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「control inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索
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control inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1745



例文

The inspection result storage circuit 8 makes signals BIST_GO and BIST_DONE to be the inputs, which are output from a BIST control circuit 7, and stores the inspection result showing by the signal BIST_GO each time the signal BIST_DONE shows the end of inspection when a mode changeover signal BIST_MODE shows an inspection mode.例文帳に追加

検査結果格納回路8はBIST制御回路7から出力された信号BIST_GO,BIST_DONEを入力とし、モード切替信号BIST_MODEが検査モードを示すときは、信号BIST_GOが示す検査結果を信号BIST_DONEが検査終了を示す毎に格納する。 - 特許庁

To flexibly and efficiently inspect an image inspected by an automatic inspection device by a visual observation as well by a simple configuration and to effectively utilize an inspection result by the visual observation, relating to the remote control inspection support device of the automatic inspection device for inspecting the quality of the image on a monitor screen.例文帳に追加

モニタ画面の画像の良否を検査する自動検査装置の遠隔操作検査支援装置に関し、簡素な構成で自動検査装置によって検査された画像を柔軟かつ効率よく目視でも検査できるようにし、目視による検査結果を有効に活用できるようにする。 - 特許庁

Each agricultural product A, ... taken in each carriage B1, ... is inspected by an inspection device 4, artificial inspection results by an operator D and mechanical inspection results by the inspection device 4 correspond to the order of each carriage B1, ... counted by the counter 5a, which is memorized in a writing table of a control device 5.例文帳に追加

各搬送体B1…に収容された各農産物A…を検査装置4で検査し、作業者Dによる人為的検査結果と検査装置4による機械的検査結果を、カウント5aでカウントした各搬送体B1…の順番と対応させて制御装置5の書込みテーブルに記憶する。 - 特許庁

As an inspection controller unit 19B can responds in common with both the case that the emergency inspection is carried out using the inspection switch 5 and the case that the emergency inspection is carried out using the remote control terminal 60, increase in parts count is suppressed and space saving can be realized.例文帳に追加

また、点検制御部19Bが点検スイッチ5を用いて非常点検を行う場合とリモコン端末60とを用いて非常点検を行う場合とで共通して対応可能となっているので、部品点数の増加を抑制しており、省スペース化を図ることができる。 - 特許庁

例文

An adjustment/inspection control means 3 of an information processor 1 controls implementation of each of the adjustment/inspection processing in a adjustment/inspection step incorporated into the manufacturing step of the information processor 1, and updates completion information on the completion status of the adjustment/inspection step every time processing is completed.例文帳に追加

情報処理装置1の調整・検査制御手段3は、情報処理装置1の製造工程に組み込まれている調整・検査工程における各調整・検査処理の実行を制御し、処理の完了ごとに、調整・検査工程の完了状況を示す完了情報を更新する。 - 特許庁


例文

A control program for controlling the circuit board inspection device 2 stores the identification number of a circuit board 20 and the number of the probe pin 19 used for inspection of an inspection item having inferiority to a storing means 3c of a computer device 3, when the inferiority is determined as a result of the inspection of the circuit board 20.例文帳に追加

回路基板検査装置2を制御する制御プログラムは、回路基板20の検査の結果、不良と判定すると、当該回路基板20の識別番号と、不良となった検査項目の検査に用いたプローブピン19の番号とをコンピュータ装置3の記憶手段3cに記憶させる。 - 特許庁

To provide a method of inspection and quality control for a printed matter during high-speed paper feeding, particularly a built-in device and an inspection method for the same for shape inspection and strength control in production processes of a printed matter that emits light of an invisible wavelength.例文帳に追加

本発明は、高速用紙搬送を前提とした印刷物の検査方法又は品質管理の方法に関するものであり、特に可視光以外の波長で発光する印刷物の製造工程において、形状検査及び強度管理等をするための機上検査装置とその検査方法に関する。 - 特許庁

To provide a system capable of confirming information on control, information on maintenance and inspection, and information on plans of operation, maintenance and the inspection at any place such as a central control room, work sites of the maintenance and the inspection, etc. and an office for making the plan.例文帳に追加

中央制御室、保守や点検などの作業現場、および、計画を立案する事務所などのいずれの場所においても、制御に関する情報、保守や点検に関する情報、および、運転や保守、点検の計画に関する情報が確認できるようなシステムを提供する。 - 特許庁

When 'a distance R from the left edge' and 'a distance R from the right edge' in a semiconductor wafer 80 are set as the inspection area, a total control section calculates the inspection area of the semiconductor wafer 80 loaded into an inspection chamber based on the setting, and the result of calculation is registered into a compensation control circuit.例文帳に追加

半導体ウエハ80における「左エッジからの距離R」と「右エッジからの距離R」とを検査エリアとする設定がされた際、全体制御部は、この設定に基づいて検査室にロードされる半導体ウエハ80の検査エリアを演算し、この演算結果を補正制御回路に登録する。 - 特許庁

例文

To provide control and inspection bar codes in welding which are available for unitary control and inspection in spot welding, and to provide a work system for weld inspection which is a step of performing unitary inspection, operations, and storage through the use of the bar codes, and in which a burden on an inspector is reduced, accuracy in welding is enhanced, and proper storage is achieved.例文帳に追加

スポット溶接の一元制御・検知に用いられる溶接制御・検査用バーコード及びそれを用いた一元的溶接検査と作業と収納の工程であって、検査作業者の負担と軽減することと、溶接の精度の向上と合格品の適正な収納をおこなうことができる溶接検査用作業システムを提供する。 - 特許庁

例文

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、LSI検査装置130が状態制御フラグ121の値を設定することによって、検査モジュール100のインターフェース制御回路102が制御され、テスト用データの検査対象LSIへの出力、前記検査対象LSIから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

To provide an electronic component with a control terminal which is easily inspected with a simplified configuration of an inspection tool and attains sure inspection, wherein the quality of the product is not affected even when the component is inspected by an inspection terminal.例文帳に追加

検査治具の構成が簡単で、検査がしやすく、かつ確実に検査を行うことができ、検査用の端子により検査しても、製品の品質に悪影響を受けることがない制御端子付き電子部品を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic component with a control terminal which is easily inspected with a simplified configuration of an inspection tool and attains sure inspection, wherein the quality of the product is not affected even when the component is inspected from an inspection terminal.例文帳に追加

検査治具の構成が簡単で、検査がしやすく、かつ確実に検査を行うことができ、検査用の端子により検査しても、製品の品質に悪影響を受けることがない制御端子付き電子部品を提供すること。 - 特許庁

Further, the inspection system 1 has a transfer rail control part 50 which controls the transfer of the transfer rail device 20 when it receives information indicating that the inspections are completed from the solder state inspection device 30 and the warpage inspection device 40, respectively.例文帳に追加

更に検査装置システム1は、はんだ状態検査装置30及び反り検査装置40の夫々から検査終了の旨を受信した場合に、搬送レール装置20の搬送を制御する搬送レール制御部50とを有する。 - 特許庁

The control lines provide the maximum prescribed inspection concentration value and the minimum prescribed inspection concentration value to be used as color collation references of a test line, by generating a plurality of color reactions having each different coloring degree with the inspection liquid.例文帳に追加

制御ラインは、前記検査液体と複数の異なる呈色程度である呈色反応を行うことで、最大所定検査濃度値及び最小所定検査濃度値を提供してテストラインの色照合基準にする。 - 特許庁

When inspection gas is supplied to the fuel cell stack 11 by a supply means 24, a temperature control means 26 controls the inspection gas to be equal to the temperature of the fuel cell stack 11 or the inspection environmental temperature.例文帳に追加

供給手段24によって燃料電池スタック11に検査ガスを供給する際に、温調手段26によって燃料電池スタック11の温度ないし検査環境雰囲気温度と等温になるように検査ガスを調温する。 - 特許庁

A data update part 160 for inspection control changes specific standards to strict standards which are narrower in non-defect range, when there is a specific number of inspection objects that the inspection device has judged to be defective and the repair operator has judged to be normal.例文帳に追加

検査制御用データ更新部160は、検査装置は異常と補修作業者は正常と判断した検査対象物が所定数あるときは所定基準を正常範囲が狭くなるような厳格な基準に変更する。 - 特許庁

The control unit 208 puts the body mark ID corresponding to one or more ultrasonic image data obtained from the set start to end of the inspection in the inspection information file corresponding to the set inspection.例文帳に追加

そして、制御部208は、設定された検査の開始から終了までにおいて取得された1以上の超音波画像データに対応するボディマークIDを当該設定された検査に対応する検査情報ファイルに含める。 - 特許庁

In this substrate inspection system 100 including a macro inspection device 200, a micro inspection device 300 and a CIM server 400, a radio communication information frame 600 is transceived between a macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330) and a control computer 210 (control computer 310), and a signal wire is omitted in constitution for transmitting the radio communication information frame 600 to the CIM server 400 via a hub 500.例文帳に追加

マクロ検査装置200、ミクロ検査装置300、CIMサーバ400を含む基板検査システム100において、マクロ検査カメラ部230(ミクロ検査カメラ部330)と制御コンピュータ210(制御コンピュータ310)の間で無線通信情報フレーム600を授受し、ハブ500を介してCIMサーバ400に無線通信情報フレーム600を送る構成として信号配線を省略した。 - 特許庁

The control part 2 receives the vehicle inspection information and the like from the operating terminal 13 and registers the same in the user data base 5.例文帳に追加

制御部2は、操作端末13から車検情報等を受信して利用者データベース5に登録する。 - 特許庁

Each inspection result is collected by a transfer quality controller 4 to perform the quality control utilizing each result.例文帳に追加

各検査結果を転写品質管理装置4で収集し、各結果を利用した品質管理を可能とする。 - 特許庁

The rolling up of the sheet cover enables the visual inspection of the entire surface of the main control board through the case cover.例文帳に追加

シート部材を捲りあげれば、ケースカバーを透して主制御基板の表面全体の目視検査が可能となる。 - 特許庁

Thus, the reprogramming and the inspection of the on-vehicle control device 10 can be efficiently performed by the CAN communication.例文帳に追加

よって、車載制御装置10のリプログラミングや検査をCAN通信によって効率的に行うことができる。 - 特許庁

To provide an interface circuit 2 for an inspection device which can control input/output states by a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で入出力状態が制御できる被検査装置用インタフェース回路2を提供する。 - 特許庁

To control irregular wear of a shoe using a simple structure, and to prolong the inspection and replacement periods of the shoe.例文帳に追加

簡易な構成でシューの偏磨耗を抑制できて、シューの点検、交換周期を伸ばすことができるようにする。 - 特許庁

When the test data are normal as the result of inspection, the signal 23 is outputted and reported to a corresponding control part 300.例文帳に追加

その結果、正常ならバス転送許可信号23が出力され当該制御部300に通知される。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF FAILURE IN INTEGRATED CIRCUIT, AS WELL AS RECORDING MEDIUM RECORDING ITS CONTROL PROGRAM例文帳に追加

集積回路の故障検査装置及びその検査方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To enable the renewal and inspection of a program of a main control device of an elevator by commands from a central monitoring device.例文帳に追加

エレベータの主制御装置のプログラムを中央監視装置からの指示で更新及び検査が可能とする。 - 特許庁

When the control panel 1 is inspected, the magnet 6 of the inspection lamp device 4 is attracted to the outer surface of a box body 2.例文帳に追加

制御盤1の点検時に、箱体2の外側面に点検灯装置4の磁石6を吸着させる。 - 特許庁

The main control part transmits the expectation-value changing data having the switched value to the rear stage, and changes the inspection value.例文帳に追加

主制御部は該切り替えた値の期待値変更用データをして後段部に送信し且つ検査値を変更する。 - 特許庁

To arrange a control panel to facilitate maintenance and inspection while effectively utilizing a space in a shaft.例文帳に追加

昇降路のスペースを有効に活用しながら、保守点検が行い易いように制御盤を配置すること。 - 特許庁

To reduce the use memory capacity of a pattern control circuit supplying pattern data for inspection to a device to be inspected.例文帳に追加

検査用パターンデータを被検査デバイスに供給するパターン制御回路の使用メモリ容量を削減する。 - 特許庁

To provide an inspection program of an industrial robot which can measure the performance of a robot control program.例文帳に追加

ロボット制御プログラムの性能計測を行うことが可能な、産業用ロボットの検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To facilitate inspection work for fouling levels of a drainage pan and a drainage pump, as sanitary maintenance control for an air conditioner.例文帳に追加

空気調和機の衛生維持管理として、ドレンパンやドレンポンプの汚れ付着レベルの点検作業を容易にする。 - 特許庁

To provide a bioassay strip for improving inspection accuracy by having a plurality of control lines.例文帳に追加

複数の制御ラインを有して検査の正確性を向上することができる生物試験ストリップを提供する。 - 特許庁

The main control part transmits the expectation-value changing data having the switched value to the intermediate part, and changes the inspection value.例文帳に追加

主制御部は該切り替えた値の期待値変更用データをして中間部に送信し且つ検査値を変更する。 - 特許庁

To provide a Pachinko game machine which enables easy inspection, repair and replacement of the part overlapping with an accessory control board.例文帳に追加

役物制御盤と重なった部分の点検、修理、交換が容易にできるパチンコ遊技機を提供する。 - 特許庁

The worker takes out the control device 40 to the outside of the machine room 14 and places it on the platform 52 for inspection.例文帳に追加

制御装置40を機械室14外部に取り出し、乗降板52の上に載置して点検を行う。 - 特許庁

When a start switch is depressed, the control circuit starts the execution of the inspection mode to swing the infrared sensor.例文帳に追加

スタートスイッチが押圧操作されると、制御回路は点検モードの実行を開始し、赤外線センサを揺動させる。 - 特許庁

The control/operation part of the inspection device 1 determines the quality of the substrate 3 from the range of pixel-by-pixel chromaticity.例文帳に追加

色検査装置1の制御・演算部は、各画素毎の色度のレンジから基板3の良否を判定する。 - 特許庁

CORRECTION VALUE INSPECTION METHOD OF THERMISTOR FOR HEATING DETECTION, AND CONTROL METHOD OF DEVICE EQUIPPED WITH THERMISTOR FOR HEATING DETECTION例文帳に追加

加熱検知用サーミスタの補正値検査方法および加熱検知用サーミスタを備えた装置の制御方法 - 特許庁

MAGNETIC DISK DRIVE HAVING FUNCTION USING THERMAL PROTRUSION AMOUNT FOR FLOATING HEIGHT CONTROL, AND INSPECTION DEVICE HAVING ITS FUNCTION例文帳に追加

サーマルプロトリューション量を浮上量管理に用いる機能を持つ磁気ディスク装置、その機能を有す検査装置。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING CONTROL SIGNAL FOR DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DEVICE PROVIDED WITH INSPECTION FUNCTION例文帳に追加

表示デバイス用制御信号の検査方法及び検査装置並びにこの検査機能を備えた表示装置 - 特許庁

The main control part transmits the expectation-value changing data having the switched value to the surrounding part, and changes the inspection value.例文帳に追加

主制御部は該切り替えた値の期待値変更用データをして周辺部に送信し且つ検査値を変更する。 - 特許庁

During an inspection mode, a control unit 112 designates a DC-DC converter 124 to stop the switching operation.例文帳に追加

検査モードの際には、制御部112の指示により、DC−DCコンバータ124がスイッチング動作を停止する。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspection system capable of enhancing the detection precision of the Barkhausen noise of an inspection target by suppressing the change in the magnetic resistance of excitation caused by the measuring position of the surface to be inspected of the inspection target and dispensing with control such as the preparation of an exclusive member at every inspection target, and a Barkhausen noise inspection method.例文帳に追加

検査対象物の被検査面の測定位置に起因する励磁の磁気抵抗の変化を抑制し、検査対象物のバルクハウゼンノイズの検出精度の向上を図ることができると共に、検査対象物毎に専用の部材を準備する等の管理を不要としたバルクハウゼンノイズ検査装置およびバルクハウゼンノイズ検査方法を提供する。 - 特許庁

The main control unit 10 of the game machine 1 includes an individual inspection value generation means 13 for dividing predetermined data, performing a semigroup operation and generating an individual inspection value and an operation inspection value generation means 14 for generating an operation inspection value selected on the basis of a division number, adds the respective inspection values to data signals, and transmits them to the intermediate part 20.例文帳に追加

遊技機1の主制御部10は、所定のデータを分割し半群演算を行って個体検査値を生成する個体検査値生成手段13と、分割数に基づいて選択された動作検査値を生成する動作検査値生成手段14とを備え、各検査値をデータ信号に付加して中間部20に送信する。 - 特許庁

This flaw estimating system includes an inspection part for continuously inspecting a plurality of inspection target plates, a control computer for controlling the inspection part and accumulating at least the position data of a flaw in the case where the flaw is found out and a flaw data display part for simultaneously displaying flaw data at the time of inspection of the inspection target plate having the flaw.例文帳に追加

複数の検査対象板を連続的に検査する検査部と、当該検査部を制御すると共に欠陥が見つかった場合に少なくともその欠陥の位置情報を蓄積する制御コンピュータと、前記欠陥情報をその欠陥を有する検査対象板の検査時に同時に表示する欠陥情報表示部とを備えて構成した。 - 特許庁

This inspection system is equipped with a line sensor camera for capturing the image of an inspection panel, a moving means for relatively shifting the line sensor camera and the inspection panel and a control part for scanning the inspection panel by the line sensor camera, while relatively shifting the line sensor camera and the inspection panel at a set speed by the moving means.例文帳に追加

検査パネルの画像を取り込むラインセンサーカメラと、当該ラインセンサーカメラと前記検査パネルとを相対的にずらす移動手段と、当該移動手段で前記ラインセンサーカメラと前記検査パネルとの間を設定速度で相対的にずらしながら、前記ラインセンサーカメラでスキャンして検査パネルの画像を取り込む制御部とを備えた検査装置である。 - 特許庁

例文

To provide a charged particle beam application inspection device and an inspection method capable of realizing a charge control technology having more excellent uniformity than hitherto, and having excellent inspection accuracy and length measurement accuracy, concerning the inspection method and the device using the charged particle beam for defect inspection at an optional part on an unfinished semiconductor wafer in a semiconductor device manufacturing process.例文帳に追加

半導体装置製造過程での未完成な半導体ウェハ上の任意の部分における欠陥検査のための、荷電粒子ビームを使用した検査方法および装置に関し、従来よりも均一性に優れた帯電制御技術を実現し、検査精度、測長精度に優れた荷電粒子線応用検査装置、検査方法を提供する。 - 特許庁




  
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