「defect or」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An inspector determines the defect candidate in the original picture according to the defect candidate marker and visually verifies whether the defect is a true crack defect or a pseudo defect for the defect candidate.例文帳に追加

検査者は、この欠陥候補マーカでもって原画像中の欠陥候補を知り、この欠陥候補に対して真の割れ欠陥か擬似欠陥かを目視確認する。 - 特許庁

a fault or defect in a computer program, system, or machine 例文帳に追加

コンピュータ・プログラム、システム、または機械の不具合や欠陥 - 日本語WordNet

compensating for some fault or defect 例文帳に追加

何らかの誤りまたは欠陥を補うさま - 日本語WordNet

To prevent a point defect or a line defect of a thin film semiconductor device used for a display or the like.例文帳に追加

ティスプレイなどに用いられる薄膜半導体装置の点欠陥や線欠陥を防止する。 - 特許庁

inclined to shake as from weakness or defect 例文帳に追加

弱さまたは欠陥から震える傾向がある - 日本語WordNet

To reduce or eliminate the risk of imaging defect.例文帳に追加

像の欠陥のリスクを低減または除去する。 - 特許庁

a minor defect in otherwise perfect matters or objects 例文帳に追加

ほとんど完全な物事にあるわずかな欠点 - EDR日英対訳辞書

Does the defect lie in the woman or in the man? 例文帳に追加

子の無いのは畑が悪いのか種が悪いのか - 斎藤和英大辞典

to cause a person to adjust or fix a defect 例文帳に追加

(失敗や欠点を)目立たないように処理させる - EDR日英対訳辞書

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SURFACE LAYER DEFECT OR SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL SPECIMEN例文帳に追加

磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁

iv) Grade D implies that a defect or serious defect has been found in the system of controls. 例文帳に追加

④Ｄ評価は、管理態勢に欠陥または重大な欠陥が認められる状態。 - 金融庁

An image of the detected defect is supplied to a defect classification means (36), and the defect is classified based on the shape or the brightness distribution of the image of the defect.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3).例文帳に追加

この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。 - 特許庁

To know defect information or the like inside an organic material.例文帳に追加

有機材料の内部の欠陥情報などを知る。 - 特許庁

being complete of its kind and without defect or blemish 例文帳に追加

その種で完全な、または欠陥または傷のない - 日本語WordNet

To classify discriminably a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加

短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁

DEFECT EVALUATING DEVICE BY PLASMA OR ARC, AND EVALUATING METHOD例文帳に追加

プラズマ・アークによる損傷評価装置と評価方法 - 特許庁

To suppress or prevent transfer of a defect in a photomask.例文帳に追加

フォトマスクの欠陥の転写を抑制または防止する。 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD OF INSULATING FILM OR SEMICONDUCTOR FILM例文帳に追加

絶縁膜もしくは半導体膜の欠陥検出方法 - 特許庁

relating to or characteristic of the visual defect aniseikonia 例文帳に追加

視覚障害不等像視に関した、またはその特性 - 日本語WordNet

Each photovoltaic cell defect is classified according to defect types and a shape of the dark region is compared with the defect types (S50), and the presence or absence of the defect is determined to determine whether the photovoltaice cells are good or not.例文帳に追加

太陽電池セルの欠陥をタイプごとに分け、暗部の形状を各タイプと比較して解析し（Ｓ５０）欠陥の有無を判定し、太陽電池セルの良否判断を行う。 - 特許庁

The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list.例文帳に追加

欠陥リスト更新部１２２は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。 - 特許庁

The halo component in a corrected part of a white defect, re-deposition near a black defect or deposition near a white defect is removed by an electron beam processing device without damages in the corrected part of the white defect or black defect by a mask defect correcting device using ion beams or by a mask defect correcting device using electron beams.例文帳に追加

イオンビームを用いたマスク欠陥修正装置や電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置による白欠陥もしくは黒欠陥の修正個所に対して、ダメージのない電子ビーム加工装置で白欠陥修正個所のハロー成分や黒欠陥周辺の再付着もしくは白欠陥周辺の付着を除去する。 - 特許庁

Hereby, a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like can be classified discriminably from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加

これによって、短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁

To provide a technique for detecting the minute open defect or short defect in a fine pattern.例文帳に追加

微細パターン中の微小なオープン欠陥やショート欠陥を検出する手法を提供する。 - 特許庁

Thereby reduction in defect transfer property of a mask or expansion of allowable defect size becomes possible.例文帳に追加

このため、マスクの欠陥転写性の軽減、あるいは欠陥許容サイズの拡大が可能となる。 - 特許庁

To easily confirm or analyze relevance between front-surface defect and rear-surface defect.例文帳に追加

表面欠陥と裏面欠陥との関連性を、容易に確認または解析することを可能にする。 - 特許庁

In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not.例文帳に追加

工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。 - 特許庁

By comparing a pixel obtained by these circuits and the value of the black defect or white defect level register 10 or 12, a detective pixel is specified.例文帳に追加

これにより得られる画素と、黒キズまたは白キズレベルレジスタ１０，１２との値を比較し、欠陥画素を特定する。 - 特許庁

METHOD OF ELIMINATING OR REDUCING IMAGE DEFECT IN DIGITAL CAMERA例文帳に追加

デジタルカメラにおける画像欠陥の解消又は軽減方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE OR ITS ACCESSORY例文帳に追加

電力ケーブルまたはその付属品の欠陥検出方法 - 特許庁

FILLING MATERIAL TO CARTILAGE DEFECT SECTION OR CARTILAGE INJURY SECTION例文帳に追加

軟骨欠損部又は軟骨損傷部への充填材料 - 特許庁

a congenital defect in which one or more toes or fingers are abnormally positioned 例文帳に追加

1本以上の足指や手の指が異常な位置についている先天性異常 - 日本語WordNet

Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

A mark M indicating existence of the defect 4 is provided by laying it on top of the defect 4 existing on the surface of or in the inside of the thin band-like sheet material 20, or in the vicinity of the defect.例文帳に追加

薄い帯状のシート材料２０の表面または内部に存在する欠陥４に重ねてまたはその近傍に欠陥４の存在を示すマークＭを設けた。 - 特許庁

To prevent increase in manufacturing cost accompanying image defect testing beforehand in pixel defect correction, or inappropriate corrections for a pixel becoming a defect through aging or temperature variation.例文帳に追加

画素欠陥補正における、事前の有無試験に伴う製造コストの上昇や、あるいは、経年変化や温度変化で欠陥となる画素に対する不適切な補正を防止する。 - 特許庁

For inspection result, total defect display (step S74) or defect display (step S75) is made for each group of patterns.例文帳に追加

検査結果は、総欠陥表示（ステップＳ７４）またはパターン群別に欠陥表示（ステップＳ７５）がなされる。 - 特許庁

To obtain a highly reliable three dimensional LSI such that an insulation defect or a connection defect can be prevented.例文帳に追加

絶縁不良や接続不良を防止することができ、信頼性の高い３次元ＬＳＩを得る。 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected.例文帳に追加

本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。 - 特許庁

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices.例文帳に追加

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、１台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。 - 特許庁

To provide a substrate holding device that can cope with defect inspection or defect correction for eighth or tenth generation glass substrate.例文帳に追加

第８世代や第１０世代のガラス基板に対する欠陥検査や欠陥修正に対応できる基板保持装置を実現する。 - 特許庁

speech defect involving excessive use or unusual pronunciation of the phoneme `l' 例文帳に追加

音素『l』の過度に使用したり異常に発音する言語障害 - 日本語WordNet

To provide a defect list of a 2ECC size or more, and an information recording medium capable of dealing with the delete of a defect entry in the defect list.例文帳に追加

２ＥＣＣサイズ以上である欠陥リスト、および、欠陥リスト内の欠陥エントリの削除に対応した情報記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To improve reliability for inspecting a defect by enabling a defect candidate to be verified easily by the visual inspection of an image or the like and the defect to be verified by all means.例文帳に追加

画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。 - 特許庁