタ特性を顕著化させた状態とし、検出信号強度を高めることでアレイ工程での検査を可能とする。 - 特許庁

Data in a part where patterns are joined, the part produced in the negative resist while drawing with electron beams, is deleted from the part where defects are detected by the above comparing inspection (process 104).例文帳に追加

この比較検査で得られた欠陥検出部から、電子線描画処理時に上記ネガレジストに生じた描画繋ぎ部分のデータを削除する(工程104)。 - 特許庁

Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加

したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを1つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁

To provide an image processing method and its device which can perform a difference process corresponding to the importance of inspection and make an accurate nondefective/defective decision.例文帳に追加

検査上の重要度に応じた差分処理が実行でき、正確に良/不良の判定が行える画像処理方法及びそのその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a sound-proof chamber for product evaluation capable of enhancing detection ability of a sound-proof chamber for sound evaluation in a production line, and capable of automating an inspection process.例文帳に追加

製品生産ラインでの音評価用の防音室の検出力向上、並びに検査工程の自動化を図った、製品評価用防音室を提供する。 - 特許庁

To provide a mother substrate for information display for which the frequency of lighting inspection is minimized and saves troubles, and waste in the manufacturing process can be reduced.例文帳に追加

点灯検査の回数を最小限とし手間がかからないとともに、製造工程の無駄を少なくすることができる情報表示用マザー基板を提供する。 - 特許庁

例文

To reduce a burden on preparation of a management document necessary for management of a production process related to a pipe to reduce a time spent for the preparation and inspection.例文帳に追加

配管にかかわる生産工程の管理において必要となる管理ドキュメントの作成にかかる負担を軽減し、作成および検査にかかる時間の削減をはかる。 - 特許庁




  
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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