「inspection observation」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The method for inspection includes a step of irradiating an observation object of a rear surface of a sample 7 with an infrared laser beam 12 emitted from a laser beam source 1 and incident upon a diffraction lens 4 as a Bessel beam 13, detecting its reflected light 14 by a photodetector 11, and performing analysis.例文帳に追加

レーザ光源１から発せられた赤外レーザ光１２は、回折レンズ４に入射してベッセルビーム１３となり試料７の裏面の観察対象に照射され、その反射光１４は光検出器１１により検出されて、解析が行われる。 - 特許庁

To provide a polarizing plate which has a transparent protective film protecting a polarizer on a side facing a liquid crystal cell (LC) and can effectively compensate variation of optical characteristics of liquid crystal during oblique observation, and a liquid crystal display device which uses the same and has a wide view angle range of good visual inspection.例文帳に追加

液晶セル（ＬＣ）と向かい合う側に偏光子を保護する透明保護膜を有し、斜め観察したときの液晶の光学特性の変化を効果的に補償しうる偏光板、及びそれを用いた良視認の視野角範囲が広い液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

The inspection apparatus includes a first movable gantry 2 having a line sensor 8 for acquiring two-dimensional images of a substrate (10) by imaging and a second movable gantry 3 having an enlarging observation part (9) for enlarging and observing the substrate (10) to move as following the first gantry 2.例文帳に追加

基板（１０）の２次元画像を撮像するラインセンサ８を有する可動式の第１のガントリー２と、基板（１０）の拡大観察を行うための拡大観察部（９）を有し第１のガントリー２に追従して移動する可動式の第２のガントリー３と、を備える構成とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a device for a defect part of a glass plate for simply creating conditions allowing visual observation from front without imposing impossible posture on an inspector, and reasonably, certainly, and safely detecting a defect part of a large-sized glass plate for FPD.例文帳に追加

検査者に無理な姿勢を強いることなく、正面視により目視しやすい条件を簡単に作り出すことができ、大型のＦＰＤ用ガラス板の欠陥部分を無理なく確実に安全に検出することのできる、ガラス板の欠陥部分の目視検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the specimen holder 40, at least part of an opened specimen-holding surface 37a is formed of a film 32, a specimen cultured on a specimen-holding surface 37a of the film 32 can be irradiated via the film with a primary beam for observation or inspection of the specimen.例文帳に追加

試料保持体４０は、開放された試料保持面３７ａの少なくとも一部が膜３２により構成され、膜３２の試料保持面３７ａにおいて培養された試料３８に、膜３２を介して、試料観察又は検査のための一次線が照射可能となっている。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing failure in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To provide a discharge inspection method of a functional liquid droplet discharging head which method permits three-dimensional observation of curved flight of droplets of a functional liquid discharged from the head, a drop-discharging device, a method of manufacturing an electro-optical apparatus, an electro-optical apparatus, and an electro-optical instrument.例文帳に追加

機能液滴吐出ヘッドから吐出された機能液滴の飛行曲がりを三次元的に観察することができる機能液滴吐出ヘッドの吐出検査方法、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a passenger conveyor capable of serviceably and efficiently inspecting and repairing its abnormal place, only by removing a step and a skirt guard panel of the abnormal place specified by its visual observation, for making an inspection by visually observing an inside state of the step and the skirt guard panel, without removing its step and the skirt guard panel.例文帳に追加

ステップやスカートガードパネルの内側の様子をそのステップやスカートガードパネルを取り外すことなく目視して点検でき、したがってその目視で特定した異常個所のステップやスカートガードパネルを取り外すだけで、無駄なく効率よくその異常個所を点検し、補修することができる乗客コンベアを提供する。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

To provide a guide tube for an endoscope, which allows an endoscope insertion portion to be easily introduced to an observation site deep part, allows a front end part of the endoscope insertion portion to project to a desired direction in a large space in order to perform inspection, and allows the inserted endoscope insertion portion to be twisted and operated integrally.例文帳に追加

内視鏡挿入部の観察部位深部への導入を容易に行え、且つ、内視鏡挿入部の先端部を大空間内の所望する方向に突出させて検査すること、及び内挿された内視鏡挿入部を一体に捩り操作することが可能な内視鏡用ガイドチューブを提供すること。 - 特許庁

This substrate inspection device for inspecting a foreign matter on the substrate 30 is equipped with an illumination system 1;1a, 1b for illuminating the substrate, an imaging system 2 for performing dark field observation of a domain on the substrate illuminated by the illumination system, and low reflection shielding members 3, 4 arranged on a transmission visual field background and a reflection visual field background of the imaging system.例文帳に追加

基板（３０）の異物を検査する基板検査装置は、基板を照明する照明系（１；１ａ，１ｂ）と、照明系により照明された基板上の領域を暗視野観察する撮像系（２）と、撮像系の透過視野背景および反射視野背景に配置された低反射遮光部材（３，４）とを備えている。 - 特許庁

To easily inspect a visual field by allowing a visual subject himself/ herself to particularly easily discriminate the possibility of visibility on progress observation of an initial symptom and glaucoma in a visual field inspection table used for inspecting visual field disorder appearing in an eye disease such as a retina and an optic nerve or an intracranial disease.例文帳に追加

網膜や視神経等の眼の疾患または頭蓋内疾患等の際に現れる視野障害を検査するために用いられる視野検査表に関し、殊に、初期症状や緑内障の経過観察等を、視被検者自身が視認の可否を判別しやすく、容易に視野の検査をすることができるようにする。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

In the sample holder having the substrate with the opening 20 covered with the film 10 for holding the sample and formed so as to perform SEM observation and inspection of the sample held on a part 10a of the film covering the opening 20, patterns 501, 502 for discriminating a located direction of the opening 20 are formed on the substrate.例文帳に追加

試料を保持するための膜１０により覆われた開口部２０を有する基板を備え、開口部２０を覆っている膜の部分１０ａに保持された試料のＳＥＭ観察・検査ができるように構成された試料保持体において、該基板上には、開口部２０の位置する方向を識別するためのパターン５０１，５０２が形成されている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device for the coating layer, which inspects a surface state of the coating layer formed from an coating solution applied to a base material and dried, has a light source for radiating illuminating light at an angle for total reflection on the surface of the coating layer, and an observation device opposed to the light source to receive reflected light by total reflection of the illuminating light.例文帳に追加

基材上に、塗布液を塗布、乾燥して設けた塗布層の表面状態を検査する検査装置であって、前記塗布層の表面で全反射する角度で照射光を照射する光源と、この光源と対向する位置に、前記照射光が全反射した反射光を受光する観察装置を配置したことを特徴とする塗布層の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a medium verification device for presenting not only comparative verification by visual inspection but objective auxiliary information for verification in short period of time to raise verification accuracy in verification of a verification medium having images comprised of optical members with characteristics that texture and/or colors change according to the observation direction and/or the illumination direction.例文帳に追加

観察方向および／または照明方向により図柄および／または色彩が変化する特性を有する光学部材で構成される画像を有する検証媒体の検証において、目視による比較検証だけではなく、検証のための客観的な補助情報を短時間で提示し、検証精度を上げることが可能な媒体検証装置を提供する。 - 特許庁

This mask inspection device comprises a subchamber which carries the mask from the atmosphere and exhausts preliminarily, a plasma generator which is installed in the subchamber, generates a plasma and neutralizes the charge on the mask carried into the pre-exhausted subchamber and a carrying method set the mask at the observation position, carrying the mask to the chamber from the subchamber after neutralizing the charge on the mask.例文帳に追加

マスクを大気中から搬送して予備排気するサブチャンバーと、予備排気されたサブチャンバーに設けてプラズマを発生させて当該サブチャンバーに搬送されているマスク上の電荷を中和するプラズマ発生装置と、マスク上の電荷を中和した後に、当該マスクを上記サブチャンバーからチャンバーに搬送して観察位置に設定する搬送手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

To provide a solder joining quality inspecting method for securing a joining area and a joining strength of electrodes even when solder is joined to a flexible substrate with high flexibility and reducing a cycle time and a cost since a tension test and a cross section observation test in 100% inspections on a joined specimen and sampling inspection at every prescribed period become unnecessary, and to provide a solder joining apparatus.例文帳に追加

柔軟性が高いフレキシブル基板にはんだ接合を行う場合でも、電極どうしの接合面積や、接合強度を確保することができ、接合した試験体に対して行う全数検査における引張試験や断面観察試験や、一定期間ごとの抜き取り検査が不要となるため、サイクルタイムやコストを低減させることのできる、はんだ接合品質検査方法、及び、はんだ接合装置を提供する。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus 100 is equipped with a cassette 102 which can house a plurality of sheets of samples 101, an elevator to vertically move the cassette 102, a microscope 132 to enlarge and observe a sample 101, an XY stage 105 to appropriately place the sample 101 in an observation position, and a carrying device 104 to carry the sample 101 between the cassette 102 and the XY stage 105.例文帳に追加

顕微鏡検査装置１００は、複数枚の標本１０１を収納し得るカセット１０２と、カセット１０２を上下方向に昇降させるエレベーター１０３と、標本１０１を拡大観察する顕微鏡１３２と、標本１０１を観察位置に適宜配置するためのＸＹステージ１０５と、カセット１０２とＸＹステージ１０５の間で標本１０１を搬送する搬送装置１０４とを備えている。 - 特許庁