「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device manufacturing method including a highly reliable appearance inspection process which can be achieved in a simple process and simple inspection equipment.例文帳に追加

簡単な工程でかつ簡易的な検出設備でできる信頼性が高い外観検査工程を有する、半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The inspection pad 4 is used for inspecting the behavior of the IC chip 2 in an inspection process, and is cut off together with the scribe line 3 in a cut process.例文帳に追加

検査用パッド４は、検査工程において、ＩＣチップ２の動作を検査するために使用され、切断工程において、スクライブライン３とともに切り落とされる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANAGING INFORMATION ON ASSEMBLY, ADJUSTMENT AND INSPECTION PROCESS例文帳に追加

組立・調整・検査工程の情報管理装置および情報管理方法 - 特許庁

Thus an inspection process for comparing only a resist pattern is achieved.例文帳に追加

これにより、レジストパターンのみパターンを比較する検出工程が達成される。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR TIRE MOLD SIDE PLATE, DECISION METHOD AND DECISION SYSTEM FOR THE TIRE MOLD SIDE PLATE, AND INSPECTION METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR TIRE MOLD PROCESSING PROCESS例文帳に追加

タイヤ金型サイドプレートの検査方法および検査装置、タイヤ金型サイドプレート種類の判定方法および判定装置、タイヤ金型加工工程の検査方法および検査装置 - 特許庁

To provide a mounted base board visual inspection device and its visual inspection method allowing both of mounting inspection and soldering inspection by means of a single inspection device so as to improve efficiency of an inspection process and so as to lower an equipment cost.例文帳に追加

単一の検査装置によって実装検査および半田検査が行え、検査工程の効率を向上させると共に設備費用を削減できる実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the conditions of the inspection are altered automatically on the basis of the state of assembly to the previous process in this way, the result of the inspection can be obtained under different conditions from those of the previous process with respect to the same item as subjected to the inspection in the previous process.例文帳に追加

このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。 - 特許庁

This display controller 4 can shorten an inspection time necessary for a visual inspection process, since the controller includes a display control unit 7 which excludes, from display objects on the occasion of the visual inspection process, lighting patterns for detecting defects belonging to inspection items determined to have no defects in an automatic inspection process.例文帳に追加

本発明の表示制御装置４は、目視検査工程の際、自動検査工程において欠陥がないと判定された検査項目の欠陥を検出するための点灯パターンを表示対象から除外する表示制御部７を備えているので、目視検査工程に要する検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

An inspection instruction is successively transmitted to the inspection module 4 while inspecting or controlling it via an inspection process stored in the control main computer 6.例文帳に追加

制御メインコンピュータ６に保存した検査プロセスを経由して、検査あるいは制御しながら検査命令を順に検査モジュール４まで伝送する。 - 特許庁

To decrease a process loss and ensure a stabilization of an inspection quality by enabling an automatization of an inspection of a picture quality at an inspection line of a cathode-ray tube.例文帳に追加

ブラウン管の検査ラインにおいて、工程ロスを削減し、画質検査の自動化を可能にすることにより検査品質の安定化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a luminous body inspection device having excellent practicability in an inspection process for LEDs, etc., a low misinformation rate, and stable inspection quality.例文帳に追加

ＬＥＤなどの検査工程での実用性に優れて、かつ虚報率の低い検査品質の安定した発光体検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection subject unit, a decision program and a method therefor, in which a part to be inspected is inspected in a proper inspection process according to characteristics of an inspection process.例文帳に追加

検査工程の特性に応じて、検査対象となる部品が適切な検査工程で検査されるようにするための検査対象部品決定装置、決定プログラムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To shorten inspection time of a whole inspection process group in an inspection process of an information processor equipped with a storage medium 8 for which shut-down processing is necessary before power supply interruption after access.例文帳に追加

アクセスがあった後の電源遮断の前にシャットダウン処理が必要な記憶媒体８を備える情報処理装置の検査工程において、検査工程群全体での検査時間を短縮する。 - 特許庁

The investigation method of the joining reliability of a substrate joined structure includes a heating and peeling process and an inspection process.例文帳に追加

基板接合構造の接合信頼性調査方法は、加熱剥離工程と検査工程とを備えている。 - 特許庁

To improve the efficiency of design by smoothly performing information cooperation in a design inspection process and a design process.例文帳に追加

設計検討過程、設計過程における情報の連携を円滑に図ることで設計を効率化する。 - 特許庁

Furthermore, the sure inspection for existence of amalgam can be carried out in a short period of time without providing the additional inspection process period.例文帳に追加

さらに、検査工程時間を新たに設けることなく短時間で確実にアマルガムの有無を検査することができる。 - 特許庁

To provide an electron-beam wafer inspection device capable of shortening a time required for subjecting a wafer to an inspection process.例文帳に追加

１個のウエハの検査処理に要する時間を短くすることができる電子線式ウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

In a minute defect inspection process, an inspection bias voltage is applied between the anode electrode 11 and the insulation breakdown detecting electrode 31.例文帳に追加

そして，微小欠陥の検査では，アノード電極１１と破壊検出電極３１との間に検査バイアスを印加する。 - 特許庁

The inspection bump TB is formed in the same process as for a connection bump CB.例文帳に追加

検査用バンプＴＢは、接続用バンプＣＢと同一工程で形成できる。 - 特許庁

A standard product achievement process/standard inspection question 103 is associated with points of concern in a relevant organization process read by a relevant organization process information recording part 104 to prepare an auxiliary inspection question in the relevant organization process, and the auxiliary inspection question is recorded in a relevant organization process information correspondence recording part 105.例文帳に追加

標準製品実現プロセス・標準監査質問１０３と、当該組織プロセス情報記録部１０４に読み込まれた当該組織プロセスにおける留意事項とを関連付け、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセス情報対応記録部１０５に記録する。 - 特許庁

A semi-product of a shadow mask is manufactured by performing treatment processes in an iron band for a shadow mask including a sensitive liquid application process 12, an exposure process 13, a development/ printing process 14 and a punching process 15, and an inspection process 16.例文帳に追加

シャドウマスク用鉄帯に対し、感光液塗布工程12、露光工程13、現像・焼付工程14、孔開け工程15の処理工程及び検査工程16を経て、シャドウマスクの半製品を形成する。 - 特許庁

The manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor includes at least the inspection process 101, and the inspection process includes at least a defect detection process 102 of detecting a defective part of an electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

電子写真感光体の製造方法は検査工程１０１を少なくとも含み、検査工程は電子写真感光体の欠陥部を検出する欠陥検出工程１０２を少なくとも含む。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packing machine capable of rapidly improving inspection accuracy and inspection efficiency in an appearance inspection of tablets at a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度や検査効率の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a solder inspection method, a board inspection system, and a solder inspection machine that highly accurately distinguish whether the condition of solder is proper or not by applying a different inspection criterion depending on the condition of a portion to be inspected as of before a reflow process is performed.例文帳に追加

リフロー工程を実施する前の検査対象部位の状態の違いによって異なる検査基準を適用することにより、はんだ付け状態の適否を精度良く見分ける。 - 特許庁

Then, the foreign-substance inspection removing process for the wafer carrying hand is conducted before the wafer is carried to the chuck on the wafer side, and the foreign-substance inspection removing process for the chuck is conducted before a wafer setting.例文帳に追加

一方ウェハ側はウェハをチャックへ搬送する前にウェハ搬送ハンドの異物検査除去工程を行い、ウェハセッティング前にチャックの異物検査除去工程を行う。 - 特許庁

To prevent faulty printing or faulty printing inspection even when, in a printing process or printing inspection process, the surface of a bag is warped or undulated.例文帳に追加

印字工程又は印字検査工程において、袋の袋面が反っていたり、波打っていたりした場合でも、印字不良又は印字検査ミスが生じるのを防止する。 - 特許庁

To make an efficient and accurate inspection in the process of inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査工程において，効率よく，高精度の検査を行う。 - 特許庁

PROCESS FOR MANUFACTURING PRINTED WIRING BOARD, AND INSPECTION PATTERN UNIT OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

プリント配線基板の製造方法およびプリント配線基板の検査用パターンユニット - 特許庁

MEASUREMENT RESULT DISPLAY METHOD IN INSPECTION PROCESS, ITS SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

検査工程における測定結果表示方法及びそのシステム、並びにコンピュータプログラム - 特許庁

The second smoothing process applies a moving average filter to the positioned inspection image.例文帳に追加

第２平滑化処理は、位置合わせされた検査画像に移動平均フィルタをかける。 - 特許庁

To obtain a method for inspecting efficiently by incorporating its inspection process in a manufacturing process, when a shape measuring inspection of a thin film magnetic head is performed by SEM.例文帳に追加

ＳＥＭにより薄膜磁気ヘッドの形状測定検査を行う場合において、その検査工程を製造工程中に組み込み、効率よく検査する方法を得る。 - 特許庁

Impurities can be detected as a marker in a sample inspection process 10.例文帳に追加

不純物をマーカーとしてサンプル検査工程１０で検出することが可能になる。 - 特許庁

Preferably, an atmosphere replacement process for filling the inside of the inspection container with inert gas after depressurizing once preliminarily the inside of the inspection container is performed before the depressurization process.例文帳に追加

減圧工程の前には、一旦予備的に上記検査容器内を減圧した後に不活性ガスを充満させる雰囲気置換工程を行うことが好ましい。 - 特許庁

By having such a device composition, the image inspection process and transportation of the recording paper are made not to be synchronized and the image inspection process with high flexibility in time is made possible.例文帳に追加

このような機器構成をとることで、画像検査処理と記録用紙の搬送は非同期となり、時間的に自由度の高い画像検査処理が可能となる。 - 特許庁

In the non-inspection mode (S29 and S30), the equalization process whose switching is instructed in the inspection mode is applied to the signal string.例文帳に追加

非検査モード（Ｓ２９、Ｓ３０）においては、検査モードにおいて切り替えが指示された等化処理が信号列に施される。 - 特許庁

To provide a bag body inspection apparatus and a method for manufacturing a bag body, which reduce a time required for an inspection process.例文帳に追加

検査工程で要する時間を短くすることができる袋体検査装置及び袋体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of obtaining stable results by automatizing the inspection process including organoleptic tests.例文帳に追加

官能検査を含む検査工程を自動化し、安定した結果をえることができる検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a substrate storing container for improving productivity in a substrate inspection process, and also to provide a substrate inspection apparatus including the substrate storing container.例文帳に追加

基板検査工程の生産性を向上させる基板収納容器と、これを具備した基板検査装置を提供する。 - 特許庁

When the order of the inspection product Q is not a divisor of the order (q), inspection failure is outputted and the process is ended.例文帳に追加

検査積Ｑの位数が位数ｑの約数でないときは検査不合格の旨を出力して処理を終了する。 - 特許庁

This makes the probe inspection and the burn-in test executable at once to reduce the inspection process, compared with the conventional one.例文帳に追加

これにより、プローブ検査とバーンイン試験を同時に実施可能であり、従来に比較して検査工程の削減が可能である。 - 特許庁

To attain an automated inspection process capable of preventing missed detection by not depending on visual inspection but executing detection by an electronic sensor.例文帳に追加

目視検査に頼らず電子的なセンサーで検知することにより、見逃しをなくし自動化した検査工程を可能とする。 - 特許庁

An applying-mask confirming process (S102B) is carried out simultaneously by using the overlapping inspection device in the process.例文帳に追加

また、この工程において、重ね合せ検査装置を用いて適用マスク確認工程（Ｓ１０２Ｂ）が同時に実施される。 - 特許庁

To reduce the length of time (cycle time) to elapse from process processing through inspection processing and also to improve the operating rate of each process device.例文帳に追加

プロセス処理から検査処理までの時間（サイクルタイム）を短縮しつつ，各プロセス装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁

The workpiece inspection system inspects an inspected workpiece, moving in a manufacturing process having an electronic circuit mainly with an inspection control section of an inspection device.例文帳に追加

本発明は、電子回路部を有する製造工程を移動する被検査対象ワークを、検査装置の検査制御部が主導権をとって検査するワーク検査システムに関する。 - 特許庁