「cross-section observation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To perform cross-sectional processing observation which enables observing a cross-section of an observation object structure, including a sample having a periodic structure.例文帳に追加

周期構造を有する試料でも観察対象の構造の断面を観察可能な断面加工観察を図ること。 - 特許庁

To focus electron beams on an observation cross section when a sample is cut off by an ion beam to renew an observation cross section.例文帳に追加

イオンビームにより試料体が切除されて観察断面が更新された際に、観察断面に対する電子ビームの焦点を合わせるようにする。 - 特許庁

ION SOURCE, ION BEAM PROCESSING-OBSERVING DEVICE, AND TEST PIECE CROSS-SECTION OBSERVATION METHOD例文帳に追加

イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法 - 特許庁

METAL CUTTING METHOD AND METHOD FOR PREPARING CROSS SECTION SAMPLE FOR MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加

金属の切断方法及び顕微鏡観察用断面試料作製方法 - 特許庁

To provide a cross section processing method by which the cross section of a sample with an organic substance formed on the surface can be obtained in proper precision, and to provide a manufacturing method of a cross section observation sample.例文帳に追加

表面に有機物が形成されている試料の断面を精度よく得ることができる断面加工方法及び断面観察試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this cross section polishing method suitable for cross section observation near the outermost layer of the sample, after forming a metal deposition layer on the sample surface, a metal plating layer is formed, and then cross section polishing is performed.例文帳に追加

試料の最表層近傍の断面観察に適した断面研磨方法であって、試料表面に金属蒸着層を形成した後金属めっき層を形成し、しかる後、断面研磨を行う。 - 特許庁

This sample cross section creation method has a process for removing a processed deformed layer or a damaged layer of the sample cross section by irradiating the femtosecond laser onto an observation cross section of the cut sample, when creating the cross section of various samples.例文帳に追加

各種試料の断面作成に際し、切削された試料の観察断面をフェムト秒レーザで照射することにより、試料断面の加工変形層またはダメージ層を除去する工程を有することを特徴とする試料断面作成法。 - 特許庁

To provide a sample observation method and sample observation apparatus capable of observing the cross section of a sample over a broad range, using a simple method.例文帳に追加

簡便な方法で試料の断面を広範囲に観察することができる試料観察方法及び試料観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus which can accurately align a scan cross-section position during observation with the lapse of time to a cross-section position set based on the volume data during the diagnosis.例文帳に追加

経過観察時のスキャン断面位置を、診断時のボリュームデータを基に設定された断面位置に正確に位置合わせできるＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

When a sign inversion observation section 3 observes sign inversion from positive to negative or vice versa, a zero cross estimate section 4 estimates a time when zero cross takes place.例文帳に追加

符号反転観測部３にて、正から負、又は負から正への符号反転が観測されると、０クロス推定部４において、０クロスが起こった時間の推定が行われる。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To perform rapidly 100% inspection of appropriateness of a cross section in convex working by use of a polarization observation method.例文帳に追加

偏光観察法を用いてコンベックス加工による断面の適正化を迅速かつ全数検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a sample analysis device equipped with a focusing ion beam machining/observation apparatus capable of carrying out superb cross-section observation of a sample in a short time.例文帳に追加

短時間で良好な試料の断面観察を行うことが可能な収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation for observing the cross section of a sample by placing the focus on the desired region of the sample.例文帳に追加

試料の所望の領域に焦点をあてて断面観察することが可能となる断面観察用試料片の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image.例文帳に追加

筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

Further, in microstructure observation in the cross section of the sintered compact, closed pores with a pore diameter of 100 to 200 nm is observed.例文帳に追加

また、焼結体の断面の微構造観察を行ったところ、気孔径１００〜２００ｎｍの閉気孔が観察された。 - 特許庁

To provide an ion beam device with little influence on cross section observation even if a reattachment layer of secondary particles is formed.例文帳に追加

二次粒子の再付着層が形成されても断面観察への影響がほとんどないイオンビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide an observation sample manufacturing method for rapidly manufacturing an observation sample, the cross section of which is accurately observed, in large quantities by a simple method, and to provide the observation sample.例文帳に追加

正確な断面観察を行なうことができる観察用試料を、簡便な方法により、素早く大量に作製することが可能な観察用試料の作製方法及び観察用試料を提供する。 - 特許庁

The unit hermetical chambers 7a and 7b are rotary bodies of the elliptical cross-section parts OP and the observation-direction axis S1 of the observation window 40 approximately orthogonally crosses with the long axis S2 of the ellipses.例文帳に追加

単位密閉室７ａ、７ｂが断面楕円部分ＯＰの回転体であり、観察窓４０の観察方向軸Ｓ１を楕円の長軸Ｓ２にほぼ直交させる。 - 特許庁

To provide a method for creating a cross section fit to observation by cutting directly a sample surface by a femtosecond laser, and to provide a method for creating a cross section fit to observation by removing a processed deformed layer of the outermost surface by irradiating the femtosecond laser onto a polished and processed sample cross section, in sample cross section creation of a composite material comprising a plurality of different materials.例文帳に追加

複数の異なる材料から成る複合材の試料の断面作成において、試料表面をフェムト秒レーザで直接切断して観察に適した断面を作成する方法を提供するものであり、また研磨加工された試料断面にフェムト秒レーザを照射して最表面の加工変形層を除去することで観察に適した断面を作成する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

Further, the observation method for observing the cross section of the semiconductor device includes a process for observing the cross section of the specific place of the semiconductor device by a scanning microscope and a process for forming the protective film of an amorphous structure to the cross section and further observing the cross section by the transmission type electron microscope through the protective film.例文帳に追加

また、半導体デバイスの断面を観察する観察方法において、前記半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察する工程と；前記断面に非晶質構造の保護膜を形成し、当該保護膜を透して透過型電子顕微鏡によって前記断面を更に観察する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

In the tip section of the side viewing type of endoscope with an observation window 4 and a lighting window 5 disposed on the side of the tip portions 1 and 30 of an insertion section, the cross section which is vertical to the axial line of the tip portions 1 and 30 of the insertion section is formed concave and the surface of the observation window 4 is disposed on the concave section 21.例文帳に追加

挿入部の先端部分１，３０の側面に観察窓４と照明窓５が配置された側方視型内視鏡の先端部において、挿入部の先端部分１，３０の軸線に垂直な断面形状を凹状に形成し、その凹部２１に観察窓４の表面を配置した。 - 特許庁

To provide a sample holder for cross-section observation with easy mounting of a sample and capable of avoiding view escape even if the sample is inclined.例文帳に追加

試料の装着が容易であり、試料を傾斜させても、視野逃げを回避することができる断面観察用の試料ホルダを提供する。 - 特許庁

To provide a working observation device capable of observing and analyzing the state of a cross section being worked by an FIB (focused ion beam) apparatus during processing.例文帳に追加

ＦＩＢ装置で加工している断面の状態を、加工中に観察、分析を行うことがができる加工観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical interference cross-section endoscope apparatus able to increase the resolution of a tomographic image while maintaining the frame rate required for observation.例文帳に追加

観察に必要なフレームレートを維持しつつ、断層像の解像度を上げることが可能な光干渉断層内視鏡装置を提供する。 - 特許庁

At the time of cross-sectional polishing for the through hole 1, the dummy through holes 2 and 3 are used in the positioning for specifying an optimal cross-sectional position, and an observation cross-section 14 can be formed to include the central axis position of the through hole 1.例文帳に追加

スルーホール１に対する断面研磨では、ダミースルーホール２，３が最適断面個所を特定するための位置決めに使用されることによって、スルーホール１の中心軸線位置を含むように観察断面１４が形成できる。 - 特許庁

To provide a sample preparing method capable of processing a cross section after plane observation more inexpensively and easily than existing technology.例文帳に追加

既存技術よりはるかに安価に、かつ簡便に平面観察を行ってから観察後に断面を加工することができる試料作製方法を提供する。 - 特許庁

A triangular prism shape straightening projection 30 with an isosceles triangular cross section is arranged under the observation window 25 and also between the illumination windows 26, 27.例文帳に追加

観察窓２５の下で、照明窓２６，２７の間には、断面二等辺三角形の三角柱形状の整流突起３０が設けられている。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 is made to almost perpendicularly cross with that of an electron beam irradiation system for STEM observation 5, the sample 7 is arranged on the crossing position, and an FIB cross section processing face is used for a thin film face for STEM observation.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

To provide a method for preparing a cross-sectional observation sample of a film of a cosmetic, which facilitates preparation of the cross-sectional observation sample of the film of the cosmetic containing a liquid and a solid with different hardness, a method for evaluating the cross-section, and a method for formulating and preparing the cosmetic from the evaluation results.例文帳に追加

液体と固体を含有し、硬さが異なる材料からなる化粧料の膜の断面観察用試料を簡単に調製することが可能な、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法、該断面の評価方法及び該評価結果から化粧料を処方設計し作成する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a jig for easily and simply preparing a cross section, even if it is minute and trace in quantities, by reducing the damage or physical modification at preparation of a cross section observing sample by a freeze breaking method, with respect to a film-like or sheet-like observation target.例文帳に追加

フィルムやシート状の観察用対象物について、凍結破断法による断面観察用試料作成時における損傷や物理的変性を軽減し、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作成が可能な冶具を提供する。 - 特許庁

To provide an image display device displaying a curvature of an observation object such as a blood vessel, an intestine, a stomach, and a bone to a center line of a cross section image vertically sectioned in a curved face along the observation object.例文帳に追加

血管、腸、胃、骨等の観察対象を、その観察対象に沿った曲面で縦切りした断面像上の観察対象像の芯線に対する曲率を表示する画像表示装置を提供する。 - 特許庁

A cross-section for observation of the film is formed by forming a coat of the cosmetic on a supporting body by applying the cosmetic to the surface of the supporting body, and etching the coat by an ion beam.例文帳に追加

支持体の表面に化粧料を塗布し、支持体上に化粧料の皮膜を形成させ、イオンビームでエッチングをして、該膜の観察用断面を形成する。 - 特許庁

This manufacturing method of a sample for a transmission type electron microscope includes a process for forming a protective film of an amorphous structure to the observation cross section of the specific place of a semiconductor device, a process for removing the periphery of the observation cross section to which the protective film is formed and a process for forming the region containing the protective film into a thin film state.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法において、半導体デバイスの特定箇所の観察断面に非晶質構造の保護膜を形成する工程と；前記保護膜が形成された観察断面の周囲を除去する工程と；少なくとも前記保護膜を含む領域を薄膜化する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

This cross section form observation method includes a process for forming a protective film on a specimen surface by a deposition method; a process for forming a protective film for working on the protective film by using a FIB; and a process for cutting the specimen with the protective film for working formed thereon by using the FIB to observe its cross section.例文帳に追加

試料表面に蒸着法により保護膜を形成する工程と、前記保護膜上にＦＩＢを用いて加工用保護膜を形成する工程と、前記加工用保護膜の形成された試料をＦＩＢにより切断し、断面を観察する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁