例文 (79件) |
radiation analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 79件
ANALYSIS METHOD FOR UNNECESSARY RADIATION例文帳に追加
不要輻射解析方法 - 特許庁
TIRE RADIATION SOUND ANALYSIS METHOD, TIRE RADIATION SOUND ANALYSIS DEVICE, AND TIRE RADIATION SOUND ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
タイヤ放射音解析方法、タイヤ放射音解析装置、及びタイヤ放射音解析プログラム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC RADIATION ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
電磁放射解析装置、解析方法、および解析プログラム - 特許庁
EXPEDITING METHOD OF RADIATION HEAT TRANSFER VOLUME ANALYSIS例文帳に追加
放射伝熱量解析の高速化方法 - 特許庁
APPARATUS FOR RADIATION ANALYSIS WITH VARIABLE COLLIMATOR例文帳に追加
可変コリメータを有する放射分析用装置 - 特許庁
To provide a tire radiation sound analysis method, a tire radiation sound analysis device and a tire radiation sound analysis program capable of accurately analyzing a radiation sound from a tire.例文帳に追加
精度良くタイヤからの放射音を解析することができるタイヤ放射音解析方法、タイヤ放射音解析装置、及びタイヤ放射音解析プログラムを提供する。 - 特許庁
RADIATION ANALYZER AND RADIATION ANALYSIS METHOD, AND X-RAY MEASURING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
放射線分析装置と放射線分析方法、及びそれを用いたX線計測装置 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS DEVICE, AND CALIBRATION METHOD FOR RADIATION LIMITING DIAPHRAGM例文帳に追加
試料分析装置および放射線制限絞りのキャリブレーション方法 - 特許庁
The sample analysis method is provided for analysis of the electrons emitted from the sample associated with the irradiation of the sample with radiation.例文帳に追加
放射線の照射に伴って試料から発せられる電子を分析する試料の分析方法である。 - 特許庁
To provide an X-ray analysis system and its analytical method capable of analyzing elements of analysis samples at a high S/N ratio in an environment in which BG (background) radiation is present without being affected by the BG radiation.例文帳に追加
BG放射線が存在する環境にて、BG放射線に影響されることなく高いS/N比で分析試料の元素分析及び解析を実施すること。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING MICROSTRIP LINE RADIATION ELECTROMAGNETIC FIELD AND PROGRAM FOR ANALYSIS例文帳に追加
マイクロストリップ線路放射電磁界解析装置及び方法及び解析用プログラム - 特許庁
An X ray radiated from the radiation source 6 crosses each other at analysis target part M.例文帳に追加
放射線源6から出射したX線は、検査対象部Mで互いに交差する。 - 特許庁
To calculate the radiation loss and the field distribution of the radiation mode of a three-dimensional optical waveguide without depending on the setting of an analysis area.例文帳に追加
三次元光導波路の放射モードの放射損失並びに界分布を解析領域の設定に依存せずに求める。 - 特許庁
To take an analysis of a thermal flow in which sky radiation is taken into calculation by using an existent mesh model for an aerodynamic analysis.例文帳に追加
既存の空力解析用のメッシュモデルを用いて、天空放射を計算に入れた熱流れ解析を行うことができるようにする。 - 特許庁
This system is furnished in order to propagate radiations from the probe and conduct the spectral analysis of the radiation.例文帳に追加
本システムは、プローブから放射線を伝搬し、放射線をスペクトル分析するために装備される。 - 特許庁
To change an aperture angle of a radiation beam for analysis during measuring in a radiation analyzing device such as an X-ray spectroscope by changing the length of a collimating element of a collimator.例文帳に追加
放射分析装置、例えばX線分光器において、分析用放射ビームの開口角は測定過程中変えることが望まれる。 - 特許庁
The nuclear analysis device 10 includes: a γ-ray source 11; a radiation detector 15; a detector 16 for monitoring γ rays; and a personal computer (analysis section) 17.例文帳に追加
この原子核分析装置10は、γ線源11、放射線検出器15、γ線モニタ用検出器16、パーソナルコンピュータ(分析部)17を具備する。 - 特許庁
To provide a thermal analysis apparatus capable of executing highly accurate radiation calculation within a short calculation time, a thermal analysis method, a program, and a recording medium.例文帳に追加
短い計算時間で精度の高い輻射計算を実行することができる熱解析装置、熱解析方法、プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a radiation generating device and a spectral analysis device capable of changing or adjusting spectra.例文帳に追加
スペクトルを変えるか、又は調整できることができる放射発生装置、スペクトル分析装置提供する。 - 特許庁
An analysis device 20 for the sample includes a radiation source 26, constituted so as to guide the radiation beam 27 along a beam axis and hit it on the target region of the surface of the sample.例文帳に追加
試料の分析装置20は、放射線ビーム27を、ビーム軸に沿って導き、試料の表面上の目標領域に当てるように構成されている放射線源26を含む。 - 特許庁
To provide a semiconductor radiation detector that has high energy resolution and detection sensitivity and is suited for the energy spectrum analysis of radiation and an image detector such as a gamma camera.例文帳に追加
高いエネルギー分解能と検出感度を有し、放射線のエネルギースペクトル解析やガンマカメラなどの画像検出器に好適な半導体放射線検出器を提供する。 - 特許庁
Because detail analysis using the S-parameter is performed in an region such as a high frequency circuit requiring high accurate analysis, and lattice size is enlarged and the analysis is performed using FD-TD method in a region such as an antenna or a case having radiation, calculation period required for the electromagnetic field analysis can be reduced.例文帳に追加
高周波回路等の高精度の解析が必要な領域はSパラメータを用いて詳細に解析を行い、アンテナや筐体などの放射を伴う領域は格子サイズを大きくしてFD-TD法等を用いて解析を行うため、電磁界解析に要する演算時間を短縮できる。 - 特許庁
To provide a point diffraction interferometer enabling development of relatively high-intensity radiation, utilization of an interferometer analysis, and also use of an extended source emitting spatially-incoherent radiation.例文帳に追加
比較的高強度の放射線の達成を可能にし、干渉計分析を利用可能にし、また空間的に非干渉性の放射線を放出する分散光源の使用も可能にする。 - 特許庁
To provide analysis method and device with improved sensitivity by combining an interface electrokinetic separation process with a coherent radiation source.例文帳に追加
界面導電分離プロセスとコヒーレント放射源との組み合わせにより、好感度の分析方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample analysis device and a calibration method allowing the accurate calibration of a radiation limiting diaphragm.例文帳に追加
放射線制限絞りのキャリブレーションを正確に行うことができる試料分析装置およびキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a radiation digital image processing system capable of automatically applying the optimal image processing to a radiation digital image without using a complicated analysis.例文帳に追加
本発明は、複雑な解析を用いること無く、放射線デジタル画像に対して自動的に最適な画像処理を施すことができる放射線デジタル画像処理システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
The analysis processing component 5 analyzes the contour of the surface 1a of the reactor structure 1 on the basis of the data on the intensity of the radiation input from the two-dimensional radiation detector 4 and the data on positions.例文帳に追加
解析処理部5は、2次元放射線検出器4から入力される放射線2強度データと、位置データとに基づいて原子炉構造物1の表面1a形状を解析する。 - 特許庁
To provide a printed board-mounted casing analysis system, a printed board-mounted casing analysis method, a printed board casing analysis program and a printed board-mounted casing structure, for predicting an unnecessary radiation frequency, and arranging effective screwing to reduce an unnecessary radiation amount, in a structure with a printed board mounted in a metal casing.例文帳に追加
プリント基板を金属筐体に搭載した構造に関し、不要輻射周波数を予測し、不要輻射量を低減させるために効果的なねじ止め配置を行うためのプリント基板搭載筐体解析システム、プリント基板搭載筐体解析方法、プリン特記版筐体解析プログラム、およびプリント基板搭載筐体構造、を提供する。 - 特許庁
To provide a method which enables the prediction of EMI easily without depending on an equation analysis regarding the radiation of electromagnetic noise from a printed circuit board.例文帳に追加
プリント基板からの電磁波ノイズの放射に関して方程式解析に依存しないで容易にEMI予測が可能な方法を提供する。 - 特許庁
Then, a nonstationary heat conduction analysis which can reflects the heat accumulation and radiation effect based upon the heat capacity of a building or structures of rooms and furniture is taken.例文帳に追加
次に建物又は室の構造体や家具などの熱容量による蓄放熱効果を反映できる非定常熱伝導解析を行う。 - 特許庁
This system for sample analysis contains a radiation source, matching for guiding a converged beam of X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加
サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってX線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。 - 特許庁
To provide a system for processing radiation detection capable of highly accurate window analysis through the use of a radiation detector constituted of a plurality of semiconductor cells and the use of both a pulse computation mode and an integration mode jointly.例文帳に追加
本発明は、複数の半導体セルで構成された放射線検出器を用い、パルス計測モードと積分モードを併用して高精度のウインドウ解析が可能な放射線検出処理システムを提供する。 - 特許庁
The system further includes a radiation capturing component operable to capture a thermal image of incident radiation in the screening area, the radiation capturing component further operable to determine an analysis area in the captured image based on the first coordinates in the captured light image.例文帳に追加
このシステムは、検査領域における入射放射線の熱画像を撮影する放射線画像撮影コンポーネントを更に含み、該放射線画像撮影コンポーネントは、前撮影された光画像中の前記第1の座標に基づいて、撮影された熱画像中の分析領域を判定する働きをする。 - 特許庁
The device 30 includes a two-dimensional radiation detector 4 and an analysis processing component 5 connected to the detector 4.例文帳に追加
亀裂検出装置30は、2次元放射線検出器4と、当該2次元放射線検出器4に接続された解析処理部5とを備えている。 - 特許庁
This exposure dose abnormality analysis device is so formed that a processor 11 comparatively analyzes the relationship of a plurality of parameters related to the exposure dose of radiation in a single examination for a plurality of examinations.例文帳に追加
プロセッサ11は、1つの検査における放射線の照射線量に関する複数のパラメータの関係を複数の検査について比較分析する。 - 特許庁
To evaluate the unwanted radiation of an LSI on simulation in real time by highly accurately analyzing a power supply current with high speed analysis.例文帳に追加
高速解析しつつも、電源電流を高精度に解析することで、シミュレーション上においてLSIの不要輻射を現実的な時間で評価する。 - 特許庁
The operator sets a collected sample in a radiation measuring device 10, and starts an application of a γ-ray nuclide analysis system of this input support device 100.例文帳に追加
採取した試料を放射能測定装置10にセットし、作業者は、入力支援装置100のγ線核種分析システムのアプリケーションを起動させる。 - 特許庁
A projection image analysis part 9b decomposes the respective projection images every projection angle of the radiation corresponding to the prescribed pitch and generates partial projection images.例文帳に追加
投影画像分解部9bは、各投影画像を所定のピッチに対応する放射線の投影角度毎に分解して部分投影画像を生成する。 - 特許庁
To provide a high-frequency image sensor capable of high-speed measuring the analysis result of frequency of electromagnetic radiation distribution from an LSI inside and a printed board directly as an image.例文帳に追加
LSI内部やプリント基板からの電磁放射分布の周波数解析結果を直接画像として高速に計測することのできる高周波イメージセンサを提供する - 特許庁
To provide Pu (plutonium) quantitative analysis method capable of quantitatively analyzing Pu by using radiation measurement such as α-ray spectrometry even in an analysis target sample solution containing much impurity elements such as Ca interrupting α-ray measurement.例文帳に追加
Ca等のα線計測を妨害する夾雑元素を多く含む分析対象試料溶液であっても、α線スペクトロメトリー等の放射線計測を用いてPuを定量分析することが可能なPu定量分析方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a radiation analysis system having high analysis accuracy and capable of preventing both disturbances in the concentration of components in a test liquid in a retention tube and the equalization of concentration due to the diffusion of the components in a radio-liquid chromatograph of a type interlocked with a liquid chromatograph having the retention tube.例文帳に追加
存置管を有する液体クロマトグラフ連動型のラジオ液体クロマトグラフにおいて、存置管における検液中成分濃度の乱れ、成分の拡散による濃度の平準化を防止した、分析精度の高い放射能分析装置を提供する。 - 特許庁
Consequently, thermal boundary conditions need not be set by calculation gratings of the wall surface boundary layers 103, 104L, and 104R and the thermal flow analysis in which the sky radiation is taken into calculation can be taken by using the existent mesh model for aerodynamic analysis.例文帳に追加
こうすることで、壁面境界層103,104L.104Rの各計算格子毎に熱境界条件を設定する必要がなくなり、既存の空力解析用のメッシュモデルを用いて、天空放射を計算に入れた熱流れ解析を行うことができる。 - 特許庁
To provide a radiation detector which is capable of measuring heavy ions and ultra-high molecules with satisfactory energy resolution, high detection efficiency, and satisfactory temporal accuracy, at a high speed and hardly affected by heat radiated from a particle source, and to provide an analysis apparatus using the radiation detector.例文帳に追加
重イオンや超高分子をエネルギー分解能良くかつ検出効率も高く、高速で時間精度良く測定でき、粒子源からの輻射熱の影響も受け難い放射線検出器およびその放射線検出器を用いた分析装置を提供すること。 - 特許庁
To estimate the rough cooling state of a member by performing the analysis of a heat flow wherein the boundary condition is corrected on the basis of correction quantity showing the radiation quantity due to boiling of a cooling liquid.例文帳に追加
冷却液の沸騰による放熱量の示す補正量で境界条件を補正した熱流れ解析を行うことによって、部材の概略的な冷却状態を予測する。 - 特許庁
The apparatus for analysis of a sample includes a radiation source, which is adapted to direct a converging beam of X-rays toward a surface of the sample and to direct a second collimated beam of the X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加
試料分析装置は、第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。 - 特許庁
This fluorescent X-ray analysis device is provided with a computing means 16 for estimating the measured intensity of scattered radiation of the characteristic X-ray from the X-ray tube 1, from theoretical intensity computed according to the composition of the sample 13.例文帳に追加
X線管1 からの特性X線の散乱線4 の測定強度を、試料13の組成に応じて計算した理論強度から推定する算出手段16を備える。 - 特許庁
In the scintillator of each layer, an electronic circuit measures difference between light emission decay times by using different light emission decay times, and discriminates the kind of a radiation with high accuracy by performing waveform analysis.例文帳に追加
各層のシンチレータにおいて、発光減衰時間の異なるものを用いて、その発光減衰時間の違いを電子回路で計測し、波形解析することで高い精度で弁別する。 - 特許庁
The 2nd order spatial difference of the EX is calculated with a prescribed equation (31) and the field distribution approximated to the field distribution of a noticing radiation mode is calculated by a normal analysis while using a refractive index profile in which the set refractive index of the peripheral part of the analysis area is partially lowered than that in the practice (32).例文帳に追加
所定式によりE_xの二階空間差分を計算し(31)、注目する放射モードの界分布に近似した界分布を解析領域の周囲部分の設定屈折率を部分的に実際より低下させた屈折率プロファイルを用いて通常のモード解析によって求める(32)。 - 特許庁
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