「defect location」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TAB LEAD CONTINUOUS BODY AND DEFECT LOCATION DISPLAY METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

タブリード連続体及びタブリード連続体の不良箇所表示方法 - 特許庁

Therefore, the presence of a defect and the location can be accurately detected.例文帳に追加

このため、欠陥存在とその存在箇所が正確に検出される。 - 特許庁

On this printed circuit board 1, an image recognition means is employed to read the location of the defect recognition mark 2, and then to prepare the defect recognition location information.例文帳に追加

このプリント基板１に対して、画像認識などの手段を用いて不良認識マーク２の位置を読み取り、不良認識位置情報を作成する。 - 特許庁

Some embodiments employ defect-location algorithms that analyze defect artifacts to precisely locate corresponding defects.例文帳に追加

欠陥アーチファクトを解析して該当する欠陥の位置を正確に特定する欠陥位置特定アルゴリズムを採用する。 - 特許庁

The defect presentation part 7 presents the defect data onto the back side of the film 2 corresponding to the defect location of the film 2 to be unwound/conveyed.例文帳に追加

欠陥提示部７は、巻出し搬送されるフィルム２の欠陥位置に対応して当該フィルム２の背面側に欠陥データを提示する。 - 特許庁

A location where the charge accumulation state is abnormal can be detected as a defect location in the semiconductor device.例文帳に追加

電荷の蓄積状態が正常でない箇所を、半導体装置の不具合箇所として検出することができる。 - 特許庁

Here, when there is a defect location on the metal tape 11, the colored tape 13 is pasted on the insulating film 12 in front of and behind the defective location; and when there is a defect location on the insulating film 12, the colored tape 13 is pasted on the defect location of the insulating film.例文帳に追加

ここでは、金属テープ１１に不良箇所がある場合には、不良箇所の前後の絶縁フィルム１２に着色テープ１３が貼り付けられ、絶縁フィルム１２に不良箇所がある場合には、不良箇所の絶縁フィルムフィルムに着色テープ１３が貼り付けられている。 - 特許庁

A dual charged-particle beam system is automatically navigated to the vicinity of defect location using information from the defect file.例文帳に追加

複式荷電粒子ビームシステムが、欠陥ファイルからの情報を用いて、自動的にその欠陥位置の近傍にナビゲートされる。 - 特許庁

To provide a device and a method of healing a defect location, especially a defect part of the knee meniscus.例文帳に追加

軟組織の欠陥部位、特に膝の半月板の欠陥部位を修復するためのデバイスおよび修復方法を提供する。 - 特許庁

Subsequently, the defect correcting apparatus selects the defect correction method, according to the specified requirements by reading the defect correction methods from the database, on the basis of a location of the detected defect on the wiring board to perform defect correction, in accordance with selected defect correction method.例文帳に追加

そして、検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいてデータベースから欠陥修正手法を読み出して所定の条件に従い選定し、選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行する。 - 特許庁

To detect the location of a micro defect in a semiconductor device with high accuracy by Raman spectroscopic method.例文帳に追加

半導体装置の微細な欠陥箇所を、ラマン分光法により高精度で検出する。 - 特許庁

To provide a method of repairing defect and a device for repairing defect, by which a defect is repaired only by welding without grinding even in the case where a defect existing in a deep location in the direction of the thickness of a plate is repaired.例文帳に追加

板厚方向の深い位置に存在する欠陥を補修する場合であっても、研削を必要とせず溶接のみで欠陥を補修できる欠陥補修方法および欠陥補修装置を得る。 - 特許庁

The location of the defect 3 is detected, by observing the luminescent spot from the surface of the optical film 2.例文帳に追加

これを、光学フィルム２の表面から観察することにより欠点３の位置を検出する。 - 特許庁

The defect location is indicated, by pasting a colored tape 13 on the insulating film 12 at a defective location of the tab lead continuous body 10 or the insulating film 12 before and behind the defective location.例文帳に追加

そして、タブリード連続体１０の不良箇所の絶縁フィルム１２、もしくは不良箇所の前後の絶縁フィルム１２に、着色テープ１３を貼り付けて不良箇所を示している。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The media defect detection circuit 112 can operate to identify a media defect, and the anchor fixing circuit 114 can operate to identify a location based on the criterion of the media defect.例文帳に追加

媒体欠陥検出回路１１２は、媒体欠陥を識別するように動作可能であり、アンカ固定回路１１４は、その媒体欠陥を基準とするロケーションを識別するように動作可能である。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspecting method and device capable of accurately detecting a minute defect after specifying its location.例文帳に追加

微細な欠陥を、その位置を特定した上で正確に検出することができるパターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A region including the defect location coordinates on the second coordinate system of the element formation surface is imaged by the defect imaging device (S8, S9).例文帳に追加

前記欠陥撮影装置により前記素子形成面の前記第２の座標系上における前記欠陥位置座標を含む領域の撮影を行う（Ｓ８、Ｓ９）。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

To provide a deterioration diagnostic method of a lined piping capable of accurately detecting the defect of a lining layer and also capable of easily detecting the location of the defect.例文帳に追加

ライニング層の欠陥を精度良く検出することができると共に、欠陥の位置を容易に検出することができるライニング処理配管の劣化診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection.例文帳に追加

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁

On the other, signals of the sensors each corresponding to the same location are compared and computed at a comparator 11, a defect is detected at a signal computing device 12 on the basis of the signals, and the location of the depth of the defect is simultaneously measured.例文帳に追加

もう一方は、比較装置１１にてそれぞれのセンサの同一位置に対応する信号を比較演算し、その信号を基に信号演算装置１２にて欠陥の検出を行うと同時にその欠陥の深さ位置を測定する。 - 特許庁

The location of a defect in the region where the anodized oxide film is formed is detected from the Raman spectrum of the Raman scattered light.例文帳に追加

このラマン散乱光のラマンスペクトルにより陽極酸化膜を形成した領域における欠陥箇所を検出する。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

When a reflection wave signal is generated by the defect and detected, two types of defect detecting gates are provided, the number of gates for detecting the reflection wave signal generated by the defect and exceeding a threshold value is found, and the location of the defect relative to the central face in thick can be determined.例文帳に追加

欠陥に基づく反射波信号を検出する際に、２種類の欠陥検出ゲートを設け、しきい値を超える前記欠陥に基づく反射波信号を検出したゲート数を求め、欠陥が板厚中心面に対してどちら側の鋼板内に存在するのかの判別を可能にした。 - 特許庁

At this time, the defect correction unit 17 corrects a defective pixel based on information for a location of the defective pixel stored at a defect memory 16, and outputs the result to a camera signal processing unit 18.例文帳に追加

このとき、欠陥補正部１７は、欠陥記憶部１６に記憶されている欠陥画素位置の情報に基づいて欠陥画素を補正し、カメラ信号処理部１８に出力する。 - 特許庁

The defect detection unit 15 executes white defective pixel detection processing using the all black images and stores information for the pixel location of the defective pixel detected in the defect memory 16.例文帳に追加

欠陥検出部１５は、全黒画像を用いて白欠陥画素検出処理を実行し、検出された欠陥画素の画素位置の情報を欠陥記憶部１６に記憶させる。 - 特許庁

The defects information is added with the image at the time of inspection, and then is compared with an image at the time of checking defects to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、欠陥確認時の画像と照合することで位置を補正する。 - 特許庁

To detect with high sensitivity foreign matters adhering to the microscopic patterns formed on the surface of a semiconductor device and the location of the defect, such as an abnormality in the patterns.例文帳に追加

半導体装置の微小パターンに付着した異物やパターンの異常等の欠陥箇所を高感度で検出する。 - 特許庁

The defect correction method consists of template information 73, representing the characteristics of the defect and object information 74 representing actual correction method and defect location, and information on the detected defect, matching with the specified conditions of the template information 73 and the object information 74, is output as the defect correction method.例文帳に追加

上記欠陥修正手法は欠陥の特徴を示すテンプレート情報７３と、実際の修正方法及び欠陥の位置を示すオブジェクト情報７４から構成されており、検出された欠陥の情報がテンプレート情報７３及びオブジェクト情報７４の特定の条件に一致しているものを欠陥修正手法として出力する。 - 特許庁

To provide a TEG structure optimal for evaluating the defect level in the important components of an interconnection process, i.e., interconnect resistance, open circuit and short circuit defect, and through hole process, at a low cost and enhancing the location efficiency of a detected defect.例文帳に追加

配線工程で重要な要素である、配線抵抗、断線及びショート欠陥、およびスルーホールのプロセスを低コストで、欠陥レベルを評価し、検出した欠陥箇所の探索効率を向上するための最適なＴＥＧ構造を提供する。 - 特許庁

Furthermore, an area where the impedance shows the minimum value is sought based on the impedance thus obtained, and the area is specified as the location of the defect.例文帳に追加

そして、得られたインピーダンスに基づいてインピーダンスの最小値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁

To detect the presence, the location and/or the size of a defect on the inner peripheral face of a piping by injecting ultrasonic wave into the piping.例文帳に追加

超音波を配管内部に入射して、配管の内周面に存在する欠陥の有無、位置及び／又は大きさを検出する。 - 特許庁

To provide a deterioration diagnostic method of a lined piping capable of accurately detecting the defect of a lining layer and also capable of easily detecting the location of the defect from outside without taking the piping out.例文帳に追加

ライニング層の欠陥を精度良く検出することができると共に、抜管することなく外部から欠陥の位置を容易に検出することができるライニング処理配管の劣化診断方法を提供する。 - 特許庁

Information (offset information) about distribution of a coordinate system offset between a defect inspection apparatus and a SEM apparatus at an observation location on a wafer is registered in the SEM apparatus as a defect observation apparatus.例文帳に追加

欠陥観察装置であるＳＥＭ装置には、欠陥検査装置と当該ＳＥＭ装置との間の座標系のずれの、ウェハ上の観察位置に対する分布に関する情報（ずれ情報）が登録される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector for accurately and quickly detecting an internal defect in a running steel plate and a location of the internal defect relative to a central face in thick.例文帳に追加

走行する鋼板の内部欠陥を正確にかつ迅速に、しかも内部欠陥が板厚中心面に対してどちら側に存在するのかも検出することが可能な超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus having a zoom function without an optical means, thereby enabling the signal correction of a defect pixel based on location information of the defect pixel preliminarily stored.例文帳に追加

あらかじめ記憶された欠陥画素の位置情報に基づく欠陥画素の信号補正を行うことが可能とされた、光学的手段を用いないズーム機能を具備する撮像装置を提供する。 - 特許庁

The voltage based on the ultrasonic wave is measured at a plurality of locations on the piping 11, and the location is sought where the voltage shows the maximum value based on the voltage to specify that the location is where the defect is.例文帳に追加

該超音波に基づく電圧を配管１１の複数箇所にて測定し、その電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁

Since a rejectable device is not spotted with ink, a trouble due to ink is eliminated at the time of incomplete analysis regardless of the location of the defect in the semiconductor device.例文帳に追加

また、インクを打点しないので半導体装置のどの場所に欠陥があっても、不良解析時インクによる障害となることはない。 - 特許庁

To provide a printed matter inspecting device capable of highly accurately marking a defect detected in printed matter at a predetermined location.例文帳に追加

印刷物において検出した欠陥に対するマーキングを所定の位置で精度良く行なうことができる印刷物検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, when a defect pixel due to the potential gap of a vertical transferring portion is generated in a transfer stop period (timings T102-T103), a defect pixel location is prevented from being changed according to the magnification N.例文帳に追加

これにより、転送停止期間（タイミングＴ１０２〜Ｔ１０３）において、垂直転送部のポテンシャルギャップに起因する欠陥画素が発生した場合に、その欠陥画素位置が倍率Ｎに応じて変化することがなくなる。 - 特許庁

To ensure accurate fine alignment correction while reducing the man hour of a user required for review, in an observation device having a function to perform fine alignment by using the location information on a defect registered in a defect file.例文帳に追加

欠陥ファイルに登録された欠陥の位置情報を用いてファインアライメントを実行する機能を備えた観察装置において、ファインアライメント補正を正確なものとし、レビューのために要するユーザの工数を低減する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

The disconnection and appearance defect of a wiring pattern in a printed circuit board 1 enabling multiple semiconductor devices 5 to be mounted are checked, and then a defect recognition mark 2 that can be identified by image recognition is added to a semiconductor device mount area corresponding to the defect location on the printed circuit board 1.例文帳に追加

複数の半導体素子５が搭載可能なプリント基板１の配線パターンの断線および外観不良のチェックを行い、プリント基板１の不良箇所に対応して該当する半導体素子搭載領域に画像認識などによって識別可能な不良認識マーク２を付与する。 - 特許庁

A light defect 42 is determined as a location where the brightness of the image pattern exceeds the brightness of the upper pattern image by comparing the brightness at each location in each gray area of the image pattern picked up by the image pickup apparatus with the brightness at each location in each gray area of the upper pattern image.例文帳に追加

そして、画像読取装置で読取った画像パターンの各濃淡域における各位置の輝度と上限パターン画像の各濃淡域における各位置の輝度とを比較して、画像パターンの輝度が上限パターン画像の輝度を超えた位置を明欠陥４２と判定する。 - 特許庁