「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method, apparatus and program for defect detection, capable of accurately detecting defects in the contour shape of an workpiece having an outer circumferential contour, based on a straight line.例文帳に追加

直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

The manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor includes at least the inspection process 101, and the inspection process includes at least a defect detection process 102 of detecting a defective part of an electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

電子写真感光体の製造方法は検査工程１０１を少なくとも含み、検査工程は電子写真感光体の欠陥部を検出する欠陥検出工程１０２を少なくとも含む。 - 特許庁

To provide a detection method in which a contrast difference due to an internal defect is extracted by canceling the contrast difference of an image due to the scattering of ultrasonic waves overlapped with the image of an ultrasonic microscope and due to the flow of a medium.例文帳に追加

超音波顕微鏡画像に重なった超音波の散乱や、媒質の流れによる画像のコントラスト差をキャンセルし、内部欠陥によるコントラスト差を抽出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a precise defect-part detection method for an inspection object in which a binarization threshold value dealing with even a fluctuation in a condition (illumination brightness or the like) in an imaging operation of the inspection object is calculated.例文帳に追加

検査対象の撮像時の条件（照明の明るさ等）等の変動にも対応した二値化しきい値を算出し、より正確な検査対象の欠陥部分検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting a flaw by an ultrasonic wave, capable of facilitating display-alignment of three-dimensional detection data and three-dimensional shape data and of quickly distinguishing defect echo from shape echo, and a method therefor.例文帳に追加

３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを容易にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできる超音波探傷装置及び方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method and device using an electronic beam capable of preventing the incorrect detection of a defect in a sample even if the methods of acquiring a reference image and an inspection image are different from each other.例文帳に追加

本発明は、基準画像と検査画像の取得法が異なっても試料の欠陥の誤検出を防止できる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which enables the detection of a wiring layer, the occurrence of a defect in an immediately after process, the removal of the defective layers until the wiring layer and the reconstruction of layers to shorten a feedback time.例文帳に追加

不良の発生した配線層を直後の工程で発見し、当該配線層まで除去し、その層を再構築することでフィードバック時間を短縮した製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a computer readable recording medium capable of accurately extracting contact inferiority indicating abnormal contrast without receiving the influence of charge up or shot noise.例文帳に追加

チャージアップやショットノイズの影響を受けることなく、異常コントラストを示すコンタクト不良を的確に抽出できる欠陥検出方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method for easily detecting defects in an SOI substrate by performing etching while restraining deterioration in the surface roughness of a silicon film and uniformity in a film thickness within a plane.例文帳に追加

シリコン膜の表面粗さおよび面内の膜厚均一性の悪化を抑えながらエッチングすることで、ＳＯＩ基板の欠陥を検出容易にする、欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for detecting the flaw of a metal strip, and eliminating the defective section of a non-metal inclusion, by processing a flaw detection signal by detecting the defect of non-metal inclusion inhering in the metal strip.例文帳に追加

本発明は、金属帯を探傷し、該金属帯に内在する非金属介在物欠陥を検出してなる探傷信号を処理して非金属介在物欠陥部分を除去する方法に関する。 - 特許庁

To provide a defect analyzing method of a memory by which must- repair of a memory can be retrieved at high speed and simulation processing relieving can be performed at high speed at the time of detection of must-repair.例文帳に追加

メモリのマストリペアを高速で検索すると共に、マストリペアが検出された時点でマストリペアを救済するシミュレーション処理を高速に行うことができるメモリの不良解析方法を提案する。 - 特許庁

To provide a defect detection method that automatically sets appropriate detection sensitivity for every pixel of an image according to both intra-image luminance variation and inter-image luminance variation with the use of a plurality of non-defective images imaging a plurality of non-defective units.例文帳に追加

本発明は、複数の良品を撮影した複数の良品画像を用いて、画像内輝度変動と画像間輝度変動の両方に基づき、画像の各画素毎に適切な検出感度を自動設定する欠陥検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To improve detection accuracy of short circuit accident more than conventional one by adapting this invention to an image display of an active matrix type by an organic EL element, in an image display, a defect detecting method, and a short circuit accident restoring method.例文帳に追加

本発明は、画像表示装置、欠陥検出方法及び短絡事故の修復方法に関し、例えば有機ＥＬ素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用して、短絡事故の検出精度を従来に比して向上する。 - 特許庁

To provide a method for detecting whole living cells including gram- negative bacteria in a logarithmic growth phase by solving a problem that gram-negative bacteria in a logarithmic growth phase cannot be dyed, which is a defect in a conventional method for living cell detection.例文帳に追加

従来の生細胞の検出方法における欠点である対数増殖期にあるグラムネガティブ細菌を染色できないことを解消し、対数増殖期にあるグラム陰性細菌を含む全ての生細胞の検出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method and detector capable of detecting, for example, microdefects caused on a reduction roll circumferential surface in inspection, so that a steel sheet (rolled material) of good surface quality can be produced, and to provide a grinding device and grinding method for achieving this method.例文帳に追加

表面品質のよい鋼板（圧延材）を製造できるようにするため、例えば検査時に圧延ロール外周表面に生じた微小の欠陥を検出することができる欠陥検出方法、装置並びにその方法を実現できるような研削装置、研削方法を得る。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional ultrasonic flaw detector and a three-dimensional ultrasonic flaw detection method for three-dimensionally and easily measuring a distance between echoes in a sizing work of a defect such as a crack.例文帳に追加

き裂等の欠陥のサイジング作業において、エコー間の距離を３次元的に容易に測定することができるようにした３次元超音波探傷装置及び３次元超音波探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.例文帳に追加

照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect detection method, capable of precisely, easily, and quickly confirming and evaluating a defective part of a transparent gas barrier film, having a transparent inorganic oxide evaporation layer laminated on a transparent plastic base member.例文帳に追加

透明プラスチック基材に透明無機酸化物蒸着層を積層した透明ガスバリアフィルムの欠陥箇所を、正確に、簡便且つ迅速に確認し、評価することができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for displaying printing defects in which defect detection data are collected and processed, and displayed as a graph on a desired time axis for each desired segment in a width direction of a printing machine.例文帳に追加

印刷機幅方向における所望の区間ごとに、所望の時間軸において、欠陥検出データを集計処理し、それをグラフとして表示する印刷欠陥表示方法および装置を提供する。 - 特許庁

The defect pixel detection method for the solid-state image pickup element compares a mean value of pixel data of pixels around a target pixel with pixel data of the target pixel so as to discriminate whether or not the target pixel is defective.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、注目画素の周囲の画素データの平均値と、注目画素の画素データとを比較することによって、注目画素が欠陥画素である否かを判定する。 - 特許庁

To provide a reflection type or a translucent type liquid crystal display provided with a protective film and its manufacturing method, wherein detection accuracy of a defect can be highly maintained while manufacturing costs are reduced.例文帳に追加

保護フィルムを備える反射型または半透過型の液晶表示装置及びその製造方法において、製造コストの低減を図りつつ、欠陥の検出精度を高く保つことのできる装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.例文帳に追加

鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加

品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sensitivity table data creation device which creates sensitivity data required for creating a sensitivity table giving proper defect detection ratio of a product mask, a mask inspection system and a sensitivity table data creation method.例文帳に追加

製品マスクの欠陥検出率を適正に把握することが可能な感度表を作成するために必要な感度表データを作成する感度表データ作成装置、マスク検査システム及び感度表データ作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of optimizing scanning according to a situation/objective, reducing distortion of an image, and improving throughput, image quality and a defect detection rate by controlling deflection of a charged particle beam in a stage following method.例文帳に追加

ステージ追従方式において荷電粒子線の偏向を制御する事で、状況・目的に応じて走査を最適化し、画像の歪みを低減し、スループット，画質，欠陥検出率が向上した装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and its method requiring no pin to be brought into contact with circuit wiring in supply of an inspection signal to the circuit wiring and allowing detection of a minute defect indistinguishable by a naked eye.例文帳に追加

回路配線に検査信号を供給するにあたり、該回路配線に接触するピンを不要とし、また、肉眼により識別できないような微細な欠陥をも検出し得る検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic card reader and a magnetic card defect detection method capable of detecting that a magnetic card is defective when a folded or cracked magnetic card or a magnetic card to which a deposit adheres is used by a user.例文帳に追加

折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an internal defect detecting method for a structure requiring no new expense for heating or cooling, dispensing with a technique for uniform heating or cooling, and hardly generating a detection error even in a very small temperature difference.例文帳に追加

加熱・冷却のために新たな費用を必要とせず、また均一加熱もしくは冷却のための技術も不要であり、かつ、わずかな温度差であっても検出誤差が生じにくい、構造体内部欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

In addition to the above, a defect detection method of a magnetic disk device has the channel circuit and uses first means for registering a sector, of which the variation of amplitude has been detected, as a defective sector and second means for registering an irreproducible sector as the defective sector.例文帳に追加

また、前記チャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。 - 特許庁

To provide a method capable of performing defect detection even when design data can not be obtained since importance of a defect can be determined by prior art while taking relative relation with a formation such as wiring on a wafer into consideration by using design data, but the determination can not be made without the design data.例文帳に追加

従来の技術においては、設計データを用いることにより、ウェーハ上の配線等の構成物との相対関係を考慮し、欠陥の重要度の判定は可能であるが、設計データが無い場合は、判定ができなかったので、設計データが入手できない場合についても欠陥検出の実施を可能とする方法を提供する。 - 特許庁

The method for detecting and classifying pixel defects of the TFT array substrate includes a signal acquiring step for acquiring a detection signal from a plurality of detection signal acquiring points in one pixel and a signal processing step for dividing one pixel into a plurality of regions and performing defect judgement in the pixel using the divided region as one unit by using the detection signal in the detection signal acquiring point existing in each divided division processing region.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、１ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、１ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

In the defect detection method for a fuel cell material, defects of the fuel cell materials are detected by using a displacement sensor, a transmission type photoelectric sensor, a CCD (charge-coupled device) line sensor, and/or a reflection-type photoelectric sensor.例文帳に追加

本発明は、変位センサー、透過型光電センサー、ＣＣＤ（チャージ・カップルド・デバイス）ラインセンサーおよび／または反射型光電センサーにより、燃料電池材料の欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

The method for detecting the hollow fiber involves soaking the fiber in the glass cloth state in a solution having a refraction index near to that of the glass when detecting the hollow fiber which is a defect of the glass filament (yarn) the detection of which is a constituent requirement of the glass cloth for the laminated plate.例文帳に追加

積層板用ガラス布の構成要件であるガラスフィラメント（糸）の欠陥であるホローファイバーを検出する際に、屈折率がガラスと近似した溶液にガラス布の状態で浸漬することを特徴とするホローファイバーの検出方法。 - 特許庁

To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device.例文帳に追加

視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁

In the defect detection method in the sheet-like printed matter (10) for continuously printing the same pattern on the continuous sheet, mask treatment (14) is made to a part (12) outside a pattern range that does not become a product, thus inspecting only a product section (11).例文帳に追加

連続するシート上に同一の絵柄が連続して印刷されるシート状印刷物（１０）の欠陥検出方法であって、製品とはならない絵柄範囲外の部分（１２）にマスク処理（１４）して製品部分（１１）のみ検査できるようにした。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a calibration device for array type magnetic flaw detection equipment capable of calibrating easily sensitivity of an individual magnetic sensor for a micro-fine defect of a running thin steel sheet, in the array type magnetic-field test equipment, and a calibration method therefor.例文帳に追加

本発明は、アレイ型磁気探傷装置において、走行中の薄鋼板の微小欠陥に対する個々の磁気センサの感度校正が容易に行えるアレイ型磁気探傷装置の校正装置、及びその校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a detection method for a residual volume of a dispenser and a dispensing material in a liquid crystal liquid display capable of correctly detecting the actual residual volume of the remaining dispensing material in a syringe and removing a defect causing factor in the liquid crystal display panel.例文帳に追加

シリンジの内部に残留するディスペンシング物質の実際の残余量を正確に検出し、液晶表示パネルの不良発生要因を除去し得る液晶表示パネルのディスペンサ及びディスペンシング物質の残余量検出方法を提供する。 - 特許庁

The substrate inspection method detects the defect on the basis of a plurality of detection brightness values and a plurality of comparison brightness values determined to detect diffusion light from a detection position on a substrate and a comparison position corresponding thereto with a plurality of detectors arranged in different directions under dark field illumination.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、暗視野照明下において基板上の検査位置及びこれに対応する比較位置からの散乱光を異なる方向に配置された複数の検出器により検出して得られた複数の検査用輝度値及び複数の比較用輝度値に基づいて欠陥を検出する基板検査方法である。 - 特許庁

The magneto-optic defect detection method applies a magnetic field to the object 1 to be inspected to detect a leakage magnetic field generated at a defective part 2 on the surface of the object 1 to be inspected by a magneto-optic effect of light penetrated through a magneto-optic element 10 approximated to the object to be inspected.例文帳に追加

被検査物１に磁界を印加して、その表面の欠陥部２に生じた漏洩磁界を、被検査物に近接させた磁気光学素子１０に透過させた光の磁気光学効果により検出する磁気光学式欠陥検出方法である。 - 特許庁

To enable displaying red, green, and blue and to improve test and detection capability for defect caused by patterns of each pixel constitution, wirings, and the like even when pixel electrodes are arranged in delta arrangement in a test method for a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤，緑，青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。 - 特許庁

In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of the material to be inspected via water by using a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to the material to be inspected, and creeping waves reflected by a defect existing in the material to be inspected are received at a position different from the transmission position of the creeping waves.例文帳に追加

圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁