「test connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a flexible wiring board in which there can be observed the state of connection with a corresponding electric component with a non-destructive test.例文帳に追加

対応する電気部品との接続状態を非破壊検査で観察することのできる可撓配線板を提供する。 - 特許庁

To make the connection between a semiconductor chip and signal lines on a contactor confirmable with accuracy at the time of making burn-in test in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェーハ状態でバーンインを行なう際に、半導体チップとコンタクタ上の信号線の接続を精度よく確認する。 - 特許庁

To enable a connection test between chips with a smaller scale circuit in a multi-chip module formed by mounting small chips on a large chip.例文帳に追加

大チップの上に小チップを実装してなるマルチチップモジュールにおいて、より小規模な回路で、チップ間接続テストを可能とする。 - 特許庁

The server device transmits an instruction for the test in accordance with the state of the network equipment on the basis of the connection information.例文帳に追加

サーバ装置は、接続情報に基づいて、ネットワーク機器の状態に応じた試験のための指示を該ネットワーク機器へ送信する。 - 特許庁

A moving means 5 moves pin board 41 so that test pins 42 contact and leave from the solder connection parts a plurality of times.例文帳に追加

移動手段５が、前記テストピン４２が半田接続部に複数回接離して接触するよう前記ピンボード４１を移動させる。 - 特許庁

When a power source is inputted, the operation margin test of the device connected to the loop is executed prior to the connection of the loop to a host computer.例文帳に追加

電源投入に際し、ホストコンピュータへのループ接続前に、ループに接続されたデバイスの動作マージンテストを実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, CIRCUIT SUBSTRATE MOUNTING THIS SEMICONDUCTOR MEMORY, AND CONNECTION AND TEST METHOD OF THIS SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置、この半導体記憶装置を搭載した回路基板、および、この半導体記憶装置の接続試験方法 - 特許庁

To provide a transistor array substrate in which efficient test can be made without any particular complicated working/treatment such as wire connection.例文帳に追加

結線等の特に複雑な加工・処理をせずとも効率よく検査することができるトランジスタアレイ基板を提供すること。 - 特許庁

The test pattern input from and output to an inter-chip connection pad of the semiconductor chip to be made an object of a functional test is generated by using a boundary scan of another semiconductor chip, and is composed with the test pattern input from and output to the pad connected to the external terminal.例文帳に追加

他の半導体チップのバウンダリスキャンを用いて機能テストの対象とする半導体チップのチップ間接続パッドから入出力されるテストパターンを生成し、外部端子に接続されるパッドから入出力されるテストパターンと合成する。 - 特許庁

To provide a cap for connection hole, not bulky, reduced in the num ber of component part items, capable of closing the connection hole against a water pressure in priming test or the like, and easy to work for opening/ closing the connection hole.例文帳に追加

嵩張ることなく、構成部品点数を抑えて、満水試験等の水圧に対抗して接続口部を閉塞させることができ、また、接続口部の閉塞・開口作業も容易な接続口部用キャップを提供すること。 - 特許庁

The circuit design platform comprises a portal 10, a circuit design tool module 20, a circuit design database connection module 30, a circuit design simulation module 40, an integrated circuit manufacture connection module 50, a circuit test connection module 60 and a management module 70.例文帳に追加

ポータル１０と、回路設計ツールモジュール２０と、回路設計データベース接続モジュール３０と、回路設計シミュレーションモジュール４０と、集積回路製造接続モジュール５０と、回路試験接続モジュール６０と、管理モジュール７０とを備える。 - 特許庁

To provide a cap for an end connection suppressing the number of components without getting bulky, surely closing the end connection against a fluid pressure of a high water test, and facilitating the closing/opening works of the end connection.例文帳に追加

嵩張ることなく、構成部品点数を抑えて、満水試験等の流体圧に対抗して接続口部を確実に閉塞させることができ、また、接続口部の閉塞・開口作業も容易な接続口部用キャップを提供すること。 - 特許庁

The at least one electric connection module is removably mounted within the test base part and the at least one electric connection module includes a frame and a conductive element, respectively.例文帳に追加

この少なくとも１個の電気接続モジュールはテスト基部内に着脱可能に取り付けられ、少なくとも１個の電気接続モジュールのそれぞれがフレームおよび導電性エレメントを有する。 - 特許庁

To use a test piece having different connection structures to compare the connection strengths of those structures to know them by bodily sensation.例文帳に追加

異なる接続構造を備えたテストピースを用いて、その接続強度がどのようなものか比較して体感できる木材間の接合構造における強度比較体感装置を提供する。 - 特許庁

The test circuit includes a ring oscillator including: two or more inverter circuits in which a series connection is made in a ring shape; and a switching circuit prepared for every series connection of a fixed number of inverter circuits.例文帳に追加

テスト回路は、リング状に直列接続される複数のインバータ回路と、一定数のインバータ回路の直列接続毎に介設されるスイッチ回路とを備えたリングオシレータを含む。 - 特許庁

A probe for a current-carrying test (16) includes a probe body which has plate-like connection sections (22a) whose end surfaces make connection surfaces to the probe substrate, and foot sections (42) which extend in a plate thickness direction from at least one-side lateral surfaces of the connection sections and have end surfaces to be the connection surfaces to the probe substrate.例文帳に追加

通電試験用プローブ（１６）は、板状の接続部（２２ａ）を有し該接続部の端面がプローブ基板への接続面となるプローブ本体と、前記接続部の少なくとも一方の側面から板厚方向へ伸び、前記プローブ基板への接続面となる端面を有するフット部（４２）とを含む。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

When the control information for pulling a subscriber line into a tester is transmitted from the new test reception board system 1B, it is converted by the test command conversion part 62, and a subscriber line test is performed by the tester 10 provided inside a remote housing device 5 by the control of the test connection control part 61.例文帳に追加

新試験受付台システム１Ｂから加入者線を試験器に引き込むための制御情報が送信されると、試験コマンド変換部６２により変換されて、試験接続制御部６１の制御により、遠隔収容装置５内に設けられた試験器１０により加入者線試験が行われることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an operation test apparatus capable of improving the working efficiency of an operation test by omitting work for connecting wires of a test apparatus to receiver side wires of lines and work for disconnecting the connection in each operation test for an automatic fire alarm system which is periodically performed.例文帳に追加

定期的に行われる自動火災報知設備の動作試験において、回線の受信機側配線に対し動作試験ごとに試験装置の配線を接続する作業及び接続を解除する作業の手間を省くことにより、動作試験の作業効率を向上させることができる動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide: a display device that hardly causes a short-circuit fault resulting from a test pad during production or use and causes little corrosion of the test pad; and a method of inspecting the connection state of the display device.例文帳に追加

製造時や使用時にテストパッドに起因する短絡故障が生じ難く、しかもテストパッドの腐食のおそれも少ない表示装置及び表示装置の接続状態検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing a connection test of an LSI internal part even when the number of external terminals is larger than the number of pins of a tester for performing a test of an internal logic circuit.例文帳に追加

外部端子数が内部論理回路のテストを行うテスタのピン数より多い場合であってもＬＳＩ内部の接続テストを可能にする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the user can know not only whether the result of the connection test for the test mobile device 20 has been normal, but also can know the details of the causes, if troubles occur.例文帳に追加

これにより、ユーザは、単に試験用移動機２０の接続試験の結果が正常であったか否かを知るだけではなく、不具合が発生した場合にその要因を詳細に把握することができる。 - 特許庁

To provide an optical fiber fusion part-measuring system that can surely test the fusion part of an optical fiber to be tested and can surely report the test result to a fusion connection work site.例文帳に追加

被試験光ファイバの融着部の試験を確実に行うことができ、その試験結果を融着接続作業現場へ確実に通知することができる光ファイバ融着部測定システムを提供する。 - 特許庁

To perform a connection test even when the number of output terminals are few in a semiconductor memory provided with a test function and in a circuit substrate incorporating this semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体記憶装置を搭載する回路基板に関し、出力端子の数が少ない場合にも接続試験を実行する事を目的とする。 - 特許庁

The connection to this protective relay 2 is switched from a main circuit side to a test power source 7 side by a switch 8 when the relay 2 is inspected, and a test current is supplied to the protective relay 2 to be operated.例文帳に追加

保護継電器２の点検時に、スイッチ８によって主回路側から試験電源７側に保護継電器２への接続を切り換え、保護継電器２に試験電流を与えて動作させる。 - 特許庁

A step pulse is applied through a measuring pad 14 composing a part of one end of the test coupon, and an impedance of every test coupon is calculated from a reflection wave reflected from a connection of each pattern wiring portion.例文帳に追加

テストクーポンの一端を構成する測定用パッド１４からステップパルスを印加して、各パターン配線部の接続部から反射する反射波から各テストクーポン毎のインピーダンスを算出する。 - 特許庁

The changeover switch 24b can convert into connection conditions of the control circuit 12 and of the second power supply unit 23 during the period of operation test.例文帳に追加

切換えスイッチ２４ｂは、動作試験時に制御回路１２と第２電源ユニット２３との接続状態に切換え可能なものである。 - 特許庁

The testing apparatus also includes a full-power converter assembly test connection (126/128) coupled to the electric power grid simulation device.例文帳に追加

試験装置はまた、電力送電網シミュレーション・デバイスに結合された全出力コンバータ・アセンブリ試験接続部（１２６／１２８）を備えている。 - 特許庁

To provide a wiring circuit board and a connection structure of the wiring circuit board that can omit electric conduction test.例文帳に追加

電気的な導通検査を省略することのできる、配線回路基板および配線回路基板の接続構造を提供すること。 - 特許庁

A call of a mobile phone is executed in a shield case 56 to make radio connection between an on-vehicle unit PS being a test object and a base station simulator 42.例文帳に追加

シールドケース５６内で携帯電話発呼を実行し、試験対象の車載機ＰＳと基地局シミュレータ４２とを無線接続する。 - 特許庁

A battery test module is mounted on this battery housing body, and this module is electrically joined with the terminals by Kelvin connection.例文帳に追加

このバッテリハウジング体には、バッテリテストモジュールが搭載されており、このモジュールはケルビン接続により前記端子に電気結合されている。 - 特許庁

The present invention relates to the contactless test of the electrical characteristics in a substrate ("chip carrier" and the like) for carrying the dense electrical connection.例文帳に追加

本発明は、密集した電気的接続部を担持する基板（「チップキャリア」およびその他）の電気的特性の非接触テストに関する。 - 特許庁

The connection test circuit connects a first node in the semiconductor chip to a first voltage line in accordance with a level received from the first terminal.例文帳に追加

接続試験回路は、第１端子から受けるレベルに応じて、半導体チップ内の第１ノードを第１電圧線に接続する。 - 特許庁

A base station diagnostic part 201 controls a radio terminal part 213 provided in the base station and executes connection test with the present base station.例文帳に追加

基地局診断部２０１は、基地局内に備えられた無線端末部２１３を制御し自基地局との接続試験を実行する。 - 特許庁

The input/output circuit of the transceiver includes a non-wireless connection means coupling the wireless transceiver to a test and measurement device.例文帳に追加

無線送受信機の入出力回路は無線送受信機を検査計測装置に接続する非無線接続手段を備えている。 - 特許庁

To provide a repeater with an auxiliary apparatus for medium test wherein a battery 1 in a repeater is charged irrespective of connection state (normal connection/inverse connection) of feeding power ADP with a subscriber line network 2 by a user, medium test can be executed frequently for a long time, and cut and return to circuit terminal equipment is enabled normally by executing the medium test normally.例文帳に追加

利用者による給電ＡＤＰの加入者線路２に対する接続状況（正接続／逆接続）に関わらず、中継器内蓄電池１を充電し、媒体試験を頻繁に長時間実施することを可能とし、媒体試験を正常に実施させ、回線終端装置への切り戻しを正常に行うことが可能となる、媒体試験のための補助装置を有する中継器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a drop in the reliability of a bump connection can be prevented, a drop in the reliability of a flip-chip connection can be prevented and a die sorting test is performed easily and simply when the semiconductor device having a pad for bump connection is manufactured.例文帳に追加

バンプ接続用パッドを有する半導体装置の製造に際して、バンプ接続部の信頼性の低下を防止するとともに、フリップチップ接続時の信頼性の低下を防止することができ、ダイソートテストを容易かつ簡便に行う。 - 特許庁

The test socket for semiconductor device is provided with a connection sheet 2 comprising an elastically deformable insulating member and electrodes 202 and connecting a test probe 1 electrically with external connection terminals 14a in order to ensure good electrical contact through flexibility.例文帳に追加

半導体装置のテスト用ソケットに、テスト用プローブ１と、前記半導体装置の外部接続端子１４ａとを電気的に接続させる、弾性変形する絶縁部材と電極２０２からなる接続シート２を備えることにより、可撓性を持たせて良好な電気的接触を得るようにした。 - 特許庁

To provide a technique that it is possible for an operator to visually recognize to which cell the connection state has been transferred at what time, and whether the transition is a success or a failure, and for the operator to visually recognize the state of progress of the test in the case of the connection test by a virtual base station.例文帳に追加

擬似基地局による接続試験において、どの時間経過において接続状態がどのセルへ遷移し、その遷移が成功か不成功かを、視覚視認できるようにするとともに、併せて試験の進捗状況を視認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test socket for semiconductor device having excellent maintainability in which good electrical contact with a probe is ensured regardless of variation in the height of external connection terminals and a test can be carried out continuously even if solder chips of the external connection terminals are deposited through repeated use.例文帳に追加

外部接続端子に高さばらつきがあっても、プローブとの良好な電気的接触が得られ、繰り返し使用により外部接続端子のハンダ屑が付着堆積しても継続的にテストが行なえ、メンテナンス性の良い半導体装置のテスト用ソケットを提供する。 - 特許庁

To reduce line defect problems of postprocessing, a reliability test, and a user by preventing a defect in connection from being overlooked in sensitive inspection and an inspector from incorrectly deciding an unstable connection.例文帳に追加

感応検査での接続不良の見逃しや、接続不安定なものの検査作業者による判定違いの発生を防ぎ、後工程や信頼性試験及びユーザーにおける線欠陥問題を低減する。 - 特許庁

To provide a tape carrier module capable of inputting signals into the connection point of a plurality of mounted electronic parts or monitoring the signals at the connection point, for sufficient operation test.例文帳に追加

実装された複数の電子部品の接続点に信号を入力したり、接続点における信号をモニターすることにより、十分な動作テストを行うことが可能なテープキャリアモジュールを提供する。 - 特許庁

Then, the switch of the switching circuit is connected to the other connection terminal by a control signal of the switching control circuit 13, and the test is performed relative to the input/output pin connected to the connection terminal.例文帳に追加

次に切替制御回路１３の制御信号によって、切替回路のスイッチが他方の接続端子に接続され、当該接続端子に接続されている入出力ピンに対して試験が行われる。 - 特許庁

To provide a test tone signal for checking connection of a speaker correctly without making a listener uncomfortable.例文帳に追加

スピーカの接続をチェックするとき、リスナに不快感を与えることがなく、しかも、そのチェックを正確に行うことができるテストトーン信号を提供する。 - 特許庁

To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.例文帳に追加

電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁