「MICRO PROBE」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MICRO-AREA SCANNING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微小領域走査装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a level adjustment member that prevents the configuration of a probe card from damaging in the processes to assemble a probe substrate and a micro-probe substrate and adjust the levelness of the micro-probe substrate and improves the efficiency of assembling the probe substrate and the micro-probe substrate and the efficiency of adjusting the level of the micro-probe substrate, and to provide a probe card including the level adjustment member.例文帳に追加

プローブ基板とマイクロプローブ基板の組立及び前記マイクロプローブ基板の水平度を調節する過程で、プローブカードの構成の損傷を防止し、また、プローブ基板とマイクロプローブ基板の組立効率及び前記マイクロプローブ基板の水平度調節効率を向上させた水平度調節部材及びそれを備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

電子線プローブマイクロＸ線分析方法、及びその装置 - 特許庁

A micro-structure of a four-probe type atomic force probe (4PAFM probe) manufactured on the basis of a conventional AFM probe is schematically shown.例文帳に追加

従来のＡＦＭプローブを基にして作製された、４探針型原子間力プローブ（４ＰＡＦＭプローブ）のミクロ構造を模式的に示す。 - 特許庁

MEDICAL MICRO ULTRASONIC OCT PROBE USED THROUGH ENDOSCOPE例文帳に追加

内視鏡を介する医療用マイクロ超音波−ＯＣＴプローブ - 特許庁

The Micro Electro Mechanic System (MEMS) probe is produced on the substrate in order to be used for probe cards.例文帳に追加

マイクロ電子機械システム（ＭＥＭＳ）プローブはプローブカードに用いるために基材上に作製される。 - 特許庁

To provide a micro wave microscope probe which can make a quantitative measurement.例文帳に追加

従来のマイクロ波顕微鏡プローブでは定量的測定ができない。 - 特許庁

Tungsten is not identified by X-ray diffraction, but the quantity is confirmed by the electro probe micro-analyser (EPMA).例文帳に追加

WはX線回折には同定されず、EPMAにより量が確認できる。 - 特許庁

THIN-FILM CIRCUIT CARRYING MICRO MACHINE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND APPLICATION THEREFOR例文帳に追加

マイクロマシンプローブを搭載した薄膜回路及びその製造法と応用 - 特許庁

A micro-pipet probe 12, the tip of which is opened, is used as the probe of the scan type shear force microscope.例文帳に追加

走査型シェアフォース顕微鏡のプローブとして，先端が開口したマイクロピペットプローブ１２を用いる。 - 特許庁

PROBE IMMOBILIZING GEL HOLDING MICRO-ARRAY AND SPECIMEN DETECTION METHOD USING IT例文帳に追加

プローブ固定化ゲル保持マイクロアレイ及びこれを用いた検体検出方法 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析装置 - 特許庁

This fit-in type micro touch unit is manufactured by a micro mechano-electric process, and includes an arm 41 and a probe tip end part 43.例文帳に追加

マイクロ機電工程により製作され、かつアーム４１とプローブ尖端部４３と嵌入部４５とを備える。 - 特許庁

SHAPE MEASURING INSTRUMENT OF THREE-DIMENSIONAL COORDINATE MEASURING TYPE USING MICRO METALLIC PROBE BALL例文帳に追加

微小金属プローブ球を用いた三次元座標測定式形状測定器 - 特許庁

MICRO SCANNING OPTICAL PROBE PERFORMING OPTICAL DISTORTION CORRECTION AND ROTATION CONTROL例文帳に追加

光学歪の矯正および回転の制御を行う超小型走査光プローブ - 特許庁

The micro sample prepared by ion beam 104 processing is picked out with a probe 28, a voltage is impressed, under this condition, between the probe 128 and the micro sample holder 138 by a probe electrification circuit 139.例文帳に追加

イオンビーム１０４加工により作製した微小試料をプローブ１２８で摘出し、その状態でプローブ通電回路１３９によりプローブ１２８と微小試料ホルダ１３８間に電圧を印加する。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

To provide a probe and a method for manufacturing the probe that can improve the binding force between a probe body and a micro cantilever and can form the micro cantilever overhung from the probe body into a desired shape and desired dimensions.例文帳に追加

プローブ本体と微小カンチレバーとの間の結合力を向上させることができるとともに、プローブ本体からオーバーハングした微小カンチレバーを所望の形状や寸法に形成することができるプローブおよびプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

MEMBRANE TYPE PROBE DEVICE, HIGH PURITY TUNGSTEN MICRO BALL USED FOR IT, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

メンブレン型プローブ装置及びそれに用いる高純度タングステンマイクロボールとその製造方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING MINUTE FORCE, AND PROBE FOR MEASURING MICRO SURFACE PROFILE例文帳に追加

微小力測定装置、微小力測定方法及び微小表面形状測定プローブ - 特許庁

After the micro sample 1 is taken out by the probe, the low-vibration stepping motor is rotated to rotate the whole probe holding tool.例文帳に追加

プローブにより微小試料１を取り出した後、低振動ステッピングモータを回転させてプローブ保持具全体を回転させる。 - 特許庁

To realize a manufacturing method for a plane type probe having a micro opening smaller than that in a conventional plane type probe.例文帳に追加

従来の平面型プローブにおけるよりも更に小さい微小開口を持つ平面型プローブの製造方法を実現する - 特許庁

In a probe 1, a probe body 2 and a micro cantilever 3 are integrally formed by a single plating process.例文帳に追加

本発明のプローブ１においては、プローブ本体２および微小カンチレバー３が１回のめっき処理により一体形成される。 - 特許庁

The sampling and heating of micro-foreign matters can be performed by the same probe by providing a local heating mechanism to the leading end part of the probe for sampling the micro-foreign matters of several μm.例文帳に追加

数μｍの微小異物の採取用プローブ先端部に局所加熱機構を持たせることにより、微小異物の採取と異物の加熱が同一のプローブで行うことが可能となる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a high purity tungsten micro ball rationalized in polishing method without damaging the accuracy and causing breakage, and to provide the high purity tungsten micro ball manufactured by this manufacturing method, and a probe using this micro probe.例文帳に追加

精度を損なわず且つ破損などの無い研磨方法の適正化が図られた高純度タングステンマイクロボールの製造方法と、それにより製造された高純度タングステンマイクロボールとをれを用いたプローブとを提供すること。 - 特許庁

Then, the probe 129 is moved to take out a micro-sample 127 from the slider 107.例文帳に追加

そして、プローブ１２９を移動することにより、微小サンプル１２７をスライダ１０７から取り出す。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

To provide a high-speed high-resolution micro-area scanning device used in a scanning probe microscope SPM.例文帳に追加

ＳＰＭで用いられる、高速、高分解能の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly efficient semiconductor near field probe in which the focal point of a micro lens accurately coincides with the near field light probe.例文帳に追加

本発明は、マイクロレンズの焦点位置と近接場光プローブとを精密に一致させた高効率半導体近接場プローブを提供する。 - 特許庁

This planar type probe provided with a probe main body 30 having a micro openings 33 on its surface, and for generating near-field light in the vicinity of the micro openings 33 is provided with a translucent protection film 20 allowing light transmission in a form covering the surface of probe main body 30 including the micro openings 33.例文帳に追加

表面に微小開口３３を有するプローブ本体３０を備え、該微小開口３３の近傍で近接場光を発生させる平面型プローブにおいて、微小開口３３を含むプローブ本体３０の表面を覆う態様で、光の通過を許容する透光性保護膜２０を備えたものである。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

In a measurement of a micro high-aspect-ratio pattern using an elongated probe, when the probe sticks to a sidewall of the pattern, touch of the probe and the sidewall is detected and contact force between the probe and an object is temporarily increased so that the probe reaches the bottom of the sidewall.例文帳に追加

細長探針を用いた微細な高アスペクト比パターンの測定において、探針がパターンの側壁に吸着された場合、探針のパターン側壁への吸着を検知し、探針−試料間の接触力を一時的に増加させることによって、探針を側壁の底まで到達させる。 - 特許庁

The primer preferably has a complemental part toward the short chain probe fixed on the micro-array.例文帳に追加

該プライマーはマイクロアレイ上に固定化されている短鎖のプローブに対し、相補な部分を有することが好ましい。 - 特許庁

Following to the displacement of the measurement head 46, the measurement probe 98 of the micro gauge 50 displaces, and the amount of this displacement is indicated as the displacement of the indication pointer of the micro-gauge 50.例文帳に追加

この測定子４６の変位に追従してマイクロゲージ５０の測定芯９８が変位し、その変位量は、マイクロゲージ５０の指針の変化量として表示される。 - 特許庁

To provide a probe for a microscope capable of simultaneously a shape of a sample surface and a plurality of physical properties in a micro region, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能である顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A probe to be inserted into a patient's body includes a sensor, a micro-circuit storing a first calibration data on the sensor, and a first connector located at the proximal end of the probe.例文帳に追加

患者の体内に挿入するプローブは、センサーと、センサーに関する第１較正データを格納するマイクロ回路と、プローブの近位端にある第１コネクターとを含む。 - 特許庁

To provide a probe film for a probe block and a manufacturing method of the probe film, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるプローブブロック用プローブフィルム、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

A measurement sensor 11 including a micro loop antenna, a magnetic field probe, or the like is disposed along the ground wire 5 in the vicinity thereof.例文帳に追加

微小ループアンテナや磁界プローブなどからなる測定センサ１１は、接地線５に沿ってその近傍に配置される。 - 特許庁

The tip center of the probe is easily located and a processed location is determined by wholly tilting a micro cantilever 6.例文帳に追加

マイクロカンチレバー６全体を傾斜させることで、探針先端中心を判別しやすくして加工位置の決定をする。 - 特許庁

To provide a micro probe that can satisfy both of size reduction and service life, in a contact probe for inspecting a circuit pattern made fine.例文帳に追加

微細化された回路パターンを検査するためのコンタクトプローブにおいて、微細な探針を持たせることができ、小形化と耐用寿命との両方を満足させることができるようにする。 - 特許庁

The probe is used by providing a part of an insulating material which is brought into contact with a circuit such as an RF micro-strip conveying the RF signal to be monitored and surrounds the probe conductor.例文帳に追加

プローブは、モニタされるＲＦ信号を運ぶＲＦマイクロストリップのような回路と接触してプローブ導体を取り巻く絶縁材料の一部を設けることにより使用される。 - 特許庁

To provide a probe for measuring micro surface profile capable of finely adjusting the contact pressure better than before.例文帳に追加

プローブと被測定物との接触圧を従来よりもさらに微小に調整できる微小表面形状測定プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card and an inspection device for inspecting precisely a microstructure having a micro moving part by a simple system.例文帳に追加

簡易な方式で微小な可動部を有する微小構造体を精度よく検査するプローブカードおよび検査装置を提供する。 - 特許庁