「condition of defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect a condition of a wetted face in a pool 6, a leakage defect, a very small defect or the like on a water surface from a remote site by remote control, without discharging water of the pool in a nuclear power plant.例文帳に追加

原子力発電所内のプール６水を排出することなく、かつ遠隔で水面上から遠隔操作によりプールの接液面の状況、漏洩欠陥や極めて小さい欠陥等を検出する水中点検装置を提供する。 - 特許庁

The data retrieval part 25, on the basis of inputted retrieval condition, extracts the product defect information, the history information and information meeting the search condition, and generates a table representing the retrieval result.例文帳に追加

データ検索部２５は、入力された検索条件に基づいて、製品不具合情報及び履歴情報その検索条件を満たす情報の抽出を行い、検索結果を示す表を生成する。 - 特許庁

To provide an imaging condition determination method for finding an area where the luminance difference becomes maximum in unit patterns of a periodic pattern, and to provide a defect inspection method that uses the same, and a defect inspecting device.例文帳に追加

周期性パターンの単位パターンにおいて輝度差が最大となる領域を求めるための周期性パターンの撮像条件決定方法、これを用いた欠陥検査方法、および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

This method for preventing the seed from causing the defect in germination and the rosette formation comprises leaving the seed of plant causing the defect in germination or the rosette formation when growing in a high-moisture content state in a low-temperature and dark condition and then carrying out drying treatment.例文帳に追加

発芽不良、または、生育時にロゼット化を起こす植物体種子を、高水分状態で低温・暗黒条件下に放置したのち、乾燥処理する種子の発芽不良・ロゼット化防止方法。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic device where an image defect is not generated by electrification lateral cord from the initial time to the end of endurance even after it is stored on a severe condition.例文帳に追加

苛酷な条件で保管した後も初期から耐久後まで、帯電横スジによる画像欠陥が発生しない電子写真装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the diagnosing system is provided with a learning subsystem for automatically updating the plural trained data based on the condition of a defect inputted by the user.例文帳に追加

さらに、診断システムは、ユーザによって入力された欠陥条件に基づいて複数のトレーニング済みデータを自動的に更新する学習サブシステムを備える。 - 特許庁

To provide a method of generating a test program for a computer program, automatically generating a test program capable of extracting defect generated under a complicated condition to a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラムに対し、複雑な条件で発生する不良の摘出が可能なテストプログラムを自動で生成するコンピュータプログラムのテストプログラム生成方法を提供する。 - 特許庁

By changing clearance by the TFC, the defect detecting test in a different test condition can be performed without remarkably lowering the throughput of the manufacture of HDD.例文帳に追加

ＴＦＣによってクリアランスを変化させることで、ＨＤＤ製造のスループットを大きく落とすことなく、異なるテスト条件における欠陥検出テストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a method for resistance spot welding of an aluminum alloy plate by which the break and a blow hole weld defect of the aluminum alloy plate are decreased and a welding condition is simplified.例文帳に追加

アルミニウム合金板材の割れやブローホール溶接欠陥を低減し、かつ溶接条件を簡易化したアルミニウム合金板材の抵抗スポット溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide the degree of condition coincidence between information on plural partial conditions and an applied input event and to interpolate a defect value in the feature variable of the input event.例文帳に追加

複数の部分状況に関する情報と与えられた入力イベントとの状況一致度を得るとともに、入力イベントの特徴量の欠損値を補間すること。 - 特許庁

The inspection device is structured to correct the positional coordinates of a detected foreign matter or defect based on the central coordinates of the inspection object, in accordance with the detected positional condition when inspected.例文帳に追加

そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁

A plurality of drive signals having a driving waveform, corresponding to a defect type of a TFT array are prepared, and a plurality of defect types are detected during inspection of one substrate, by altering a drive signal applied according to a scanning condition in the inspection of the substrate.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの欠陥種に応じた駆動波形を有する駆動信号を複数用意しておき、一つの基板を検査する間に走査条件に応じて印加する駆動信号を切り替えることによって、一つの基板を検査する間に複数の欠陥種の検出を行う。 - 特許庁

Then the scattered light P2a of the inspection light 7a (8a) at the position of the interior defect P2 is visually recognized in a condition recognizing a position of the inner surface 2a by the reflection light 10a1.例文帳に追加

そして、反射光１０ａ１により内表面２ａの位置を認識した状態で、内部欠陥Ｐ２の箇所での検査光７ａ（８ａ）の散乱光Ｐ２ａを視認する。 - 特許庁

To provide a thermopile infrared sensor capable of detecting a defect in a wafered condition such as short-circuiting of a wiring to prevent delivery to a subsequent process, and a method of inspecting with the sensor.例文帳に追加

配線のショート等の不良をウェハ状態で検出して後工程に流出することを防ぐことができるサーモパイル式赤外線センサおよびその検査方法を提供する。 - 特許庁

Since an image of the object to be inspected S is photographed by a photographic device 7 in a condition of free from the dust 3 and the defect is extracted by an image processor 8, the dust merely adhered on the object to be inspected is not mistaken as a defect such as scratch or burr.例文帳に追加

ゴミ３がない状態で被検査物Ｓの映像が撮像装置７により撮像され画像処理装置８により欠陥が抽出されるから、被検査物に付着しているだけのゴミをキズやバリなどの欠陥と誤認することがない。 - 特許庁

To practically use a surface defect inspection device by robot grasping, by reducing rotation deflection in an open end when inspecting a defect while rotated under the condition where one side of an inspected object is grasped and where the other side is opened.例文帳に追加

被検査物の一方を把持し、他方を開放した状態で回転させながら欠陥検査を行う上で、開放端側の回転振れを小さくし、ロボット把持による表面欠陥検査装置を実用化できるようにする。 - 特許庁

The image processing device 1 detects defect pixels by performing image processing on image data, and performs quality determination on the inspection target based on a first inspection condition C1 set based on either the number or positions of defect pixels.例文帳に追加

画像処理装置１は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第１の検査条件Ｃ１によって、検査対象物の良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a joint inspection method by which the end part of a joint interface of metallic pipes joined by a diffusion joining method, especially the presence or absence of a difference level and a defect on the inner peripheral surface side can be detected in the non-destructive condition and also the size of the difference in level and the defect can be detected with high accuracy.例文帳に追加

拡散接合法により接合された金属管の接合界面の端部、特に、内周面側における段差及び欠陥の有無を非破壊で検出でき、しかも段差及び欠陥の大きさを高い精度で検出することが可能な接合部の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method capable of initializing a phase change optical disk precisely even when the constitutional condition of the disk and the head condition are not uniform, and also capable of surely detecting the irregularity of initialization or the local defect existing in a medium.例文帳に追加

ディスクの構成条件、ヘッド条件が一様でない場合であっても精度よく初期化を行うことができ、また、初期化むらや媒体に存在する局所的な欠陥を確実に検出できる相変化光ディスクの初期化装置及び初期化方法の提供。 - 特許庁

Then, a black image is obtained under the same condition when the data is imaged, "defective pixel of defect grade N" in the black image is specified from the positional information of the defective pixel of defect grade N, and a representative value R of a differential value d between the pixel value of the specified defective pixel and the pixel value of pixels having the same color around the pixel is obtained.例文帳に追加

その後、撮像されたときと同じ条件で黒画像を得て、欠陥グレードＮの欠陥画素の位置情報から、その黒画像における「欠陥グレードＮの欠陥画素」を特定し、特定した欠陥画素の画素値とその周囲の同色の画素の画素値との差分値ｄの代表値Ｒを得る。 - 特許庁

To provide a rinse processing method whereby the condition for reducing the developing defect of an objective wafer is so grasped rapidly regardless of the objective wafer as to be able to perform its rinse processing after subjecting it to a developing processing.例文帳に追加

対象基板によらず現像欠陥の少なくなる条件を迅速に把握して現像処理後のリンス処理を行うことができるリンス処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspecting technology capable of observing or inspecting a sample by distinguishing a contrast resulting from a shape from another contrast resulting from a potential condition.例文帳に追加

形状に起因するコントラストと電位状態に起因するコントラストとを区別して観察あるいは検査することが可能となる欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

To reduce cost, to easily recover a condition when faulty conduction occurs and to prevent an image defect even in the case of using a flexible image carrier.例文帳に追加

低コスト化を図ると同時に、導通不良が発生した場合に容易に修復でき、可撓性を有する像担持体を用いても画像欠陥が生じないようにする。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to detect a plurality of defect kinds at the same time under a single integrated condition, and when a plurality of defects are detected by handling the defect as multidimensional feature quantity, the calculation cost required in signal processing increases together with the increase in the number of detectors.例文帳に追加

単一の統合条件においては複数の欠陥種を同時に検出することは困難であり、また、多次元の特徴量として扱って複数の欠陥を検出すると、信号処理にかかる計算コストが検出器の増加とともに増大するという問題が発生する。 - 特許庁

The data analysis part 24, on the basis of inputted extraction condition, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information, and generates a graph with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加

データ解析部２４は、入力された抽出条件に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報からその抽出条件を満たす情報の抽出を行い、部品７の画像をグラフ要素としてグラフを生成する。 - 特許庁

To provide a coating chamber provided with an air cleaner capable of improving a cleanliness level of the coating chamber without occurring a coating defect on a coating surface, forming the most suitable coating environment in accordance with a coating condition and the kind of a product.例文帳に追加

塗布面に塗布欠陥を発生させることなく塗布室の清浄度レベルを向上できると共に、塗布条件や製品の種類に応じた最適な塗布環境を形成することができる。 - 特許庁

To provide a drawing method capable of reducing a working defect due to no development of a crack, increasing a formable quantity due to the condition hard to develop the crack and increasing the freedom of product design.例文帳に追加

割れが発生しないので加工不良が減少し、また、割れが発生しにくいことにより成形可能量が増し、そのため製品設計の自由度も増す絞り成形方法を提供する。 - 特許庁

To provide a composite tool of high rigidity capable of preventing the mechanical defect of a tool edge and the thermal abrasion or the like caused by frictional heat even under a severe cutting condition not using the cutting oil, and ensuring the sufficient life under a working condition of high speed, high efficiency and high accuracy.例文帳に追加

切削油を使用できない過酷な切削条件下においても、工具刃先の機械的な欠損や摩擦熱による熱的摩耗等を抑え、高速、高能率、高精度の加工時条件下で、充分な寿命を保証する複合高硬度工具を提供する。 - 特許庁

An endoscope device 3 includes a feature detection part for detecting a first feature part of an inspection object from an image based on a first condition, a defect detection part for detecting a first defect part of the inspection object based on the first feature part, and a display part for displaying information indicating the first defect part with an image thereof.例文帳に追加

内視鏡装置３は、第１の条件に基づいて、画像から検査対象物の第１の特徴部を検出する特徴検出部と、第１の特徴部に基づいて、検査対象物の第１の欠陥部を検出する欠陥検出部と、第１の欠陥部を示す情報を、画像と共に表示する表示部とを有する。 - 特許庁

The data analysis part 24, on the basis of the input of extraction condition by the permitted access, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information to generate a graph showing the extraction result with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加

データ解析部２４は、許可されたアクセスによる抽出条件の入力に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報から抽出条件を満たす情報を抽出し、部品７の画像をグラフ要素として抽出の結果を示すグラフを生成する。 - 特許庁

In response to “Condition 3,” changing the context of D2 from a facsimile to a disc drive would not change the analysis, as the defect is in the teaching not the field of use. 例文帳に追加

「条件３」については、引用文献２の教示内容の欠陥は、技術分野ではないため、引用文献２の内容をファクシミリからディスクドライブに変えたとしても、分析結果が変わるものではない。 - 特許庁

An image processing section 12 produces the defective feature information showing the feature of the defect from the image information, and decides the radiating condition in the case of radiating a laser beam based on the defective feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

When a defective product is found, it can be analyzed as to which manufacturing condition of which process is the cause of the defect, by investigating the record 100 of the defective product, because the manufacturing condition and the result of the measurement and assessment of each product are managed in a mass in the individual product record 100.例文帳に追加

個別の製品の製造条件とその測定、評価の結果が、個別製品レコード１００に集約して管理されるので、不良品が見つかったときには、その不良品のレコード１００を調べることで、どの工程のどの製造条件が不良の原因になったのかの分析が可能になる。 - 特許庁

To solve a defect that two or three ribs of containers internally mounted or externally sheathed are stuck together and are simultaneously moved, in a plastic container which can be easily taken out one by one separately from a condition that a plurality of pieces are piled, in relation to the plastic container molded in a mold for a plurality of pieces.例文帳に追加

複数個取りの金型で成型されるプラスチックス製容器に関し、複数個積重ねた状態から容易に一個ずつを取出すことのできる分離取出し易いプラスチックス製容器に関する。 - 特許庁

By employing the method of forming the shoulder under the condition of applying a transverse magnetic field at predetermined intensity, the occurrence of dislocation in the step of forming the shoulder can be suppressed and a silicon single crystal having no defect can be grown with high production efficiency.例文帳に追加

この肩形成方法は、所定強さの横磁場を印加した条件下で適用すれば、肩形成工程での有転位化を抑制し、欠陥のないシリコン単結晶を高い生産効率で育成することができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a loop material capable of quickly specifying a formation position of a specific shape site on the whole circumference of a loop material and of forming a condition in which the presence of a defect on the specific shape site can be inspected.例文帳に追加

ループ材の全周における特異形状部位の形成位置を迅速に特定し、この特異形状部位における欠陥の有無を検査することができる状態を迅速に形成することができるループ材検査装置を提供すること。 - 特許庁

A manufacturing condition determination system for a metal band material includes a manufacturing process classification database 500 that associates and stores a manufacturing process of a metal band material and a manufacturing process classification to which the manufacturing process belongs; a material defect database 600 that stores material defect information relating to the manufacturing process classification; and a quality information retrieval part 100 that adds the material defect information to a manufacturing history of a manufacturing history database 400.例文帳に追加

金属帯材料の製造過程における工程と、該工程が属する工程分類とを互いに対応づけて保存した工程分類データベース５００と、工程分類に関連する品質不良情報を保存した品質不良データベース６００と、品質不良情報を製造履歴データベース４００の製造履歴に追記する品質情報検索部１００とを備える。 - 特許庁

To provide an apparatus for manufacturing a porous body by which the molded porous body can be easily and surely released from a mold under a flawless condition with no defect without damaging each molding pin of a group of molding pins.例文帳に追加

成形ピン群の各成形ピンを損傷させることなく、成形された多孔体を欠損のない無傷の状態で容易かつ確実に離型することができる多孔体の製造装置を提供する。 - 特許庁

To make a normal/defective condition judgment of a defect present on the surface of an object possible to be performed precisely and automatically by a machine.例文帳に追加

被対象物の表面に存在する欠陥に対する良否判断を精度良く、しかも機械によって自動的に行うことができる画像処理方法及び画像処理装置並びに外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide soldering equipment which can easily obtain an excellent soldering condition, avoiding the cause of the occurrence of the defect of a work to be soldered in which a metal substrate having a high heat dissipation property is superposed with a printed-wiring substrate on which an electronic component is mounted.例文帳に追加

放熱性が高い金属基板と、電子部品が実装されたプリント配線基板とを重ね合わせた被はんだ付けワークの不良発生の原因を回避しながら良好なはんだ付け条件を容易に得ることができる。 - 特許庁

To provide a device early detecting that a brake device is under the condition where the temperature of a friction braking member is rapidly rising in short period of time, possibly reaching an overheated state, caused by a defect in a feed path of compressed air.例文帳に追加

圧縮空気の供給経路の不備に起因して摩擦制動部材の温度が短時間に急上昇して過熱状態に達してしまう状況下であることを、早期に検知することが可能な装置の提供。 - 特許庁

To provide a four-point contact ball bearing capable of preventing the occurrence of a lubrication defect and extending a life time thereby, even when loaded in the condition of zero offset quantity to the center in a shaft direction of a track groove.例文帳に追加

軌道溝の軸方向の中心に対するオフセット量が零の状態で荷重が加えられたときでも、潤滑不良が発生するのを防止することができ、よって長寿命化を図ることができる４点接触玉軸受を提供する。 - 特許庁

The polarization (alpha)(an angle (alpha) from s-polarization) of light irradiated to a sample, an object under defect detection, is calculated by substituting the condition of the circuit pattern of the sample, and the azimuth angle, and incident angle of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

Polarization (alpha) (an angle (alpha) from s polarization) of light to be emitted on a sample which is an object for performing defect detection is calculated by substituting a condition of a circuit pattern of the sample, an azimuth angle and an incident angle of irradiation light in a predetermined formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁