「inspection observation」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To support the execution of sure inspection of all parts to be inspected without omission, and without missing a defect unnoticeable by only observation from the front.例文帳に追加

全ての要検査部位を脱落なく、かつ正面からの観察だけでは分からない不良をも見逃すことなく、確実な検査を行えるように支援すること。 - 特許庁

To provide a reliable display device in which a deviation caused during the mounting of a flexible wiring board can be located by visual observation and which can shorten inspection time.例文帳に追加

フレキシブル配線板の実装時のズレを目視で簡易に発見することができ、検査時間の短縮あるいは信頼性の高い表示装置を提供する。 - 特許庁

For a sample block 10, an inspection sample 11 of an observation target is embedded in a embedding medium 12, and this block is held on a first sample holder 15.例文帳に追加

試料ブロック１０は、観察対象の検体１１を包埋材１２の中に埋め込んだものであり、第一試料ホルダ１５の上に保持される。 - 特許庁

To provide an endoscope system for enlarging observation by which a microscopic enlarged image by the confocal optical system can be observed visually corresponding the same to the observation image of a site concerned to be abnormal found in screening inspection.例文帳に追加

共焦点光学系による顕微鏡的拡大像を、スクリーニング検査で見つけた異常が疑われる部位の観察像と視覚的に対応をつけて観察することができる拡大観察用内視鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device for enhancing flaw detecting sensitivity with respect to a flaw being unstable in flaw detecting sensitivity by an observation direction of a focus matching defective flaw or the like in the observation of the diffracted light of a substrate wherein any one side of a substrate pattern is parallel to a feed direction, and a substrate inspection program.例文帳に追加

基板パターンの何れか一辺が搬送方向と平行となっている基板の回折光観察において、合焦不良欠陥などの観察方向によって欠陥検出感度が不安定である欠陥に対して、欠陥検出感度を向上させるための基板検査装置および基板検査プログラムを提供すること。 - 特許庁

The substrate inspection device 1 includes a substrate holding part 108 for holding the substrate 101 in an erected state so that the visual inspection of an inspector 2 from a horizontal direction becomes possible and a holding part moving mechanism 120 for relatively moving the erected substrate 101 and the observation region of the visual observation of the inspector 2.例文帳に追加

基板検査装置１が、水平方向からの検査者２の目視検査が可能となるように基板１０１を起こした状態で保持する基板保持部１０８と、起こされた基板１０１と検査者２の目視観察の観察領域とを相対的に移動させる保持部移動機構１２０とを備える。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

The observation device for visually inspecting the inspection target film 35 is equipped with curvature adjusting plates 23-27, which are provided so as to be freely slid to support the inspection target film 35 in a curved surface state, and a light source 28 for illuminating the inspection target film 35 supported in the curved surface state.例文帳に追加

検査対象フイルム３５の目視検査用観察装置において、検査対象フイルム３５を曲面状態で支持するスライド自在に設けた曲率調整板２３〜２７と、曲面状態で支持された検査対象フイルム３５を照明する光源２８とを備える。 - 特許庁

The inspection device includes an optical condition observation part for observing the state of the first light beam and the state of the second light beam, an observation result feedback part for feeding back the result of observation at the observation part, and an optical condition controller making same the optical conditions on the first and second light beams by using the feedback.例文帳に追加

本発明の第２の特徴は、前記第１の光の状態と、前記第２の光の状態とを観察する光学条件観察部と、前記光学条件観察部での観察結果をフィードバックする観察結果フィードバック部と、前記フィードバックを用いて前記第１の光と、前記第２の光との光学条件を同じにする光学条件制御部とを有することにある。 - 特許庁

The defect inspecting apparatus has a laser source 3, and a linear sensor 13 for detecting reflection light from a sample 1 irradiated with laser beams emitted from the laser source 3 and an observation camera 24 for acquiring defect inspection images for detecting defects on the sample by the linear sensor and acquiring the observation images of the samples by the observation camera.例文帳に追加

レーザ源３と、レーザ源３から出射したレーザ光によって照射された試料１からの反射光を検出するリニアセンサ１３と観察カメラ２４とを有し、上記リニアセンサにより試料上の欠陥を検出するための欠陥検査画像を取得し、上記観察カメラにより試料の観察画像を取得する。 - 特許庁

The polarizing plate bonding precision inspection method includes: an observation step in which all four corners of the polarizing plate 3 bonded to the liquid crystal panel 2 are observed; and a computation step in which observation data obtained in the observation step are used to compute the misalignment amount, size, and perpendicularity of the polarizing plate 3.例文帳に追加

本発明に係る偏光板の貼合精度検査方法は、液晶パネル２に貼合された偏光板３の四隅の全てを観察する観察工程と、上記観察工程で得られた観察データを用いて、偏光板３の貼合ズレ量、寸法および直角度を算出する演算工程とを含む。 - 特許庁

The management server 2, for a component which is determined as a failure in the automatic inspection by a board visual inspection apparatus 1 and which becomes a target of confirmation by visual observation, calculates a parameter indicating a failure provability level or a determination difficulty level using the stored information related to a component to which the automatic visual inspection is carried out with the same inspection rule as the component.例文帳に追加

管理サーバ２は、基板外観検査装置１による自動検査で不良と判定されて目視確認の対象となった部品について、その部品と同じ検査ルールによる自動外観検査が実施された部品に係る蓄積情報を用いて不良の可能性の高さまたは判定の難易度を示すパラメータを算出する。 - 特許庁

When the windows are closed by the transparent covers 6, the inside is inspected by visual observation through the cover 6 and the inspection windows 4, 4, and when they are closed by the opaque covers 6, the inspection windows 4, 4 are opened by removing the covers to inspect the inside.例文帳に追加

透明カバー６で塞いだ場合は、カバー６を透過し、かつ点検窓４を通して目視によって内部を点検し、不透明カバー６で塞いだ場合は、カバー６を取り外して点検窓４を開口して内部を点検する。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a color filter inspection method for efficiently inspecting the irregularity of a color filter in a short time at a low cost by setting a non-cell region to an observation region of irregularity without being affected by a pixel or a moire, and a color filter inspection system.例文帳に追加

画素やモアレの影響を受けない非セル領域をムラの観察領域とすることによって、短時間に効率よく低コストでカラーフィルタのムラを検査するカラーフィルタ検査方法およびカラーフィルタ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection system for teaching necessary observation points and observation directions for inspecting an article without providing the article to be inspected and also improving workability in the teaching work.例文帳に追加

対象とする物品を用意することなく、その物品を検査するために必要な観察ポイントや観察方向等をティーチングすることができ、かつ、そのティーチング作業の作業性を良好なものとすることのできるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a laminate which can automatically inspect the existence or the non-existence of voids and a metallic foreign substances, without visual observation regardless of the color tone of the laminate.例文帳に追加

積層板の色調を問わず、目視によらないでボイドや金属異物の有無を自動的に検査することができる積層板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve an excellent observation of light scattering system defects, light absorption system defects and the like of an optical member in a lighting system, an inspection system and a lighting method.例文帳に追加

照明装置、検査システム、および照明方法において、光学部材の光散乱系欠陥や光吸収系欠陥等を良好に観察することができるようにする。 - 特許庁

To provide a current mirror type biosensor by which a bio-related substance contained in a fluid for inspection is easily observed by optical observation equipment such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学観察機器によって被検査液体に含まれる生体関連物質を容易に観察することが可能なカレントミラー型バイオセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a technique for automatic supply of an observation sample to a microscope device that can be implemented at low cost to contribute to automation of small-quality sample inspection.例文帳に追加

少量の標本検査の自動化にも資するほどに廉価に実施することのできる、観察標本の顕微鏡装置への自動供給の手法を提供する。 - 特許庁

To provide a visible bar code inspection method and device that can inspect a visible bar code on a magnetic card for a pinhole shortly and precisely not through visual observation but with an inexpensive automated device.例文帳に追加

目視によらず、安価な自動化装置で、短時間に、高精度で、磁気カード上の可視バーコードのピンホールを検査できる可視バーコード検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In this inspection method, an observation image of the electrode pad 10a through a transparent mounting substrate 10 by the differential interference microscope 1 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る検査方法では、微分干渉顕微鏡１による、透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を電子画像データとして得る。 - 特許庁

To further improve measurement accuracy of tailing, as compared with hitherto by visual observation of display of an inspection object, by applying a test signal generation device, especially in the evaluation of tailing.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置に関し、特に尾引きの評価に適用して、検査対象の表示の目視により従来に比して尾引きの測定精度を向上する。 - 特許庁

To easily detect a protrusion in an edge part of a seal, to surely grasp fine uneven defects impossible to be grasped by visual observation, to eliminate dispersion in inspection, and to allow the accurate and reliable inspection, in the extrusion inspection to an inside of a fused thermoplastic material of the striped seal.例文帳に追加

横線シールの溶融熱可塑性材料の内部へのはみ出し検査において、シールの縁部の突起を容易に検出し、目視で不可能であった微小な凹凸欠陥も確実に捉えることができ、検査のバラツキがなく、正確且つ信頼性のある検査を可能にする品質検査方法及び品質検査装置を提供する。 - 特許庁

When a penetrated defect part 3 causing water leaks occurs in the surface 11 of the subject of inspection, a colored area 5 appears as the result of reaction of water conveyed by the penetrated defect part 3 with the leak inspection film 10, so that the defect can be readily detected through visual observation.例文帳に追加

検査物表面１１に水漏れを生じる貫通欠陥３が発生した場合、この貫通欠陥３より運ばれた水と水漏れ検査膜１０が反応すると発色領域５が生じるので目視で容易に検出できる。 - 特許庁

To provide an optical inspection device and its illumination method, without illuminating a wasteful domain of an observation visual field, even if observation magnification is changed, capable of preventing decline in the light quantity introduced to a detector for detecting a captured optical image.例文帳に追加

観察倍率を変更しても、観察視野外の無駄な領域を照明することなく、かつ捉えられた光学像を検出する検出器に導かれる光量の低下を防止することが可能な光学式検査装置及びその照明方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a charged particle beam device which conducts an inspection at high speed with high sensitivity by acquiring an observation image of high resolution and high contrast through efficiently detecting a secondary signal without increasing aberration of a primary electron beam, and by detecting defects from the observation image.例文帳に追加

一次電子線の収差を増やさずに二次信号を効率よく検出することにより高分解能でかつ高コントラストな観察像を取得し、観察像により欠陥を検出することにより検査速度を高速・高感度にする荷電粒子ビーム装置を得る。 - 特許庁

When a visual observation of the control equipment K fitted on the control panel C is required for the purpose of maintenance, inspection and the like, the pump control panel together with the container B is pulled up from the hand hole to enable such visual observation of the equipment K without necessity of removing the container B.例文帳に追加

保守点検等で制御盤本体Ｃに備わる制御機器Ｋを視認する必要が生じた場合には、ハンドホールから収納容器Ｂごとポンプ制御盤を引き上げれば、収納容器Ｂを外すことなく、制御機器Ｋを視認することができる。 - 特許庁

Any of a step, a continuation or a point can be selected as an observation form in the input section 82 and a recipe is registered according to set conditions to carry out inspection.例文帳に追加

入力部８２では、観察形態がステップ、連続、ポイントのいずれかを選択可能になっており、ここで設定された条件に従ってレシピが登録され、検査が実施されるようになる。 - 特許庁

To simplify operation of a designating means of moving direction by an operator when observation inside a specimen and a search of an inspection object are carried out by moving a display image by manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作により、表示画像を動かして、試料中の観察・検査対象物の探索を行なう際に、オペレータによる移動方向指定手段の操作を簡易化する。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope which enables a testee to easily carry out work without assuming a too much undue posture from the alignment of the testee to the end of observation and inspection.例文帳に追加

被検者の位置合わせから観察、検査終了までの間、検者があまり無理な姿勢をすること無く、容易に作業を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To prevent a lowering in the accuracy of pattern observation or inspection on the basis of information signals from a target via the irradiation of each charged particle beam, and an electron beam property measurement or the like.例文帳に追加

各荷電粒子ビーム照射によるターゲットからの情報信号に基づくパターン観察やパターン検査、あるいは電子ビーム性状測定などの精度が低下を防止する。 - 特許庁

In this X-ray inspection device equipped with a tilting/rotating mechanism, images from each rotation angle are enumeratively displayed, to facilitate and improve visual observation by the inspector.例文帳に追加

傾動／回動機構を備えたＸ線検査装置において、各回動角度からの画像を列挙表示することにより、検査者による目視観察を容易かつ良好なものとする。 - 特許庁

Since the condition of the frame 30 is automatically observed by means of the laser sensor 50 without spending time in visual observation, etc., it is possible to make inspection smoother, more rapid, and easier.例文帳に追加

フレーム３０の状態を時間をかけて目視で観察等するのではなく、レーザセンサ５０により機械的に観察するので、検査の円滑化、迅速化、容易化を図ることができる。 - 特許庁

To observe or inspect a sample by correctly selecting the desired position for observation or inspection and to prevent a filament from being cut in an electron beam biprism device.例文帳に追加

電子線バイプリズム装置において、試料の観察または検査したい場所を正確に選択して観察または検査できるようにし且つフィラメントの切断が発生しないようにすること。 - 特許庁

To supply a high-performance element inexpensively by solving a problem of domain loss in domain structure observation for an inspection of an optical element or substrate having a polarization inversion structure.例文帳に追加

分極反転構造を有する光学素子又は基板の検査に関して、分域構造観察における分域消失の問題を解決し、高性能素子を安価に供給する。 - 特許庁

A lifting body 36 is arranged via a lifting means 31 at a part facing visual observation inspection parts A and B, arranged on the side of a carrying passage in the carrying passage 1 of plate-like bodies Ga and Gb.例文帳に追加

板状体Ｇａ，Ｇｂの搬送経路１中で、搬送経路の側方に設けた目視検査部Ａ，Ｂに対向する部分に、昇降手段３１を介して昇降体３６を設けた。 - 特許庁

A fluorescent observation unit 19 observes fluorescent intensity, and the control unit 18 carries out fluorescent inspection to inspect that intensity within a predetermined intensity range and to judge whether that is a predetermined intensity or not.例文帳に追加

蛍光観測ユニット１９が、蛍光強度を観測し、制御ユニット１８が所定の強度範囲内か比較する、所定強度か否かを判断する蛍光検査を行う。 - 特許庁

To provide a failure analysis system for securing an observation sample corresponding to an arbitrary location that desires to be observed being decided by an inspection later in the failure analysis of a device.例文帳に追加

デバイスの不良解析において、後になって検査により確定される任意の観察所望場所に対応可能な観察試料を確保できる不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁

A coordinate difference information for each of defect inspection devices 41 and 42 is stored beforehand in an image observation SEM storage device 45, and the difference information is used to calibrate a defect position coordinate outputted from the devices 41 and 42 for a coordinate value as a coordinate value for the image observation SEM.例文帳に追加

像観察ＳＥＭの記憶装置４５に、予め欠陥検査装置４１，４２毎の座標誤差情報を記憶しておき、その誤差情報を用いて欠陥検出装置４１，４２から出力された欠陥位置座標を像観察ＳＥＭ用の座標値に校正する。 - 特許庁

An image observation screen creation part 4c previously creates an image observation screen which can display an image to be called later in a predetermined display area based upon the inspection order supplied from an image sorting determination part 4c and information representing a sorting destination of image data.例文帳に追加

画像観察画面作成部４ｃは、画像区分判定部４ｂから供給された検査オーダ、および画像データの区分先を表す情報に基づいて、後に呼び出す画像を、所定の表示領域に表示することができる画像観察画面を予め作成する。 - 特許庁

As to cleaning of the inspection device, a means to produce active species of oxygen is provided in a sample observation chamber, contamination remaining in the inside of the observation chamber is reduced, and a sample to be observed is prevented from being contaminated.例文帳に追加

検査装置清浄化は、試料観察室に酸素の活性種を生成する手段を設け、観察室内部に残留している汚染を低減し、汚染影響による観察分解能の低下が少ない形状観察や寸法測定を可能とするとともに、観察対象の試料の汚染を防止する。 - 特許庁

The region on the sample 4 that should be observed is scanned two-dimensionally with an electron beam from an electron gun 1, and a secondary electron image in the observation is displayed in a display device 34 by a signal based on a secondary electron from the observation region inspected at a secondary electron inspection device 31 by this scanning.例文帳に追加

電子銃１からの電子ビームで試料４上の観察すべき領域を二次元的に走査し、この走査により二次電子検出器３１で検出された観察領域からの二次電子に基づく信号により表示装置３４に観察領域の二次電子像を表示させる。 - 特許庁