「inspection observation」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an apparatus for creating diagnostic reading reports that enables a physician requesting inspection, etc., as well as an image reading physician, to easily obtain, when browsing a diagnostic reading report, inspection images displayed in a viewer when the image reading physician attaches a key image to the report, thereby enabling observation and confirmation in the same image display state.例文帳に追加

読影医がキー画像を読影レポートに添付する際にビューワに表示された検査画像を、読影医の他に、検査依頼医等も読影レポートを閲覧する際に容易に取得し、同じ画像表示状態で観察及び確認できる読影レポート作成装置を提供する。 - 特許庁

The lens inspection apparatus is constituted such that the lens W to be inspected is taken out from the transfer tray 16 with a lens transfer mechanism, and after confirming the attitude of the lens with a lens attitude observation camera 17, delivered to the first adjustment stage 22.例文帳に追加

レンズ検査装置は、レンズ搬送機構で被検レンズＷをレンズ搬送トレイ１６から搬出し、レンズ姿勢観察カメラ１７で姿勢を確認した後に、第１調整ステージ２２に受け渡す。 - 特許庁

Although the comparison of pattern is usually effected employing a secondary electron image, the profile of pattern is extracted employing a reflective electron image which is said that it is suitable for the observation and inspection of the solid form of the pattern.例文帳に追加

パターン比較は通常２次電子像を用いて行うが、パターンの立体形状の観察及び検査に適すると言われている反射電子像を用いて、パターンの輪郭を抽出する。 - 特許庁

To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.例文帳に追加

深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a method appropriate for wafer edge observation using an electron microscope for investigating generation factors of foreign substances or the like, when these foreign substances or defects are discovered in wafer inspection.例文帳に追加

ウェハ検査において異物や欠陥を見つけた場合に、これら異物等の発生原因を探求するための電子顕微鏡を用いたウェハエッジ観察に関する好適な方法を提供する。 - 特許庁

To enable anyone to simply use a laser pointer and to make an accurate finish, for solving the problem that various causes for repair are found in the finish inspection of work executed on the basis of visual observation.例文帳に追加

本発明は目視による作業の仕上がり検査が、色々な手直しの原因になってきているものをレーザーポインターを使って、誰でも手軽に使えてかつ正確な仕上がりを提供する。 - 特許庁

Management system for the regulatory body The mission included a series of interviews and discussions with key personnel at NISA and at other organizations, and observation of an inspection at a nuclear power plant.例文帳に追加

規制当局のマネジメントシステム IRRS のレビューでは、原子力安全・保安院及び他の関係機関の枢要なメンバーに対するインタビューと討論、原子力発電所における検査の視察が行われた。 - 経済産業省

To provide a guide tube for guiding an endoscope insertion part, and a method for endoscopic inspection using the guide tube, in which endoscopic observation of a part of interest can be favorably performed through deteriorated environments without letting oil, waste, sludge, dust, etc., to attach to an observation window or an illumination window provided on the endoscope insertion part.例文帳に追加

内視鏡の挿入部に備えられた観察窓、照明窓にオイル、ゴミ、ヘドロ、粉塵等が付着することなく劣悪環境下を通過させて、関心部位の内視鏡観察を良好に行える内視鏡挿入部案内用ガイドチューブ、およびそのガイドチューブを用いた内視鏡検査方法を提供すること。 - 特許庁

This observation system is constituted of an inspected lens 4 for inspection, an illumination system 6 for emitting parallel light, a beam splitter 5, a spherical mirror 3 of a reflecting sample for the inspected lens 4, and a point image magnification observation system 7 for magnification-observing a point image generated by light reflected on the spherical mirror 3 and transmitted through the inspected lens 4.例文帳に追加

検査する被検レンズ４と、平行光を射出する照明系６と、ビームスプリッタ５と、被検レンズ４の反射用標本である球面ミラー３と、この球面ミラー３で反射し、被検レンズ４を通した光による点像を拡大観察する点像拡大観察系７とで構成している。 - 特許庁

To realize a method of manufacturing a membrane sample for a scanning transmission electron microscope which is suitable for being used in the inspection of a multilayer structure in a semiconductor device and which is handled easily, and to realize an observation method for the membrane sam ple.例文帳に追加

半導体デバイスの多層構造の検査に用いて好適であり、取り扱いが容易な走査透過電子顕微鏡用薄膜試料作製方法および薄膜試料の観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a surface flaw inspection device constituted so that the imaging operation of a plurality of imaging conditions is performed by one sub-scanning for the cost reduction and energy saving of its device constitution, and so that the surfaces of a plurality of observation targets are inspected at the same time.例文帳に追加

装置構成の低コスト化と省エネルギー化を図り、複数の撮像条件の撮像を１度の副走査で行えると共に、複数の被観察物に対して同時に表面検査が行えるようにする。 - 特許庁

To provide a wear detecting type conveyor chain considerably reducible in maintenance work by easily determining the wear degree of a roller rolling surface by visual observation or tactile sense in inspection and maintenance of rollers of the conveyor chain.例文帳に追加

コンベヤチェーンのローラ点検保守時にローラ転動面の摩耗度合いを目視もしくは触覚で簡便に判別して保守メンテナンス作業を大幅に軽減することができる摩耗検知型コンベヤチェーンを提供すること。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection apparatus which is enhanced in workability, by dispensing with having to perform operations, such as start of photographing, or the like, by an operator, for obtaining the image of an object to be inspected as a whole used for displaying an observation position.例文帳に追加

観察位置を表示するために用いる被検査物の全体像を得るためにオペレータが撮影開始等の操作を行う必要がなく、使用の利便性を向上させたＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

Data similar to observation data is searched on learning data composed of a normal example and a flaw is recognized on the basis of the magnitude of a degree of dissociation from the searched normal data to realize inspection of high sensitivity.例文帳に追加

正常事例からなる学習データを対象に、観測データと類似したデータを探索し、探索した正常データからの乖離度の大小によって、欠陥を認識するものであり、高感度検査を実現し得る。 - 特許庁

To cope with narrowed arrangement interval, to facilitate visual observation of contact state with an inspection object, even from the upper part, and to achieve stable electrical contact, without applying excessive loads.例文帳に追加

配列間隔の狭小化に対応可能とし、検査対象との接触状況を上方からでも容易に目視可能とし、過度の荷重を加えることなく安定した電気的接触を得ることも可能とする。 - 特許庁

The inspection analytical part 3 is input with an absorption current signal observed by the observation part 2, executes amplification processing, current-voltage conversion processing, and digital conversion processing, and calculates the luminance value of an image data signal.例文帳に追加

検査解析部３では、観察部２で観察された吸収電流信号が入力され、増幅処理、電流電圧変換処理、及びデジタル変換処理が行われ、画像データ信号の輝度値が算出される。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To enable improvement in maintenance property of a device regarding a sample inspecting method and a sample inspecting device wherein observation or inspection of a liquid sample is carried out superbly.例文帳に追加

液体試料の観察又は検査を良好に行うことのできる試料検査方法及び試料検査装置に関し、装置のメンテナンスの向上を可能にする当該検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

This inspection reagent for the fluorescent observation of intestinal mucosa comprises a buffer solution adjusted to pH 7 to 8, and containing, as a main ingredient, a fluorescent pigment increasing fluorescent intensity with the lowering of pH in a lower pH region than the pH of the buffer solution.例文帳に追加

緩衝液のpHよりも低いpH域においてpH低下に伴い蛍光強度が上昇する蛍光色素を主成分として含有し、pH 7〜8に調整された緩衝液からなる腸管蛍光観察用検査試薬。 - 特許庁

To provide a method for automatically confirming a data mark easily and accurately and performing automatic measurement more highly accurately without using information on the shape of a data mark from an observation image, in the inspection for a recording medium.例文帳に追加

記録媒体の検査において、観察像からデータマーク形状に関する情報を用いずに、容易かつ高精度にデータマークを自動認識し、より高精度に自動計測を行う方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a wiring board, an IC inspection system, and a signal drawing method capable of facilitating a waveform observation of signals flowing through prescribed wires on a performance board and heightening reproducibility of waveform data.例文帳に追加

パフォーマンスボード上の所定配線を流れる信号の波形観測を容易にすると共に、波形データの再現性を高めることができるようにした配線板及びＩＣ検査装置、信号引出し方法を提供する。 - 特許庁

To shorten an inspection time, to always allow the optical axis of a microscope to coincide with that of a transmission illumination part by positionally correcting the same at an arbitrary position and to hold the uniformity of luminous intensity at the time of microscopic observation.例文帳に追加

検査時間の短縮化が図れ、かつ、任意の位置で位置補正して、常に顕微鏡と透過照明部との光軸を一致させ、しかも顕微鏡による観察時における照度の均一性を保つ。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

The camera for an inspection by means of visual observation is arranged in a tip part of the motor-driven (hydraulic) arm, and a photographed inspection image is confirmed by a personal computer in a car.例文帳に追加

本発明はモニタ−画像と３の衝突防止センサ−を用いた遠隔操作方式で電動（油圧）伸縮ア−ム２を使用した小型収納方式により、構造物点検車輌の小型化を図り、さらに橋梁診断のためのパソコン機器と診断ソフトを搭載可能とし、電動（油圧）ア−ムは均等に伸縮可能な構造とした。 - 特許庁

The color tone in the appearance of the building material K is measured to determine the quality of the appearance color tone as a product, using, as an inspection condition, combination of prescribed observation angle parameters αx, αy and lighting angle parameters θx, θy selected out of the plural observation angle parameters αx, αy and the plural lighting angle parameters θx, θy.例文帳に追加

複数の観測角度パラメータαｘ、αｙと照明角度パラメータθｘ、θｙのなかから、選択された所定の観測角度パラメータαｘ、αｙと照明角度パラメータθｘ、θｙの組合せを検査条件として、建材Ｋの外観色調を測定し、製品としての外観色調の合否を判定する。 - 特許庁

To provide a device and a method of inspecting a failure of the charged particle beam capable of performing the focused clear observation and the accurate failure inspection even in the case of using a charged up sample by automatically correcting a displacement of the focal point position due to the charge up generated in the sample as an object of observation.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The image is allowed to be digitized by reading the image in the personal computer 30, the image is easily brought into a numeral expression by an image measuring/image processing software 31, and the observation and inspection are allowed from various directions.例文帳に追加

画像をパーソナルコンピュータ３０に取り込むことにより画像のデジタル化が可能となり、画像計測・画像処理ソフトウエアー３１で画像の数値化が簡易となり、いろいろな方向からの観察・検査が行うことができる構成とする。 - 特許庁

To provide a protector for a valve device installed easily with surely protecting the valve device and facilitating gas leak inspection without obstructing piping of the valve device, handle operation and visual observation of meters or the like, and of light weight and low cost.例文帳に追加

バルブ装置を確実に保護できながら簡単に装着でき、バルブ装置の配管やハンドル操作、メータ等の目視などを阻害することがなく、ガス漏洩検査などが容易であり、しかも軽量で安価に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

The substrate inspection apparatus for inspecting foreign matters in a substrate 30 comprises an illumination system 1 for illuminating the substrate with light, and a plurality of imaging systems 2:2a-2g for performing the dark field observation of a region on the substrate illuminated by the illumination system.例文帳に追加

基板（３０）の異物を検査する基板検査装置は、基板を照明する照明系（１）と、照明系により照明された基板上の領域を暗視野観察する複数の撮像系（２：２ａ〜２ｇ）とを備えている。 - 特許庁

To provide a scanning type plane shape measuring device which takes highly accurate surface shape measurement of a large-size inspection surface by using an interferometer having a small observation region by reducing the influence of a movement error in scanning.例文帳に追加

走査時の運動誤差の影響を減少させ、観測領域が小さい干渉計を用いて大きなサイズの被検面に対して高精度な面形状測定を行うことができる走査型平面形状測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device allowing observation by an electron microscope to be rapidly carried out by correctly detecting a foreign substance in a film without causing LMIS pollution; a sample processing method; and a semiconductor inspection device.例文帳に追加

ＬＭＩＳ汚染を発生させることなく、膜中の異物を正確に検出し電子顕微鏡による観察を迅速に行うことができる荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic image diagnostic apparatus with the function to display thumbnail images, where to display thumbnail images can not disturb an operator concentrating on the observation or inspection of main images, and he or she can easily search for or access to thumbnail images.例文帳に追加

メイン画像を観察する操作者に、サムネイル画像の表示が検査への集中の妨げにならず、サムネイル画像の検索、アクセスなどを容易にできるサムネイル画像表示の超音波画像診断装置を提供すること。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the fail observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing fail.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

Even if the film 32 is damaged during the observation or inspection, contamination inside the device can be prevented by restoring the space in the device to the atmospheric pressure when one of the no less than two layers configuring the film is detected to be broken.例文帳に追加

膜３２が観察又は検査中にダメージを受けても、該膜を構成する２層以上の膜の内、１層が破れたところを検知した時に装置内空間を大気圧復帰させることで、装置内部の汚染を防止することが可能になる。 - 特許庁

To adjust an imaging size of laser light while imaging the laser light on an observation object part in the interior of an internal space forming body and insert a laser projection device into the internal space forming body from a narrow inspection hole.例文帳に追加

内部空間形成体内側の観察対象部にレーザ光を結像させつつ、レーザ光の結像サイズを調節可能であるとともに、レーザ投光装置を狭隘な点検穴から内部空間形成体内へ挿入できるようにする。 - 特許庁

To provide a construction method in which an inspection by the visual observation of a tunnel interior wall is facilitated and construction works and a repair are also conducted simply in the concrete fragment falling preventive construction method for preventing an accident by the peeling and falling of a concrete fragment on the tunnel interior wall.例文帳に追加

トンネル内壁のコンクリート破片が剥離して落下することによる事故を防止するためのコンクリート破片落下防止工法において、トンネル内壁の目視による点検が容易で、工事や補修も簡易に行えるような工法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correction device of an electronic circuit pattern, the correction device actualizing defect species which are difficult to be recognized by observation using a conventional correction device relative to defects detected by an electric inspection or the like, and normalizing a pixel or forming a semi-black point therefrom.例文帳に追加

電気検査等で検出された欠陥に対して、従来の修正装置での観察では認識が困難であった欠陥種を顕在化し、画素を正常化あるいは半黒点化できる電子回路パターンの欠陥修正装置の提供。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing failure.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for observation of a sample by which, upon detailed inspection of a defective part of the sample by means of magnification or the like, the amount of stage movement is reduced as little as possible to shorten image acquiring time thereby effectively observing defects.例文帳に追加

欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査する時に、ステージの移動量をできるだけ少なくして、画像取得時間を短縮し、効率よく欠陥を観察することができる資料の観察方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A defect analyzing apparatus 10 comprises an inspection information acquirer 11 for acquiring a defect observation image P2 in a semiconductor device, a layout information acquirer 12 for acquiring layout information, and a defect analyzer 13 for analyzing a defect.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

The control part 4f reads data on the corresponding image observation screen out of a storage part 4d based upon a patient ID and an inspection ID included in the call request, and makes a display device display the image data output from the image calling part 4e based upon image link information registered in the read data of the image observation screen, the image data being arranged at the predetermined sorting destination.例文帳に追加

制御部４ｆは、呼び出し要求に含まれる患者IDや検査IDに基づいて、記憶部４ｄから対応する画像観察画面のデータを読み出し、読み出した画像観察画面のデータに登録されている画像リンク情報に基づいて、画像呼び出し部４ｅから出力された画像データを、予め決定してある所定の区分先に配置して表示装置に表示させる。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and a substrate observation device for performing quality determination of a very small concentration fluctuation by improving an S/N ratio by emphasizing a micro-concentration fluctuation generated in a colored film applied onto a substrate by an optical filter.例文帳に追加

基板上に塗布された着色膜に生じる微小な濃度変動を光学フィルターによって強調することでＳ／Ｎ比を向上させ、きわめて小さな濃度変動の良否判定を行う基板検査装置および基板観察装置を提供すること。 - 特許庁

To rationalize visual inspection, to provide an electronic photographic member of high quality, and to provide an image of high quality, by concurrently detecting automatically generation of an interference fringe and an appearance defect in the electronic photographic member, without depending on visual observation.例文帳に追加

電子写真感光体の干渉縞の発生と外観欠陥とを同時に目視に依らず自動で検知することにより、目視検査を合理化し、高品質な電子写真感光体を提供し、更には高画質の画像を提供することを目的とする。 - 特許庁

The inspection apparatus for the optical pickup has a reproduction signal observation device which is inputted with the photodetection signals from two photodetectors 39a and 39c among the three photodetectors 39a to 39c for receiving the reflected light from an optical disk by the three light beams.例文帳に追加

光ピックアップの検査装置は、３つの光ビームによる光ディスクからの反射光を受光する３つの受光素子３９ａ〜３９ｃのうちで２つの受光素子３９ａ，３９ｃからの受光信号を入力する再生信号観測装置を有する。 - 特許庁