「condition of defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To accurately detect a defect irrespective of experience or physical condition of an inspector.例文帳に追加

検査員の熟練度や体調に関係なく、正確に欠陥を検出することができる。 - 特許庁

A read condition based on the factor of a read error is set at the time of read retry, and a read condition suitable for the decoding of a readout signal containing an envelope defect is set at the time of the detection of the envelope defect.例文帳に追加

リードリトライ時にリードエラー要因に応じた再生条件を設定し、包絡線異常検出時に包絡線異常を有する再生信号を復号するのに適した再生条件を設定する。 - 特許庁

Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone.例文帳に追加

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁

At the time of moving contents from a flash memory 61-1 to a contents database 114, a utilization condition managing program updates a variable seq1, which is stored in the 0th-order defect block of a medium defect list in the flash memory 61-1, into new value seq2.例文帳に追加

フラッシュメモリ６１−１からコンテンツデータベース１１４にコンテンツを移動するとき、利用条件管理プログラムは、フラッシュメモリ６１−１のmedia defect listの０番目のdefect blockに記憶されている変数seq１を、新たな値seq２に更新する。 - 特許庁

A substrate is lithographed under three conditions including a normal condition, a safe condition hardly causing a defect, and an acceleration condition easily causing a defect and, after forming a resist pattern, the number of defects is counted with respect to each area using the defect inspection device.例文帳に追加

基板に対して、通常条件、欠陥を発生し難い安全条件、欠陥を発生し易い加速条件の３条件で描画を行い、レジストパターンを形成した後、欠陥検査装置を用いて領域毎の欠陥数を求める。 - 特許庁

To select and apply an optimum defect treatment method to a condition of an individual surface defect occurring in an in-furnace apparatus.例文帳に追加

炉内機器に発生する個々の表面欠陥の状態に対して最適な欠陥処置方法を選択し適用することを可能にする。 - 特許庁

To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.例文帳に追加

検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and its device capable of discriminating not only an existence of a defect but also the type of the defect in a surface condition of an inspected article such as a metal member.例文帳に追加

金属部材などの被検物品の表面状態を欠陥の有無のみならずその欠陥の種類まで判別できる検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer and its manufacturing method capable of stably obtaining oxygen deposition without depending on a crystal position and a device process and to provide a method for evaluating the defect area of the silicon wafer whose pulling condition and the defect area are unknown.例文帳に追加

結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection condition selection apparatus for a color display device capable of selecting an inspection condition capable of detecting a defect in lighting inspection.例文帳に追加

点灯検査において、欠陥が検出可能な検査条件を選出できるカラー表示デバイスの検査条件選出装置を提供する。 - 特許庁

The retrieval is performed under the condition of two agreements, namely, the agreement between both position data of the position data of the defect data and the position data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information, and agreement between both intensity data of the intensity data of the defect data and the intensity data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information.例文帳に追加

検索では、欠陥データの位置データと疑欠陥情報の疑欠陥の位置データの両位置データの合致、および、欠陥データの強度データと疑欠陥情報の疑欠陥の強度データの両強度データの合致の２つの合致を条件として行う。 - 特許庁

The individual defect detection condition is applied to a defect detection condition selection part 008 and sent to a defect detection part 009 together with the signal level of the input signal to judge whether pixels to be given the input signal are defective ones.例文帳に追加

個別欠陥検出条件は欠陥検出条件選択部００８に与えられ、入力信号の信号レベルとともに欠陥検出部００９に送られ、入力信号を与える画素が欠陥画素か否かが判定される。 - 特許庁

An image processing section 12 creates defect feature information showing the feature of the feature of a defect from the image information and decides an irradiation condition when emitting a laser beam according to the defect feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

To reduce generation of epitaxial defect without addition of new heat treatment process and change in the condition of heat treatment.例文帳に追加

新たな熱処理プロセスの追加や熱処理条件の変更を行うことなく、エピタキシャル欠陥の発生を低減する。 - 特許庁

Successively, a defective recognition object is estimated based on pars/fail condition of adjacency of a defect rate condition and a defective recognition object (ST6), a defect rate of residual degeneration FBM is calculated and standardized (ST7).例文帳に追加

続いて不良率条件と認識対象不良の隣接の可否条件に基づいて認識対象不良を推定し（ＳＴ６）、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を計算して規格化する（ＳＴ７）。 - 特許庁

In an image processing part 12 of this radiation image photographing apparatus 10, a defect detection part 24 detects a black defect of a radiation image, and makes a storage part 28 store a position of the black defect satisfying a prescribed condition.例文帳に追加

放射線画像撮影装置１０の画像処理部１２では、欠陥検出部２４が放射線画像の黒欠陥を検出し、所定の条件を満たした黒欠陥の位置を記憶部２８に記憶させる。 - 特許庁

The defect inspection method acquires the image having the height information in the selected measuring condition based on positional information of the defect candidate of acquiring the image having the height information, and inspects the defect of the inspection object, based on the image.例文帳に追加

高さ情報を有する画像を取得する欠陥候補の位置情報から選択した測定条件で高さ情報を有する画像を取得し、その画像に基づいて前記検査対象物の欠陥を検査する。 - 特許庁

The inspection condition of the inspection device is set, by using the estimation image 124 and defect data 123A.例文帳に追加

推定画像１２４および欠陥データ１２３Ａを用いて検査装置の検査条件を設定する。 - 特許庁

According to the present invention, dry etching is performed on the condition that the etching rate of Si is higher than that of SiO_2, a crystal defect is actualized as a protrusion (convex defect), and a defect caused by processing is actualized as a pit (concave defect).例文帳に追加

本発明によれば、ＳｉＯ_２よりもＳｉのエッチング速度が大きい条件でドライエッチングを施していることから、結晶欠陥については突起（凸型の欠陥）として顕在化し、加工起因欠陥についてはピット（凹型の欠陥）として顕在化する。 - 特許庁

To provide a deciding method with which the variation of a joining condition which causes a joining defect is always detected so that the part of joining defect in a joining process is identified by the joining condition and a normal/defective condition is decided for a joint of a friction stir joining.例文帳に追加

摩擦撹拌接合継ぎ手について、接合工程において接合不良部が接合条件から特定されるように、接合不良を発生する接合条件の変化を常時検知し、かつその良否を判別する判別法を工夫すること。 - 特許庁

In this way, the device condition can be monitored without respect to the degree of skill of the user, and generation of the measurement error due to a defect in the device condition can be prevented.例文帳に追加

このように、装置状態の監視をユーザの技術力に関係なく行なうことができ、装置状態の不具合による測定誤差の発生を防止することができる。 - 特許庁

The detection device detects from an obtianed imaged image, defect pixel candidates in each classification, by using each different detection condition in each classification of a point defect or a line defect detected from the imaged image.例文帳に追加

また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。 - 特許庁

To eliminate an influence of a pseudo-defect generated by an error in a pattern inspection condition to enhance the sensitivity of pattern inspection.例文帳に追加

パターン検査条件の誤差により発生する疑似欠陥の影響を排除してパターン検査の感度を高めること。 - 特許庁

To provide a pattern inspection technology capable of grasping quantitatively the inspection performance of a defect to be detected when setting properly both a detection condition and a determination condition, and setting accurately the detection condition and the determination condition.例文帳に追加

検出条件と判定条件の双方を適切に設定した場合の検出すべき欠陥の検出性能を定量的に把握でき、正確に検出条件と判定条件を設定できるパターン検査技術を提供する。 - 特許庁

For example, if there is a defect increasing in the same manner from an average value in both of the area lithographed under the safe condition and the area lithographed under the acceleration condition, it is assumed that the defect depends on the process.例文帳に追加

例えば、安全条件で描画した領域と加速条件で描画した領域の双方において、平均値から同じように数が増加する欠陥があれば、この欠陥はプロセスに依存するものと推測できる。 - 特許庁

To solve the problem that discharge defect condition occurs because the waste liquid wiped out from discharge defect nozzles comes into nozzles of a head with normal discharge condition in an overlapping position when wiping an elongate head constituted by lining a plurality of liquid discharge head.例文帳に追加

複数の液体吐出ヘッドを並べた長尺ヘッドに対してワイピングを行うときに、重複部分で吐出状態が正常なヘッドのノズルに吐出不良ヘッドから拭き取った廃液が侵入して吐出不良状態になる。 - 特許庁

A defect classification apparatus includes a feature amount extraction unit, a defect classification unit and a classification condition setting unit, the classification condition setting unit has a function for correspondingly teaching a feature amount of a defect and a class of accuracy and a function for designating the priority order of classification, and conditional setting is performed so as to improve an accuracy rate for the classification of high priority.例文帳に追加

特徴量抽出部、欠陥分類部、分類条件設定部を含み、分類条件設定部は、欠陥の特徴量と正解のクラスを対応づけて教示する機能と分類の優先順位を指定する機能を有し、優先順位の高い分類の正解率が高くなるよう条件設定を行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.例文帳に追加

目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect relief condition generation part 4 displays list of description errors present in the defect relief conditions at the display part 2 based on the reported verification result and makes the designer to correct the defect relief conditions.例文帳に追加

不良救済条件作成部４は通知された検証結果をもとに不良救済条件に存在する記述誤りの一覧を表示部２に表示して、不良救済条件の修正を設計者に行わせる。 - 特許庁

To provide a method for deciding a weld condition by which the generation of a spatter and a weld defect are clearly decided.例文帳に追加

スパッタの発生と溶接不良の判定を明確に行うことのできる溶接状態判定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device that can solve problems attended with production of many defect pixels in pixel defect compensation, so as to extend the limit of a photographing condition such as long time photographing, while minimizing a degree of image quality deterioration.例文帳に追加

画素欠陥補償における欠陥画素の大量発生に伴う問題点を解決し、画質劣化の程度を最低限に抑えつつ長時間撮影などの撮影条件の限界を延ばす。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system which can readily specify factors of defect and factors of a characteristic variation by carrying out coordination of defect sorting information classified for each factor of defect and characteristic data information to material batch information, manufacturing condition batch information and manufacturing process batch information, and summarizing and analyzing them.例文帳に追加

不良の要因毎に分類した不良区分情報や特性データ情報を、材料バッジ情報、製造条件バッジ情報、製造工程バッジ情報と対応付け及び集計、解析し、不良の要因特定、及び特性変動の要因特定を容易に可能とする不良解析支援システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a defect classifying apparatus that classifies defects by using a binary tree structure having a classifying condition setting function capable of reflecting an intention of a user.例文帳に追加

ユーザの意図を反映可能な分類条件設定機能を有する二分木構造を用いて欠陥を分類する装置の提供。 - 特許庁

The determination reference electric current component i_leak serving as a reference of good/ defect determination of the capacitor is extracted from a plurality of the electric current components i_cap, i_line, and i_leak, and a good/defect determination condition is set on the basis of the approximation formula.例文帳に追加

次に、コンデンサの良否判定の基準となる判定基準電流成分ｉ_leakを前記複数の電流成分ｉ_cap、ｉ_line、ｉ_leakから抽出してその良否判定条件を前記近似式に基づいて設定する。 - 特許庁

Further, the management server accepts the reservation application of an initially defective product having a defect condition designated by the user, and when an initially defective product fitted to the defect condition is generated, this is reported to the user who applies the reservation.例文帳に追加

また、管理サーバは、ユーザにより指定された欠点条件を有する初期欠点製品の予約希望を受け付け、その欠点条件に適合する初期欠点製品が発生した際には、予約希望したユーザにその旨を連絡する。 - 特許庁

To provide a defect evaluating device by plasma or arc and an evaluating method that easily simulates an actual using condition of material exposed to plasma or arc, clarifies defect form and defect mechanism of this material, and contributes to improvement in arc resistance.例文帳に追加

プラズマやアークに曝される材料の実使用条件を簡単に模擬し、該材料の損傷形態および損傷メカニズムを明確化して耐アーク性の向上に寄与するプラズマ・アークによる損傷評価装置と評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of setting easily an inspection condition in a relatively short time, capable of setting easily the inspection condition even when no sample exists, and capable of providing the inspection condition and a defect signal intensity to an inspection condition setting person to support the setting for the inspection condition.例文帳に追加

検査条件設定を比較的短時間にかつ容易に行うことができ、また、サンプルがない場合にも検査条件設定の検討を可能にし、さらに、検査条件と欠陥信号強度を検査条件設定者に提供して検査条件設定を支援することができる検査システムを提供する。 - 特許庁

To detect a defect having the possibility of growth in a storing condition after production to remove in advance an optical information recording medium having the defect, in a production stage of the optical information recording medium.例文帳に追加

光情報記録媒体の製造段階において、その後の保存の状況によって成長しそうな欠陥を検出して、このような欠陥を有する光情報記録媒体を事前に排除する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting a surface, capable of inspecting a defect on the surface of a substrate under the most suitable condition for a device to extract the defect by picture processing.例文帳に追加

画像処理により欠陥を抽出する装置にとって最適な装置条件の下で、基板の表面の欠陥検査を行える表面検査装置、および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results.例文帳に追加

２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 - 特許庁

To inhibit defect caused by the condition of a catalyst during motoring primarily aiming at reducing shock in starting of an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の始動時のショックを低減させることを基本としつつモータリング中に触媒状態に起因して発生する不具合を抑制する。 - 特許庁

Defect kind number distribution work is repeated when a plurality of defects of an inspection object exists after all is evaluation-finished, and a recipe file is output as the accumulated condition with the large defect signal intensity and an inspection condition item distribution as an inspection recipe to be provided to the inspection condition setting person.例文帳に追加

全て評価完了し、検査対象としたい欠陥が複数ある場合には欠陥種類数分作業を繰返し、蓄積された欠陥信号強度の大きい条件及び検査条件項目分布を検査条件レシピとして自動的にレシピファイルを出力して検査条件設定作業者に提供する。 - 特許庁

To prevent a defect such as gas leakage by reliably keeping the sealed condition of the space between a cover member and an engine body.例文帳に追加

カバー部材とエンジン本体との間の空間の密閉状態をより確実に保つことにより、ガス漏れ等の不具合を防止する。 - 特許庁

When a board is found defective by a test, a condition judgment section 20 judges which condition the contents of its defect come under, and the judgment result is outputted to a CPU 11.例文帳に追加

検査により不良が検出されると、条件判定部２０は、その不良の内容がいずれの条件に該当するかを判定し、その判定結果をＣＰＵ１１に出力する。 - 特許庁

if the correlation between a plurality of defect size values calculated according to each quantity of light detected with a plurality of dark field part detectors satisfies a reference condition previously set, the kind of defect is decided as being not particles.例文帳に追加

前記複数の暗視野部検出器で各々検出された光量に応じて算出された複数の欠陥サイズ値間の相関関係が予め設定した基準条件を満足するなら、前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁