「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A production line database 110 storing panel information having panel ID information, inspection information and assembled state information is provided for a lighting inspection system 100 which executes a process of lighting inspection of PDP 1.例文帳に追加

ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報と、検査情報と、組立状態情報と、を有するパネル情報が格納された生産ラインデータベース１１０を設けた。 - 特許庁

To provide a pressure proof inspection pipe and a pressure proof inspection method for a pipeline including a meter unit, allowing easy and certain pressure proof inspection for the pipeline including the meter unit, simplifying an inspection process and a configuration of the pipeline including the meter unit, and having excellent economical efficiency.例文帳に追加

メータユニットを含む配管の耐圧検査を容易に、しかも、確実に行うことができ、メータユニットを含む配管の構成並びに検査工程を簡素化して、経済性にも優れた耐圧検査管及びメータユニットを含む配管の耐圧検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a glossy plane extremely enhanced in the inspection precision and inspection speed of the surface flaw of a product having the glossy plane, capable of automatically inspecting the surface flaw and enabling the on-line inspection of a mass production process.例文帳に追加

光沢平面を有する製品の表面欠陥の検査精度及び検査速度が格段に高く、かつ表面欠陥の自動的な検査が可能で、大量生産工程のオンライン上で検査可能な光沢平面検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

To provide a superposing deviation inspection apparatus, marks for inspecting superposing deviations and overlap deviation inspection method, which enable automatic inspection of the presence of a superposing deviation in a shorter time between a lower layer pattern and a resist pattern, in a lithographic process during the production process of semiconductors.例文帳に追加

半導体の製造工程中のリソグラフィ工程において、下層パターンとレジストパターンとの重ね合わせずれの有無を短時間でかつ自動的に検査することができる重ね合わせずれ検査装置、重ね合わせずれ検査用マークおよび重ね合わせずれ検査方法を提供する。 - 特許庁

In the manufacturing line of the part-mounting substrate, an inspection apparatus 1 is deployed for every manufacturing process, each inspection apparatus 1 installed communicably with each another via network lines 2.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線２を介して相互に通信可能に設定する。 - 特許庁

To increase the number of semiconductor devices capable of being inspected as a time, reduce the cost of an inspection device, and stabilize an inspection process.例文帳に追加

一度に検査を行なうことができる半導体装置の数を増加させると共に検査装置のコストを低減し、また、検査工程を安定して行なうことができるようにする。 - 特許庁

To reduce the overlook of a common defect in a die comparison system and a post-process due to double counting of the defect existing in a reference image after inspection and realize an efficient inspection.例文帳に追加

ダイ比較方式の共通欠陥の見逃し、及び参照画像に存在する欠陥のダブルカウントによる検査後処理を軽減し、効率的な検査を実現する。 - 特許庁

The production line of the substrate for mounting components has a inspection device 1 deployed for each process and each inspection device 1 is connected with a server 2 through a network line 7.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線７を介してサーバー２に接続する。 - 特許庁

After the inspection using one of the sockets, the other of the sockets is immediately connected by a switch for initiating the next inspection for the equipment, and the process continues.例文帳に追加

ソケットのうちの１つを介した検査が終了した後、スイッチは、他のソケットを即座に接続し、スイッチは、次の装置の検査は、それらの装置について始動して継続する。 - 特許庁

The manufacturing method has an inspection process for determining the depth from the surface at which a constant carbon concentration is acquired by using the measuring method, and performing nondestructive inspection of the carburized member.例文帳に追加

また、前記測定方法を用いて、一定炭素濃度となる表面からの深さを求め、浸炭部材を非破壊検査する検査工程を有する製造方法とする。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

To provide a wafer prober device that is more excellent in inspection efficiency and cost reduction than a conventional one in a wafer inspection process corresponding to individualized LSI chips, and a transfer tray.例文帳に追加

個片化されたＬＳＩチップに対応したウエハ検査工程において、従来よりも検査効率やコストに優れたウエハプローバ装置及び搬送トレーを提供する。 - 特許庁

The disk supply section 4 supplies continuously each optical disk to a spindle at each inspection process and takes it up from the spindle after completion of inspection.例文帳に追加

ディスク供給部４は、各光ディスクについてそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給すると共に、検査完了後にスピンドルから引き上げる。 - 特許庁

On a production line for component mounting substrate, an inspection machine 1 is provided to each process, and further each inspection machine 1 is allowed to communicate mutually with other machines via a network line 2.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線２を介して相互に通信可能に設定する。 - 特許庁

To provide a procedure file generating device that can accurately records a procedure by a remote simulation controller 3 in the inspection process so as to accurately reproduce operations of an electronic device 4 being an inspection object.例文帳に追加

本発明は、検査過程のシミュレート用リモコン３による手順を正確に記録して検査対象である電子機器４の動作を正確に再現できるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate inspecting method for detecting whether the defect of the substrate is a backside defect produced in the front stage of the inspection process or the backside defect produced during inspection.例文帳に追加

検査プロセスの前段階で生じた裏面欠陥なのか、もしくは検査時に生じた裏面欠陥なのかを検出することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.例文帳に追加

ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁

A management computer 21 of a receipt inspection support system 20 receiving a reexamination result from an examination payment organization terminal 30 performs a process for storing content inspection data.例文帳に追加

審査支払機関端末３０から再審査結果を受信したレセプト点検支援システム２０の管理コンピュータ２１は、内容点検データを蓄積する処理を行なう。 - 特許庁

To provide a method of setting measurement and inspection conditions which enables setting of high-precision measurement and inspection conditions irrespective of process variations and to provide a computer program.例文帳に追加

本発明は、プロセス変動に依らず、高精度な測定，検査条件の設定を可能とする測定，検査条件設定方法、及びコンピュータプログラムの提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an elevator maintenance and inspection time operation device capable of simplifying a working process, maintaining attention of a maintenance and inspection worker and securing safety of work.例文帳に追加

作業工程が簡略化され、保守点検作業者の注意力が維持されるとともに作業の安全性が確保できるエレベータ保守点検時運転装置を得る。 - 特許庁

Inspection data for inspection the cream soldering print condition is created from process (manufacturing) data 2 for a metal mask used in printing cream soldering.例文帳に追加

クリームはんだを印刷する際に使用するメタルマスクの加工（製造）データ２からクリームはんだ印刷状態を検査するための検査データを作成するようにしたものである。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method capable of inspecting whether or not ions are injected to a desired position in an ion injection process by use of a stencil mask.例文帳に追加

ステンシルマスクを用いたイオン注入工程においても、所望の位置にイオンが注入されたか否かを検査できる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

A inspection information automatic composition server 17 makes printing process data, by executing automatic composition processing, by using the inspection information database 15 on the basis of the line unit template.例文帳に追加

検査情報自動組版サーバ１７は、行単位のテンプレートをもとに検査情報データベース１５を用いて自動組版処理を行い、印刷用の製版データを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a manufacturing method therefor, suitable for facilitating contact with an inspection pad in an inspection process.例文帳に追加

１つの実施形態は、例えば、検査工程における検査用パッドへのコンタクトを容易化することに適した半導体装置、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

As a result of the inspection, the inspection results are fed back to the following bundle in its process so that the stamping time and stamping interval by the stamper 113 can be adjusted, when the print density is low.例文帳に追加

検査の結果、印字濃度がうすい場合、次の束に対する処理に検査結果をフィードバックし、スタンパ１１３による押印時間や押印間隔を調整する。 - 特許庁

To improve the process rate (test speed) of wafer inspection.例文帳に追加

ウエハー検査の工程速度（検査スピード）を向上させることのできるウエハー表面照射装置及び方法の提供 - 特許庁

To simplify a process for inspecting a liquid crystal display panel, and to reduce a time required for inspection.例文帳に追加

液晶表示パネルの検査を行う際の工程を簡素化するとともに、検査に要する時間を短縮化する。 - 特許庁

To provide a superposition inspection system for making correction in an exposure process by leaf treating and improving precision.例文帳に追加

露光工程の補正の枚葉化と高精度化との双方を実現可能な重ね合わせ検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a waterless lithographic printing plate precursor with which plate inspection can be done without a dyeing process.例文帳に追加

染色工程を必要とせずに検版が可能である水なし平版印刷版原版を提供すること。 - 特許庁

In the system for visually inspecting liquid crystal substrates, visual inspection is performed after a film deposition process in the manufacture of liquid crystal substrates 5.例文帳に追加

液晶基板５の製造における製膜工程後の目視検査を行う液晶基板検査装置である。 - 特許庁

The inspection of a following wafer can be started without waiting for the finish of the review process.例文帳に追加

本発明によると、レビュー処理が終了するまで待つことなく次のウエハの検査を開始することができる。 - 特許庁

To speed up the transport and positioning of a work and to solve the problem to be solved in the inspection process of the work.例文帳に追加

ワークの移送、およびワークの位置決めを高速化し、ワークの検査工程での解決課題を解決する。 - 特許庁

To realize a nondestructive inspection method, capable of inspecting in a semiconductor manufacturing process before forming bonding pads and contributing cost cut, the production and reliability improvement of semiconductor devices.例文帳に追加

ボンディングパッド形成以前の半導体製造工程中で、検査可能な非破壊検査方法とする。 - 特許庁

Subsequently, when a defective is not discovered in a shipment inspection stage 22, the stage is transferred to a shipment process 30.例文帳に追加

その後、出荷検査段階２２において不良が発見されなかったときは、出荷工程３０へ移行する。 - 特許庁

LUBRICANT FILM-FORMING AGENT FOR PLASTIC WORKING OF METAL, METAL MATERIAL FOR PLASTIC WORKING OF METAL, AND ITS INSPECTION PROCESS例文帳に追加

金属塑性加工用潤滑皮膜形成剤、金属塑性加工用金属材料及びその検査方法 - 特許庁

To provide an array substrate wherein electrostatic destruction can be sufficiently suppressed and inspection in a manufacturing process can be easily performed.例文帳に追加

静電破壊を十分に抑止することができ、製造工程における検査が容易なアレイ基板を提供する。 - 特許庁

This manufacturing method of this assembly includes an airtightness inspection process of a motor housing 25 of an electric power steering device 1.例文帳に追加

本組立体の製造方法は、電動パワーステアリング装置１のモータハウジング２５の気密検査工程を含む。 - 特許庁

By mounting the lenses 4 on the glass substrate 2, positioning of the block is made easy and the inspection process can be simplified.例文帳に追加

このレンズ４をガラス基板２に設けたことにより、位置合わせを容易にし、検査工程を簡略化できる。 - 特許庁

A voltage monitor terminal 110 is provided in order to measure the reference voltage Vref in the inspection process.例文帳に追加

電圧モニタ端子１１０は、検査工程において基準電圧Ｖｒｅｆを測定するために設けられる。 - 特許庁

A process of inputting the inspection signal to a circuit block and initiating process operation and a process of outputting an output result from the circuit block to an output result obtaining part 60, are executed.例文帳に追加

これにより、回路ブロックに検査信号を入力してその処理動作を開始させる処理や、回路ブロックの出力結果を出力結果取得部６０に出力する処理が実行される。 - 特許庁

In the same way, a process correspondence confirming means 23 confirms the correspondence of the process of the message trace to be verified and the process of the inspection pattern based on the information inputted by the input device 1.例文帳に追加

同様にプロセス対応確認手段２３は、入力装置１から入力される情報を元にして検査対象メッセージトレースのプロセスと検査パターンのプロセスの対応の確認を行なう。 - 特許庁

This inspection method has a process S3 for extracting reference pattern information of an inspection object, a process S4 for forming a two-dimensional Fourier transform filter for canceling the reference pattern information based on the reference pattern information, and a process S5 for inspecting a defect pattern other than a reference pattern of the inspection object by using the two-dimensional Fourier transform filter.例文帳に追加

また、検査方法において、検査対象物の基準パターン情報を抽出する工程（Ｓ３）と、基準パターン情報に基づき、この基準パターン情報をキャンセリングする二次元フーリエ変換フィルタを形成する工程（Ｓ４）と、二次元フーリエ変換フィルタを使用し、検査対象物の基準パターン以外の欠陥パターンを検査する工程（Ｓ５）とを備える。 - 特許庁

The value of a photometer in a reaction process is measured in order to realize the inspection of an analytical inspection result and an analytical measurement result is inspected from the reaction process data due to the photometer and the state change of the operation state of the mechanism part or sub-system annexed to the reaction process.例文帳に追加

分析検査結果の検証を実現するために、反応過程における光度計の値を計測し、前記光度計による反応過程データと、前記反応過程に付随する機構部や或いはサブシステムの稼動状態の状態変化から分析測定結果を検証するものである。 - 特許庁

To reduce time required for entire inspection and to perform efficient inspection in a substrate-inspecting device with a process for detecting foreign objects adhering to a substrate and a process for detecting a make being provided on the substrate.例文帳に追加

基板に付着した異物を検出する工程と、基板に設けられたマークを検出する工程とを備える基板検査装置において、検査全体に要する時間を低減し、効率的な検査を行う基板検査装置を提供する。 - 特許庁