「test connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The electric charge discharging circuit 33 interrupts a connection between the first terminal 4 and the second terminal 2 based on a control signal from the test external terminal 6.例文帳に追加

電荷放電回路３３は、テスト用外部端子６からの制御信号に基づき、第１端子４と第２端子２との接続を遮断する。 - 特許庁

The conduction inspection jig for printed wiring board performs a continuity test between an inspection pin 50 which is in contact with a pin 122 for detection pin and a connection pin 32 connected to the inspection pin 50.例文帳に追加

検出ピン用ピン１２２に当接する検査ピン５０と、該検査ピン５０に接続する接続ピン３２との間で導通を試験する。 - 特許庁

Before you add the query to the class you will use the HQLQuery Editor to test that the connection is working correctly and that the query produces the desired results. 例文帳に追加

クエリーをクラスに追加する前に、HQL クエリーエディタを使用して、接続が正しく動作し、クエリーで目的の結果が生成されることをテストします。 - NetBeans

To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加

本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Test signal transmitting power in accordance with the call connection number for radio terminals which are connected to a radio base station unit upon the loop back test is obtained at a control circuit 1, and the transmitting power TSTP is output to channel circuits used for the transmission of the loop back test signal.例文帳に追加

制御回路１で、折り返し試験の際に当該装置に呼接続されている無線端末の呼接続数に応じた試験信号の送信電力を求め、その送信電力ＴＳＴＰを、折り返し試験信号の送信に用いているチャネル回路へ出力する。 - 特許庁

To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.例文帳に追加

接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁

To solve the problem that the signal quality of signal lines degrades during normal operations in chip laminated semiconductor devices due to test stab conductors and test signal pins added to test each chip for a pad which establishes the connection only among laminated chips and does not include external terminal.例文帳に追加

チップ積層された半導体装置においては、積層されたチップ間のみの接続で外部端子を備えていないパッドに対し個々のチップをテストするためのテスト用スタブ配線、テスト用信号ピンが付加されるため通常動作時において信号線の信号品質が劣化する。 - 特許庁

To verify, in a short time, the operation of a connection mechanism with high reliability by automatically determining the best combination of a test program with a load program with high load effects and performing a long time load test under high load.例文帳に追加

負荷効果の高い試験プログラムと負荷プログラムを最良な組み合わせを自動的に決定して高負荷による長時間負荷試験を行って短時間で信頼性の高い接続機構の動作検証を可能とする。 - 特許庁

Therefore, after completion of connection of fuel cell stacks 100A-100D, since a leak test can be conducted in this state, efficiency of the leak test is enhanced and the manufacturing efficiency of the fuel cell can also be enhanced.例文帳に追加

こうすれば、燃料電池積層体の接着完了後、そのまま漏洩試験を行うことができるので、漏洩試験が効率的になり、延いては燃料電池の製造効率を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a connection device preventing electric shock on an operator when connecting a specimen to a simulator on the test device side, or when separating electrically the specimen from the simulator, and also to provide the test device therefor.例文帳に追加

試験装置側のシミュレータに供試体を接続するとき、あるいは、シミュレータから供試体を電気的に切り離すときに、作業者への感電を防止することができる接続装置及びその試験装置を提供すること。 - 特許庁

In the case, the finish flag of extra test objective path list 400 are turned to "1", the correction part 316 corrects the connection information 301 so as to insert the dummy buffer into the data pins of the extra test objective cells.例文帳に追加

すべてのテスト対象外パスリスト４００の終了フラグが「１」に変更された場合、修正部３１６は、テスト対象外セルのデータピンにダミーバッファを挿入するように、接続情報３０１を修正する。 - 特許庁

To provide a control apparatus having triplicated configuration capable of performing a simulation test for the triplicated control apparatus during plant operation without cable connection for the simulation test.例文帳に追加

シミュレーション試験のためのケーブルの接続作業を必要とせず、しかもプラントの運転中に３重化された制御装置のシミュレーション試験を行うことができる３重化構成制御装置を提供することである。 - 特許庁

Test data is set at the register 12 from a common bus 3, and by comparing the value of the test data with an output value acquired from the monitoring output signal line 28, tests on whether the connection is correct or not are performed.例文帳に追加

共通バス３からレジスタ１２にテストデータをセットし、そのテストデータ値と、モニタリング出力信号線２８から取得する出力値を比較することにより、正しく接続されているかどうかのテストを行う。 - 特許庁

To provide a connection terminal for power distribution tower artificial grounding, capable of safely connecting the connection terminal to a high-voltage bus bar, without covering phase other than a parallel test phase with a protection member, and maintaining the connection state of the connection terminal to the high-voltage bus bar, without requiring continuous holding by an operator.例文帳に追加

並列する試験相以外の相を防護部材で覆わなくとも安全に接続用端子を高電圧母線へ接続することができ、また、作業員が常時保持することなく、接続用端子を高電圧母線への接続状態を維持させることが可能な、配電塔人工接地用接続端子を提供することにある。 - 特許庁

To provide a connecting member for a circuit which is used for connection of an electronic component to a circuit board, is capable of relaxing a stress on a circuit connection boundary surface, and shows remarkably enhanced reliability without causing increase of connection resistance and separation of an adhesive agent in the connection part even after a reliability test, and to provide a circuit board showing excellent reliability.例文帳に追加

電子部品と回路基板の接続に用いられ、回路接続界面でのストレスを緩和でき、信頼性試験後においても接続部での接続抵抗の増大や接着剤の剥離がなく、接続信頼性が大幅に向上する回路用接続部材及び接続信頼性に優れる回路板を提供する。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

A server test information communication unit 12 which receives the test signals and measures the communication interval of the test signals sent from each of the communication equipments 1 of the subscribers' homes and a non-connection equipment information acquisition unit 14 which detects the communication equipments 1 whose communication intervals detected by the server test information communication unit 12 are equal to or longer than the prescribed time are provided to the server 10.例文帳に追加

サーバー１０側には、テスト信号の受信を行い、各通信機器１毎にテスト信号の通信間隔を計測するサーバー側テスト情報通信部１２と、サーバー側テスト情報通信部１２で得られた通信間隔が所定の時間以上である通信機器を検出する非接続機器情報取得部１４を設ける。 - 特許庁

The bidirectional photothyristor test device 21 serially connects a second connection terminal 27, a power source V, a first switch SW1, a resistor R, a second switch SW2 and a first connection terminal 26, and is constituted to interpose a capacitor C between the second connection terminal 27 and a node 25.例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置２１を、第２接続端子２７，電源Ｖ，第１スイッチＳＷ１，抵抗Ｒ，第２スイッチＳＷ２，第１接続端子２６を直列に接続し、第２接続端子２７とノード２５との間にコンデンサＣを介設して構成する。 - 特許庁

The connection pad part includes a first metal wiring layer 12 formed on an insulating layer 11 and a second metal wiring layer 14 formed on the above metal wiring layer, and is used for contact of the test probe and connection to the connection electrode.例文帳に追加

絶縁層１１上に形成された第１のメタル配線層１２と、このメタル配線層の上に形成される第２のメタル配線層１４とを備え、試験用プローブとの接触及び接続電極との接続に使用される接続パッド部を構成する。 - 特許庁

In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加

サービスプロバイダから、ユーザ宅へＡＴＭ回線網１００を介してＩＰ接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているＡＴＭ回線にＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置１０を直接接続し、ＩＰ接続試験を実施する。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

When the door 19 is intended to be closed in an un-connection or semi-connection state of the connector cap 31 to the test connector 23, the door 19 can be closed with abutting of the door 19 to the connector cap 31.例文帳に追加

そして、コネクタキャップ３１の試験用コネクタ２３に対する未接続又は半接続状態において扉１９を閉鎖したとき、扉１９がコネクタキャップ３１に当接することにより閉鎖不可能とした。 - 特許庁

In assembling the optical connector, test light is introduced into the built-in optical fiber 2 from a ferrule connection end surface, thereby observing a leakage light leaking outside the optical connector from a butt connection neighborhood through the opening and closing member 11.例文帳に追加

光コネクタ組立時に、試験光をフェルール接続端面から内蔵光ファイバ２に導入し、突き合わせ接続部近傍から開閉部材１１を経て光コネクタの外部に漏れる漏れ光を観察する。 - 特許庁

To provide a semiconductor conveyance fixture in which external connection terminals can accurately be brought into contact with a contact pin of a pre-test socket even in application to a semiconductor having narrow-pitch external connection terminals.例文帳に追加

狭ピッチの外部接続端子を有する半導体に適用した場合でも外部接続端子と事前試験用ソケットのコンタクトピンとを正確に接触させることが可能な半導体搬送治具を提供する。 - 特許庁

The connection controlling portions 101a-10kb and the connection controlling portion 101b-10kb are properly switch-controlled, thereby enabling the output of a result of a driving circuit test action to the common output line CL.例文帳に追加

接続制御部１０１ａ〜１０ｋａ及び接続制御部１０１ｂ〜１０ｋｂを適宜切替制御することで、駆動回路をテスト動作の結果を共通出力線ＣＬに出力することが可能になる。 - 特許庁

To provide an inspection system for highly precisely examining an inspection device for inspecting a test object without changing electric connection in the inspection system.例文帳に追加

検査システムの電気的な接続状態を変更することなく、検査対象を検査する検査装置を高精度に診断する検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a miniaturizable inverter testing device capable of switching collectively connection between an inverter which is a test object and a withstand voltage testing circuit or a function testing circuit.例文帳に追加

被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えでき、かつ小型化できるインバータ試験装置を得る。 - 特許庁

To provide an equipment controller enabling only one operator to perform an operation test by instructing wiring checking for an connection error when connecting new equipment.例文帳に追加

新たな機器を接続する際、接続ミス等には配線のチェックを指示し、一人の作業員のみで作動テストが行える機器制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of electronic circuit board capable of surely contacting test pins to solder connection parts by one drive of a mov ing means.例文帳に追加

移動手段の１回の駆動にて半田接続部にテストピンを確実に接触することの可能な電子回路基板の検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of reducing dedicated pins or terminals connected to a board and carrying out a test of a connection state to the board.例文帳に追加

基板側と接続する専用のピンあるいは端子を少なくして基板との接続状態をテストすることのできる半導体集積回路を得ること。 - 特許庁

To provide a test system for easily changing connection states between measuring instruments and tested devices without requiring knowledge of hardware.例文帳に追加

ハードウエアの知識がなくても、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができることのできる試験システムを提供する。 - 特許庁

A test wiring 1 and a wiring 4 for leading-out are connected by a plurality of wirings 2 for connection having bamboo structure having grain boundaries 3 so as to cross wirings.例文帳に追加

試験配線１と引出用配線４とを、配線を横断するような粒界３を有するバンブー構造の複数の接続用配線２により接続する。 - 特許庁

To provide an automatic wire connection device for an electric meter capable of efficiently performing a performance test without generating a scratch on a meter body of the electric meter.例文帳に追加

電気計器の計器本体にキズを生じさせず、性能試験を効率よく実施することが可能な電気計器用自動結線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-measuring device having a mechanism for restraining the biased wear, and preventing position deviation from occurring easily regarding the electric connection and opening between a prober and a test head.例文帳に追加

プローバーとテストヘッドの電気的接続、開放に関し、摩耗の偏りを抑え、位置ずれを起こし難い機構を有する半導体測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pullout-type air circuit breaker which can display a breaking position, test position and connection position accurately, when a breaker body is pulled in or pulled out from a cradle.例文帳に追加

クレードルに遮断器本体が引込／引出される時、断路位置、テスト位置および接続位置を正確に表示し得る、引出型気中遮断器を提供する。 - 特許庁

To provide a pinboard having a structure connectable to a plurality of kinds of test boards having each different array density of each connection pad without requiring a conversion board.例文帳に追加

接続パッドの配列密度が相違する複数種類のテストボードに変換ボードを要することなく接続することができる構造のピンボードを提供する。 - 特許庁

To achieve reduction in size regardless of the number of bump groups of a probe card while securing electric connection of the probe card with a test head.例文帳に追加

プローブカードとテストヘッドとを確実に電気的に接続でき、しかも、プローブカードのバンプ群の数量に左右されることなく、その小型化を図ることができること。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test device enabling downsizing of the entire configuration and facilitating connection of a lead wire for applying a voltage to an electric component in a pressure container.例文帳に追加

全体形状の小型化が図れ、圧力容器内の電気部品への電圧印加用リード線の接続を容易とする耐電圧試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a testing device of an input/output unit constituted so that a test of the input/output unit may be performed only by connector connection.例文帳に追加

入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行うことができるようにした入出力ユニットの試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an engine test board for establishing connection between simulation of drive systems and vehicles and combustion operation and transition operation peculiar to the vehicles in an engine.例文帳に追加

駆動系および車両のシミュレーションと、エンジンの車両特有燃焼動作および過渡動作との接続を確立できるエンジン試験台を提供する。 - 特許庁

The acquired data read from a boundary-scan register is analyzed by the processing unit of the test device 42 in order to examine the connection between the driver and the sensor.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタから読み出された捕捉データが、ドライバとセンサの間の接続を調べるためにテスト装置４２の処理ユニットによって分析される。 - 特許庁

To provide a medical information device which detects a change of data, such as data loss or partial loss in communications between medical devices during a connection test.例文帳に追加

医用装置間の通信におけるデータの消失や一部喪失といったデータの変更を接続試験時に検出する医用情報装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is provided with a probing circuit for test having no connection with its original logic functions, in addition to logic circuits for the logic function.例文帳に追加

本来の論理機能のための論理回路に加えて、論理機能とは関係のないテスト用のプロービング回路が設けられた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加

複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁

A connection member disconnection determination part 35 determines whether the safety plug 15 is disconnected or not based on a signal detected by the test signal detector 33.例文帳に追加

接続部材外れ判定部３７はテスト信号検出部３３で検出される信号を基にして安全プラグ１５が外れているか否かを判定する。 - 特許庁