「defect location」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inexpensive and high-resolution surface defect inspecting apparatus and its method for making a line sensor accurately track a location and a position fluctuation in an inspecting object.例文帳に追加

本発明は、被検査物の位置や姿勢変動にラインセンサを精度よく追従し、低コストで高解像度化が容易な表面欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

If there is a detect 3, such as foreign particle, damages, the light L, entering into the optical film 2, may be randomly reflected or scattered at a location of the defect 3.例文帳に追加

光学フィルムに異物・損傷等の欠点３がある場合、光学フィルム２に入射した光Ｌは、欠点３のある場所で、乱反射したり、散乱を起こしたりする。 - 特許庁

To accurately detect as a picture element corresponding to a defect only a pixel, showing the location where a defect actually exists from image data of a surface to be inspected to which a side arm is rectangular wave-like, or designs, such as, beveling are given.例文帳に追加

側辺が矩形波状であったり面取りなどの意匠が施されていたりする検査対象面の画像データから、実際に欠陥が存在する箇所を表す画素だけが、欠陥対応画素として、正確に検出されるようにすること。 - 特許庁

An alternate area is determined in consideration of the location of an area where the defect occurs, whether the defect occurs at the beginning of the area, whether the recording medium is rewritable or not, and so that data is arranged in the order of reading.例文帳に追加

ディフェクトが発生した領域の位置、その領域内でディフェクトが発生した箇所が先頭であるか否か、記録媒体が再書き込み可能であるか否かなどを考慮し、かつ、データが読み出される順で配置されるように、交替先が決定される。 - 特許庁

The location adjusting means in the surface defect inspecting apparatus of the invention comprises a drive mechanism moved in the axial direction of the inspected object and the direction perpendicular to the direction of an optical axis of the line sensor, and adjusts the location and the position of the line sensor.例文帳に追加

そして、本発明の表面欠陥検査装置における位置調整手段が、被検査物の軸方向及びラインセンサの光軸方向と垂直な方向に移動する駆動機構を有し、ラインセンサの位置及び姿勢を調整する。 - 特許庁

In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of materials to be inspected via water via a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to a material to be inspected, and creeping waves reflected at a defect present in the material to be inspected are received at a location different from the transmission location of the creeping waves.例文帳に追加

圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁

The inspection supporting system sorts each defect detected with an inspection apparatus conforming to a plurality of inspecting conditions in accordance with combinations of the inspecting conditions for detecting respective defects, and calculates for each sorting visual distribution of the inspection objects of the defect belonging to each sorting on the basis of the location information of the defect belonging to the relevant sorting.例文帳に追加

本検査支援システムは、複数の検査条件によって検査装置が検出した各欠陥を、その欠陥が検出された検査条件の組み合わせで分類し、各分類ごとに、その分類に属する欠陥の、検査対象の外観上における分布を、当該分類に属する欠陥の位置情報に基づき算出する。 - 特許庁

Next, a board recognition means 4 is assigned to a part of the board as a means for recording bar codes or tags so that defect recognition location information and board recognition information can be recorded in pairs.例文帳に追加

次に、バーコードあるいはタグなどの記録手段としての基板認識手段４を基板一部に割り付けして、不良認識位置情報と基板認識情報を対応させて記録する。 - 特許庁

A high sensitivity inspection is made possible by performing a pattern inspection which comprises steps of preliminarily obtaining a GP image, designating an inspection location and a threshold value map to the GP image on a GUI, setting an identification reference for a defect, obtaining an inspection image, and applying the identification reference to the inspection image to identify the defect.例文帳に追加

予めＧＰ画像を取得し、ＧＰ画像に対して検査箇所及び閾値マップをＧＵＩ上で指定し、欠陥の識別基準を設定し、次に検査画像を取得し、検査画像に識別基準を適用し欠陥を識別することでパターン検査を行い高感度検査を可能にした。 - 特許庁

The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defect management information, rewrites the defective status information with attributes indicating that the said defective area has been physically reformatted.例文帳に追加

情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部１０７２を備える。 - 特許庁

To provide an inexpensive magnetic flaw detection apparatus having a simple structure and detecting a location and a depth of an internal defect etc. of a thickness decrease etc. of a piping material caused by a pin hole defect, corrosion, etc. generated in a crack, a welding part, etc. in a test object.例文帳に追加

簡単な構成で、被試験体における亀裂や溶接部等で生成されるピンホール欠陥、腐食等によって生じる配管材の肉厚減少等の内部欠陥などの位置、深さを検出できる簡単、安価な磁気探傷装置を提供することが課題である。 - 特許庁

A shape to be generated by the processing according to the cutter location simulation is predicted by using cutting simulation, transfer simulation is conducted for the predicted shape after processing, and fulfillment of a required transmittance value on a processed position is confirmed, and then the defect is eliminated by processing according to the cutter location simulation.例文帳に追加

カッターロケーションシミュレーションどおり加工したときの形状を切削シミュレーションで予測し、予測した加工後の形状に対して転写シミュレーションを行い加工個所の透過率が必要とされる値を満たすことを確認してからカッターロケーションシミュレーションどおりに加工して欠陥を除去する。 - 特許庁

According to this constitution, only defective pixels can be corrected surely, without requiring advance pixel defect test, even if the location of the pixel is varied or the number thereof is increased due to aging or temperature variation.例文帳に追加

この構成により、事前の画素欠陥試験を行なうことなく、また、経年変化や温度等で欠陥に位置が変ったり増えたりしても確実に欠陥画素だけを補正する事が可能になる。 - 特許庁

The method is to judge existence or nonexistence of the defect and its location by measuring incident EUV light scattered or diffused by an abnormality in a mask blank layer, normalizing and comparing with thresholds.例文帳に追加

マスク・ブランクの層における異常によって散乱又は拡散された入射ＥＵＶ光を測定、正規化、閾値との比較を行うことにより欠陥の存在の有無及びその場所を判定する。 - 特許庁

When checking defects, an image is obtained and then is added to the defects information, and the defects information is compared with the image at the time of checking defects and an image detected by another apparatus or with the layout information, to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥確認時に画像を取得、欠陥情報に付加し、欠陥確認時の画像と再度別装置で検出した画像、又は設計情報と照合することで欠陥位置を補正する。 - 特許庁

When the semiconductor layers 10 and 20 form a pn junction J50a, leakage current occurring at the pn junction J50a is extremely small because the pn junction J50a exists near an edge of the silicide layer 20s and at a location having less crystal defect.例文帳に追加

半導体層１０，２０がｐｎ接合Ｊ５０ａを形成する場合、これはシリサイド層２０ｓの端部から近く、結晶欠陥が小さい位置に存在するので、ここにおけるリーク電流は非常に小さい。 - 特許庁

To provide a method that can select only the necessary semiconductor packages by accumulating defects in each semiconductor package manufacturing process in the defect location recognition information, and reading the related board identification information.例文帳に追加

半導体パッケージの製造工程において工程毎に生じた不良箇所を不良位置認識情報に累積記録させ、基板識別手段の情報を読み取ることにより、必要とする半導体パッケージのみ選別する。 - 特許庁

By making the angles of incidence and refraction uniform, ultrasonic wave is distributed uniformly inside the piping 20 in the depth direction and the presence, the location and the size of the defect on the inner peripheral face of the piping 20 can be determined.例文帳に追加

入射角又は屈折角を一様にした構成により、超音波は配管２０内部をその厚さ方向に一様に分布し、配管２０の内周面の欠陥の存在の有無、位置及び大きさが判定できる。 - 特許庁

Consequently the defect location is closed by pulling the outer wall anchor 20 to the direction of the inner meniscus anchor 30 by giving tension on the surgical suture 40 and the surgical suture is fixed on a prescribed position by a fixing means.例文帳に追加

したがって、縫合糸に張力が与えられることによって、外壁アンカーを内側半月板アンカーの方向に引き寄せて欠陥部位を閉じ、さらに固定手段によって前記縫合糸が所定の場所に固定される。 - 特許庁

The screen displaying/defect determining apparatus 23 identifies the generated thickness reduction from a Rayleigh wave echo component and finds the thickness reduction depth from a relational expression among an appearance location of a transverse reflection wave echo in the thickness reduction section, a previously-found reflection strength, and a distance.例文帳に追加

画面表示及び欠陥判別装置２３は、レイリー波エコー成分から減肉の発生を識別し、減肉部の横波反射波エコーの出現位置と予め求めた反射強度および距離の関係式から減肉深さを求める。 - 特許庁

To enable a person to efficiently recognize the location and other information of a defect which is hardly found visually with a transparent film or a translucent film, with a simple structure in a transparent film visual inspection system.例文帳に追加

透明フィルム外観検査システムにおいて、簡単な構成により、透明フィルムや半透明フィルムにおける目視による発見が困難な欠陥に対し、その欠陥場所やその他情報を効率よく人に認識させることができるようにする。 - 特許庁

A liquid cell post-assembly inspection method includes a step for inputting an inspection signal and a step for on/off-controlling a signal input to the gate driver 500 and on/off-controlling the gate scanning signal, to determine a defect location of the liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶セル組立後検査方法は、検査信号を入力するステップと、ゲート駆動器５００に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルの不良位置を確定するステップとを備える。 - 特許庁

The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defective management information, rewrites the defective status information with attribute indicating that the defective area has been physically reformatted.例文帳に追加

情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部１０７２を備える。 - 特許庁

Furthermore, when the discrimination indicates that the possibility of the abnormality exists in the connection state of the connection cable, a defect analysis time can be reduced with this report (S8), and the faulty location can easily be identified and the repair can be completed in a short time.例文帳に追加

また、接続ケーブルの接続状態が異常である可能性があるものと判断された場合にはその旨を報知することにより（Ｓ８）、不具合解析時間の短縮化を図ることができるので、故障箇所の特定がしやすく、短時間で修理を済ませることができる。 - 特許庁

To provide a positioning support device that compensates for a defect occurring in any one of a satellite location, velocity and acceleration, in a positioning system based on satellite navigation, and that enables real-time positioning with precision and stability while flexibly responding to landform or distribution of natural features.例文帳に追加

本発明は、衛星航法に基づく測位系において、航行衛星の位置、速度、加速度の何れかに生じる欠落を補完する測位支援装置に関し、地形や地物の分布に柔軟に適応し、かつ精度よく安定にリアルタイムによる測位を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

A dry film resist 5 as a bank is pasted in a direction crossed in an extending direction of the bank 2 after inspecting a defected location 3 existed on a partition of the bank 2 by a defect inspection means 4, and a pasted repair material 6 is temporarily cured by applying the repair material 6 at a zone sandwiched between the pasted banks.例文帳に追加

欠陥検査手段４によりバンク２の隔壁にある欠陥箇所３を検査した後、バンク２の延在方向と交差する方向に土手としてのドライフィルムレジスト５を貼付し、貼付された土手で挟まれた領域に修復材料６を塗布して、塗布された修復材料６を仮硬化させる。 - 特許庁