「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In a plurality of inspection processes for semiconductor devices, positions at which the contactors make contact with the bump electrodes in each inspection process are kept from overlapping with those in another inspection process as far as possible, thereby making it possible to lower and stabilize contact resistance with the bump electrodes in inspection.例文帳に追加

半導体装置の複数ある検査工程において、各検査工程でバンプ電極に接触する位置を他の検査工程とできる限り重ならないようにすることにより、検査時のバンプ電極との接触抵抗を低くし、安定化させることができる。 - 特許庁

When an abnormality process inspection timing comes by IG OFF of an own vehicle (S130:Yes), a control part in the on-vehicle device executes an abnormality inspection process on a corresponding abnormality process (S140) to inspect whether the abnormality process is properly operating.例文帳に追加

車載装置の制御部は、自車両のＩＧ ＯＦＦにより異常処理検査タイミングが到来すると（Ｓ１３０：Ｙｅｓ）、対応する異常処理についての異常処理検査を実行し（Ｓ１４０）、該異常処理が正常に動作するかを検査する。 - 特許庁

Then, the stored inspection process data are analyzed (55) to be output to a user interface.例文帳に追加

その後、格納された検査工程データを分析し（５５）、使用者インタフェースに出力する。 - 特許庁

In the inspection process of the production line of the distribution device 330, its operation is inspected as well.例文帳に追加

この振分装置３３０の生産ラインの検査工程ではその動作検査も行う。 - 特許庁

In a primary discrimination process, existence of a failure of a plurality of inspection objects 1 is discriminated.例文帳に追加

一次判別工程では、複数の検査対象物１の不良の有無を判別する。 - 特許庁

To classify the types of defects of TFT arrays, in a TFT array inspection process.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査工程において、ＴＦＴアレイの欠陥の種類を分類する。 - 特許庁

The corrected IC chip is thereafter fed again into the same inspection process (step 401).例文帳に追加

そして、補正されたＩＣチップを再度、同じ検査工程（ステップＳ４０１）に投入する。 - 特許庁

PRODUCTION RELIABILITY INSPECTION AND LITHOGRAPHY PROCESS VERIFICATION METHOD USING CALIBRATION INHERENT DECOMPOSITION MODEL例文帳に追加

較正固有分解モデルを使用した製造信頼性検査及びリソグラフィ・プロセス検証方法 - 特許庁

WORK CONVEYING DEVICE, INSPECTION METHOD FOR VESSEL, AND PROCESS METHOD FOR WORK AND VESSEL例文帳に追加

ワーク搬送移載装置及び容器の検査方法及びワーク及び容器の処理方法 - 特許庁

(i) Component which is manufactured: Inspection for design or manufacturing process of the component 例文帳に追加

一　製造をした装備品　当該装備品の設計又は製造過程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

An image by a liquid crystal panel is imaged, to thereby acquire image data (inspection image acquisition process).例文帳に追加

液晶パネルによる画像を撮像して画像データを取得する（検査画像取得工程）。 - 特許庁

To process an inspection, exposure or the like of a wafer without polluting a sample, a lens or the like.例文帳に追加

試料やレンズ等を汚染することなく、ウエハの検査や露光等の作業を行う。 - 特許庁

Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process.例文帳に追加

入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。 - 特許庁

In a reporting process, when discriminated that the inspection object 1 has a failure in the primary discrimination process, the discrimination result is reported before discriminating existence of a failure in the secondary discrimination process relative to the inspection object 1.例文帳に追加

報知工程では、一次判別工程で検査対象物１が不良と判別された場合に、この検査対象物１が二次判別工程で不良の有無の判別がされる前に、前記判別結果を報知する。 - 特許庁

This semiconductor element 101 is equipped with a nonvolatile storage element 102 for holding writably and readably manufacture data in each manufacturing process of the semiconductor element, inspection data at the probe inspection time, and inspection data at the shipping inspection time.例文帳に追加

半導体素子の製造工程ごとの製造データ、プローブ検査時の検査データおよび出荷検査時の検査データを書き込み読み出し可能に保持する不揮発性記憶素子１０２を半導体素子１０１に備える。 - 特許庁

To provide an inspection system for time sequentially displaying a series of medical treatment process and inspection result of a patient, and for performing the unitary confirmation of the inspection result history or medical treatment effect of the patient even when a sudden inspection order is issued.例文帳に追加

突然の検査オーダが発行された場合にも、患者の一連の治療経過と検査結果とを時系列に表示し、患者の検査結果履歴や治療効果を一元的に確認できる検査システムを提供。 - 特許庁

In a board inspection method, various information generated in an inspection process is stored in inspection results database 21 of a management server 2 together with good/failure determination results, and an image used in an automatic visual inspection is stored in an image database 22.例文帳に追加

管理サーバ２の検査結果データベース２１には、良／不良の判定結果とともに検査の過程で生じた各種情報が蓄積され、画像データベース２２には、自動外観検査に使用された画像が蓄積される。 - 特許庁

To provide a process measurement control system maintenance and inspection device capable of making drastically efficient realization of maintenance and inspection work.例文帳に追加

保守点検作業の大幅な効率化を実現することができるプロセス計測制御システム保守点検装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a plating inspection apparatus for performing a stable inspection by managing a trend of plating quality in a plating manufacturing process.例文帳に追加

めっき製造工程におけるめっき品質を傾向管理することによって、安定した検査を行うめっき検査装置を提供する。 - 特許庁

To simplify the process for inspecting a glass substrate used for a flat-panel display, and to enhance inspection accuracy and inspection speed.例文帳に追加

平面ディスプレーに用いられるガラス基板の検査工程を単純化させ、検査精密度及び検査速度を向上させることにある。 - 特許庁

Subsequently in the wiring process, the visual inspection system 3 performs visual inspection every time when a wiring layer is formed by a wiring pattern.例文帳に追加

続いて、配線工程において、配線パターンによる配線層を形成する毎に、外観検査装置３による外観検査を行う。 - 特許庁

The receiver outputs signals synchronously with an inspection process step, and displays the positions of the containers based on a fixed inspection position.例文帳に追加

レシーバは検査手順のステップと同調して信号を発生し、固定検査位置に対する容器の位置を表示するようになっている。 - 特許庁

The array inspection system 1 is an array inspection system for inspecting TFT substrates in the array process and is provided with a temperature control means 11.例文帳に追加

アレイ検査装置１は、アレイ工程におけるＴＦＴ基板を検査するアレイ検査装置であり温度制御手段１１を備える。 - 特許庁

To provide a robot guide assembly capable of increasing throughput in a manufacturing process and/or an inspection process of a semiconductor.例文帳に追加

半導体の生産プロセスおよび／または検査プロセスのスループットを増大させることができるロボット案内組立体を提供する。 - 特許庁

From the process data and inspection data, the corrected value of the process data required to enable the unit 31 to properly perform deposition is found.例文帳に追加

これらプロセスデータおよび検査データからプロセス装置31で適正に成膜させるのに必要なプロセスデータの補正値を求める。 - 特許庁

The process formability determination means 10 determines whether an apparatus to be inspected repeatedly in the same period exists or not based on information from the inspection process correlation part 4, and determines that an additional inspection process interferes with a fixed inspection process when such an apparatus to be inspected repeatedly exists.例文帳に追加

工程成立性判定手段１０は、点検工程関連付け部４からの情報に基づき、同一時期に重複して点検対象となる機器があるかどうかを判断し、このような重複して点検対象となる機器があった場合、追加の点検工程が固定点検工程と干渉すると判定する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a battery including an inspection process capable of identifying the abnormal portion of a wound electrode body before assembling a battery; and to provide a manufacturing device of the battery including an inspection means capable of achieving an inspection process.例文帳に追加

電池が構築される前に捲回電極体の異常部位を特定可能な検査プロセスを包含する電池の製造方法、および検査プロセスを実現可能な検査手段を備えた電池の製造装置を提供する。 - 特許庁

The transparent sheet 10 is disposed on an inspection plate 2 processed by at least one of a mat process and a lusterless process so as to face the inspection plate 2 at a predetermined interval.例文帳に追加

マット加工および艶消し加工の少なくともいずれか１つの加工が施された検査板２に対して、所定の間隔をあけて対向するように透明シート１０を配置する。 - 特許庁

After finishing each process or designated process with respect to the substrate 10, inspection information is obtained by inspecting at least 4 reference closed regions 11A, 11B, 11C, 11D on the substrate 10 with inspection device.例文帳に追加

基板１０に対する各工程または所定の工程終了後に、検査装置によって、基板１０上の少なくとも４つの基準閉領域１１Ａ，１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄを検査して検査情報を得る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device or the like, its device, an inspection method and its device, capable of stabilizing a manufacturing process, and automatizing an inspection correction process.例文帳に追加

製造プロセスの安定化、検査修正工程の自動化を図ることができる半導体装置等の製造方法及びその装置並びに検査方法及びその装置に関する。 - 特許庁

To provide a display panel defect inspection system which keeps a throughput of an inspection process even if the number of inspectors is reduced, and improving the throughput of the inspection process by dispersing a visual inspection work to the plurality of inspectors.例文帳に追加

本発明は、検査員の数を減らしたとしても、検査工程のスループットを維持することができ、更に、目視検査の作業を複数の検査員に分散させることで、検査工程のスループットを向上させることが可能なディスプレイパネル欠陥検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

An input information weighting part 23 makes the weight of each process constant from information, which is the input of a process of a model inspection technique, such as program information or modeling information to weight it by model inspection process units and generates a job based on the weighted process.例文帳に追加

入力情報重み付け部２３が、プログラム情報やモデル化情報といった、モデル検査方式のプロセスのインプットとなる情報から各プロセスの重みを定数化してモデル検査のプロセス単位で重み付けを行い、重み付けされたプロセスを基にジョブを生成する。 - 特許庁

To provide a defectiveness inspection device capable of drastically enhancing inspection precision in the detection and inspection of a pinhole in the PTP sheet manufacturing process, and to provide a PTP packing machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程におけるピンホールの検出検査に関し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP-packaging machine capable of significantly improving the inspection accuracy, at the inspection of chipping of a tablet in a production process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の欠け等の検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a carrier cup which can smoothly lift up and down an inspection object in the delivery process, and properly positioning the inspection object on a belt conveyor, and to provide a method of delivering the inspection object.例文帳に追加

被検査物をその搬送過程で円滑に昇降させ、しかもベルトコンベヤ上で被検査物を適正に位置決めできるキャリアカップ、及び被検査物の搬送方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packaging machine capable of significantly improving the inspection accuracy, at the inspection of chipping of a tablet in a production process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の欠け等の検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a parallel mounted inspection board for semiconductor memory element and inspection method capable of improving the reliability of a mounting inspection process for inspecting a semiconductor element in an actually operating environment.例文帳に追加

半導体素子を実際動作環境で検査する実装検査工程の信頼性が向上する半導体メモリ素子用の並列実装検査基板および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as to be capable of achieving the drastic enhancement of inspection precision at the time of inspection of defect in a PTP sheet manufacturing process, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良を検査するに際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

This manufacturing line for rolling bearing is provided with an assembly process part 12 in which a race and a rolling body are assembled and inspection process parts 14, 16 in which a race assembly product 6 assembled in the assembly process is inspected.例文帳に追加

軌道輪と転動体とを組み立てる組立工程部１２と、この工程で組立てられた軌道組立品６を検査する検査工程部１４，１６とを備える。 - 特許庁

This inspection method for executing electric characteristic inspection of the device by bringing an inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P, has a contact process for bringing the inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P by breaking an insulating coat O of the inspection electrode P by utilizing fritting phenomenon.例文帳に追加

本発明の検査方法は、検査用電極Ｐに検査用プローブ１２Ａを電気的に接触させてデバイスの電気的特性検査を行う検査方法において、フリッティング現象を利用して検査用電極Ｐの絶縁被膜Ｏを破って検査用プローブ１２Ａと検査用電極Ｐを電気的に接触させるコンタクト工程を有する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a high-quality inspection table capable of reducing a cost by shortening the manufacturing process of the inspection table.例文帳に追加

検査治具の作製工程の短縮を計り、コスト削減可能な、品質的に優れた検査治具の製造方法を提供するこを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection device for a three-dimensional image display device which can facilitate the display quality inspection of a three-dimensional image in its manufacturing process.例文帳に追加

製造過程での三次元画像の表示品位検査を容易化することができる三次元画像表示装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VISUAL INSPECTION OF ELECTRONIC COMPONENTS AND RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR ENABLING COMPUTER TO PERFORM VISUAL INSPECTION PROCESS RECORDED THEREIN例文帳に追加

電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

A calculating part 117 reflects the same fault information in the auxiliary inspection question to complete an inspection question in the relevant organization process.例文帳に追加

計算部１１７において、同類不具合情報を予備監査質問に反映させて当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。 - 特許庁

The defective part inspection and the ion conductivity inspection can be selected by turning the connection of the electric circuit on or off, and can be conducted in a continuous process.例文帳に追加

欠陥部検査とイオン伝導性検査は、電気回路の接続をオフまたはオンすることで選択でき、また連続する工程で検査できる。 - 特許庁