「field inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WEAK MAGNETIC FIELD GENERATION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR MAGNETIC FIELD SENSOR例文帳に追加

弱磁界発生装置および磁界センサの検査方法 - 特許庁

DARK FIELD DEFECT INSPECTION METHOD, DARK FIELD DEFECT INSPECTION DEVICE, ABERRATION ANALYSIS METHOD, AND ABERRATION ANALYZER例文帳に追加

暗視野欠陥検査方法、暗視野欠陥検査装置、収差解析方法及び収差解析装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD USING ALTERNATE MAGNETIC FIELD例文帳に追加

交番磁場を利用した非破壊検査装置および非破壊検査方法 - 特許庁

MAGNETIC FIELD MEASURING DEVICE, NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE, AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

磁場測定装置，非破壊検査装置，磁場測定信号処理方法 - 特許庁

VISUAL FIELD INSPECTION SYSTEM AND METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

視野検査装置、視野検査方法およびプログラム - 特許庁

To provide a field inspection operation support device and a field inspection operation method for guiding an inspection operator to an equipment to be inspected.例文帳に追加

点検操作員を対象機器に誘導する現場点検操作支援装置と現場点検操作方法を提供すること。 - 特許庁

REFERENCE WAFER FOR CALIBRATION OF DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, METHOD OF CALIBRATION OF DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, THE DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

暗視野検査装置校正用基準ウエハ、暗視野検査装置校正用基準ウエハの製造方法、暗視野検査装置の校正方法、暗視野検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE BY AC ELECTROMAGNETIC FIELD MEASURING METHOD例文帳に追加

交流電磁場測定法による探傷検査装置 - 特許庁

MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁

GEOLOGICAL INSPECTION METHOD AND MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE THEREOF例文帳に追加

地質検査方法およびそのための磁場発生装置 - 特許庁

The light-emitting diode generates an optical field in a space in the inspection body, and causes the inspection body to inspect the optical field.例文帳に追加

該発光ダイオードは該検査体内の空間において光場を発生し、該検査体に該光場を検査させる。 - 特許庁

To provide an ophthalmic inspection instrument with which a fine visual field inspection and a front/rear fundus inspection at the inside of an eye ball can be performed.例文帳に追加

微小視野検査および眼球内部の前後面底部検査が可能である眼科用検査機器 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR FIELD EMISSION ELECTRON SOURCE, AND ITS INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電界放射型電子源の検査方法および電界放射型電子源の検査装置 - 特許庁

The positional relation and moving relation of an inspection field are displayed in a visually graspable mode on the basis of the set inspection field order.例文帳に追加

設定された検査視野順序に基づき、検査視野の位置関係及び移動関係を、視覚的に把握可能な態様で表示する。 - 特許庁

To provide a leakage inspection method and a leakage inspection device capable of dispensing with any special experience for inspection judgement by an inspection worker, capable of uniformizing inspection precision, and capable of acquiring exactly and quickly an inspection result in an inspection field.例文帳に追加

検査作業者の検査判断に格別な経験を必要とせず、検査精度の均一性をはかることができ、適確かつ迅速な検査結果が検査現場で取得可能な漏洩検査方法及び漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

To gather inspection results by a computer without inputting the inspection results to the computer after inspection while maintaining the operation efficiency of field inspection by maintaining entry in a field inspection sheet by a method similar to a conventional method.例文帳に追加

従来と同様の方法での現地調査シートへの記入を維持することにより現地調査の作業能率を維持しつつ、調査後に調査結果をコンピュータに入力することなく、コンピュータによる調査結果の集計を可能とする。 - 特許庁

SUBSTRATE, SLIDER, NEAR-FIELD OPTICAL HEAD, SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

基板、スライダ、近接場光ヘッド、基板検査方法及び基板製造方法 - 特許庁

INSPECTION OF CATHODE PANEL FOR COLD CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用のカソード・パネルの検査方法 - 特許庁

A first inspection set includes an electric field radiation type electron emitter and an X-ray detector and is used in the inspection of the material.例文帳に追加

第１の検査セットは、電界放射型電子エミッタと、Ｘ線検出器と、を含み、材料検査に用いる。 - 特許庁

The shield plate 24 shields an electric field applied to the inspection robot 12 in the standby state of the inspection robot 12.例文帳に追加

シールド板２４は点検ロボット１２の待機状態において点検ロボット１２に加わる電界を遮蔽する。 - 特許庁

The data packet is provided with a synchronized field, acknowledgement field indicating acknowledgement of the reception of a previous data packet, response field including information indicating defective of a system, header field, sequence number field including a number assigned to the data packet, data field, packet terminal field, and error inspection field.例文帳に追加

同期化フィールドと、前のデータパケットの受信の受信確認を示す受信確認フィールドと、システムの欠陥を示す情報を含む応答フィールドと、ヘッダフィールドと、該データパケットに割り当てられた番号を含むシーケンス番号フィールドと、データフィールドと、パケット末端フィールドと、エラー検査フィールドと、を備える、データパケット。 - 特許庁

To transmit to a worker in an inspection field an advice from experts which makes supervisors and experts not in the inspection field easily understand a problem found in the inspection and indicates the proper measures to the problem.例文帳に追加

検査現場に居合わせない監督者やエキスパートに、検査で発見された不具合を容易に理解させ、不具合への適切な対処を示したエキスパートからの助言を検査現場の作業者に送信する。 - 特許庁

To make it easy to detect the magnetic signal of a foreign matter by eliminating the magnetization of an inspection material by applying a cancelling magnetic field in a reverse direction to the inspection material after the magnetization of the inspection material.例文帳に追加

検査材を着磁後、逆方向のキャンセル磁場を印加することで検査材の磁化を消失させ、異物の磁気信号を検出しやすくする。 - 特許庁

To perform efficient inspection which is superior in reliability of card inspection before issue by providing a compact inspection environment of small interference of a magnetic field in an inspection system environment.例文帳に追加

検査システム環境における磁場の干渉の少ないコンパクトな検査環境を実現して発行前のカード検査の信頼性に優れ効率的な検査を可能とすることにある。 - 特許庁

The image acquisition module acquires a plurality of measured values of an inspection object in different depth of field states per unit time.例文帳に追加

イメージ捕捉モジュールは、単位時間に、異なる被写界深度（depth of field）状態で被検査物の複数の測定値を捕捉する。 - 特許庁

To realize high resolving power inspection in a high S/N ratio by effectively reducing the noise due to usual propagation light during inspection due to discharged near field light in optical inspection performing the inspection due to the usual propagation light and the inspection due to the discharged near field light so as to change over them.例文帳に追加

通常伝搬光による検査と滲出近接場光による検査を切り替えて行う光学検査において、滲出近接場光による検査の際に、通常伝搬光によるノイズを有効に軽減し、高いＳ／Ｎ比で高分解能検査を実現する。 - 特許庁

To realize high resolving power inspection at a high S/N ratio by effectively reducing the noise due to usual propagation light during high resolving power inspection due to discharged near field light in optical inspection performing the inspection due to the usual propagation light and the inspection due to the discharged near field light so as to change over them.例文帳に追加

通常伝搬光による検査と滲出近接場光による検査を切り替えて実行できる光学検査において、滲出近接場光による高分解能検査の際の、通常伝搬光によるノイズを有効に軽減し、高いＳ／Ｎ比で高分解能検査を実現する。 - 特許庁

To provide a field work support system materializing a change of patrol inspection order or immediate confirmation of a patrol inspection result to improve efficiency of field work.例文帳に追加

巡視点検順序の変更や巡視点検結果の即時確認を実現して現場作業の効率向上を図った現場作業支援システムを提供する。 - 特許庁

The inspection portion of a subject is arranged in a uniform static magnetic field space, and the high-frequency magnetic field 51 saturating the hydrogen atomic nucleus of fat tissues within the nuclear spin of the inspection portion is applied.例文帳に追加

被検者の検査部位を均一な静磁場空間に配設し、検査部位の核スピンのうち脂肪組織の水素原子核を飽和させる高周波磁場５１を印加する。 - 特許庁

Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image.例文帳に追加

また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a magnetic head with measurement accuracy prevented from being deteriorated due to an influence of a residual magnetic field by applying an external magnetic field to only a reproduction element being an inspection object.例文帳に追加

検査対象である再生素子のみに外部磁界を印加して、残留磁界の影響による測定精度の低下を防止することが可能な磁気ヘッドの検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC FIELD TRANSMISSION TYPE SENSOR, INTRA-PACKAGING BOX ALUMINUM BLISTER SHEET COUNT INSPECTION DEVICE, AND INTRA-PACKAGING BOX INSERT CHIP COUNT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

磁界透過型センサ、包装箱内のアルミブリスターシート枚数検査装置、および、包装箱内のインサートチップ数量検査装置 - 特許庁

To provide a magnetic particle inspection device having a high detection capability for shallow flaws by inspecting an inspection object during applying a rotating magnetic field.例文帳に追加

回転磁界印加中に被検査物の検査を行い浅いきずの検出能力の高い磁粉探傷装置を提供する。 - 特許庁

To confirm a rotary shift and longitudinal shift of the visual field of a camera for surface inspection apparatus.例文帳に追加

表面検査装置のカメラの視野の回転ズレ及び長手方向ズレを確認する。 - 特許庁

A front surface 20a of an inspection target 20 is arranged in the field of view 4b of the camera 4.例文帳に追加

検査対象物２０の正面２０ａがカメラ４の視野４ｂに配置される。 - 特許庁

To provide an inspection device for acquiring images the extent of which exceeds the visual field of an imaging part.例文帳に追加

撮像部の視野を越える範囲の画像を取得する検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminator for dark field inspection for materials improved in yield and efficiency.例文帳に追加

歩留まりと効率を改善する材料の暗視野検査照明装置を提供する。 - 特許庁

To perform good bright field observation in a large region and allow dark field observation in a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置において、広い領域で良好な明視野観察が行えるようにすると共に、暗視野観察を可能にする。 - 特許庁

At this time, an inspection item according to the specification of the object equipment to be maintained at the field is obtained from a monitoring center 17 and the maintenance/inspection work is performed according to the inspection item.例文帳に追加

その際、当該現場の保守対象機器の仕様に応じた点検項目を監視センタ１７から取得し、その点検項目に従って保守点検作業を行う。 - 特許庁

To provide an integrated circuit and a physical quantity detection system, which can perform inspection/adjustment under a variety of conditions (low temperature, high temperature, high pressure, high electric field, high magnetic field, and high electromagnetic field).例文帳に追加

各種条件下（低温，高温，高圧力，高電界，高磁界，高電磁界）で検査・調整できる集積回路及び物理量検出システムを提供することにある。 - 特許庁

To provide an antenna for NQR (nuclear quadropole resonance) inspection, capable of improving uniformity of a magnetic field, and an NQR inspection device using the same.例文帳に追加

その磁場の均一性を向上することが可能なＮＱＲ検査用アンテナ及びこれを用いたＮＱＲ検査装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, a plurality of data are stored in 1 field (an inspection data field 34) to reduce the number of records and the data retrieval is sped up.例文帳に追加

さらに、１フィールド（検査データフィールド３４）内に複数のデータを格納してレコード数を削減し、データ検索の高速化を図る。 - 特許庁

To provide an inspection method of a field emission electron source that makes easily the judgment of the quality of the field emission electron source and an inspection device of the field emission electron source that is easily capable of judgement of its quality.例文帳に追加

簡単に電界放射型電子源の良否判定を行う電界放射型電子源の検査方法および簡単に電界放射型電子源の良否判定が可能な電界放射型電子源の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a visual field, which is easily operated and shortens inspection time greatly.例文帳に追加

実施が簡単であり、検査時間を大きく短縮した視野検査のための方法を提供する。 - 特許庁

PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁