「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve the reliability of the outward appearance inspection of a wire harness and to make the inspecting process efficient.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査の信頼性を向上させると共に検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

To provide an electronic component inspection device capable of making inspecting process high precision and simplification.例文帳に追加

電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査装置を提供する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF DEFECT IN PHOTORESIST, MENDING METHOD OF PHOTORESIST, AND MANUFACTURING PROCESS OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

フォトレジストの欠陥を検査および修復する方法、並びにプリント回路基板の製造プロセス - 特許庁

To discriminate a surface defect from an internal defect of the substrate efficiently in a one-time inspection process.例文帳に追加

基板の表面の欠陥と内部の欠陥とを、１回の検査工程で効率良く弁別する。 - 特許庁

Subsequently, a memory information is written on the memory cell of the flash ROM in a probe inspection process.例文帳に追加

続いて、プローブ検査工程においてフラッシュＲＯＭのメモリセルに記憶情報を書き込む。 - 特許庁

SYSTEM FOR ANALYZING AND CONTROLLING AUTOMATICALLY LOSS FACTOR IN INSPECTION PROCESS FOR SEMICONDUCTOR IC ELEMENT, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体ＩＣ素子の検査工程の損失要因自動分析管理システムとその方法 - 特許庁

To provide an automated inspection system and a method to replace the present manual ispection process.例文帳に追加

現在の手動検査プロセスを置き換える自動化検査システムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent a liquid crystal panel P from being displaced or damaged in process of conveyance to an inspection part.例文帳に追加

検査部への搬送途中で液晶パネルＰがずれたり破損したりするのを防止する。 - 特許庁

To provide a rapid inspection method for determining the effectiveness of a sterilization process of medical instruments.例文帳に追加

医療用具類の滅菌プロセスの有効性を決定するための迅速な検査法を提供する。 - 特許庁

In the first inspection process, light is blocked from reaching the solid-state imaging device to acquire image data.例文帳に追加

第１検査工程では検査する固体撮像素子を遮光して画像データが取得される。 - 特許庁

The wafer-inspection SEM is useful to review minute defects in the semiconductor-manufacturing process. 例文帳に追加

ウエハ検査SEMは、半導体製造工程の微小な欠陥を調べ直すのに有用である(役立つ)。 - 科学技術論文動詞集

An inspection block which inspects a development-processed substrate is incorporated in the substrate processing apparatus which performs a resist applying process and development process.例文帳に追加

レジスト塗布処理および現像処理を行う基板処理装置に、現像処理後の基板の検査を行う検査ブロックを組み込む。 - 特許庁

To provide a program execution method and programming environment for an inspection device, allowing intelligible expression of a flow of processing in an inspection process and contents of inspection to an individual inspection target, and allowing easy execution and editing.例文帳に追加

検査工程の処理の流れと、個々の検査対象に対する検査の内容をわかりやすく表現し、容易に実行及び編集することが可能な検査装置のプログラム実行方式及びプログラミング環境を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing complication of processing in inspection, and improving inspection accuracy, while preventing a smear phenomenon, in defect inspection in a manufacturing process of a PTP sheet, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device easily and quickly operated by hand in the field or on the site of a manufacturing process and efficiently and accurately carrying out an ultrasonic inspection of an inspection object, and to provide an ultrasonic probe device and an ultrasonic inspection method.例文帳に追加

フィールドや製造工程の現場で簡単かつ手軽に手動操作でき、検査対象物の超音波検査を効率的よく正確に実施できる超音波検査装置、超音波プローブ装置、超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

Inspection items of an inspection process performed by each process of part receipt, production, shipping and market and items of quality inferior information generated in relation to the inspection are previously registered as a united code in a code master DB 17.例文帳に追加

部品受入、生産、出荷及び市場の各プロセス４０〜７０で行う検査工程の検査項目と、その検査に関連して発生する品質不良情報の項目とを統一したコードとしてコードマスターＤＢ１７に予め登録しておく。 - 特許庁

Since only the wafer whose curvature amounts before inspection fulfill a certain criterion can proceed to perform inspection, it is possible to prevent damage of the wafer due to falling of the wafer just before inspection or due to interference with the inspection apparatus side in the inspection process in which the edge gripping system is adopted.例文帳に追加

検査前の反り量が一定の条件を満たすウェーハのみを検査に進めることができるため、エッジクリップ方式を採用する検査工程において、検査直前のウェーハの落下や検査装置側との干渉によるウェーハの損傷を防止することが可能になる。 - 特許庁

To provide a method for inspecting leakage of a process tube by which leakage inspection can be conducted quickly and at high accuracy even if a large process tube is prepared and highly reliable inspection result can be obtained.例文帳に追加

大型のプロセスチューブであっても、リーク検査を短時間で速やかにかつ高精度に行うことができ、またその検査結果の信頼性も高いプロセスチューブのリーク検査方法を提供する。 - 特許庁

To remove rejectable products with high accuracy in a visual inspection process and to lessen the load in a microscopic inspection process following to connection work of a display panel, a TAB substrate and a flexible substrate.例文帳に追加

表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板の接続作業後の検査において、目視検査工程で高精度に不良品を排除することができ、顕微鏡検査工程での負荷を軽減する。 - 特許庁

In a second inspection process following the first inspection process, the liquid crystal panel is illuminated from the rear for a prescribed period just after turning off the application of the source signal and the gate signal to inspect lighting (steps #20 to #30).例文帳に追加

第２検査工程では、第１検査工程に続いて、ソース信号及びゲート信号の印加をオフした直後から所定期間、液晶パネルを背面から照明して検査を行う（ステップ＃２０〜＃３０）。 - 特許庁

At the time of maintenance or inspection of the process unit 13, the movable base 5 and the movement mechanism 7-2 are moved in the Y-axis direction by the predetermined distance to secure a space for the maintenance or inspection in the lower part of the process unit 13.例文帳に追加

プロセスユニット１３の保守点検時に、可動ベース５と移動機構７−２をＹ軸方向に所定距離だけ移動して、プロセスユニット１３の下部に保守点検用の空間を確保する。 - 特許庁

The substrate, similar to the layer defect distributions in the in-line inspection process 10e to the final defect distribution 26a, is extracted from the substrates through the in-line inspection process 10e.例文帳に追加

そのインライン検査工程１０ｅを経た基板の中から、その最終欠陥分布２６ａに対してそのインライン検査工程１０ｅでのレイヤ欠陥分布が類似しているような基板を抽出する。 - 特許庁

To reduce equipment cost, and to shorten a process time from inspection to shipping, by performing a visual inspection for detecting a flaw on a workpiece subjected to external diameter grinding without a process for degreasing washing and drying.例文帳に追加

外径研削された工作物の傷検出を行う外観検査を、脱脂洗浄と乾燥の工程を通さないで行い、設備費を低減すると共に、検査から出荷までの工程時間を短縮する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To properly perform quality control, based on the number or density of defects in a semiconductor manufacturing process by using a plurality of sets of inspection equipment which have different inspection sensitivity.例文帳に追加

検査感度が異なる複数の検査装置を用いて、半導体製造プロセスにおける欠陥数あるいは欠陥密度による品質管理を正しく行う。 - 特許庁

To provide a compressor inspection device capable of simply inspecting the inspection process of a rotary compressor, and determining a high quality workpiece with high reliability.例文帳に追加

ロータリ圧縮機の検査工程を単純に検査でき、しかも信頼性の高く、高品質ワークを判別できる圧縮機検査装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

No particle irradiation means exclusive for inspection is needed and the inspection can be conducted on the way of process, so that the throughput of the manufacturing of a semiconductor device can be improved.例文帳に追加

検査専用の粒子照射手段等を不要にし、しかもプロセス中に検査が実行できるので、半導体デバイス製造のスループットが向上する。 - 特許庁

To provide a flow inspection method requiring no air purging process and a shorter period for inspection and allowing highly accurate measurement of a flow rate, and its device.例文帳に追加

エア抜き工程が不要で検査に要する期間が短く、かつ流量の計測精度の高い流量検査方法および流量検査装置を提供する。 - 特許庁

The process data obtained when the processing unit 31 performs deposition and inspection data obtained when an inspection device 41 inspects the film formed by means of the unit 31 for its state are acquired.例文帳に追加

プロセス装置31で成膜を実施したプロセスデータ、およびプロセス装置31で実施された成膜の状態を検査装置41で検査した検査データを取得する。 - 特許庁

To realize a treatment device before wafer inspection capable of improving analysis precision further by devising a drying means used in a treatment process before inspection.例文帳に追加

検査前処理工程で行われる乾燥手段を工夫して、分析精度を更に向上できるようにしたウエハ検査前処理装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a semiconductor inspection method for accurately estimating the characteristics of defects generated in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程で発生した欠陥の特性を正確に推定することのできる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection machine and method, which can eliminate the loss time between processes, by integrating individual process required for inspection of wafers.例文帳に追加

ウェハー検査に必要な個別工程を統合することで工程間のロスタイムを解消することができるウェハー検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket, an acceleration inspection-use substrate and a method for inspecting a semiconductor device, which can realize a sufficient heat dissipation effect in an acceleration inspection process.例文帳に追加

加速検査工程において十分な放熱効果を得ることが可能なＩＣソケット、加速検査用基板及び半導体デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

HERMETIC SEAL INSPECTION METHOD FOR MICROFABRICATED DEVICE, HERMETIC SEAL INSPECTION SYSTEM FOR MICROFABRICATED DEVICE, MICROFABRICATED DEVICE, AND PRODUCTION PROCESS THEREFOR例文帳に追加

微小構造デバイスの気密封止検査方法および微小構造デバイスの気密封止検査システム、並びに微小構造デバイスおよびその製造方法 - 特許庁

An inspection area detection signal showing a plurality of inspection areas to be inspected is formed in the moving process of the bonded state detection sensor 3.例文帳に追加

貼付状態検出用センサ３が移動する過程において検査実施すべき複数の検査エリアを示す検査エリア検出信号を生成する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating surface foreign matter, back foreign matter, inside foreign matter and a defective pixel with less inspection process time than hitherto.例文帳に追加

従来よりも少ない検査タクトで、表面異物と裏面異物と内部異物と不良画素とを識別することが可能な検査装置を実現する。 - 特許庁

To improve the efficiency of comprehensive operation by continuously inspecting workpieces which have reached an inspection means without interrupting an inspection process.例文帳に追加

検査手段に到達したワークに対し、検査工程を中断することなく連続的に検査を行なって、全体としての作業効率の向上を図る。 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

To provide an inspection method for a circuit board for preventing an advance a flyback transformer mounted on the circuit board from producing a high voltage in an inspection process in a factory production line.例文帳に追加

工場の生産ラインでの検査工程において、回路基板に実装されたフライバックトランスからの高圧の発生を事前に防止し得るようにする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection apparatus capable of being easily and manually operated at the site of a manufacturing process and efficiently performing ultrasonic flaw detection inspection.例文帳に追加

製造工程の現場で簡単に手動操作でき、超音波探傷検査を効率的行なうことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluid-tight inspection device having fluid-tight evaluation due to exhaust and fluid leakage inspection of piping in a fluid filling process after piping repair.例文帳に追加

配管補修後の充液過程における配管の排気及び漏液検査による液密性の評価が可能な液密性検査装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, the process can be simplified to shorten time for preparing the inspection when the inspection voltage waveforms H1, H2 are determined.例文帳に追加

そのため、検査用電圧波形Ｈ１、Ｈ２を決定する際に、その工程を簡略化することができ、検査の準備にかかる時間を短縮することができる。 - 特許庁

The inspection process parts 14, 16 have an acoustic inspection device 20 which inspects vibration by rotating the assembled product 6 and bringing a sensor 22 into contact with the race.例文帳に追加

検査工程部１４，１６は、組立品６を回転させ、軌道輪にセンサ２２を接触させて振動を検査する音響検査装置２０を有する。 - 特許庁

To provide a new automatic inspection device and a new automatic inspection method for measuring and evaluating automatically eccentricity in a contractedly formed part of a glass tube end part, and for allowing on-line product inspection in a production process.例文帳に追加

ガラス管端部の絞り成形部の偏心を自動計測し、評価することができ、製造工程でオンライン製品検査が可能な新しい自動検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

If it is determined to be an area to perform two dimensional inspection by the determination process, the inspection area is photographed for two dimensional inspection by a photographing part and the two dimensional shape is inspected from the photographed image.例文帳に追加

その判断処理で２次元検査を行う領域と判断した場合に、該当する検査領域を撮影部で２次元検査用に撮影し、その撮影された画像から２次元形状を検査する。 - 特許庁