「test connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pullout-type air circuit beaker which can display a breaking position, test position and connection position more accurately to users, when a breaker body is pulled in or pulled out from a cradle.例文帳に追加

クレードルに遮断器本体が引込／引出される時、断路位置、テスト位置および接続位置を使用者に一層正確に表示し得る、引出型気中遮断器を提供すること。 - 特許庁

When receiving a connection completion command inputted through a UI unit 220, a remote updating unit 234 updates test information stored in a remote DB 20 and the local DB.例文帳に追加

リモート更新部２３４は、ＵＩ部２２０を介して入力された接続完了命令を受け入れると、リモートＤＢ２０およびローカルＤＢが記憶する試験情報を更新する。 - 特許庁

To provide an intercom capable of performing the connection of a tester with a terminal for an operation test of a fire sensor from the front surface and performing the adjustment of a position (angle) of a camera from the front surface.例文帳に追加

火災感知器の動作試験用端子への試験器の接続を前面から行うことができ、また、カメラの位置（角度）の調整を前面から行うことのできるドアホンを提供する。 - 特許庁

To stably secure a contact resistance between a pad (electrode) of a socket substrate and a bump electrode in a burn-in test for a semiconductor device of which the external connection terminal is composed of the bump electrode.例文帳に追加

外部接続端子をバンプ電極で構成した半導体装置のバーンイン試験において、ソケット基板のパッド（電極）とバンプ電極との接触抵抗を安定に確保する。 - 特許庁

When a connection test is executed, the forward ON voltage of the protection diodes D1, D2 of the first semiconductor chip 14 or the second semiconductor chip 24 is detected and then normal/open is determined.例文帳に追加

接続試験を行う際は、第１半導体チップ１４又は第２半導体チップ２４の保護ダイオードＤ１，Ｄ２の順方向オン電圧が検出されて正常／オープンが判定される。 - 特許庁

The transmission-side selector connects each input terminal to any one of the output terminals so that mutual connection destinations are different, on the basis of control of the transmitting side control part in test mode.例文帳に追加

送信側セレクタは、テストモード時に、送信側制御部の制御に基いて、各入力端子を、出力端子のいずれか１つに、互いの接続先が異なるように接続する。 - 特許庁

When the mobile communication terminal 1 and an external device TV is connected through a connection cable CL, the mobile communication terminal 1 makes the external device TV output prescribed test sound.例文帳に追加

移動体通信端末１と外部装置ＴＶとを接続ケーブルＣＬを介して接続した際、移動体通信端末１は、所定のテスト音声を外部装置ＴＶから出力させる。 - 特許庁

To provide a virtual drawing device for preparing a virtual drawing, and for displaying and storing a standard sequence diagram and necessary connection information of each device in the case of cable engineering and field test.例文帳に追加

ケーブルエンジニアリング及び現地試験において、仮想図面を作成し、標準シーケンス図と各装置の必要な取り合い情報等を表示、保存できる仮想図面装置を提供する。 - 特許庁

A frame extractor 4a extracts a control command and communication data from at least one frame among frames produced from a connection establishing request of data communication from a terminal 2 under test.例文帳に追加

フレーム抽出部４ａは、被試験端末２からのデータ通信の接続確立要求から始まるフレームのうち少なくとも１つのフレームから制御コマンドと通信データとを抽出する。 - 特許庁

To provide a backflow preventive device of a fuel filter connection port, for preventing backflow of fuel during the operation of an engine, without leakage of fuel during prestart test of the engine.例文帳に追加

エンジンのプレ始動試験過程での燃料漏出がなく、また、エンジン運転過程での燃料の逆流が防止できる燃料フィルタ連結口の逆流防止装置を提供する。 - 特許庁

The contact 92 has the elasticity in the direction vertical to the surface of the base 94, so that it can be elastically abutted on a connection terminal formed on a tested circuit during the test.例文帳に追加

接触子９２は、基板９４の表面に対して垂直方向に弾性を有し、試験中、被試験回路に形成された接続端子に、弾性をもって接触することが可能となる。 - 特許庁

A case body and a door of a ground relay 14 are formed corresponding to projection height H in a complete connection state of a connector cap 31 to a test connector 23.例文帳に追加

地絡継電器１４のケース本体１８及び扉１９を、コネクタキャップ３１の試験用コネクタ２３に対する完全接続状態における突出高さＨに対応して形成した。 - 特許庁

To provide an electric connecting member allowing stable electric connection and inspection without damaging leads, and minimizing release of heat at a high-temperature function test.例文帳に追加

安定した電気接続が可能で、リードを傷つけずに検査が可能であり、かつ高温ファンクションテスト時の熱の逃げを最小限にすることができる電気接続部材を提供する。 - 特許庁

To propose a timing calibration method capable of correctly calibrate the timing of an IC test device of connection structure incapable of correct calibration in a calibration mode.例文帳に追加

校正モードで校正しても正しく校正することができない接続構造のＩＣ試験装置のタイミング校正を、正しく校正することができるタイミング校正方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method for screening laminated ceramic capacitors that can test whether the laminated ceramic capacitors have connection defects between internal and external electrodes, within a relatively short period of time.例文帳に追加

比較的短時間で、内部電極と外部電極との間に接続不良のある積層セラミックコンデンサを判定することができる、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を得る。 - 特許庁

The spring contact component is located on a semiconductor device existent on a semiconductor wafer for burn-in and/or test the semiconductor device by performing temporary connection with the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスと一時的な接続を行って半導体デバイスをバーンイン及び／又はテストできるように、ばね接触部品が半導体ウエハに存在する半導体デバイス上に配置される。 - 特許庁

At assembling of the linear connection between the test cables 9 and 9, the end sections of the cables 9 and 9 are respectively inserted into the cold shrinking tube 5 from both end openings of the tube 5.例文帳に追加

上記直線接続部を組み立てる際には、上記各試験用ケーブル９、９の端部を、それぞれ上記常温収縮チューブ５内に、その両端開口から挿入する。 - 特許庁

We tell him by using set-config in connection with the channel option:$ pear config-set -c pear.company.com username johndoeconfig-set succeeded$ pear config-set -c pear.company.com password secretconfig-set succeededNow test if we did everything right by showing available packages on the channel: 例文帳に追加

set-config にチャネル名を指定してこれを登録します。 $ pear config-set -c pear.company.com username johndoeconfig-set succeeded$ pear config-set -c pear.company.com password secretconfig-set succeededうまく登録できたかどうか確かめるために、チャネル上のパッケージの一覧を取得してみましょう。 - PEAR

To provide an electric connecting member capable of stable electric connection, carrying out checking without damaging leads, and minimizing release of heat at the time of high-temperature function test.例文帳に追加

安定した電気接続が可能で、リードを傷つけずに検査が可能であり、かつ高温ファンクションテスト時の熱の逃げを最小限にすることができる電気接続部材を提供する。 - 特許庁

A call setting test control part 11 checks a resource required for checking the device state of a first node itself and the setting of connection by a request from a maintenance terminal 13.例文帳に追加

呼設定試験制御部１１が、保守端末１３からの要求により、第１のノード自身の装置状態のチェックおよびコネクション設定に必要なリソースのチェックを行う。 - 特許庁

To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.例文帳に追加

画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁

When a signal cable is newly connected between communication nodes 0 and 1, the information of a port, with which the connection is detected, such as a loop test signal LT having the information of a transfer rate between ports, for example, is transmitted from the communication node 0, with which this signal cable connection is detected.例文帳に追加

通信ノード０、１間で新たに信号ケーブルが接続された場合、この信号ケーブル接続を検知した通信ノード０から、接続を検知したポートの情報、例えばポート間の転送速度情報を持ったループテスト信号ＬＴを送信する。 - 特許庁

The multiple terminals include an upper end face located on a same plane and, when a test object is disposed on the electric connection device, a set of terminals including at least two terminals of the terminals come into contact with respective electrodes of the test object having the plurality of electrodes.例文帳に追加

前記多数の端子は、同一面内に位置する上端面を備え、前記電気的接続装置に被検査体が配置されると、前記端子のうち少なくとも２つの端子を含む一組の端子が、それぞれ、複数の電極を備える被検査体の各電極に接触する。 - 特許庁

A light source device 2 of this semiconductor test device 1 is provided with a pressing part 4 provided in an opposed position to a semiconductor device 5 and moved toward the semiconductor device 5 during the test to press the semiconductor device 5 to thereby perform electrical connection between the semiconductor device 5 and a socket 7.例文帳に追加

半導体検査装置１の光源装置２が、半導体デバイス５と対向する位置に設けられるとともに、検査時に半導体デバイス５の方向に移動し、半導体デバイス５を押さえることにより半導体デバイス５とソケット７との電気的接続を行わせる押さえ部４を備えている。 - 特許庁

Potentials generated in respective nodes by applying a voltage to one of a first test pad 102 and a second test pad 103 in both ends of the measurement target circuit are input to the node information transmission circuit 107, and the input potentials of respective nodes are output in the connection order.例文帳に追加

被測定素子回路の両端の第１のテストパッド１０２又は第２のテストパッド１０３に電圧を印加したときに各ノードに発生する電位が、ノード情報伝達回路１０７に入力され、入力された各ノードの電位を接続された順に出力する。 - 特許庁

In the sticking test, a potential of the connection node connecting the capacitor 21b, the switch 21c and the output terminal of the operational amplifier 21a is monitored as a test-use output, thereby detecting whether or not a foreign substance is sandwiched by movable electrodes 1a, 1b and fixed electrodes 2a, 2b.例文帳に追加

そして、スティッキング検査時には、オペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点の電位を検査用出力としてモニタすることで、可動電極１ａ、１ｂと固定電極２ａ、２ｂとの間に異物が挟まっているか否かの検出を行う。 - 特許庁

To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加

機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

The connection means 20 has bending load reducing mechanisms 21-23 for reducing the bending load acting on the load rod 10 of the second load means through the test piece TP by pulling the load rod 10 of the first load means in the X-axis direction at the time of breakage of the test piece TP.例文帳に追加

連結手段２０は、試験片ＴＰの破断時に第１負荷手段の負荷ロッド１０がＸ軸方向に引っ張られることにより試験片ＴＰを介して第２の負荷手段の負荷ロッド１０に作用する曲げ荷重を低減する曲げ荷重低減機構２１〜２３を有する。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic capacitor wherein infiltration of a plating liquid to inner electrodes 3, 4 is prevented, crack generation can be also prevented in both a breakdown voltage test in wet condition and a thermal shock test, a connection status of internal and external electrodes is assured and a peeling of dielectric layers 1a to 1f is prevented.例文帳に追加

内部電極３，４へのメッキ液浸入を防止し、また、湿中耐圧試験においても、熱衝撃試験においても、クラック発生を防止でき、しかも内部−外部電極の接続状態を確実にし、誘電体層１ａ〜１ｆの剥離を防止した積層セラミックコンデンサを提供する。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

To provide an adhesive composition capable of obtaining excellent strength even when cured at a low temperature and for a short time as well as fully maintaining characteristics such as adhesive strength and connection resistance even after a reliability test (an exposure test for a long period of time under high temperature and high humidity conditions), and to provide a connection structure of a circuit member using the adhesive composition.例文帳に追加

低温かつ短時間の硬化条件においても優れた接着強度を得ることができ、且つ信頼性試験（高温高湿条件での長時間の暴露試験）後においても接着強度や接続抵抗等の特性を充分に維持することができる接着剤組成物を提供すること、また、該接着剤組成物を用いた回路部材の接続構造体を提供すること。 - 特許庁

A portable printer 10 includes: a wireless communication section for performing a wireless communication with the wireless access point 50; a wireless connection test button 23 operated by an operator; and a signal transmitting module for transmitting a response requesting signal for requesting a response to the wireless access point 50 from the wireless communication section by operating the wireless connection test button 23 while an electric power source power-on condition is kept.例文帳に追加

携帯プリンタ１０は、無線アクセスポイント５０と無線通信を行う無線通信部と、操作者に操作される無線接続テストボタン２３と、無線接続テストボタン２３が操作されることにより、電源投入状態を維持したまま、無線通信部から無線アクセスポイント５０に、応答を要求する応答要求信号を送信する信号送信手段と、を備える。 - 特許庁

The connection confirming test for the multibit in the A/D converter circuit can be performed with high accuracy and at low cost using logic tester, by inputting a digital expected value control signal from outside to the input of a latch circuit on the output side of an A/D converter circuit, and inputting this expected value control signal from the latch circuit into an internal system circuit so as to perform a connection test.例文帳に追加

この発明は、Ａ／Ｄコンバーター回路の出力側のラッチ回路の入力に外部からデジタルの期待値制御信号を入力して、この期待値制御信号をラッチ回路から内部のシステム回路に入力して結線テストを行うことによって、Ａ／Ｄコンバーター回路における多ビットの結線確認テストをロジックテスターにより高精度で且つ安価に行うことができる。 - 特許庁

To achieve a scanning test and a delay test including the connection test between a manufacturer provided circuit and a client designed circuit, targeting a semiconductor integrated circuit device installed with the manufacturer provided circuit which is provided to the client by the manufacturer of a semiconductor integrated circuit device and for which the internal circuit information is undisclosed, and the client designed circuit which is designed by the client.例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造元が顧客に提供した内部回路情報未公開の製造元提供回路と、顧客側が設計した顧客側設計回路とを搭載する半導体集積回路装置を対象とし、製造元提供回路と顧客側設計回路との間の接続試験を含めたスキャン試験及び遅延試験を可能とする。 - 特許庁

To enable the execution of a scan test including a test on connection between a manufacturer-offered circuit of which the information on the internal circuit is unpublished and a customer-designed circuit, and a delay test on at least a part between the manufacturer-offered circuit and the customer-designed circuit, for targeting a semiconductor integrated circuit device carrying these circuits.例文帳に追加

内部回路情報未公開の製造元提供回路と、顧客側設計回路とを搭載する半導体集積回路装置を対象とし、製造元提供回路と顧客側設計回路との間の接続試験を含めたスキャン試験と、製造元提供回路と顧客側設計回路との間の少なくとも一部分の遅延試験を行うことができるようにする。 - 特許庁

The tested protocol 4a generates protocol data and transmits the protocol data to a logical connection identifier conversion means 6, in which only a connection identifier is converted into a different value, the means 6 loops back the resulting protocol data to a tested protocol 4b, so as to obtain the similar effect to that of an opposed test.例文帳に追加

それにより生成されたプロトコルデータを論理的コネクション識別子変換手段６に送信し、その内部でコネクション識別子のみを異なる値に変換し、そのプロトコルデータを折り返し被試験プロトコル４ｂに送信することにより、対向試験と同様の効果を得ることが出きる。 - 特許庁

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部１１のダイナミック回路において、データ信号Ｄの入力が加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号ＳＩが加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁

In the end nipper, the core wire of electric wire is inserted without disconnection, so as to obtain electric connection, in order to generate a pseudo-short circuit which is required for a conduction (circuit) test after an electric wiring work.例文帳に追加

電気配線工事後の導通（回路）試験に必要な擬似的短絡回路を作り出すために、エンドニッパを、切断することなく電線の芯線を喰い込ませ、電気的接続が得られるようにしたもの。 - 特許庁

In this test atmosphere construction system, a function block specification information storing part 111 stores information showing a function block that operates in connection with specification information of a prescribed function block while associated with the specification information.例文帳に追加

発明の試験環境構築システムは、機能ブロック仕様情報記憶部１１１は、所定の機能ブロックの仕様情報に対応させて関連して動作する機能ブロックを示す情報を記憶する。 - 特許庁

To provide a communication terminal device inspecting method capable of easily executing connection confirmation of a sound signal line without execution of a speech communication test by a wireless apparatus, and to provide a program and a communication terminal device.例文帳に追加

ワイヤレス機器での通話試験を実施することなく、音声信号ラインの接続確認を容易に実施することができる通信端末装置の検査方法、プログラム、および通信端末装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adhesive composition that can prevent the elution of a connection terminal composed of an ITO and an IZO, thereby obtaining excellent adhesive strength and maintaining stable performance even after being subjected to a reliability test.例文帳に追加

ＩＴＯやＩＺＯからなる接続端子の溶出を抑制し、優れた接着強度が得られ、信頼性試験後でも安定した性能を維持できる接着剤組成物を提供する。 - 特許庁

In the case of a test, conduction of the serial circuit is measured while turning on the drive transistor 121, thereby determining the propriety of a connection between the through-electrodes 111-1 and 111-2.例文帳に追加

テスト時は、駆動トランジスタ１２１をオンとした状態で上記直列回路の導通を測定することで、貫通電極１１１−１および１１１−２間の接続の良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a connection test means which is inexpensive and eliminates extra signal delay concerning the boundary scan circuit of a boundary scan adaptive device connected to a boundary scan non-adaptive device.例文帳に追加

バウンダリースキャン非対応デバイスに接続されたバウンダリースキャン対応デバイスのバウンダリースキャン回路に関し、安価かつ余分な信号遅延を生ずることのない接続試験手段の提供を目的とする。 - 特許庁

To perform a pulse mask test even in the case where an own station apparatus and an opposite station apparatus are not connected bi-directionally, while waveform shaping is possible in consideration of an external factor such as a connection line.例文帳に追加

接続線路等の外的要因を考慮して波形整形できるとともに、自局装置と対向局装置が双方向接続されない場合でもパルスマスク試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

In this instance, no dedicated solder ball is required on the connection pad part of the second upper layer wiring 29c for test, therefore, the planar size of the overall device can be downsized.例文帳に追加

この場合、テスト用の第２の上層配線２９ｃの接続パッド部上にそれ専用の半田ボールを設ける必要がなく、それに応じて、装置全体としての平面サイズを小さくすることができる。 - 特許庁