「wave aberration」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WAVE FRONT ABERRATION CORRECTION DEVICE AND LIGHT PICKUP例文帳に追加

波面収差補正装置および光ピックアップ - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION CORRECTION DEVICE AND AND OPTICAL PICKUP例文帳に追加

波面収差補正装置および光ピックアップ - 特許庁

To obtain an inexpensive collimator lens with corrected chromatic aberration and wave front aberration.例文帳に追加

色収差および波面収差の補正された安価なコリメータレンズを得る。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVE FRONT ABERRATION MEASURING INSTRUMENT, ALIGNER, DEVICE MANUFACTURING METHOD, AND DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定装置、露光装置、デバイス製造方法、及びデバイス - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE AND PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

波面収差測定機及び投影露光装置 - 特許庁

To enable the measurement of wave aberration even of an eye subject to measurement, in which the wave aberration greatly varies.例文帳に追加

波面収差の変化が大きい被測定眼に対しても波面収差の測定を可能とする。 - 特許庁

OPTICAL PICKUP AND ITS WAVE FRONT ABERRATION CORRECTING DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ及びその波面収差補正装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND PROJECTION EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法及び投影露光装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

波面収差測定方法及び投影露光装置 - 特許庁

To provide an aberration correction liquid crystal element for effectively correcting wave aberration.例文帳に追加

有効に波面収差を補正する収差補正用液晶素子を提供する。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF IMAGING OPTICAL SYSTEM AND MANUFACTURING METHOD OF EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定装置、結像光学系の製造方法、及び露光装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT ABERRATION OF TEST LENS例文帳に追加

被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASUREMENT APPARATUS, EXPOSURE SYSTEM, AND DEVICE MANUFACTURING SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定装置、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁

WAVE ABERRATION MEASURING DEVICE, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波面収差測定装置、露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁

CORRECTION MIRROR FOR WAVE FRONT ABERRATION AND OPTICAL DISK DEVICE USING THE MIRROR例文帳に追加

波面収差補正ミラー及び該ミラーを用いた光ディスク装置 - 特許庁

To provide a wave front aberration measuring apparatus with which a wave front aberration of an optical system to be inspected can be measured with high accuracy by removing the influence of a plane mirror used to measure the wave front aberration of the optical system to be inspected.例文帳に追加

被検光学系の波面収差測定に用いる平面鏡の影響を除去し、被検光学系の波面収差を高精度に測定できる波面収差測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide equipment for measuring aberration in which wave aberration can be measured with high accuracy regardless of the aberration of an optical system.例文帳に追加

光学系の収差の大きさに関わらず、高精度に波面収差を測定することができる収差測定装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR WAVE FRONT ABERRATION MEASUREMENT, AND METHOD AND DEVICE FOR EXPOSURE例文帳に追加

波面収差計測方法及び装置、並びに露光方法及び装置 - 特許庁

To provide an aligner having a wave front aberration measuring apparatus capable of very accurately measuring the wave front aberration of an alignment system.例文帳に追加

アライメン系の波面収差を極めて正確に計測することが可能な波面収差計測装置を有する露光装置を提供することである。 - 特許庁

Then, on the basis of the detected position information and cross section information, the wave front aberration of the light beam is measured by a wave front aberration measuring means.例文帳に追加

そして、検出した位置情報と断面情報とに基づいて光ビームの波面収差を波面収差測定手段により測定する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING WAVE FRONT ABERRATION IN OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

光学系の波面収差測定方法及び波面収差測定装置 - 特許庁

To highly accurately inspect wave front aberration of an optical pickup in a short time.例文帳に追加

光ピックアップの波面収差を短時間かつ高精度に検査する。 - 特許庁

To provide a wave front aberration correction mirror which carries out aberration correction with higher precision and a simpler structure.例文帳に追加

より精度良く、より簡易な構造で、収差補正を行なうことの可能な波面収差補正ミラーを提供する。 - 特許庁

Color aberration by the fundamental wave light and third harmonic wave light is not caused on a concave mirror 120.例文帳に追加

凹面鏡１２０においては基本波光と第３高調波光とによる色収差は発生しない。 - 特許庁

Color aberration by the fundamental wave light and second harmonic wave light is not caused by a concave mirror 110.例文帳に追加

凹面鏡１１０においては基本波光と第２高調波光とによる色収差は発生しない。 - 特許庁

MULTILAYER FILM REFLECTION MIRROR AND CONTROL METHOD FOR WAVE ABERRATION OF THE MULTILAYER FILM REFLECTION MIRROR例文帳に追加

多層膜反射鏡、多層膜反射鏡の波面収差制御方法 - 特許庁

LENS AND OPTICAL PICKUP HAVING CORRECTION FUNCTION OF WAVE FRONT ABERRATION DUE TO TILT例文帳に追加

チルトによる波面収差の補正機能を有するレンズ及び光ピックアップ - 特許庁

To make it possible to form a sharp image by improving wave front aberration.例文帳に追加

波面収差を改善し、シャープな結像を得ることができるようにする - 特許庁

To provide a lens array, a wave front sensor and a wave front aberration measuring device, for measuring wave front aberration of a lens being a inspection target by effectively utilizing light quantity and suppressing influence of diffracted light being an error factor.例文帳に追加

光量を有効に利用し、かつ、誤差要因となる回折光の影響を抑えて測定することができるレンズアレイ、波面センサ及び波面収差測定装置を供すること。 - 特許庁

The computing part distorts the grid on the basis of the acquired wave aberration (S219).例文帳に追加

演算部は、得られた波面収差に基づきグリッドを歪曲させる（Ｓ２１９）。 - 特許庁

In an image forming optical device having the spherical aberration and a chromatic aberration and using a wave beam [electromagnetic wave of various wavelength bands including light wave, sonic wave (ultrasonic wave), electron beam, charged particle beam, or the like], an observed images are integrated while continuously varying a focus deviation amount within a prescribed value (equivalent to averaged movement of a focus and chromatic aberration).例文帳に追加

波動性ビーム〔光波を含む各波長域の電磁波、音波（超音波）、電子ビームや荷電粒子ビームなど〕を使用した球面収差や色収差を有する結像光学装置において、焦点はずれ量を一定範囲内で連続的に変化させながら観察像を積算する（焦点移動平均，色収差と等価）。 - 特許庁

To provide an aberration compensating element, facilitating adjustment in compensating a wave front aberration witout consuming power unnecessarily.例文帳に追加

波面収差の補正を行う場合の調整が容易であって、不必要に電力を消費しない収差補正素子を提供する。 - 特許庁

WAVE ABERRATION MEASURING DEVICE, PROJECTION ALIGNER, AND MANUFACTURING METHOD OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定装置、投影露光装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

LITHOGRAPHIC PROJECTION APPARATUS, DIFFRACTION MODULE, SENSOR MODULE, AND METHOD OF MEASURING WAVE FRONT ABERRATION例文帳に追加

平版投射装置、回折モジュール、センサモジュールおよび波面収差を測定する方法 - 特許庁

The loading/unloading mechanism loads or unloads the wave-front aberration measuring unit 35 at the drawing position separated from the measuring position as the position to measure the wave-front aberration of the projected optical system.例文帳に追加

そして、着脱機構は、投影光学系の波面収差を測定する位置である測定位置から離れた退避位置で波面収差測定ユニット３５を着脱する。 - 特許庁

Furthermore, in each of a first surface 11, a second surface 12 and a third surface 13, the wave-front aberration value at the surface peripheries is larger than the wave-front aberration value at the surface center.例文帳に追加

さらに、第１面１１、第２面１２及び反射面１３では、各々、面中央の波面収差値に比べて、面周縁の波面収差値の方が大きい。 - 特許庁

Thus, making the average values of the wave aberration coincide between the central and peripheral areas can reduce the phase shift to zero or less than 0.05λ1, which can improve the wave aberration.例文帳に追加

このように波面収差の平均値を一致させれば、位相のズレは、ゼロ或いは０．０５λ１未満とすることができ、波面収差の向上を図ることができるのである。 - 特許庁

A medium wave front aberration compensation voltage forming part 20 and an optical system wave front aberration compensation voltage forming part 21 are provided in a control mechanism 2 to separately and independently compensate a medium wave front aberration caused by the shape or the like of an optical recording medium 14 and an optical system wave front aberration caused by an optical system in an optical pickup mechanism 1.例文帳に追加

制御機構２内に媒体波面収差補正電圧生成部２０と光学系波面収差補正電圧生成部２１とを備え、光学記録媒体１４の形状等に起因した媒体波面収差と、光ピックアップ機構１内の光学系に起因した光学系波面収差とを別個独立に補正する機構を有する。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE PROVIDED WITH TRANSMISSIVITY MEASURING DEVICE AND TRANSMISSIVITY MEASURING MECHANISM例文帳に追加

透過率測定装置及び透過率測定機構を備えている波面収差測定装置 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL POSITION MEASURING INSTRUMENT, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING INSTRUMENT, AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE WAVE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置 - 特許庁

The optical pickup device is provided with a liquid crystal panel 9 as an aberration compensating means and has a construction for applying voltage corresponding to compensation of the medium wave front aberration and the optical system wave front aberration to two transparent electrodes with which the liquid crystal panel 9 is provided.例文帳に追加

また、収差補正手段として液晶パネル９を備え、液晶パネル９に備わる２つの透明電極に対して、媒体波面収差と光学系波面収差の補正とに対応した電圧を印加する構成を有する。 - 特許庁

To provide a method of aberration measurement capable of measuring wave aberration with high accuracy over the whole area of the effective numerical aperture of a lens to be inspected.例文帳に追加

被検レンズの有効開口数の全面に亘って、高精度な波面収差の測定が可能な収差測定方法を提供すること。 - 特許庁

To attain an optical scanning system constituted of a single lens, and capable of satisfactorily correcting not only geometric-optical aberration but also wave-optical aberration.例文帳に追加

レンズ１枚構成で、幾何光学的な収差のみならず波動光学的な収差も良好に補正可能である走査光学系を実現する。 - 特許庁

To shorten time required for measurement, and obtain wave front aberration information of an object to be inspected with high accuracy.例文帳に追加

計測に要する時間を短縮して、高精度に被検物の波面収差情報を求める。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, PIN HOLE MASK, PROJECTION EXPOSURE SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定装置、ピンホールマスク、投影露光装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁