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「inspection observation」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索
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inspection observationの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 226



例文

This device comprises a lighting part 13 for illuminating an inspection object 11, and an observation part 14 for observing the inspection object illuminated by the lighting part.例文帳に追加

被検物11を照明する照明部13と、この照明部によって照明された被検物を観察する観察部14とを備える。 - 特許庁

A change instruction part 15 judges whether or not an inspection result shown by inspection information stored in an inspection information storage part 12 satisfies predetermined judgment conditions for judging the necessity of the change of an observation process which should be selected as an observation object.例文帳に追加

変更指示部15は、検査情報記憶部12によって記憶される検査情報が示す検査結果が、観測対象にすべき観測工程の変更要否を判定するための予め定める判定条件を満たしているか否かを判定する。 - 特許庁

An openable/closable inspection lid 100 is fitted to the inspection hole 82, and the inspection lid 100 is provided with a confirmation aperture 107 allowing the visual observation of the liquid quantity of the liquid tank 44.例文帳に追加

この点検孔82に開閉可能な点検用リッド100を嵌め、この点検用リッド100に液体タンク44の液量を目視できる確認窓107を備えた。 - 特許庁

To provide proper illumination in observation or inspection utilizing each light, having a plurality of wavelength bands.例文帳に追加

複数の波長域の光を利用した観察若しくは検査において適切な照明を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an inspection apparatus of an organism-related substance for properly suppressing heat radiation from an observation window.例文帳に追加

観察窓からの放熱が良好に抑えられた生体関連物質の検査装置を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a surface inspection device capable of searching for a flat inspection range allowing high precision nondestructive measurement of surface roughness of a wafer with pattern without relying on visual observation.例文帳に追加

パターン付きウェハの表面粗さを高精度で非破壊に測定できる平坦な検査範囲を、目視によらず探索できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microdisection method and a device, capable of cutting off a sample observation/inspection region from a sample in matching with the purpose, and preventing fold backs of the sample observation/inspection region.例文帳に追加

レーザーマイクロジセクション方法及び装置において、試料観察・検査領域を試料から合目的に切り離すことができ、試料観察・検査領域の折り返しを阻止する前記方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of always inspecting a stable printed state regardless of an observation object.例文帳に追加

観察対象物によらず常に安定した印刷状態の検査ができる検査装置を提供することである。 - 特許庁

例文

The automatic focusing is performed on the basis of the amount of obtained steps, and an observation, measurement or inspection target sample is photographed.例文帳に追加

得られたステップ量に基づきオートフォーカスを実行し、観察,計測あるいは検査対象試料を撮像する。 - 特許庁

例文

To improve reliability of inspection of the amount of an oil without visual observation of the oil itself.例文帳に追加

オイル自体の目視によることなく、オイルの量に対する検査の信頼性を向上させることができること。 - 特許庁

To perform rapidly 100% inspection of appropriateness of a cross section in convex working by use of a polarization observation method.例文帳に追加

偏光観察法を用いてコンベックス加工による断面の適正化を迅速かつ全数検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a concrete inspection system and a concrete inspection method allowing satisfactory observation even when a concrete is under a wet condition, and allowing precise, simple and quick inspection in an original position.例文帳に追加

コンクリートが湿潤状態にあっても良好な観測を可能とし、原位置において精度良く簡便、かつ迅速に検査を可能とするコンクリート検査システムおよびコンクリート検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and its method capable of simultaneously performing macro inspection by visual observation and micro inspection with a microscope for a substrate on a stage part rotated to an optional inclination angle.例文帳に追加

任意の傾斜角度に回動させたステージ部上の基板に対し、目視によるマクロ検査と顕微鏡によるミクロ検査を同時に行える外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

Then reinspection is performed by the visual observation of the operator based on the inspection result data displayed on this display 15, and the inspection result data is corrected to be inputted with a data correction inputting means when the inspection result data of the inspection device 2 has an error.例文帳に追加

そして、このディスプレイ15に表示された検査結果データに基づいてオペレータが目視で再検査を行い、検査装置2の検査結果データに誤りがあったときに、該検査結果データをデータ修正入力手段により修正入力する。 - 特許庁

APPARATUS FOR OBSERVING STATE IN HIGH-PRESSURE VESSEL, ITS OBSERVATION METHOD, HIGH-PRESSURE SOLID REACTOR, HIGH-PRESSURE VESSEL INSPECTION APPARATUS, ITS INSPECTION METHOD, AND HIGH-PRESSURE REACTOR例文帳に追加

高圧容器内状態観察装置およびその観察方法、高圧固体反応装置、高圧容器検査装置およびその検査方法、ならびに高圧反応装置 - 特許庁

To provide an electronic endoscope which may be made finer in diameter, has excellent portability and allows observation with a desired number of pixels and pixel constitution according to an inspection condition and inspection purpose.例文帳に追加

細径化が可能で可搬性に優れ、検査状況や検査目的に応じて所望する画素数や画素構成で観察を行える電子内視鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a contamination and defect inspection/observation system that can suppress a great increase of a footprint and easily perform fast, high-resolution confirmation of inspection conditions by including a sample edge portion.例文帳に追加

フットプリントの大幅な増大を抑え、エッジ部分を含む高速・高分解能で、検査条件の確認を簡便に行える異物・欠陥検査・観察システムを提供する。 - 特許庁

To enable to inspect connectors of many various kinds simply with improved reliability as compared with conventional inspection by visual observation.例文帳に追加

従来の目視による検査よりも信頼性が向上でき、多品種のコネクタを簡単に検査できるようにする。 - 特許庁

The observation window 112 has a transparent plate 113 arranged near an opening on the upper face of the inspection container 101.例文帳に追加

観察窓112は、検査容器101の上面の開口の近くに配置される透明板113を有している。 - 特許庁

To provide an inspection reagent enabling the simple fluorescent observation of the glandular structure of intestinal mucosa, and to provide a use thereof.例文帳に追加

腸管粘膜の腺管構造を簡便に蛍光観察することを可能にする検査試薬及びその用途の提供。 - 特許庁

To extract desired observation points only and suppress damaging to the observation points to the minimum with relatively simple operations, when preparing a sample for inspection.例文帳に追加

検査用試料の作製において、所望の観察箇所のみを取り出すとともに、比較的簡易な作業でかつ可及的に観察箇所の損傷を抑えることができるようにする。 - 特許庁

Observation equipment 52 is inserted from the opening 46, and the tip 52A of the observation equipment 52 is projected from the other end 48A of the guide tube 48, facilitating inspection of the interior of the attic 50 from the indoor side using the observation equipment 52.例文帳に追加

開口部46から観察機器52を挿入して送り込み、ガイドチューブ48の他端48Aから観察機器52の先端52Aを突出させることで、観察機器52を用いて室内側から小屋裏50の内部を容易に点検できる。 - 特許庁

An observation precision verifying means 3 evaluates observation precision of the national composition radar rainfall amount data, using visual inspection, specification of a rainfall period, a selected ground rainfall amount observation point, an integrated rainfall amount image, index value analysis and a hyetograph, over the whole year.例文帳に追加

観測精度検証手段3は、全国合成レーダ雨量データの観測精度を年間を通した目視点検、降雨期間の特定、選定された地上雨量観測地点、累加雨量画像、指標値解析、ハイエトグラフを用いて評価する。 - 特許庁

To provide a fabric inspection method that can increase the efficiency of fabric inspection and decrease the burden of the fabric inspector by enabling the inspector to record the results of the inspection through the visual observation of the fabrics in no need of turning the eyes of the inspector away from the fabric being inspected fabric and provide an auxiliary system for the inspection machine for the fabric inspection.例文帳に追加

目視による検反の結果の記録を、目視中の検反部から一旦眼を反らすことなく行うことができるようにし、従って、検反操作の効率化と検反作業者の負担軽減を図ることのできる検反方法を提供すること、およびそのための検反装置用補助システムを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a device for achieving accurate observation, inspection, or measurement of a contact hole with a large aspect ratio.例文帳に追加

アスペクト比の大きなコンタクトホールの観察,検査、或いは測定を高精度に実現ならしめる方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.例文帳に追加

目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To ensure an appropriate state observation of equipment and an efficient inspection in a plant monitoring system and monitoring method.例文帳に追加

プラント監視システム及びその監視方法において、機器の適切な状態把握を行なうと共に、点検作業を効率化すること。 - 特許庁

The surface inspection device detaches at least one of polarizing elements from a light path to bring the same to an open observation state.例文帳に追加

一方、本発明の表面検査装置は、偏光素子の少なくとも一方を光路から外してオープン観察状態とする。 - 特許庁

Since merely observation using X-rays from a surface is required, a non-destructive inspection for dislocation amount is possible in a manufacturing process.例文帳に追加

また、表面よりX線にてマークを観察すれば良いので、製造工程内での位置ズレ量の非破壊検査が可能となる。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM, INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, OBSERVATION DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING MICRO DEVICE例文帳に追加

対物光学系の製造方法、検査装置及びその製造方法、観察装置、露光装置、並びにマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

To improve inspection accuracy and shorten inspection time by determining the presence or absence of recessions and protrusions in a road surface without having to depend on workmen's visual observation and quantitatively measuring their sizes.例文帳に追加

作業者の目視に頼ることなく路面の凹凸の有無の判定と、その大きさの定量的な測定を行い、検査精度の向上と、検査時間の短縮化とを図る。 - 特許庁

To provide a microreactor container for a blood test capable of reducing the erroneous judgment caused by the visual inspection due to observation with the naked eye and enabling more accurate inspection.例文帳に追加

肉眼観察による目視に起因する誤判定を低減することができ、より正確な検査が可能である血液検査用マイクロ反応容器を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of performing inspection on the internal structural members of large-scale apparatuses by visual observation from the outside, even when narrow parts of the large-scale apparatuses have complex shapes.例文帳に追加

大型装置の狭隘部が複雑な形状をしている場合であっても、大型装置の内部構造部材を外部から目視検査できる検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an observation condition determination support apparatus that enhances the accuracy for classification of defects based on the inspection data about the defects of a semiconductor device detected by an inspection apparatus.例文帳に追加

検査装置で検出された半導体装置の欠陥に関する検査データに基づいて、欠陥の分類精度の向上が可能な観察条件決定支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for an electronic equipment capable of recording operation condition information without depending on visual observation, even when a communication cable is not connected to the electronic equipment, in an inspection process for the electronic equipment.例文帳に追加

電子機器の検査工程において、電子機器に通信ケーブルを接続しなくとも、目視に依らず動作状態情報の記録が可能である電子機器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection method of a cast piece, capable of increasing lift-off and capable of inspecting cracks of a cast piece in a high temperature state, immediately after casting without having to widen the observation range, and to provide a flaw inspection device therefor.例文帳に追加

リフトオフを大きくでき、鋳片の割れを鋳造直後の高温の状態で検査し、且つ観察範囲を広げることなく検査する方法とその装置を提供する。 - 特許庁

Information (offset information) about distribution of a coordinate system offset between a defect inspection apparatus and a SEM apparatus at an observation location on a wafer is registered in the SEM apparatus as a defect observation apparatus.例文帳に追加

欠陥観察装置であるSEM装置には、欠陥検査装置と当該SEM装置との間の座標系のずれの、ウェハ上の観察位置に対する分布に関する情報(ずれ情報)が登録される。 - 特許庁

This endoscope is constituted by arranging a first lens 12 for observation at the distal end 3 and projectably and retractably disposing the abutment member 39 abutting on the periphery of the inspection section at the periphery of the objective lens for observation.例文帳に追加

本発明は、観察用第1レンズ12を先端部3に配置し、この観察用対物レンズ周辺に検査部周辺と当接する当接部材39を突没可能に配設した内視鏡である。 - 特許庁

Especially, if an electron beam is used as the primary rays, the SEM observation-inspection of the sample in a live state can be well performed.例文帳に追加

特に、一次線として電子線を用いれば、生きた状態での試料のSEM観察・検査を良好に行うことができる。 - 特許庁

To suppress thermal influence on tunnel lining in case of a fire while allowing visual observation of tunnel lining for which maintenance and inspection are indispensable.例文帳に追加

保守点検が不可欠なトンネル覆工の目視観察が可能で、かつ、火災時におけるトンネル覆工に対する熱影響を抑える。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR POSITIONING PRINTED CIRCUIT BOARD, DEVICE FOR CONNECTING PRINTED CIRCUIT BOARD AND DEVICE FOR OBSERVATION/INSPECTION OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路基板の位置決め装置及びその方法、並びにプリント回路基板の接続装置、並びにプリント回路基板の観察・検査装置 - 特許庁

A receiver 4 observes observation signals respectively, while scanning on the surface of an inspection object 2 in the x-direction and in the y-direction.例文帳に追加

受波子4は、検査対象1の表面上をx方向及びy方向に走査しながら、観測信号をそれぞれ観測する。 - 特許庁

ELECTRON DETECTING DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROCESSING, OBSERVATION, INSPECTION METHODS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

電子検出装置,荷電粒子ビーム装置,半導体集積回路装置、および半導体集積回路装置の加工,観察,検査方法 - 特許庁

By joining and installing this auxiliary device for water meter inspection with an observation pipe to an existing water meter, it is possible to perform efficient meter inspection in a comfortable posture while on one's feet by the tall observation pipe combined with bright illumination in the device and eliminate snow removal work in snowy areas.例文帳に追加

既設の量水器に、覗きハイプの付いた、本発明の水道メーター検針補助器を接合設置すれば、高い覗きパイプは、器内の明るい照明と相俟って起立のままの楽な姿勢での効率的な検針を可能にし、積雪地域での除雪労働よりも開放した。 - 特許庁

When the target pattern 103 of an inspection object is detected from an image 101 of an observation field of view of the inspection object, an image 102 of an observation field of view broader than that of the inspection object is previously obtained, and the target pattern is detected from the obtained image, and then the target pattern is inspected in a specified resolution.例文帳に追加

検査対象の観察視野の画像101より検査対象の目的とするパターン103を検出する際、あらかじめ、検査対象の観察視野よりも広くした観察視野の画像102を取得し、取得した画像から目的とするパターンを検出し、目的とするパターンを指定された解像度にて検査することを特徴とする。 - 特許庁

By adjusting the respective positions of the curvature adjusting plates 23-27, the curved surface state of the inspection target film 35 can be changed and the observation of the inspection target film 35 in arbitrary curvature can be performed.例文帳に追加

曲率調整板23〜27の夫々の位置を調整することで、検査対象フイルム35の曲面状態を変化させることができ、任意の曲率でのフイルム観察が可能となる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method capable of reducing the influence of noises during observation of signals of an IC package and also during normal inspection.例文帳に追加

ICパッケージの信号観測を行う際にノイズの影響を受けにくくすると共に、通常の検査を行う際にもノイズの影響を受けにくくできる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a board inspection device by which detailed observation of an edge of a board can be made without increasing a magnification of an objective lens.例文帳に追加

対物レンズの倍率を上げることなく、基板端部を詳細に観察することができる基板検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

To radiographically inspect an inspection object that cannot be freely moved by freely setting the magnification and perspective direction of an observation part with high operability.例文帳に追加

自由に動かすことのできない被検体に対し、観察部分の拡大率と透視方向を自由に操作性よく設定して透視する。 - 特許庁




  
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