「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目)

半導体の微細化、プロセスの複雑化に伴いプロセスのマージンは減り、プロセスの条件出しが難しくなっているため半導体の開発初期においてはウェーハ全面において良品チップが存在しない場合があり、定点検査を実行する場合において、比較検査のための適切な基準画像を撮像することができないという課題を解決する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a convenient lighting device capable of shifting to a normal mode right after completing inspection without being restrained by an inspection time in an inspection mode for easily performing operation confirmation in a manufacturing process and at an installing site and selecting an operation mode fit to an intention of a user without carelessly shifting to the inspection mode during a normal operation and raising a sense of security of the user.例文帳に追加

製造工程や設置現場で動作確認を容易に実施するための点検モードにおいて、点検時間に制約されることなく、また、点検完了次第直ちに通常モードへ移行できるとともに、通常の使用中には不用意に点検モードへ移行せず使用者の意志に即した動作モードを選択することができ、使用者の安心感を高め、使い勝手の良い照明装置を提供する。 - 特許庁

This visual inspection system has a recording means for recording information including at least defect coordinates provided from an inspection result in an automatic inspection means arranged at least one portion or more in a manufacturing process while combined to an identification code imparted on a device substrate, and a visual inspection terminal for reading out the information recorded in the recording means by the identification code to be informed to a visual inspector.例文帳に追加

製造工程の少なくとも１箇所以上に配置された自動検査手段の検査結果から得た、少なくとも欠陥座標を含む情報をデバイス基板上に付された識別コードと結び付けて記録する記録手段を有し、該記録手段に記録された情報を該識別コードによって読み出して目視検査員に通知する目視検査端末を有することを特徴とする目視検査支援システム。 - 特許庁

There includes a discharge process of making the liquid droplets 32 discharge onto a discharging surface 24 after the liquid droplet 32 are discharged from a nozzle 64, pass in the air stream 36 in a direction crossing to a discharge direction, and are flied, and an inspection process of inspecting the shape of the discharged liquid droplets 32, in the method for inspection of the discharged liquid droplets.例文帳に追加

吐出液滴検査方法にかかわり、ノズル６４から液滴３２を吐出し、吐出する方向と交差する方向に流動する気流３６を通過して液滴３２を飛行させた後に液滴３２を着弾面２４に着弾させる吐出工程と、着弾した液滴３２の形状を検査する検査工程と、を有する。 - 特許庁

A laser printer is provided with: a detection part 141 where, the detection state changes when one of a process cartridge 21 or a cartridge 180 for inspection is attached to the laser printer, and a detection part 140 where, the detection state changes when the other of the process cartridge 21 or the cartridge 180 for inspection is attached to the laser printer 1.例文帳に追加

レーザプリンタにおいては、プロセスカートリッジ２１および検査用カートリッジ１８０のうちの一方がレーザプリンタに装着されたときに検知状態が変化する検知部１４１と、プロセスカートリッジ２１および検査用カートリッジ１８０のうちの少なくとも他方がレーザプリンタ１に装着されたときに検知状態が変化する検知部１４０と、を備えている。 - 特許庁

To provide a maintenance method for heat-exchange plates of a plate-type heat exchanger, capable of reducing maintenance cost by having a flaw inspection process for pinpointing the damaged part of the defect, especially when a penetration detect generated by damage due to an inspection process using a leak tester is found.例文帳に追加

プレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法において、特に、リークテスターを用いた検査工程により損傷により生じた貫通欠陥部が発見された場合に、損傷箇所を特定するための探傷検査工程を行うことにより、メンテナンスコストを低減しうるプレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method using the device capable of reducing a maintenance work, transferring accurately defect information detected in upper processes to lower processes, and recognizing surely the defect in the lower process even when a defect detector installed in the lower process is simplified.例文帳に追加

保守作業を少なくすることができ、かつ正確に上工程で検出した欠陥情報を下工程に伝達することができ、たとえ下工程に設置する欠陥検出器を簡単なものとした場合であっても下工程で欠陥を確実に認識することができる欠陥検査装置およびそれ用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The terminal A includes a communicating part 8 and a processing part A6 which carries out processes for transmitting through the communicating part to the server B request information including predetermined data needed for inspection or measurement made by an image process for a product handled as the subject of inspection by a customer using the terminal A, and for receiving the image process program delivered from the server B.例文帳に追加

端末Ａは、通信部８と、これを通じて、当該端末Ａ側の顧客が扱う検査対象物としての製品に対する画像処理による検査または計測に必要な所定データを含むリクエスト情報をサーバＢに送信するとともにそのサーバＢから配信されてくる画像処理プログラムを受信する処理を行う処理部Ａ６とを含む。 - 特許庁

The method of manufacturing the radiation detector includes: an inspection first process for separately forming the scintillator crystal layer by using a container 7 and inspecting a first face α1 of the scintillator crystal layer to specify the inferior crystal; and an inspection second process for inspecting a second face α2 opposed to the first face α1 to specify the inferior crystal.例文帳に追加

本発明の放射線検出器の製造方法は、容器７を用いてシンチレータ結晶層が別個に形成され、シンチレータ結晶層の第１面α１を検査して不良結晶を特定する検査第１工程と、第１面α１と対向する第２面α２を検査して不良結晶を特定する検査第２工程とを備えている。 - 特許庁

To provide an indicating device capable of effecting the operation and performance validation inspection of the whole of indicating device in a process on the way before assembly process, in which a chassis is attached, and when the operation/performance is determined so as to be not proper by the operation and performance validation inspection, a portion of not proper can be repaired in regardless of the chassis.例文帳に追加

筐体が取付けられる組立工程以前の途中の工程で表示装置全体の動作確認及び性能確認検査を行うことができ、動作確認及び性能確認検査により動作／性能が不適正であった場合においても、筐体と関係なく不適正な箇所を修理することができる表示装置を提供する。 - 特許庁

On the basis of data of defect inspection obtained in a process for forming a circuit pattern in a wafer 1 and of the shape of a circuit pattern wherein a poor conductive region 7a is found by a VC inspection, when performing DSA by using the data of VC inspection after forming the circuit pattern, a rectangular DSA region 8 is formed so as to surround the circuit pattern.例文帳に追加

ウェハ１に配線パターンを形成する過程で得られる欠陥検査のデータと、配線パターン形成後のＶＣ検査のデータを用いてＤＳＡを行う際、ＶＣ検査によって導通不良領域７ａが見つかった配線パターンの形状を基に、その配線パターンを囲むようにして矩形形状のＤＳＡ領域８を設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and method that minimize damage to a semiconductor substrate due to illumination light (UV light) in the ultraviolet range thereby achieving inspection or observation using an image of high resolution or resolving power, and achieving efficient inspection etc., using UV light suitable to a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

紫外領域の照明光（ＵＶ光）による半導体基板へのダメージを最小限に抑え、分解能または解像度の高い画像での検査または観察を行うことを可能とし、半導体製造工程に適した効率的なＵＶ光による検査等を行なうことが可能な半導体検査装置および方法を提供すること。 - 特許庁

Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加

ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

The manufacturing process of a stacked semiconductor device comprises a chip inspection step (step S2) for inspecting the quality of a semiconductor chip stacked on a substrate, and performs a wire fixing step (step S4) only of an article judged that all semiconductor chips are good (Y in step S3) in the chip inspection step.例文帳に追加

基板に積層された半導体チップの良否を検査するチップ検査工程（ステップＳ２）を備え、このチップ検査工程において全ての半導体チップが良と判定された良品のみに（ステップＳ３のＹ）、ワイヤ取付工程（ステップＳ４）を行なうようにした。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of stable and highly reliable operation in inspections on wafers etc. without operation halts in an inspection apparatus or any damage to a probe even if samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、当該ウェハ等の検査で、検査装置が動作停止に陥らず、探針が損傷を受けることなく安定かつ信頼性の高い動作が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To determine an illumination angle not dependent so much on dispersion in an angle for an inspection area generated in a production process for products, when determining the illumination angle emitted toward the inspection area for a semiconductor substrate or the like for providing the plurality of products.例文帳に追加

複数の製品を取ることができる半導体基板などの検査領域に、照射する照明の角度を決定する際、製品の作製工程で発生する検査領域の角度のばらつきに大きく依存されない照明の角度を決めることを目的とする。 - 特許庁

To enable, in magnetic disk inspection, the total process of inspecting both faces of magnetic disks taken out of a cassette, classifying the disks into grades according to the result of inspection, and returning the classified disks into the cassette to be accomplished in an environment of low dust generation while keeping the throughput high.例文帳に追加

磁気ディスク検査において、カセットから取り出した磁気ディスクの両面を検査し、検査結果に応じたグレード分けをして再びカセットに戻すまでのトータルをスループットを高い状態を維持しつつ、低発塵環境の中で実施することを可能にする。 - 特許庁

When reaching the discrimination process using the medical image not acquired yet in the decision tree (step M2; Y), a control part judges the required inspection from the kinds of the medical images to be required in the succeeding discrimination processes and the information of the inspection is displayed by a display part (step M6).例文帳に追加

決定木において未取得の医用画像を用いる判別工程に至ると（ステップＭ２；Ｙ）、それ以降の判別工程で必要な医用画像の種類から必要な検査を制御部が判断し、その検査の情報を表示部により表示させる（ステップＭ６）。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and inspection method for coiled bodies of tapes which are capable of reducing a cost and improving a product yield by sorting the defective and non-defective tapes without undergoing a tape rewinding process step and a tape take-up mechanism and tape take-up method.例文帳に追加

テープ巻き直し工程を経ることなくテープの良・不良選別を行って、コストの低減及び製品歩留まりの向上を図ることができるテープ巻装体の検査装置及び検査方法、並びにテープ巻取装置及びテープ巻取方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an economical defective product screening system in a simple configuration and easily integrated into such as conventional hanging-type conveyance devices that can accurately, smoothly, and quickly remove a defective product, whose inspection speed is high, inspection/removal efficiency is high, and can process much work.例文帳に追加

不良品を正確に確実にスムーズに迅速に排除でき、検査スピードが速く、検査・排除能率が上がり、多量のワークの処理が可能となり、構成簡素で、既存の吊下げ式搬送装置等に組込み易く、経済的な不良品選別システムを提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of imaging the respective parts of an imaging region at once with a proper quantity of light during an inspection of appearance defectiveness in a PTP sheet manufacturing process and relatively simplifying image processing, and to provide a PTP sheet manufacturing apparatus.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良検査に際し、撮像領域の各部分を適切な光量で一度に撮像可能であり、しかも、撮像処理が比較的簡単な外観検査装置、及び、ＰＴＰシートの製造装置を提供する。 - 特許庁

In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加

この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁

Two components are connected by a fittingly insertion system of the insertion slot and the projected stripe, conditions of the connection can be thereby clearly realized, the inspection can be performed whether or not the connection coincides with the inspection standard, and it is effective to increase the safety of a process.例文帳に追加

本発明は挿入溝と凸条の嵌挿方式により二つの部品を接続し、これにより接続の状況を目視方式で明らかに知ることができ、検査標準に符合するか否かを検査でき、工程の安全を高めるのに有効である。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for circuit board which can precisely judge quality in continuity/insulation performance of a circuit within the inspecting circuit board even if the circuit board has no inside layer conductive plane, in order to promote efficiency of circuit board inspection process.例文帳に追加

検査対象の回路基板が内層導電プレーンを持たなくとも、回路基板内の回路の導通性能、絶縁性能の良否を高速で高精度で判定できる回路基板検査装置及び検査方法を提供し、回路基板検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

The sheet inspection sampling counter numbering system comprises a display means performing sampling inspection at a specified timing in a print process, and a means for printing at least the number of printed sheets at sampling on a printed matter thus sampled.例文帳に追加

印刷工程における抜き取り検査のための抜き取りを所定のタイミングで行なうための表示手段と、抜き取った印刷物に少なくとも抜き取り時の印刷枚数を印字する手段とを備えたことを特徴とする検紙抜き取りカウンタナンバリングシステム。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection apparatus which prevents applied ink from adhering to good chips due to deformation or scattering of the ink and consequently avoids overkill, in other words, elimination of the good chips as defects in the semiconductor inspection process.例文帳に追加

塗布されたインクの変形や飛散による良品チップへの付着を回避することができ、その結果、半導体検査工程でのオーバーキル、つまり良品を不良品として排除してしまうことを回避することができる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device having the capability of reasonably grouping a plurality of extracted elements having the same defect factors and separated at a binarization process after binarizing image data obtained by photographing an optical member as an inspection object.例文帳に追加

検査対象光学部材を撮像して得られた画像データを２値化した後で、同一の不良要因に起因しているが二値化の過程で分離されてしまった複数の抽出要素を合理的にグループ化することができる光学部材検査装置を、提供する。 - 特許庁

To obtain a wide-ranged and precise one-dimensional image of a printed circuit board, to cope with a mass production process, and to obtain an inspection result quickly and precisely, in an inspection device for inspecting optically through holes provided in the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板に設けられた貫通穴を光学的に検査する検査装置において、プリント回路基板の広範囲かつ高精度の一次元画像を得ることができ、量産工程に対応でき、高速かつ高精度で検査結果が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a sealing structure for a circuit board case capable of preventing the fraudulent modification of a board sealed in the circuit board case, being quickly openable at an inspection, facilitating a recycling process after use, and reducing the recycling process cost.例文帳に追加

回路基板ケースに封入された基板の不正な改造を防止できると共に検査時には速やかに開放できるのみならず、使用後のリサイクル処理が容易でリサイクル処理コストの低減も図ることができる回路基板ケースの封止構造を得る。 - 特許庁

This vibrator characteristic tester has the electrodes 1 and 2 for electrically connecting a vibrator 3, such as a quartz oscillator or a ceramic vibrator, for inspect a vibration characteristic in a manufacturing process or an inspection process for the vibrator 3.例文帳に追加

本発明による振動子特性試験装置は、水晶振動子あるいはセラミック振動子等の製造または検査工程で、前記振動子を電気的に接続して振動特性を検査するための電極を備える振動子特性試験装置である。 - 特許庁

Furthermore, the quarantine stations provide complete instructions for checking that the production process of imported foods is not illegal in exporting countries and that raw materials, additives, manufacturing process, inspection data and all other aspects conform to the Act. In addition, the quarantine stations provide instructions for making proper import-notification documents based on accurate and the latest information obtained from producers or manufactures.例文帳に追加

また、輸入する食品等が輸出国において違法に生産等されたものではないこと、原材料、添加物、製造方法、検査データ等が法に適合していることについての確認を徹底するよう指導する。 - 厚生労働省

Data processing is performed by a work station connected with a data center through a network in a process in which an additive is automatically prepared and poured simultaneously when supplying liquid fuel to calculate actual running fuel economy by equipment as a first process and a process in which the inspection of exhaust gas component and the measurement of fixed speed fuel economy are performed to obtain data as a second process.例文帳に追加

個別車両に対し、第一工程として機器類による、液体燃料の給油と同時に添加剤を自動調合注入して実走行燃費を算出する工程と、第二工程として排出ガス成分検査と定速燃費を測定してデーターを出す工程と、ネットワークを通じてデーターセンターに接続したワークステイションによりデーター処理をすることを特徴とする。 - 特許庁

When a defective part for an arbitrary substrate is reported from a visual inspection process 14, a mounting failure analysis device 22 acquires the image data on each process work state of the substrate from the image data management apparatus 21, and analyzes the cause of failure from the image of work state in a previous process starting from the image of the process where the defective part has occurred.例文帳に追加