「inspection observation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SAMPLE HOLDER, METHOD OF OBSERVATION AND INSPECTION, AND APPARATUS FOR OBSERVATION AND INSPECTION例文帳に追加

試料保持体及び観察・検査方法並びに観察・検査装置 - 特許庁

INSPECTION TABLE HAVING POLARIZATION OBSERVATION FUNCTION例文帳に追加

偏光観察機能を有する検査テーブル - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

基板検査装置および基板観察装置 - 特許庁

INSPECTION MICROSCOPE, MICROSCOPE OBSERVATION METHOD, AND MICROSCOPIC OBSERVATION PROGRAM例文帳に追加

検査顕微鏡、顕微鏡観察方法および顕微鏡観察プログラム - 特許庁

INSPECTION REAGENT FOR FLUORESCENT OBSERVATION OF INTESTINAL MUCOSA例文帳に追加

腸管粘膜蛍光観察用検査試薬 - 特許庁

OBSERVATION DEVICE AND FLAW INSPECTION DEVICE OF EDGE FACE例文帳に追加

観察装置及び端面欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a surface observation device that is suitable to a surface observation (inspection) of a micro inspection target.例文帳に追加

微小な検査対象物の表面観察（検査）に適した表面観察装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MANAGING INSPECTION SAMPLE TEMPERATURE FOR MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

顕微鏡観察用検体温度管理装置 - 特許庁

OBSERVATION DEVICE AND INSPECTION DEVICE WITH IT例文帳に追加

観察装置および該観察装置を備えた検査装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE, AND MEASUREMENT, INSPECTION AND OBSERVATION APPARATUS INCLUDING SAMPLE STAGE例文帳に追加

試料ステージ及び試料ステージを備えた測定，検査，観察装置 - 特許庁

To suppress movement of a line of sight when performing front surface observation and rear surface observation by a visual inspection device.例文帳に追加

外観検査装置において表面観察及び裏面観察を行う際の視線の移動を抑える。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, can carry out both surface inspection of a wafer and observation verification of its inspection result.例文帳に追加

ウエハの表面検査とその検査結果の観察検証の両方を行うことができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive substrate inspection device for performing both macro inspection and micro inspection with saved space, by incorporating a macro inspection device for visual observation into a microtesting device.例文帳に追加

ミクロ検査装置に目視用のマクロ検査装置を組み込むことで、省スペースで安価なマクロ、ミクロ検査併用の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent degradation of observation resolution of shape observation, dimensional accuracy and the like caused by contamination of an observation sample, in an electron beam inspection device.例文帳に追加

電子ビーム検査装置において、観察試料の汚染に起因した、形状観察、寸法精度等の観察分解能の低下を防止する。 - 特許庁

This semiconductor inspection device 40 is provided with an irradiating part 1, an observation part 2, and an inspection analysis part 3.例文帳に追加

半導体検査装置４０には、照射部１、観察部２、及び検査解析部３が設けられる。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of performing an efficient visual inspection by inspectors' visual observation.例文帳に追加

検査者の目視による外観検査を効率的に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder which can be formed in quantities, and a sample observation and inspection method and a sample observation and inspection device using the holder.例文帳に追加

大量に保持体を形成できる試料保持体、同保持体を用いた試料観察・検査方法、及び、試料観察・検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration of observation resolution of shape observation and dimensional accuracy caused by contamination of the inside of an inspection device, and to suppress contamination of an observation object.例文帳に追加

検査装置内部の汚染に起因した、形状観察、寸法精度の観察分解能の低下を防止及び観察対象の汚染を抑制する。 - 特許庁

In the substrate holding mechanism of a visual inspection system, the substrate 2 is placed on a frame-shaped stage 3 to perform the macro-inspection for the visual inspection of the substrate and the micro-inspection for magnified observation.例文帳に追加

外観検査装置の基板保持機構は、枠状のステージ３に基板２を載置して、基板を目視観察するマクロ検査と拡大観察するミクロ検査とを行う。 - 特許庁

To provide an observation apparatus capable of improving the accuracy of an inspection observation and the accuracy of treatment, and a conveyor device.例文帳に追加

検視・観察の精度を向上し、処理精度を向上することが可能な観察装置及びコンベヤ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fundus observation apparatus capable of shortening the inspection time.例文帳に追加

検査時間の短縮を図ることが可能な眼底観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for liquid crystal display panel which enables space-saving, excellent visible observation and efficient inspection in the visible inspection of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの目視検査において、省スペースで見やすく効率よく検査ができる液晶表示パネル検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and an inspection method of the same which improve the throughput at observation or inspection by shortening the time for treatment when obtaining the three dimensional information of observation or inspection area of the substrate.例文帳に追加

基体上の観察領域叉は検査領域の立体的な情報を取得する際に、処理時間を短縮でき、これにより、基体の観察叉は検査におけるスループットを向上できる基体検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus enabling an efficient macro-inspection of a defective site on an observation specimen.例文帳に追加

観察試料における欠陥部位のマクロ検査を、効率良く行うことができる外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device allowing accurate defect part observation and facilitating observation work.例文帳に追加

正確な欠陥部観察を行うことができるとともに、観察作業の軽減化を実現できる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To perform good bright field observation in a large region and allow dark field observation in a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置において、広い領域で良好な明視野観察が行えるようにすると共に、暗視野観察を可能にする。 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE EQUIPPED WITH FUNCTION OF DETAILED OBSERVATION AND INSPECTION AS WELL AS OBSERVATION METHOD OF SAMPLE BY THE DEVICE例文帳に追加

詳細観察の機能を備えた電子線装置、及びその電子線装置による試料の検査並びに試料観察方法 - 特許庁

To provide a sample holder which can allow for good observation and inspection of liquid samples, an inspection equipment using it, and an inspection method.例文帳に追加

液体試料の観察又は検査を良好に行うことのできる試料保持体、及びそれを用いた検査装置、および検査方法を提供する。 - 特許庁

Thus, an objective optical system for ordinary observation and an optical system for magnifying observation can be selectively or simultaneously used according to an observation object and a purpose in an endoscope inspection.例文帳に追加

これにより、内視鏡検査中に観察対象や目的に応じて、通常観察用対物光学系と拡大観察用光学系とを選択又は同時使用できる。 - 特許庁

The wafer 5 inside a sample observation space 8 is moved to a wafer observation position by the stage 7, and observation of surface shape and foreign materials, defect inspection, etc., are then performed.例文帳に追加

試料観察室８内のウェハー５はステージ７によってウェハー観察位置に移動され、表面形状や異物観察および欠陥検査などが行われる。 - 特許庁

When the inspection result satisfies the predetermined judgment conditions, the observation process of a new observation object is determined based on a change destination information table, and the determined observation process is instructed through an LAN 40 to an observation device 20 so as to be changed to the observation process of the observation object.例文帳に追加

検査結果が予め定める判定条件を満たしているとき、変更先情報テーブルに基づいて新たな観測対象の観測工程を決定し、決定した観測工程を観測対象の観測工程に変更するようにＬＡＮ４０を介して観測装置２０に指示する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OBSERVATION OF SAMPLE SURFACE, METHOD AND DEVICE FOR FLAW INSPECTION例文帳に追加

試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To provide an observation data inspecting device allowing efficient inspection of quality of observation data by using a Graphical User Interface.例文帳に追加

Graphical User Interfaceを用いることで、効率良く観測データの品質を検査することができる観測データ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The inspection staff starts observation inside a body cavity thereafter and acquires a still image file in which an observation image is recorded as a still image, as needed.例文帳に追加

検査スタッフは、この後、体腔内の観察を開始し、必要に応じて観察画面を静止画記録した静止画ファイルを取得する。 - 特許庁

A CPU 19 acquires great functionary inspection images by the linear sensor 13 and acquires observation images by the observation camera 24.例文帳に追加

ＣＰＵ１９は、リニアセンサ１３による顕官検査画像の取得を行いながら、観察カメラ２４による観察画像の取得を行う。 - 特許庁

The inspection-region specifying screen 81 has a display section 81 displaying an observation range and an input section 82 setting an observation region.例文帳に追加

検査領域指定画面８１は、観察範囲を表示する表示部８１と、観察領域を設定する入力部８２とを有する。 - 特許庁

To provide an opening/short circuit inspection method and an opening/short circuit inspection device which detect a short circuit, without depending on visual observation or a probe.例文帳に追加

目視やプローブに依らずに短絡を検出できる開放／短絡検査方法及び開放／短絡検査装置を提供する。 - 特許庁

To make the shape observation and dimension inspection of very fine pattern possible in an electron beam inspection device of a scanning electron microscope for example.例文帳に追加

走査形電子顕微鏡などの電子ビーム検査装置において、微細なパターンの形状観察や寸法検査を可能とする。 - 特許庁

To realize rapid inspection by eliminating troublesome works of aligning a sample in observation field by correcting the position of the sample in the observation field, at switching of observation magnification.例文帳に追加

観察倍率を切り換えたときの観察視野内における標本の位置を補正して、標本を観察視野内に位置合わせする煩わしい作業を無くし、迅速な検査を実現する。 - 特許庁

To provide a high-resolution inspection apparatus and an inspection method capable of observing a wide observation area in a short time in a hot spot inspection required in a lithographic process.例文帳に追加

リソグラフィーの工程で必要とされるホットスポット検査において、広い観察面積を短時間で観察できる高解像度の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

To provide a magnifying observation device which enables a beginner to simply perform observation and inspection by setting and storing an irradiation condition of illumination.例文帳に追加

照明の照射条件を設定及び記憶することで、初心者でも簡単に観察・検査が可能な拡大観察装置を提供すること。 - 特許庁

The inspection data acquisition step acquires inspection data which is at least either one of the usage time and the degradation index at an observation time.例文帳に追加

検査データ取得ステップは、観測時刻における利用時間及び劣化指数の少なくとも一方である検査データを取得する。 - 特許庁

To flexibly and efficiently inspect an image inspected by an automatic inspection device by a visual observation as well by a simple configuration and to effectively utilize an inspection result by the visual observation, relating to the remote control inspection support device of the automatic inspection device for inspecting the quality of the image on a monitor screen.例文帳に追加

モニタ画面の画像の良否を検査する自動検査装置の遠隔操作検査支援装置に関し、簡素な構成で自動検査装置によって検査された画像を柔軟かつ効率よく目視でも検査できるようにし、目視による検査結果を有効に活用できるようにする。 - 特許庁

To provide a cryogenic device enabling observation of an internal state, which can suppress intrusion of heat to the inside and whose observation/inspection position can be freely set.例文帳に追加

内部への熱侵入を抑えるとともに、観察・点検位置を自由に設定できる内部状態を観察可能な極低温機器を提供する。 - 特許庁