「condition of defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To set an appropriate recording condition to perform recording in response to an inspection result by inspecting not only a difference in the composition and structure state of a recording film in an optical disk but a defect, stain, bend, or distortion, etc., before video-recording.例文帳に追加

光ディスクの記録膜の組成、構造の状態の違いだけでなく、傷、汚れ、反り、歪などを録画前に調査し、この結果に応じて適切な記録条件を設定して記録する。 - 特許庁

To provide an inspection device for a thin film transistor substrate capable of inspecting the presence of a defect in the thin film transistor substrate, allowing accurate inspection even under a low vacuum condition, capable of coping properly with a change in a size of the thin film transistor substrate, and capable of shortening an inspection time.例文帳に追加

薄膜トランジスター基板の欠陥の有無を検査し、低真空状態でも正確な検査が可能で、薄膜トランジスター基板のサイズの変化に適切に対応することができ、検査時間を短縮させる薄膜トランジスター基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of detecting sufficiently an appearance defect by widening the setting width of an irradiation condition of light irradiated to an inspection object, and having a wide tolerance of the shape, the size and the material of the inspection object and a high utility value.例文帳に追加

被検査物に対して照射する光の照射条件の設定幅を広げることにより、外観不良を十分に検出することができる被検査物の形状，サイズ，材質の許容範囲を広げ、利用価値の高い外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To carry out detection efficiently in terms of time and power, while securing a reliability in the detection of dirt and defect of an optical recording/reproducing device, by changing a resolution of detection in relation to a structure or condition of an optical disk recording medium, or the using state of the device.例文帳に追加

光ディスク記録再生装置の汚れ及び欠陥の検出において、光ディスクの記録媒体の構造や状態、または装置の使用状況に関連して検出の分解能を変化することで、信頼性を確保しつつ時間的電力的に効率のよい検出を行う。 - 特許庁

To provide a protection circuit for a voltage-conversion circuit capable of preventing mostly the damage to an element and a part, or a bad influence to the surrounding quickly coping with an abnormal condition caused by not only a defect of a load but also a defect of a circuit element, an electronic part and the like that constitute the voltage-conversion circuit.例文帳に追加

この発明は、負荷の不具合による異常状態だけでなく、電圧変換回路を構成する回路素子や電子部品等の不具合によって発生した異常状態にも速やかに対処して、素子や部品の破損や周囲への悪影響を極力防止することを可能とした電圧変換回路の保護回路を提供することを目的としている。 - 特許庁

A digital camera 7 images a micro result on the substrate 2, to generate a stereoscopic microscope image under the condition fixed onto a stereoscopic microscope 5, and images the defect on the substrate 2 in a visual position of an inspector, to generate a macro image, under the condition removed from the stereoscopic microscope 5.例文帳に追加

デジタルカメラ７は、実体顕微鏡５に固着された状態では、被検査基板２上の微小な結果を撮像して実体顕微鏡画像を生成し、実体顕微鏡５から取り外された状態では、検査者の目視位置で被検査基板２上の欠陥を撮像してマクロ画像を生成する。 - 特許庁

To provide an antiskid control device for preventing the continuously operated condition of a solenoid valve due to the incorrect fitting or pseudo-breakage of a connector of a wheel speed sensor and preventing the unstable behavior of a vehicle due to the defect of only part of wheel speed sensors during braking by executing the fail-safe operation (ABS control prohibition) for every wheel in the defect of the wheel speed sensor.例文帳に追加

車輪速度センサにおけるコネクタの嵌合不良や擬似断線によるソレノイドバルブの連続作動状態の発生を防止することができると共に、車輪速度センサの失陥時におけるフェールセーフ作動（ＡＢＳ制御禁止）を各車輪毎に実行することで、一部の車輪速センサのみの失陥により制動時に車両挙動が不安定になることを防止できるアンチスキッド制御装置の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of silicon single crystal, in which the optimum manufacturing condition to control the size and the density of grow-in defect caused by void to be a desired value is precisely obtained at the time of growing silicon single crystal using the CZ method.例文帳に追加

ＣＺ法を用いてシリコン単結晶を育成する際に、空孔起因のグローンイン欠陥のサイズならびに密度を所望の値とする最適製造条件を的確に求めることができるシリコン単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

The assembly line includes a number of readers and processing stations 104 to determine and confirm the identity of vehicles passing proximate to the readers and processing stations, and the build instructions, status, position, condition, defect and repair history, etc., of a vehicle.例文帳に追加

この組立ラインは、いくつかのリーダと処理ステーション１０４を組込んで、リーダと処理ステーションのすぐ近くを通過する車両のＩＤ、および車両のビルド・インストラクション、ステータス、位置、条件、欠陥と修理の履歴などを決定し、確認する。 - 特許庁

Then, the kind of a defect is discriminated within the image photographed by the imaging device 1, under the condition where the inspected object is lighted by the oblique light source 4, based on a form of density change in the area of the defective portion, in the image processing part 7.例文帳に追加

その後、画像処理部７は、斜方光源４により検査対象を照明した状態で撮像装置１に撮像された画像内において不良部分を含む領域の濃度変化の形により不良の種類を識別する。 - 特許庁

To provide a silicon epitaxial layer where the haze of an epitaxial layer and the defect level of LPD, etc., are reduced and also oxygen precipitation is controlled under the condition that it be put into a temperature-lowered and time-shortened device process, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

低温・短時間化されたデバイスプロセスに投入する前の状態で、エピ層のヘイズ、ＬＰＤ等の欠陥レベルが低減され、かつ酸素析出が制御されたシリコンエピタキシャルウエーハならびにその製造方法を提供する。 - 特許庁

The magnitude of the redundant byte to be added in a format block 6 is changed according to the electrical characteristics of a defect condition of media 11 to be subjected to writing or the electrical characteristics, etc., of a write head for writing the data and an MR head for reproducing the written data.例文帳に追加

書き込みを行うメディア１１のディフェクト状況や電気特性、またそのデータを書込むライトヘッド、及び書込んだデータを再生するＭＲヘッドの電気特性等に応じて、フォーマッタブロック６において付加する冗長バイトの大きさを変化させる。 - 特許庁

To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.例文帳に追加

円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

A method for the inspection is provided, in which a semiconductor wafer is inspected, and a defect image detected by the inspection is displayed on a screen, and an input interface is employed, capable of selecting any one from defects whose image is displayed, and the inspection is carried out after adjusting the inspection condition such that the ability for detecting the defect taught by a user rises.例文帳に追加

半導体ウェハを検査し、検査で検出した欠陥の画像を画面に表示し、画像を表示された欠陥から任意の欠陥を選択可能な入力インターフェースを設け、ユーザによって教示された欠陥の検出性能が高くなるように検査条件を調整し、検査を行う。 - 特許庁

A condition photographing camera 21 takes images during processing; an inspective camera 23 takes images after processing; and a controller 25 decides the existence of any defect, decides whether the images are saved or erased, and controls the entire system.例文帳に追加

加工時の画像を状態撮影カメラ２１で取得し、加工後の画像を検査カメラ２３で取得し、コントローラ２５が不具合有無の判断と、画像の保存又は消去の判断と、全体の制御とを行う。 - 特許庁

To provide a method for forming a light metal-made blank for forging having high quality and little internal defect by suitably setting the shape of the blank for forging and injection-forming condition in a casting process.例文帳に追加

鋳造工程において鍛造用素材の形状及び射出成形条件を適正に設定することで、内部欠陥の少ない高品質な軽金属製の鍛造用素材の成形方法を提供する。 - 特許庁

Since much liquid gaseous components are contained in the film in the first heat treatment, the first heat treatment is performed in a comparatively loose condition so that a structural defect is not generated in the film by the elimination of these components.例文帳に追加

第１の熱処理においては、膜中には多くの液性・ガス成分が含有されているため、これらの成分脱離により膜中に構造的欠陥が生じないように比較的緩やかな条件で実行する。 - 特許庁

To provide a thermal transfer sheet and its manufacturing method which prevents ink mist caused by sensing mark ink and occurrence of printing defect, thereby stable, high-quality print image can be formed under the high-speed printing condition.例文帳に追加

検知マークインキによるインキミストの発生を防止し、印画欠点の発生を防止し、安定した高品質の印画像を高速印刷の条件下で形成できる熱転写シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

When the image data are inputted, the image processors 40-1 to 40-4 inspect a defect within the set inspection range on the basis of the inspection condition so as to output the inspected result to the controller 50.例文帳に追加

画像処理装置４０−１〜４０−４は、画像データが入力されると、設定された検査範囲において、検査条件に基づき欠陥の検出を行い、検査結果を制御装置５０へ出力する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a silicon wafer where slip starting from an interstitial spot defect does not occur at a portion from the shoulder part to the top of the cylindrical part of a silicon single crystal when the silicon single crystal is pulled and grown at the condition of entering in an I-rich zone.例文帳に追加

Ｉ−リッチ領域に入る引上げ成長条件でシリコン単結晶を引き上げ成長させるに際して、シリコン単結晶の肩部から直胴部のトップ部までの部位で、格子間型点欠陥を起点にしてスリップが発生しないようにする。 - 特許庁

To provide a nut with a washer and an exclusive use burying jig capable of tightening two members by more decreasing a defect of wood so as to place the tightened member in a flush or almost flush condition, in the case the two members are tightened in an outer constructed part of a wooden building.例文帳に追加

木造建築物の外構部において二部材を締結する際、木材の欠損をより少なくして、被締結部材を面一もしくはほぼ面一状態となるように締結可能な座金付ナット及び専用埋込治具を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical film having an adhesive layer, which has superior moisture resistance, of which the adhesive strength of the adhesive will not vary drastically, even under a humidifying condition and in which no defect such as peeling occurs, on a flange of the stuck surface between the optical film and a liquid crystal panel.例文帳に追加

加湿条件下においても、粘着剤の接着力が大きく変化せず、光学フィルムと液晶パネルとの貼合わせ面の端部に剥れ等の不具合が生じない加湿耐久性に優れる粘着剤層付き光学フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming device capable of eliminating the occurrence of transfer blurring, transfer defect and transfer dust by making a conductive brush abut on a carrying belt in a condition being pressed to a downstream side in the moving direction of the front surface of the carrying belt by a brush correcting member, thereby stably supplying a transfer electric field.例文帳に追加

導電性ブラシをブラシ矯正部材によって搬送ベルト表面移動方向下流側に押圧させた状態で搬送ベルトに当接させ、転写電界を安定して供給できるようにして、転写ブレや転写不良、転写チリのない画像形成装置を提供する。 - 特許庁

When the write parameter dependency of a write probability regarding a writing means, in writing into each memory section or the other condition dependence of the writing parameters dependent on the writing probability is not included in a desired range, it is determined that there is a defect.例文帳に追加

各記憶部位の書き込みにおける書き込み手段に関する書き込み確率の書き込みパラメータ依存性、もしくは書き込み確率の書き込みパラメータ依存性の他条件依存性が所望の範囲を外れる場合、不良と判定する。 - 特許庁

To provide an ink for ink jet recording, having high jetting stability and further capable of forming such a picture image as to be excellent in color, light stability, and water resistance, to have no defect in picture quality, such as bleeding of a narrow line, and to exhibit excellent image preservability under a severe condition.例文帳に追加

吐出安定性が高く、しかも得られる画像の色相、耐光性、耐水性にも優れ、細線の滲みなど画質についての欠点が無く、過酷な条件下での画像保存性が優れたインクジェット記録用インクを提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for updating a recipe, capable of updating an optical condition stored in the recipe in order to detect a defect of a circuit pattern more easily without reducing an inspection time in a visual inspection device inspecting a semiconductor substrate including the circuit pattern formed thereon based on the recipe storing the optical condition.例文帳に追加

回路パターンが形成された半導体基板を光学条件が格納されたレシピに基づいて検査する外観検査装置において、回路パターンの欠陥をより検出し易くするために、検査時間を削ることなく、レシピに格納された光学条件を更新することが可能なレシピ更新方法およびレシピ更新システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for welding by which a butt welding of thin steel plates is stably performed without generating a defect by optimizing the resultant output ratio of a pulse YAG laser beam and a continuous wave YAG laser beam, the oscillation condition of the pulse YAG laser beam, and the distance between the irradiated positions with respective lasers.例文帳に追加

パルスＹＡＧレーザと連続波ＹＡＧレーザの合成出力比、パルス発振ＹＡＧレーザのパルス発振条件、それぞれの照射位置の間隔を最適化することによって薄手鋼板の突き合わせ溶接を無欠陥で安定に行う溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a forging method with a punch stroke length, in which working is done with a die of good shaft reduction capability, capable of preventing a forming defect of jamming, etc. suitable for an arbitrary working condition and in a non-steady deformation region, so as to obtain good shaft reduction without generating jamming.例文帳に追加

押し詰まりなどの成形不良を防止でき任意の加工条件に適する軸絞り性の良い金型および非定常変形領域で加工を行い押し詰まりが発生しない良好な軸絞り性が得られるパンチのストローク長さで鍛造する方法を提供する。 - 特許庁

Light from the light source 11a is emitted to the phosphor of a specimen 10 such as an image displaying substrate, fluorescent light generated in the phosphor is received by a CCD sensor 15, and displayed on a display part 17 to inspect the applied condition such as a defect of the phosphor.例文帳に追加

該光源１１ａから光を、画像表示用基板等の被検査物１０の蛍光体に照射し、該蛍光体から発生する蛍光をＣＣＤセンサ１５で受光して表示部１７に表示し蛍光体の欠損等の塗布状況を検査する。 - 特許庁

A microcomputer part 106 variably controls an individual defect detection condition for judging a pixel as a defective pixel for each divided range so that a difference between an expected value of defective pixels existing in the range and the number of detected defective pixels falls within a prescribed range.例文帳に追加

マイコン部１０６は、該範囲分けした範囲毎に、該範囲中に存在する欠陥画素の期待値と欠陥画素の検出個数との差分値が所定範囲内に収まるように、画素が欠陥画素であると判定する個別欠陥検出条件を可変制御する。 - 特許庁

A quality state calculation part 50 determines a manufacturing process classification using the material defect database 600 based on the manufacturing history of the manufacturing history database 400 and material defect information of a quality information database 310, further determines a manufacturing process relating to the manufacturing process classification using the manufacturing process classification database 500, and then calculates the relationship between the manufacturing condition and quality of the metal band material.例文帳に追加

その上で、品質状況算出部５０は、製造履歴データベース４００の製造履歴と品質情報データベース３１０の品質不良情報とを基に、品質不良データベース６００を用いて工程分類を判別すると共に、工程分類データベース５００を用いて該工程分類に関連する工程を判別し、金属帯材料の製造条件と品質との関連性を算出する。 - 特許庁

To provide an electric resistance welded steel pipe for an oil supply pipe, which can be worked to a desired shape of the oil supply pipe without generating any serious defect such as crack even under a severe working condition such as a complicated shape and large elongation.例文帳に追加

複雑形状であるとか、伸び率が大きい等の厳しい加工条件であっても、割れ等の重大な欠点を発生させることなく所望の給油管形状に加工することができる給油管用電縫鋼管を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly corrosion resistant surface-treated steel having excellent corrosion resistance of a galvanized steel with low coating weight even under the environmental condition where wetting time is long and corrosiveness is high in a state after coating having a defect in the coating.例文帳に追加

本発明は、塗装に欠陥を有する塗装後の状態で、濡れ時間が長くかつ腐食性の高い環境条件においても、低目付量の亜鉛系めっき鋼材で耐食性の優れた高耐食性表面処理鋼材を提供する。 - 特許庁

Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process.例文帳に追加

アレイ工程でのアレイ検査において、ＴＦＴ基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁

To provide a cutting tool long in tool life span even under a cutting condition easy to cause welding and boundary damage by improving abrasion resistance by restraining the oxidization of a film on a rake face while restraining an abrupt defect on a flank.例文帳に追加

逃げ面における突発欠損を抑制しつつ、すくい面での被膜の酸化を抑制して耐摩耗性を向上させて溶着や境界損傷が発生しやすい切削条件においても工具寿命が長い切削工具を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing no defect silicon single crystal under a steady condition wherein at least defects such as OSF, FPD and LEP are not observed in the whole surface of a wafer which is obtained by slicing the grown silicon single crystal.例文帳に追加

育成されたシリコン単結晶をスライスしてウエーハとした時に、ウエーハの全面内に少なくともＯＳＦ、ＦＰＤおよびＬＥＰ欠陥が観察されないような無欠陥シリコン単結晶をより安定した製造条件下に製造する。 - 特許庁

To provide a control technology which can actualize excellent joining quality with a suitable precision according to a joining condition, and at the same time, can prevent or suppress the generation of an internal cavity defect, particularly in a double acting type friction stir spot welding method.例文帳に追加

特に、複動式の摩擦攪拌点接合法において、接合条件に応じて好適な精度で良好な接合品質を実現し得るとともに、内部空洞欠陥の発生を防止または抑制することができる制御技術を提供する。 - 特許庁

To provide a non-aqueous electrolyte battery with a charge-discharge voltage under 2 V set by the use of a niobium pentoxide in a positive electrode capable of suppressing such defect as the occurrence of liquid leakage or a steep rise of the internal resistance originating from gas generating or the positive electrode being turned in particulates to occur in an over-discharged condition.例文帳に追加

正極に五酸化ニオブを用い、２Ｖ以下の充放電電圧が設定された非水電解液電池において、過放電状態において生ずる正極が微粉化、ガスの発生に起因して生ずる内部抵抗の急激な上昇や漏液の発生といった不具合の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide: a technique capable of preventing quick deterioration of battery performance even when a defect exists on an electrolyte membrane, in the electrolyte membrane used for a fuel battery operated at a range of temperature of 100°C or more and under a non-humidification condition; a membrane-electrode assembly; and a method for manufacturing the electrolyte membrane.例文帳に追加

１００℃以上の温度領域、かつ無加湿条件で運転される燃料電池に用いられる電解質膜、膜電極接合体、およびこの電解質膜の製造方法において、電解質膜に欠陥が存在する場合でも、急激な電池性能の低下を防止することができる技術を提供する。 - 特許庁

A crystal containing one or more defects and an appropriate pressure medium becoming supercritical fluid under a reaction condition are prepared, and the crystal and the pressure medium are placed in a high pressure cell, and the crystal is treated for a sufficiently long time at the reaction condition of high pressure and temperature for removing the defect or the strain in the crystal.例文帳に追加

１以上の欠陥を含む結晶及び反応条件下で超臨界流体となる適当な圧力媒体を用意し、結晶及び圧力媒体を高圧セル内に入れ、高圧セルを高圧装置内に置き、単結晶中の欠陥又は歪みを除去するのに十分な高い圧力及び温度の反応条件下で十分な長さの時間処理する。 - 特許庁

Slight exposure can prevent the adhesion of development contrast of the resist film and large film reduction can be prevented, and the difference in surface condition between the element forming region and the resist film is reduced, thus smoothly shaking off the generated development defect when rinsing or high-speed rotation thereof.例文帳に追加

軽微に露光することで、レジスト膜の現像コントラストは付かず、大きな膜減りはないが、素子形成領域Ａｒ１におけるレジスト膜との表面状態の差が低減されることにより、発生した現像欠陥をリンス時や及びその高速回転においてスムーズに振るい落とすことができる。 - 特許庁

To provide a monolithic integrated high-voltage resistance structure having an IGBT(insulated gate bipolar transistor) device which has structural and functional characteristics capable of suppressing the occurrence of a parasitic transistor and which overcomes a limited condition and defect affecting the above conventional devices.例文帳に追加

寄生トランジスタの生成を抑制することのできる構造的及び機能的特性を有し、前述した従来のデバイスに対して影響を及ぼす限定要件及び欠点を克服した、ＩＧＢＴデバイスを有するモノリシックな集積高電圧抵抗構造を提供する。 - 特許庁

To make a condition set efficiently, to shorten an inspection time, and to enhance reliability of inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting a defect, a foreign matter, a residue or the like in the same design pattern of a semiconductor device on a wafer under a production process for the semiconductor device, by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a gas shielded arc welding method, in which a sound welding bead is obtained without causing the defect of pores on the surface of a welding bead, even on condition that the welding speed is ≥80 cm/min in single electrode welding and the welding speed is ≥150 cm/min in two electrode welding.例文帳に追加

単電極溶接で溶接速度８０ｃｍ／分以上、２電極溶接で溶接速度１５０ｃｍ／分以上の条件においても、溶接ビード表面に気孔欠陥が発生せず、健全な溶接ビードを得ることができるガスシールドアーク溶接方法を提供する。 - 特許庁