「test connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Since parallel input patterns are converted to series patterns and outputted from an output terminal, even when the number of output terminals are few, a connection test can be performed.例文帳に追加

並列の入力パターンを直列に変換して出力端子から出力するため、出力端子の数が少ない場合にも、接続試験を実行できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor package having array electrodes in conjunction with facedown packaging and capable of improving connection accuracy to a socket for carrying out an electric characteristic test.例文帳に追加

フェイスダウン実装に伴うアレイ電極を有し、電気特性試験を実施するためのソケットへの接続精度を向上させる半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing increase in cost and degradation in signal waveform, by preventing crossing of connection wires at a test head.例文帳に追加

テストヘッドにおける接続線の交差を解消することで、コストの上昇や信号波形の劣化を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

For tests to confirm the connection between the output terminal 16 of a macro 1 and the input terminal 25 of a macro 2, a register 12 to hold test data is provided, and a means to output a value of the register 12 as it is at the time of test operation is provided.例文帳に追加

マクロ１の出力端子１６とマクロ２の入力端子２５との間の接続確認テストのために、テストデータを保持するレジスタ１２を設け、テスト動作時にはレジスタ１２の値をそのまま出力する手段を設ける。 - 特許庁

When receiving a test result inputted from a connection determination unit 224, a local updating unit 228 adds discrimination information for discriminating the test result to be a newly generated one, and outputs the result to a local DB 230.例文帳に追加

ローカル更新部２２８は、接続判定部２２４から入力された試験結果を受け入れると、新たに生成された試験結果であることを識別するための識別情報を付加して、ローカルＤＢ２３０に対して出力する。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

The test system 100 is equipped with a module setting file 130 for setting a connection relation between the modules 108, and the test system 100 generates the deliverer 150 based on a content specified in the module setting file 130.例文帳に追加

また、この試験システム１００は、モジュール１０８の接続関係を設定するためのモジュール設定ファイル１３０を備え、試験システム１００は、モジュール設定ファイル１３０に規定された内容に基づいて、配送器１５０を生成する。 - 特許庁

This device has ten fixing parts 2 where test elements are fixed, having terminals to be connected to the test elements, and connection parts 3 for connecting the fixing parts 2 to a cassette 1, on the temperature-adjustable cassette 1 provided with a heating element.例文帳に追加

発熱体が設けられて温度調節が可能なカセット１に、被試験素子が固定されると共に被試験素子に接続される端子を有する１０個の固定部２と、この固定部２をカセット１に接続する接続部３とを有する。 - 特許庁

To provide an adhesive for circuit-member connection that allows alignment marks attached to a wafer to be highly recognizable in an uncured state and achieves excellent connection reliability when a semiconductor device is manufactured and a high-temperature and high-humidity test and a temperature cycle test are executed to the semiconductor device, and a semiconductor device using the same.例文帳に追加

未硬化状態において、ウェハに付されたアライメントマークの認識性が高く、かつ半導体装置を製造して、該半導体装置について高温高湿試験及び温度サイクル試験を行った場合に、優れた接続信頼性が得られる回路部材接続用接着剤、及びこれを用いた半導体装置を提供すること。 - 特許庁

In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加

加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁

This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加

呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

In a test time, a TEST flag signal is 'H', a switch SWA is turned off, a switch SWB is turned on, an external power source for test of which voltage is varied is connected to the memory core 107 through an external power source connection terminal 101, an output of a second boosting circuit 105 is supplied to the voltage drop power source 108.例文帳に追加

試験時においては、ＴＥＳＴフラグ信号が「Ｈ」となり、スイッチＳＷＡはオフ、スイッチＳＷＢはオンとなり、メモリコア１０７には、外部電源接続端子１０１を介して、電圧が変動するテスト用の外部電源が接続され、降圧電源１０８には、第２の昇圧回路１０５の出力が供給される。 - 特許庁

To provide a connection work auxiliary device for a compressed-gas cylinder pressure test capable of performing each work process in the compressed-gas cylinder pressure test easily and efficiently without damaging a base of the cylinder, and especially automatizing the pressure test of the compressed-gas cylinder having a soft base or the compressed-gas cylinder having a small base diameter.例文帳に追加

高圧ガス容器耐圧試験の各作業工程が、容器の口金を傷めることなく、容易、かつ能率良く行なえ、特に口金の軟かい高圧ガス容器や口金の直径が小さい高圧ガス容器の耐圧試験を自動化できる高圧ガス容器耐圧試験の接続作業補助装置を提供すること。 - 特許庁

A plurality of first test terminals to which first test signals required in addition to testing image signals for display tests are supplied, are arranged on the end of the array of the plurality of external circuit connection terminals in the projected area.例文帳に追加

更に、張出領域において複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、表示検査のために検査用画像信号以外に必要となる第１検査信号が供給される複数の第１検査端子を備える。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor integrated circuit having an efficient test mode without requiring much cost, capable of easily observing a signal of a signal wire inside the semiconductor integrated circuit by controlling generation of a connection control signal from the outside.例文帳に追加

コストがかからず効率のよいテストモードをもち、外部から接続制御信号の発生を制御して半導体集積回路内部の信号線の信号を容易に観測することができる半導体集積回路のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

In the operation confirmation test as to an incoming system of a sector 1, when a mobile unit side control section 21 transmits a switching control signal and a test start signal to a high-frequency relay 12b, the relay 12b reaches a connection state accompanying the reception of the switching control signal.例文帳に追加

セクタ１の上り系についての動作確認試験において、移動機側制御部２１から切替制御信号及び試験開始信号が送信されると、切替制御信号の受信にともなって高周波リレー１２ｂが接続状態となる。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

The potential difference set by the potential difference setting means is applied to the first and the second terminals via the inter-terminal connection control means to test the circuit to be tested.例文帳に追加

電位差設定手段によって設定された電位差を、端子間接続制御手段を介して、第１及び第２の端子に印加して、被試験回路を試験する。 - 特許庁

The device comprises in the test head body a socket board provided with a DUT socket, a vertical floating means, a horizontal floating means and a connection cable.例文帳に追加

ＤＵＴソケットが設けられたソケットボードと、鉛直方向フローティング手段と、水平方向フローティング手段と、接続ケ−ブルとが、テストヘッド本体に設けられたものである。 - 特許庁

They include test bridges BR1 and BR2 for failure diagnosis of ASIC and a signal diagnostic route 10m for failure diagnosis of the connection thereof.例文帳に追加

ＡＳＩＣの故障診断用の診断テストブリッジＢＲ１、ＢＲ２と、検出素子およびその接続の故障診断用の信号診断経路１０ｍと、も含まれる。 - 特許庁

To provide a plant control device that requires no complicated preparations of a test apparatus such as cable connection in operation check, and verifies a control load.例文帳に追加

動作確認時に、ケーブル接続等の試験装置の煩雑な準備作業を必要とせず、さらに制御負荷の検証が可能であるものを提供することを目的とする。 - 特許庁

One application includes the preparation of a simulation data store which is generated by using a test grid to model a geometric shape of an IC mutual connection and its method of use.例文帳に追加

ひとつの適用としては、ＩＣ相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁

Replacement of the logic constitution or optimization of an operation frequency is performed based on the route delay test result to a target frequency corresponding to connection between the processor elements.例文帳に追加

前記、プロセサエレメント間の接続に対応したターゲット周波数に対する経路遅延テストの結果をもとに、論理構成の入れ替え、あるいは、動作周波数の最適化を行う。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

A processing circuit 15 automatically detects a connection direction of the illumination system 3 by emitting at least one polarity test current pulse for detecting a current.例文帳に追加

処理回路１５は、電流の検出のために少なくとも１つの極性試験電流パルスを射出することにより、照明システム３の接続方向の自動検出を行う。 - 特許庁

To provide a polishing device capable of polishing a distal end of a connection terminal of a connector when an action test of the circuit board is performed using the connector mounted to the circuit board.例文帳に追加

回路基板に取り付けられたコネクタを用いて回路基板の動作試験をする場合に、コネクタの接続端子の先端を研磨可能な研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system that simulates a propagation environment close to a real environment in order to conduct a connection test between a base station with an adaptive array antenna mounted thereon and a mobile station.例文帳に追加

アダプティブアレイアンテナを搭載した基地局と移動局との接続試験を行うために、実環境に近い様々な伝搬環境を模擬する装置を提供する。 - 特許庁

When test signals are input to the terminals T1, T2, a connection state between the display panel 1 and the FPC 2 is predicted according to signals appearing on the terminal T2, T4.例文帳に追加

端子Ｔ１，Ｔ３にテスト用の信号を入力し、端子Ｔ２，Ｔ４に現れる信号によって、表示パネル１とＦＰＣ２の接続状態を予測する。 - 特許庁

A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストパッド（第２パッド２２）と内部回路２３との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド（第１パッド２１）が配置されている。 - 特許庁

To provide a cable connection judging method and device, wherein a sensor switch is not used and only one test terminal is required, and it does not depend on the power source state of an opposite apparatus.例文帳に追加

センサスイッチを使用せず、試験端子が１個でよく、相手機器の電源状態に依存しないケーブル接続判定方法及びケーブル接続判定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a double-sided circuit board that can suppress the deformation of a conductor made of solder due to a temperature cycle test, and can maintain high connection reliability.例文帳に追加

温度サイクル試験に伴う半田製導電体の変形を抑制することができ、高い接続信頼性を維持することのできる両面回路基板を提供する。 - 特許庁

To provide a socket for a test of a semiconductor element capable of attaining stably electric connection between a solder ball of a BGA package and a contact pin, and manufactured inexpensively.例文帳に追加

ＢＧＡパッケージの半田ボールとコンタクトピンとの間の電気的接続が安定して得られるとともに安価に作製可能な半導体素子試験用ソケットを提供すること。 - 特許庁

The test lead connection terminal 10 includes a panel plate 11 made of an insulating material and a wiring section 12 made of a conductive material on a top surface of the panel plate 11.例文帳に追加

試験用リード接続端子１０は、絶縁材料からなるパネル板１１と、パネル板１１の表面に形成された導電材料からなる配線部１２とを具備する。 - 特許庁

To provide a communication system for testing communications apparatuses compatible with a QoS (Quality of Service) test and an access line interconnecting them, without the need for separate connection of a measurement apparatus.例文帳に追加

別途測定装置を接続することなく、ＱｏＳ（Quality of Service）試験に対応した通信装置やこれらを接続するアクセス回線を試験する通信システムに関する。 - 特許庁

A host PC 8 connected to the signal wire changeover connector 2 has a function for setting connection between the test point 4 and the probe point 2b and informing the signal wire changeover connector 2 of the result.例文帳に追加

信号線切換コネクタ２と接続されるホストＰＣ８は、どのテストポイント４とプローブポイント２ｂを接続するか設定し、信号線切換コネクタ２に通知する機能を備える。 - 特許庁

The ASIC also includes diagnostic test bridges BR1 and BR2 for diagnosing ASIC faults and a signal diagnostic path 10m for diagnosing sense element and sense element connection faults.例文帳に追加

ＡＳＩＣの故障診断用の診断テストブリッジＢＲ１、ＢＲ２と、検出素子およびその接続の故障診断用の信号診断経路１０ｍと、も含まれる。 - 特許庁

An electric signal section of a transponder 1-1 incorporates a digital signal test generation/collation circuit 1-8, a selection insertion section 1-7 or a selection drawing section 1-9 carries out a test in terms of a digital signal before the connection to a client signal to evaluate the quality and the connection is switched to the client to ensure the transmission quality at a digital signal level.例文帳に追加

トランスポンダ1-1の電気信号部にデジタル信号試験発生・照合回路1-8を組み込み、選択挿入部1-7あるいは選択引込部1-9でクライアント信号との接続を行う前にデジタル信号で試験を実施して品質評価を行い、その後クライアントに接続を切換えることでデジタル信号レベルで伝送品質を保証する。 - 特許庁

A reflection amplitude in the test signal is a Vdd when the defective connection occurs in a transmission line 103, and gets to a voltage Vf limited by the ESD circuit 117 of forward bias, when no defective connection occurs.例文帳に追加

テスト信号に対する反射振幅は、伝送線路１０３において接続不良が発生しているときには、Ｖｄｄとなり、接続不良が発生していないときは、順バイアスのＥＳＤ回路１１７によって制限された電圧Ｖｆとなる。 - 特許庁

After long-time use, an ineffective electric connection module or its conductive element is promptly and easily exchanged for a new one or an effective one by directly removing the electric connection module from the test base part.例文帳に追加

長い時間の使用の後、無効な電気接続モジュールまたはそれの導電性エレメントが、電気接続モジュールをテスト基部から直接取り外すことによって新しいものまたは有効なものと迅速にかつ容易に交換されることができる。 - 特許庁

Whether a measuring box 3 is located in a prescribed connection height or not, and whether the box is located in a connection finishing position to the autohandler 1 or not are detected by sensors 14, 15, and detection results thereof are output to confirm fixation between the test head 2 and the autohandler 1.例文帳に追加

測定ボックス３が所定の接続高さにあり、しかもオートハンドラ１に対する接続完了位置にあるかどうかをセンサ１４・１５により検知し、その検知結果を出力するので、テストヘッド２とオートハンドラ１との固定を確認できる。 - 特許庁

An external connection electrode 21, which has the same outer size and cross section as for an external connection electrode 21, formed in a semiconductor device forming region 11, is formed at a peripheral part of a semiconductor device test region 11a with the same process.例文帳に追加

半導体装置テスト用領域１１ａの周辺部には、半導体装置形成領域１１内に形成される外部接続用電極２１と同一プロセスで同一の外形サイズおよび断面積の外部接続用電極２１が形成される。 - 特許庁

A program is created on the programming interface for executing a sample test in a rheometer, by receiving the connection relationship between a number of nodes selected by the user and other nodes in each node by a connection indicator having directivity.例文帳に追加

プログラムは、ユーザが選択した多くのノードと、指向性を有する接続インディケータによる各ノードにおける他のノードとの接続関係と、を受信することによって、レオメータにおいてサンプルのテストを実行するために、プログラミングインターフェース上で作成される。 - 特許庁