「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an efficient defect inspection device that does not require a preparation process for special region detection for an inspection object conveyed continuously in a manufacture line, and can greatly shorten an inspection time.例文帳に追加

製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。 - 特許庁

The matching process matches the position of the object to be inspected in the inspection image after the Gaussian filtering with the position of a standard inspection body in a standard image by checking the inspection image after the Gaussian filtration with the standard image.例文帳に追加

マッチング処理は、ガウスフィルタリング後の検査画像を基準画像と照合し、ガウスフィルタリング後の検査画像における被検査体の位置を基準画像における基準検査体の位置に位置合わせする。 - 特許庁

In a process for executing continuously the print inspection to a plurality of substrates, inspection execution control is performed, while it is determined whether an inspection object exists or not in each group on the basis of the execution data.例文帳に追加

複数の基板に対して印刷検査を連続実行する過程においては、実行用データに基づいて各グループについて検査対象か否かを判断しながら、検査実行制御を行う。 - 特許庁

The sensor is provided with a transmission unit for transmitting a signal to a receiver disposed outside the process apparatus during inspection of the inside of the process apparatus.例文帳に追加

センサは、プロセス装置の内部の検査をしている間、プロセス装置の外部に配置される受信機に信号を送信する送信機を備える。 - 特許庁

When the data of the normal lot relating information are obtained in the inspection process 17, a land record is prepared in a land record preparation process 18.例文帳に追加

検査工程１７で正常な筆関連情報のデータが得られたなら土地調書を土地調書作成工程１８で作成する。 - 特許庁

To provide a work apparatus in which a defective point found at inspection in the middle of a production process is easily identified in a post process.例文帳に追加

生産工程途中の検査で発見された不良箇所を、後の工程で容易に識別できるようにする加工装置を提供すること。 - 特許庁

When various processes such as adjustment process or inspection process are ended, the background color data in the background color specification data area are rewritten.例文帳に追加

調整工程や検査工程などの各種工程を終了したときに、背景色特定データ領域中の背景色データを書き換える。 - 特許庁

To provide a polishing apparatus, a washing apparatus and method, and a wafer saving program by which a wafer surface is prevented from oxidation and property change in respective processes of a polishing process, a carrying process after this, a washing process, a drying process, an inspection process, and a housing process of a wafer.例文帳に追加

ウェーハの研磨加工工程、その後の搬送工程、洗浄工程、乾燥工程、検査工程、収納工程等の各工程において、ウェーハ表面の酸化や改質を防止することが可能な研磨装置、洗浄装置、洗浄方法並びにウェーハ退避プログラムを提供する。 - 特許庁

The flaw detection method has the flaw emphasis processing process for performing flaw emphasis processing with respect to the picked up image of the inspection target and the flaw detection process for detecting the flaw of the inspection target on the basis of the respective pixels obtained in the flaw emphasis processing process.例文帳に追加

欠陥検出方法は、被検査物の撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、その工程で得られた各画素の欠陥強調値に基づいて欠陥を検出する欠陥検出工程を有する。 - 特許庁

Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process.例文帳に追加

アレイ工程でのアレイ検査において、ＴＦＴ基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁

The width of the dividing groove 5_nc is set smaller than the diameter of an inspection probe 7_n so as to prevent the inspection probe 7_n electrically connected to the inspection pad 5_n from entering the dividing groove 5_nc when an inspection process is carried out.例文帳に追加

また、分割溝５_ｎｃの幅は、検査時に検査用パッド５_ｎに電気的に接続される検査用プローブ７_ｎが分割溝５_ｎｃの間に入り込まないように、検査用プローブ７_ｎの直径よりも小さくなるように構成されている。 - 特許庁

In the inspection domain determination process, the second inspection electrode 3 to which the inspection reference voltage V_L is applied is moved to include all spots to be inspected of the insulator 11, and a domain where flashover is not generated is determined as an inspection domain.例文帳に追加

検査領域決定行程では、検査基準電圧Ｖ_Lを印加された第２検査電極３を絶縁碍子１１の検査を行うべき箇所が全て含まれるよう移動させ、フラッシュオーバーが発生しない領域が検査領域として決定される。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and surface inspection device capable of improving the accuracy for detecting a defect such as unevenness existing in a surface of an inspecting object without complicating the inspection process and the constitution of the inspection device.例文帳に追加

検査工程および検査装置の構成を複雑化させることなく、検査対象物の表面に存在する凹凸などの欠陥を検出する精度を向上させることができる表面検査方法および表面検査装置を提供する - 特許庁

To provide an inspection device of a glossy cylindrical surface capable of automatically inspecting the surface flaw of a product having the glossy cylindrical surface, increased in inspection precision and inspection speed and capable of performing inspection on the line of a mass-production process.例文帳に追加

光沢円筒面を有する製品の表面欠陥の自動的な検査が可能であり、検査精度及び検査速度が格段に高く、大量生産工程のオンライン上で行うことができる光沢円筒面検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a plasma display panel that includes an inspection process, which can feedback quickly the inspection result of a phosphor layer to a coating process of a phosphor material, and can determine the type of defects, and also, which is low in facility cost and running cost, and an inspection method and an inspection device for phosphor layer.例文帳に追加

蛍光体層の検査結果を速やかに蛍光体材料の被着工程にフィードバックできると共に、設備コスト及びランニングコストが低く、欠陥の種類の判別が可能な検査工程を有するプラズマディスプレイパネルの製造方法、並びに蛍光体層の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

The pseudo bonding inspection process includes a pair selection process for selecting combination of two substrates to be bonded, and a relative position calculation process for calculating a bonding position of the substrates to be bonded.例文帳に追加

擬似貼り合せ検査工程は、貼り合せる２枚の基板の組合せを選定するペア選定工程と、２枚の基板の貼り合せ位置を計算する相対位置計算工程とを含む。 - 特許庁

The threshold is determined based on the formula and is used as the threshold to threshold process the image for foreign matter inspection.例文帳に追加

この式に基づいて閾値を決めて、異物検査のための画像を２値化するための閾値として用いる。 - 特許庁

To provide a manufacturing process and an inspection method of an electronic device having a strip connection conductor.例文帳に追加

帯状の接続導体を有する電子装置の製造方法およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

The electrolytic capacitor 7, after undergoing the aging process, is inspected by an inspection means 5.例文帳に追加

エージング手段３によってエージング処理の施された電解コンデンサ７は、検査手段５によって検査される。 - 特許庁

A mask image is produced on the basis of each inspection target object itself during actual flaw inspecting process.例文帳に追加

マスク画像を，実際の欠陥検査処理の中で各検査対象物そのものに基づいて生成する。 - 特許庁

FABRICATING METHOD FOR FABRICATING APPARATUS FOR THIN SHEET GLASS, AND GLASS CASE FOR BLOOD INSPECTION USED FOR ELECTROPHORESIS PROCESS例文帳に追加

薄板ガラスの加工方法及び加工装置並びに電気泳動法に用いる血液検査用ガラスケース - 特許庁

To provide an improved method for protecting an electronic device of a tire from damaging, during a tire inspection process.例文帳に追加

タイヤ検査過程の間、損傷からタイヤ電子装置を保護するための改良した方法を提供する。 - 特許庁

The mask is inspected to create and analyze mask inspection data and to determine systematic mask error parameters (process 212).例文帳に追加

マスクを検査しマスク検査データを生成、分析し、系統的マスクエラーパラメータを決定する（工程２１２）。 - 特許庁

To provide a backup system which allows a backup power source to be electrically disconnected only in an inspection process.例文帳に追加

検査工程時のみにバックアップ電源を電気的に切り離すことができるバックアップシステムを提供する。 - 特許庁

STRUCTURE INSPECTION METHOD, PATTERN FORMING METHOD, PROCESS CONDITION DETERMINING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

構造検査方法、パターン形成方法、プロセス条件決定方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To efficiently carry out a display inspection during manufacturing process of a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の製造工程において表示検査を効率よく行うことができるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD OF ELECTRIC CIRCUIT FABRICATING PROCESS AND METHOD FOR FABRICATING ELECTRIC CIRCUIT例文帳に追加

半導体基板および電気回路製造プロセスの検査方法並びに電気回路装置の製造方法 - 特許庁

Repairing, remodeling and performance inspection are implemented in each production process of a product 2 comprising a storage medium 3.例文帳に追加

記憶媒体３を備える製品２の各生産工程では、修理や改造や性能検査が行われる。 - 特許庁

Further, at the time of the compression process, leak inspection is also carried out based on a vacuum degree of the cell laminated body 3.例文帳に追加

また、この圧縮工程の際、セル積層体３の真空度に基づいてリーク検査も実施する。 - 特許庁

Then in the inspection process, an alligator clip short-circuits both the wires 13, 14 placed in parallel on the opening 12.例文帳に追加

そして、検査工程では、開口部１２に並設された両線１３，１４をワニ口クリップでショートする。 - 特許庁

To shorten the periodical inspection process of a refrigerating machine for a cooling water system for ventilation and air conditioning.例文帳に追加

本発明は、換気空調冷却水系冷凍機の定期工程を短縮させることを目的とする。 - 特許庁

Then, the inspection result or judgement is transferred to a device for a downstream process of the paste applicator apparatus by communication.例文帳に追加

そして、これら検査結果や判定結果はペースト塗布機の下流工程の装置に通信で送られる。 - 特許庁

To process a copper processed wafer and a non-copper processed wafer using an electron beam inspection apparatus, without copper contamination.例文帳に追加

ウェーハへの銅汚染なく銅プロセスウェーハと非銅プロセスウェーハを１台の電子線検査装置で処理する。 - 特許庁

A method of manufacturing an optical flat plate member includes a product molding process S200 of molding a light diffusion plate and a product inspection process S300 of inspecting an optical property of the light diffusion plate molded by the product molding process using an inspection device including an inspection light source and an imaging device on the basis of an evaluation criterion obtained in advance.例文帳に追加

光拡散板を成形する製品成形工程Ｓ２００と、製品成形工程により成形された光拡散板の光学特性を予め取得した評価基準に基づいて、検査用光源および撮像装置を備える検査装置を用いて検査する製品検査工程Ｓ３００とを備えている。 - 特許庁

This inspection device writes inspection executing information in a FLASH ROM 17 in a process of manufacturing and inspecting an electronic control device 15 with built-in FLASH ROM 17, and confirms an inspection executing state of a pre-process by reading out the information in the FLASH ROM 17 in a post-process thereafter.例文帳に追加

検査装置は、ＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内蔵の電子制御装置１５を製造し検査する工程で検査実施情報をＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内に書き込んで、この後の後工程でそのＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内の情報を読み出すことにより前工程の検査実施状況を確認する。 - 特許庁

Quality information showing the result of the inspection process is associated with processed information which is a manufacturing parameter for each manufacturing process, so as to make tied data (S2).例文帳に追加

検査工程の検査結果を表す品質情報と各製造工程毎の製造パラメータである加工情報とを関連付けて紐付けデータとする（Ｓ２）。 - 特許庁

An inspection unit 30 is provided between a coating processing unit 10 which performs a resist coating process to the substrate and a development processing unit 20 which performs a development process.例文帳に追加

基板に対してレジスト塗布処理を行う塗布処理ユニット１０と現像処理を行う現像処理ユニット２０との間に検査ユニット３０を設ける。 - 特許庁

A scanner 2 is disposed between an inspection process 1 and an assembly process 3, and imaging data on a surface of a wafer (W) obtained by the scanner 2 is supplied to a data processor 4.例文帳に追加

検査工程１と組立て工程３の間にスキャナ２を配置し、スキャナ２で得たウェハ（Ｗ）表面の画像データをデータ処理装置４に供給する。 - 特許庁

As a result, the inspection process 100 can detect fault generated caused by the partitioning process 99, so that a high quality module is realizable.例文帳に追加

従って、分割工程９９が原因となって発生する不具合を検査工程１００で検出できるので、高品質なモジュールを実現することができる。 - 特許庁

In a stress impression process S5, a second reverse bias voltage higher than the first reverse bias voltage impressed in the first leak inspection process S4 is impressed.例文帳に追加

ストレス印加工程Ｓ５は、第１のリーク検査工程Ｓ４により印加された前記第１の逆バイアス電圧以上の第２の逆バイアス電圧を印加する。 - 特許庁

To simplify a line and reduce the cost of device by performing a residual pressure inspection process and a additional tightening process by one device of which the device parts are commonly owned.例文帳に追加

残圧検査工程と増し締め工程とを、装置部品を共有化した１つの装置で実施し、ラインの簡素化および装置コストの低減を図る。 - 特許庁

NG surface information obtained in the defect inspection process of a magnetic disk substrate is drawn onto the magnetic disk substrate to be discriminated in a subsequent film-forming process.例文帳に追加

磁気ディスク基板の欠陥検査工程で得られたＮＧ面情報を磁気ディスク基板に描画して後の成膜工程で判別できるようにする。 - 特許庁

The manufacture and inspection server 100 carries out a process to connect the input nonconformity data and its nonconformity causing process to each other, and the analysis server 120 accumulates the various quality information of the manufacture and inspection server 100.例文帳に追加

製造・検査サーバー１００は入力された不具合データとその不具合の発生工程とを結び付ける処理を行い、解析サーバー１２０は製造・検査サーバー１００の各種品質情報を蓄積する。 - 特許庁

To provide a visual inspection system for a semiconductor capable of specifying the flaw having increased or disappeared before and after a predetermined process of a semiconductor manufacturing process; a visual inspection method; and a semiconductor manufacturing apparatus.例文帳に追加

半導体製造工程の所定の工程の前後で増加又は消失した欠陥を特定することが可能な半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

A molding process for molding the glass lump 101, having the surface containing the curved surface, and an inspection process for inspecting the internal quality of the glass lump 101 by transmitting the inspection light through the glass lump 101 are provided.例文帳に追加

曲面を含む表面を有するガラス塊１０１を成形する成形工程と、ガラス塊１０１内に検査光を透過させてガラス塊１０１の内部品質を検査する検査工程とを有する。 - 特許庁