「plate inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect inspection method of the polarizing plate with the separate film which uses transmission light of a polarizing plate with the use of a light source arranged in one side of the polarizing plate and a camera arranged in the other side thereof adjusts a light-receiving direction of the camera and a position of the light source so as to prevent the transmission light from the light source from directly entering into the camera.例文帳に追加

偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、光源からの透過光が直接カメラに入射しないようにカメラの受光方向と光源の位置を調整する。 - 特許庁

The polarizing plate bonding precision inspection method includes: an observation step in which all four corners of the polarizing plate 3 bonded to the liquid crystal panel 2 are observed; and a computation step in which observation data obtained in the observation step are used to compute the misalignment amount, size, and perpendicularity of the polarizing plate 3.例文帳に追加

本発明に係る偏光板の貼合精度検査方法は、液晶パネル２に貼合された偏光板３の四隅の全てを観察する観察工程と、上記観察工程で得られた観察データを用いて、偏光板３の貼合ズレ量、寸法および直角度を算出する演算工程とを含む。 - 特許庁

The plate inspection apparatus 101 carries out steps of converting the division plate data of arbitral two colors into a RGB image (step 201 and step 202), subjecting the data to gray scale conversion (step 203), to binarizing process (step 204) and AND process (step 205) to extract an overlapped part of the division plate data, and enhancing the overlapped part (step 206).例文帳に追加

検版装置１０１は、任意の２色の分版データをＲＧＢ画像に変換し（ステップ２０１、ステップ２０２）、グレイスケール変換（ステップ２０３）、二値化処理（ステップ２０４）及びＡＮＤ処理（ステップ２０５）を経て、分版データの重複部分を抽出し、当該重複部分を強調処理する（ステップ２０６）。 - 特許庁

In this edge part inspection method for checking whether the harmful flaw capable of being the cause of damage is present in the edge part of the rectangular plate glass 1, only the plate glass 1 having the harmful flaw is damaged by producing bending deformation in the end part of the plate glass 1 containing an edge face so as to curve the edge face of the side 2 to be checked out of the plate glass 1 to be sorted.例文帳に追加

矩形の板ガラス１の端部に破損原因となり得る有害な欠陥が存在するか否かを検査する端部検査方法であって、板ガラス１の検査対象となる辺２の端面が湾曲するように、端面を含む端部に曲げ変形を生じさせることにより、板ガラス１の中から有害な欠陥を有するもののみを破損させて選別する。 - 特許庁

In the inspection method of the electrode plate for a secondary battery, a porous insulating layer 3 formed on the electrode plate 1 is inspected, wherein a current flowing in accordance with application of a voltage for inspection is measured while applying a voltage on the porous insulating layer 3, and defect resulting in internal short circuit of the electrode plate 1 is determined by comparing with a previously set current.例文帳に追加

上記従来の課題を解決するために本発明の二次電池用電極板の検査方法は、電極板１上に形成された多孔性絶縁層３の検査方法であって、前記多孔性絶縁層３に電圧を印加しながら前記検査用電圧の印加に伴って流れる電流を測定し、予め設定した電流と比較して電極板１の内部短絡につながる欠陥の判定をすることを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide an engine hood and a platform plate of a work machine capable of saving a space required for installing a machine body and ensuring excellent heat exhaust property of the work machine while improving access property at inspection time by a simple configuration.例文帳に追加

作業機械のエンジンフード及び作業機械のプラットフォームプレートに関し、簡素な構成で、点検時のアクセス性を向上させつつ機体の省スペース性及び排熱性を確保する。 - 特許庁

To discover properly an irregular defect or the like formed on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the result properly onto a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To observe a substrate with high accuracy, using a compact constitution, even if a thin plate-like substrate that is easily apt to produce warpages or vibrations is used as a specimen, in a substrate inspection device.例文帳に追加

基板検査装置において、たわみや振動が発生しやすい薄板状の基板を被検体としても、コンパクトな構成で高精度な観察を行うことができるようにする。 - 特許庁

A controlling unit 92 inspects defective in sealing of the article X1 based on the result of inspection in a pressure sensor 65 fitted to a hanging part of the holding plate 64a.例文帳に追加

コントロールユニット９２が、保持プレート６４ａの吊り下げ部分に取り付けられた圧力センサ６５における検出結果に基づいて物品Ｘ１のシール不良の検査を行う。 - 特許庁

A PC card connector 2 is placed on an inspection stage 1, and a light diffusing member 3 is raised so that a flat plate part 7 is inserted between the molded part 5 and lead terminal part 6 of the PC card connector 2.例文帳に追加

検査ステージ１にＰＣカードコネクタ２を載置し、光拡散部材３を上昇させて平板部７をＰＣカードコネクタ２のモールド部５とリード端子部６の間に挿入する。 - 特許庁

An inspection plate is vacuum-sucked on the work holding surface of the work holding board for polishing which has a plurality of through holes for holding a work by vacuum suction, and irradiated with arbitrary light.例文帳に追加

ワークを真空吸着保持するための複数の貫通孔を有する研磨用ワーク保持盤のワーク保持面に検査板を真空吸着させ、任意の光を検査板に照射する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and a surface detect inspecting apparatus of a plate that can also detect hairline-like, shallow scratches existing in the radial shape from the focus of a camera.例文帳に追加

カメラの焦点から放射状に存在するヘアライン状の浅い疵をも検出できる板材の表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A method is provided for completing a liquid crystal cell, in which a bonding process, a liquid crystal injection processing, a sealing processing, a foreign matter inspection processing and a polarizing plate attachment processing are carried out, after manufacturing a TFT and a color filter.例文帳に追加

ＴＦＴとカラーフィルタとを製造した後、貼り合わせ処理、液晶注入処理、封止処理、異物検査処理、偏光板貼り付け処理を行って液晶セルを完成させる。 - 特許庁

The pair of light sources 228 are constituted so as to emit the inspection light with which the image of the inspecting object section of the plate 11 of erased appearance aspect is acquired by the image acquisition section 229.例文帳に追加

一対の光源２２８は、画像取得部２２９で外観態様が消去された平板１１の被検査部の画像が取得される検査光を出射するように構成されている。 - 特許庁

On a non-lighting inspection part 10, a spot position is determined by illuminating the liquid crystal panel with backlight and imaging the liquid crystal panel while applying no voltage to the liquid crystal panel without the polarizing plate.例文帳に追加

非点灯検査部１０では、偏光板が無い状態の液晶パネルに電圧を印加しない状態で、バックライトで照明して液晶パネルを撮像して輝点位置を求める。 - 特許庁

The operator operates the control lever 33a or 33b, and puts on or takes up the inspection object such as the glass mask plate 91 when the upper and lower rollers are at the upper position.例文帳に追加

オペレータは、操作レバー３３ａおよび３３ｂを操作して上下ローラ３４が上方位置にある場合に、ガラスマスク板９１などの検査対象物の載置および取り上げ作業を行う。 - 特許庁

The illumination light emitted from the light emitting diode group 68 or 70 is diffused by a diffusion plate 74 or 78 to irradiate a contact lens 50 being an inspection target.例文帳に追加

それぞれの発光ダイオード群６８または７０から発せられた照明光は、拡散板７４または７８によって拡散されてから、検査対象物であるコンタクトレンズ５０に照射される。 - 特許庁

To minimize necessary space for temporarily placing an escalator platform plate provided in an escalator platform and sufficiently secure a passage for pedestrians when carrying out maintenance inspection of an escalator facility.例文帳に追加

エスカレータ乗降場に設けられたエスカレータ乗降板の仮置きに必要なスペースを最小限にして、エスカレータ設備の保守点検を行うとき、歩行者の通路を十分に確保させる。 - 特許庁

A lifting body 36 is arranged via a lifting means 31 at a part facing visual observation inspection parts A and B, arranged on the side of a carrying passage in the carrying passage 1 of plate-like bodies Ga and Gb.例文帳に追加

板状体Ｇａ，Ｇｂの搬送経路１中で、搬送経路の側方に設けた目視検査部Ａ，Ｂに対向する部分に、昇降手段３１を介して昇降体３６を設けた。 - 特許庁

To provide a wiring board 20 having good workability even when adopting a continuity inspection unit 10 in the form of inserting and extracting a connector into/from a wiring plate 22 in the perpendicular direction.例文帳に追加

コネクタを布線板２２に対して直交する方向に挿抜する形式の導通検査ユニット１０を採用した場合においても作業性のよい布線台２０を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector capable of detecting a flaw or measuring plate thickness by transmitting and receiving transversal ultrasonic waves having a low frequency to/from the inside of an inspection object material by using a low-viscosity couplant.例文帳に追加

低粘性のカプラントを使用して、低周波の横波超音波を被検査材内部に送受信し探傷または板厚測定が可能な超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

A FOUP 1 fixed no a kinematic plate 15 of a FOUP inspection device 14 is evacuated to a slight negative pressure, and simultaneously the change in pressure is measured by a pressure gauge 19.例文帳に追加

ＦＯＵＰ検査装置１４のキネマティックプレート１５上に固定したＦＯＵＰ１の内部を微陰圧に真空引きし、同時に圧力の変化を圧力計１９によって測定する。 - 特許庁

To ensure the easy inspection of printing plate quality without lowering productivity and at the same time, the capability of easily seeking printing conditions when these conditions have to be changed.例文帳に追加

生産性を低下させることなく、刷版品質を容易に検査することができるとともに、印刷条件を変更しなければならない場合の印刷条件を容易に求めることができる。 - 特許庁

The partitioning plate 25 of the lower unit 100, 11 is provided with an inspection window portion 147 for visually confirming an engagement part of the upper unit side engagement portion 145 and the lower unit side engagement portion 146 from the indoor side.例文帳に追加

上記下部ユニット（100,11）の仕切板（25）には、上記上部ユニット側係合部（145）と下部ユニット側係合部（146）との係合部分を室内側から視認可能な覗き窓部（147）を設ける。 - 特許庁

The brightness of the linear lower light source 4 can be uniformed in the plate width direction, and the brightness can be extremely increased, so that accurate inspection is allowed even in the bad environment.例文帳に追加

線状下部光源４の輝度を板幅方向に均一とすることができ、しかも非常に高輝度とすることができるので、悪環境下においても精度のよい検査が可能となる。 - 特許庁

The plate-like bodies carried on the carrying passage can be inclined and lifted only by operation of the rocking body so that the structure can be simplified, and the inspection work can be performed efficiently.例文帳に追加

搬送経路上で搬送してきた板状体を、揺動体の動作のみにより傾斜ならびに上昇できることで、構造を簡単にでき、検査作業を能率的に行える。 - 特許庁

Further, the contrast inspection method adjusts a rotational angle x and a rotational angle y of the liquid crystal panel 10 and a rotational angle θ of the phase difference compensation plate 60 such that the illumination information of the light receiver 80 becomes the maximum value.例文帳に追加

そして、受光部８０の照度情報が最大値となるように、液晶パネル１０の回転角ｘ、回転角ｙ、位相差補償板６０の回転角θを調整する。 - 特許庁

An inspection jig 200 comprises a fixing base 210 to fix an apparatus module 1', and an electrode connection plate 220 connected to input electrodes 31 and 32 of the apparatus module 1'.例文帳に追加

検査治具２００は、装置モジュール１´を固定する固定台２１０と、装置モジュール１´の入力電極３１，３２に接続する電極接続板２２０とによって構成される。 - 特許庁

To suppress interference between a substrate and a substrate holding member and a supporting plate when the substrate is transferred by a substrate transferring means by canceling the individual difference by correcting teaching data obtained by vidual inspection.例文帳に追加

目視で取得するティーチングデータを補正して個人差を解消し、基板搬送手段による基板搬送時の基板と基板保持部材及び基板支持プレートの干渉を抑制する。 - 特許庁

The case 2, the upper cover plate 5 and an air cylinder 4 are used in common for another conduction inspection tool 61 which accommodates a connector mounting part 47 to which a connector 25 is inserted longitudinally, within the case 2.例文帳に追加

コネクタ２５を縦挿入するコネクタ装着部４７をケース２内に収容した他の導通検査治具６１に対してケース２と上部蓋板５とエアシリンダ４を共通使用した。 - 特許庁

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

This technique is to create Raster Image Processor (RIP) development data Compact Discs (CDs) 2, 3 for inspection developed under the same developing conditions from two print image data created in different processes during plate making process, and then obtain the inspection results by comparing these data CDs 2, 3.例文帳に追加

製版工程の中の異なる工程で作成された２つの印刷物画像データから、同一のＲＩＰ展開条件で展開された検版用ＲＩＰ展開データＣＤ２，ＣＤ３を作成し、これらのデータＣＤ２，ＣＤ３を比較することによって検版結果を得る。 - 特許庁

To provide a mark erasing device for freely erasing unnecessary displays in a preceding process in a continuous production line or an inspection line even in the case of erroneously displaying caused by the defects of a steel plate inspection device or the like to improve the production efficiency.例文帳に追加

本発明は、鋼板の検査装置等の不具合によって誤って表示を付した場合でも連続生産ラインや検査ライン等の前工程で自由に不要な表示を消去でき、生産効率の向上が期待できるマーク消去装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A conductive part 13 for electrically connecting a plurality of tester chips 12 with a plurality of contact elements 10 for transmitting and receiving an inspection electrical signal with a wafer W is provided on an elastic contact supporting plate 11 for supporting the plurality of contact elements 10 contacted with the wafer W during the inspection.例文帳に追加

検査時にウェハＷに接触する複数の接触子１０を支持する、弾性を備えた接触子支持板１１上に、ウェハＷとの間で検査用の電気信号を送受信する複数のテスタチップ１２と接触子１０とを電気的に接続する導電部１３が設けられている。 - 特許庁

The defect inspection method comprises steps of: transmitting at least two inspection light beams 8 for illumination through first and second light transmitting parts having the same phase of the phase shift mask; again transmitting the light beams through the light transmitting parts by a reflection plate 3; and comparing the intensities of the reflection light beams 9 to inspect the defect of the phase shift mask.例文帳に追加

少なくとも２つの検査照明光８を位相シフトマスクの位相が等しい第１、第２の光透過部を透過させ、反射板３で再度光透過部を透過させ、それらの反射光９の光強度を比較して、その強度差により位相シフトマスクの欠陥検査を行う。 - 特許庁

Further, the fixing jig 50 for the meter inspection tool is prevented from coming off even when upward force acts on the fixing jig 50 for the meter inspection tool, because a mounting adaptor 51 and a casting upper case 15 of the city water meter 10 are clamped between an outer fitting ring 60 and a locking plate 77, from both upper and under directions.例文帳に追加

しかも、載置アダプタ５１と水道メータ１０の鋳物上ケース１５とが外嵌リング６０と係止板７７との間で上下方向で挟持されるから、メータ検査器固定治具５０に上向きの力が働いても水道メータ１０から脱落することが防がれる。 - 特許庁

Thus, since the fences are formed without removing the boarding plate main body 11 from the floor surface and by keeping both sides open, the necessity of carrying in or removing external inspection fences is eliminated, and the inspection/repairing of the man conveyor is efficiently executed.例文帳に追加

これにより、乗降板本体を床面から取り外すことなく、両側に開いて立てることにより柵を形成することができるので、点検柵を外部から搬入したり撤収する手間が不要となり、マンコンベアの点検・修理を効率よく実施することができる。 - 特許庁

To reduce calculation time for measurement values (inspection values), measure and inspect quickly and accurately, reduce heat generation from a lighting device, reduce power consumption, reduce the thickness, size, and weight of a surface plate, and allow easy measurement and inspection by preventing flicker and glare.例文帳に追加

測定値（検査値）の演算時間を短縮化し、迅速に且つ精度良く測定、検査でき、また照明装置からの発熱を抑え、消費電力を低減でき、定盤を薄型化、小型化、軽量化でき、更にはちらつきや眩しさを防いで測定や検査を容易にできるようにする。 - 特許庁

In an inspection tool 1 for electric inspection on a printed wiring board etc., an electrode part 40 has an electrode 41 arranged on a surface of an electrode plate 42, and a contact piece 10 comprises a conductive contact stylus 11, a compression coil spring 12, and a relay member 13 and is coaxially arranged during use.例文帳に追加

プリント配線板などの電気検査のための検査治具１において、電極部４０は電極４１を電極板４２の表面に配設されてなり、接触子１０は導電性の接触針１１、圧縮コイルばね１２、中継部材１３からなり、同軸に配置して使用される。 - 特許庁

To provide a release film in which detection of defects, foreign substances, or the like is carried out with high accuracy in a visual inspection by a cross-Nicol method, one of the inspection methods of a polarizing plate, and which is not easily scratched in the production process of the release film or the process in which the release film is used.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrophoretic front plate inspection device and its inspection method that display an abnormal response defect, wherein driving speed is different from the surroundings more clearly, imaging the display, and accurately extracting the abnormal response defect included as local unevenness in the imaged image.例文帳に追加

周囲と駆動速度の異なる応答異常欠陥をよりはっきり表示させ、その表示を撮像し、撮像画像内において局所的なムラとして含まれる応答異常欠陥を高精度に抽出するための電気泳動型前面板検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Wiring layers 31 and 34 are formed on the electronic component 41 and the plate-like integrated frame 51, respectively; the electrical resistance is measured using the wiring layer 34 formed on the plate-like integrated frame 51 as an inspection electrode, for conductive inspection; and based on the result, the electrical state of connection between the electric component 41 and the wiring layer 31 is determined.例文帳に追加

電子部品４１上、及び板状一体枠５１上には、それぞれ配線層３１，３４が形成されており、板状一体枠５１上に形成された配線層３４を検査用電極として電気抵抗を測定することにより、その導通検査を行い、さらに、その結果に基づいて、電子部品４１と配線層３１との電気的な接続状態を判定することができる。 - 特許庁

This earthquake sensing device comprises a checking window 14 at a position facing to a reset button 12 in the upper surface of an outer cover 13, a transparent plate 15 for covering the inspection hole 14, a plurality of projecting bodies 17 outside the inspection hole 14, and a plurality of engaging holes 16 removably engageable with the projecting bodies 17 in the transparent plate 15.例文帳に追加

外カバー１３の上面に復帰釦１２に対向する位置に点検用窓１４と、この点検用窓１４を覆う透明プレート１５とを設けるとともに、点検用窓１４の外方に複数個の突出体１７を設け、この突出体１７が脱着自在に嵌合可能とした嵌合穴１６を透明プレート１５に複数個設ける構成とすることにより達成される。 - 特許庁

While taking account of a case where short circuit takes place between the cavity plate 62 and the inspection region 52 due to some cause, an operation for eliminating short circuit by separating a capping member 41 temporarily from the print head 24 to increase relative distance of the nozzle plate 27 and the inspection region 52 is performed when a voltage Vsu detected actually by a voltmeter 58 is less than a detection tolerance level.例文帳に追加

ここでは、キャビティプレート６２と検査領域５２とが何らかの理由で短絡した場合をも考慮し、電圧計５８によって検出された実測電圧Ｖｓｕが検査許容範囲を下回るときには、キャッピング部材４１を印刷ヘッド２４から一旦離間させてノズルプレート２７と検査領域５２との相対距離を大きくし、この短絡を解消させる操作を行う。 - 特許庁

The inspection apparatus, having a performance substrate on which inspection terminals are mounted; a contactor substrate on which a probe to make contact with the work piece for inspection is mounted; and the probe card, interposed between the probe of the contactor substrate and the terminals of the performance substrate, wherein the probe card comprises a multilayered substrate formed by laminating a thin film of resin on a ceramic plate.例文帳に追加

検査用の端子が配設されたパフォーマンス基板と、被検査対象に接触するプローブが配設されたコンタクター基板と、前記コンタクター基板のプローブと、前記パフォーマンス基板の端子との間に介在するプローブカードとを備える検査装置であって、前記プローブカードが、セラミック板に樹脂薄膜を積層してなる多層基板であることを特徴とする検査装置。 - 特許庁