「ion probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MEASURING METHOD FOR ION TEMPERATURE AND FLOW VELOCITY BY DOUBLE PROBE例文帳に追加

ダブルプローブによるイオン温度並びに流速の測定方法 - 特許庁

The probe device reduces adverse effect on the sample caused by sputter particles generated by ion beam irradiation to the probe, debris of the probe, and the ion beams passing through the vicinity of the probe.例文帳に追加

本発明により、プローブへのイオンビーム照射により発生したスパッタ粒子，プローブの破片，プローブの近傍を通過したイオンビームなどによる試料などへの悪影響を低減できる。 - 特許庁

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁

In a probe device having an ion beam system for irradiating an ion beam, and a probe control device for driving the probe arranged in a vacuum sample chamber, a zone for processing the probe with ion beams is arranged in the sample chamber, and sputter particles of the probe and ion beams passing through in the vicinity of the probe are captured in the zone.例文帳に追加

本発明は、イオンビームを照射できるイオンビーム装置と、真空試料室内に配置されたプローブを駆動するプローブ制御装置と、を備えたプローブ装置において、プローブをイオンビームで加工するための領域を試料室内に設け、プローブのスパッタ粒子やプローブ近傍を通過したイオンビームを当該領域に捕捉させることに関する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

Preferably, an oxide film is removed from the tip end of the probe without exposing the probe in the atmosphere through dry processing using an ion source or the like, and the probe is housed in the probe housing container.例文帳に追加

好ましくは、大気暴露することなく、イオン源等を用いたドライ処理により探針先端部の酸化膜を除去し、探針を探針収納容器に収容する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

A sensor probe and a standard probe are arranged in the layer of the ion-exchange material in a vertical direction and mutually shifted.例文帳に追加

センサプローブおよび基準プローブは、イオン交換材の層内に、垂直方向に相互にずらして配置される。 - 特許庁

The probe 18' is brought under the optical axis of the ion beam, by means of the driving mechanism 19.例文帳に追加

駆動機構１９によりプローブ１８′をイオンビーム光軸下に持って来る。 - 特許庁

To provide a florescent probe capable of specifically capturing a potassium ion to measure the potassium ion with high sensitivity even under coexistence of a sodium ion.例文帳に追加

ナトリウムイオンの共存下においてもカリウムイオンを特異的に捕捉して高感度にカリウムイオンを測定することができる蛍光プローブを提供する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

Identification of the position of the probe tip is easily identified, by synchronizing the incoming current of a carrying probe, with ion beam scanning and turning into data.例文帳に追加

特に、搬送用プローブの流入電流をイオンビーム走査と同期させてデータ化することで、プローブ先端位置の同定を容易にする。 - 特許庁

A minus ion generator is equipped inside the probe 64 and a minus ion discharging port 6 to discharge minus ions on the contact element 66.例文帳に追加

プローブ６４内にマイナスイオン発生装置を内装し、この接触子６６にマイナスイオンを放出するイオン放出口６７を具備する。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for which the operation work is simple and moreover ion detection efficiency is satisfactory.例文帳に追加

操作作業が簡単で、しかもイオン検出効率の良い走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The groove 30, having a surface 30M perpendicular to a central axis O of the probe, is formed in a part near the tip of the probe 18' by means of the focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームにより、プローブ１８′の先端に近い部分に、プローブ中心軸Ｏに垂直な面３０Ｍを有する溝３０を作る。 - 特許庁

This magnesium ion/calcium ion simultaneous measuring probe comprises an organic pigment compound having a magnesium ion bonding region to be coordinately bonded to magnesium ions and a calcium ion bonding region to be coordinately bonded to calcium ions.例文帳に追加

マグネシウムイオン及びカルシウムイオン同時測定用プローブは、マグネシウムイオンと配位結合するマグネシウムイオン結合領域と、カルシウムイオンと配位結合するカルシウムイオン結合領域とを有する有機色素化合物から成る。 - 特許庁

To provide an ion scattering spectroscopy measuring method which can appropriately determine irradiation quantity of probe particles.例文帳に追加

プローブ粒子の照射量を適切に決定できるイオン散乱分光測定方法を提供する。 - 特許庁

The micro sample prepared by ion beam 104 processing is picked out with a probe 28, a voltage is impressed, under this condition, between the probe 128 and the micro sample holder 138 by a probe electrification circuit 139.例文帳に追加

イオンビーム１０４加工により作製した微小試料をプローブ１２８で摘出し、その状態でプローブ通電回路１３９によりプローブ１２８と微小試料ホルダ１３８間に電圧を印加する。 - 特許庁

In the focused ion beam machining device, the probe is provided which has a long life and can be shape processed in accordance with the purpose of an extracted sample in the focused ion beam machining device by forming the tip of the probe device 9 for manipulating a sample 7 into a multi-step thin wire probe 11, and the method of manufacturing the probe is provided.例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置において、試料７をマニピュレート操作するためのプローブ装置９の先端を多段の細線プローブ１１とすることで、長寿命化、並びに集束イオンビーム加工装置内での抽出試料目的に合わせた形状加工ができるプローブと製造方法を提供する。 - 特許庁

Diamond powder 3 that has a slower ion sputter speed than a probe material is allowed to adhere to the material of a probe for a scanning probe microscope, and the material of the probe is subjected to ion sputtering while the diamond powder 3 adheres until the least the diamond powder 3 disappears, thus forming a needle-shaped projection 6.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の材料に、この探針材料よりイオンスパッタ速度が遅いダイアモンド粉末３を付着させ、このダイアモンド粉末３が付着した状態で、このダイアモンド粉末３が無くなるまで、或いはそれ以上に、前記探針材料をイオンスパッタすることにより、針状突起６を形成する。 - 特許庁

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image.例文帳に追加

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁

The probe is connected to the compensation electrode via an ion in a flame band as a medium, and the electric circuit 50 is closed.例文帳に追加

探針及び補償極は、火炎帯のイオンを媒介として電気的に接続され、電気回路(50)は閉成する。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

A glass probe, whose tip has a curved face, is mounted on a driving mechanism 19, and the manipulator consisting of the probe and the driving mechanism 19 is mounted on a processing chamber 15 for focused ion beam.例文帳に追加

先端が曲面状のガラス製プローブを駆動機構１９に取り付け、プローブと駆動機構１９から成るマニピュレータを集束イオンビームの加工室１５に取り付ける。 - 特許庁

After finishing the blowing of the ozone-containing air, a negative ion probe 1 of the beautification apparatus 10 is applied to the pigmented part and air containing negative ion is blown to the part.例文帳に追加

次いで、オゾンを含むエアーの吹き付け後、さらに美容装置１０に具備されたマイナスイオンプローブ１を色素沈着発生部位に当てながらマイナスイオンを含むエアーを吹き付ける。 - 特許庁

For example, an interaction between the surface of the ion exchanger and a cantilever that is a probe of an atomic force microscope is measured, and the charge state of the ion exchanger is checked, thereby evaluating the capability of the ion exchanger.例文帳に追加

例えば、原子間力顕微鏡の探針であるカンチレバーとイオン交換体の表面との相互作用を測定し、イオン交換体の電荷の状態を調べることにより、イオン交換体の性能評価を行う。 - 特許庁

To provide an ion current density measuring method and a device for measuring ion current density indicating the amount of ion irradiation to a treated article in plasma treatment, along with plasma density and an electron temperature using a probe measuring instrument without depending on an ion current measuring instrument.例文帳に追加

プラズマ処理において被処理物品へのイオン照射量を示すイオン電流密度を、イオン電流計測器に頼ることなく、プローブ計測器を利用して、プラズマ密度や電子温度と併せて計測できるイオン電流密度計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This secondary copper ion measuring probe comprises a specific sulfur-containing carbonyl compound shown by formula [VI].例文帳に追加

下記式[VI]で示されるような、特定のイオウ含有カルボニル化合物から成る第二銅イオン測定用プローブを提供する。 - 特許庁

This salinity sensor is built directly in a container for storing foods and a solution, and a measuring error of a salinity concentration from being generated by releasing optionally an ion accumulated in a probe when measuring the salinity concentration, so as to prevent the conductivity of salinity ion from getting low by the ion accumulation onto the probe in accompaniment to the lapse of measuring time when measuring the salinity concentration.例文帳に追加

塩度センサーを食品や溶液を収容する容器に直接に内蔵すると共に、塩分濃度測定時測定時間が経過することに伴ってプローブ(probe)へのイオン蓄積によって塩分イオンの伝導度が低下することを防止するため、塩分濃度測定時プローブに蓄積されるイオンを任意に放電(release)させることによって塩分濃度の測定誤差が発生することを防止する。 - 特許庁

A convergent ion beam processing apparatus provides a probe for the convergent ion beam processing apparatus capable of freely extracting a specific portion of a wide region and having comb-like distal ends 13 branched into n ways(n≥2) with a branched interval of 20 to 200 μm within the convergent ion beam processing apparatus, and a method of easily manufacturing the probe.例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置内において、ｎ本（ｎ≧２）に分岐した櫛形状の先端部１３を有し、その分岐間隔が２０〜２００μｍと幅広く、広い領域の特定部位を自在に抽出することができる集束イオンビーム加工装置用プローブとその簡便なプローブ製造方法を提供する。 - 特許庁

A fine ion passage hole 7 being provided at the probe 6 is located on the center of the opening of the fixed stage 4, and the diameter of the ion passage hole 7 is small, namely equal to or less than 10 micron.例文帳に追加

この探針６に設けられた微細なイオン通過孔７は、前記固定ステージ４の開孔中心上に位置しており、イオン通過孔７の直径は１０ミクロン以下と小さい。 - 特許庁

Information on the height of the probe from the surface of the sample is obtained by detecting the shadow 54 of the probe, which occurs immediately before being brought into contact with the sample or from changes in the relative locations of a probe image and a sample image formed when oblique irradiation with an ion beam is conducted.例文帳に追加

プローブの試料表面からの高さ情報を、試料への接触直前に発生するプローブ影５４の検出、あるいはイオンビームを斜照射するとき形成されるプローブ像と試料像との相対位置の変化から得る。 - 特許庁

This prober device includes a cleaning chamber 5 including a mechanism for cleaning a probe of a probe unit 4 of the prober device by dry processing using ion or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13, and a gate valve 6) for confirming electrical measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.例文帳に追加

真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁

A needle-like exclusive probe is formed in the tip of the extraction electrode for the SAP by a CVD microworking technique using a converged ion beam or the like, in order to enhance precision as the probe for the STM.例文帳に追加

ＳＡＰの引出電極の先端はＳＴＭの探針としての精度を向上させるために集束イオンビームを用いたＣＶＤ微細加工技術等により針状の専用プローブを形成する。 - 特許庁

The ion current detector 1 includes a probe part 10, a compensation electrode 40, and an electric circuit 50 including an electric power source 51 and a current measuring part 52, and is constituted to bring a probe 11 of the prove part into contact with a flame F.例文帳に追加

イオン電流検出装置(1)は、プローブ部(10)、補償極(40)、電源(51)及び電流測定部(52)を含む電気回路(50)を備え、プローブ部の探針(11)を火炎(F)に接触させるように構成される。 - 特許庁

To provide a secondary copper ion measuring probe having high selectivity to secondary copper ions, and capable of measuring secondary copper ions with high sensitivity, and to provide a measuring method of secondary copper ions using the probe.例文帳に追加

第二銅イオンに対する選択性が高く、第二銅イオンを高感度に測定することができる第二銅イオン測定用プローブ及びそれを用いた第二銅イオンの測定方法を提供すること。 - 特許庁

A root side with respect to the joining point for the probe 128 is cut thereafter by an ion beam 104, and the micro sample is fixed thereby to the sample holder 138 via the tip of the probe 128.例文帳に追加

次にプローブ１２８の接合点よりも根元側をイオンビーム１０４で切断することにより、微小試料はプローブ１２８の先端を介して微小試料ホルダ１３８への固定が完了する。 - 特許庁

An electrospray ion source having an input connected by fluidity to the probe receives the analyte and generates ions from the analyte.例文帳に追加

プローブに流動連通する投入口を有するエレクトロスプレーイオン源が、被分析物を受けて、被分析物からイオンを発生させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope provided with a mean measuring a dose of particle beam such as electron beam and ion beam.例文帳に追加

電子ビームやイオンビーム等の粒子線の粒子線量を測定する手段を備えた走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Electrons optically released from negative ion in the plasma 10 by irradiating are collected by the probe 3, and a density of the negative ion is measured by measuring the collected optically released electron current.例文帳に追加

照射によってプラズマ１０中の負イオンから光離脱した電子を、プローブ３によって捕集し、捕集した光離脱電子電流を計測することによって、負イオンの密度を計測する。 - 特許庁

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.例文帳に追加

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁

To provide a zinc emission probe and a light emitter having excellent long-term stability, synthesizable comparatively easily, and detecting only zinc ion selectively.例文帳に追加

合成が比較的容易であり、長期安定性が良好であり、亜鉛イオンのみを選択的に検知可能な亜鉛発光プローブ及び発光体を提供する。 - 特許庁

A voltage probe 7 detects a voltage VB of a battery set 1 consisting of lithium ion secondary batteries for backing up a rectifier 2 (a part of a power supply).例文帳に追加

電圧プローブ７は、整流装置２（電源装置の一部）をバックアップするためのリチウムイオン二次電池からなる組電池１の電圧ＶＢを検出する。 - 特許庁

The height of the defect being machined by electron beam or gas ion beam etching is measured with one probe in the independently actuatable probes to detect an end point.例文帳に追加

独立に駆動できる探針のうち1本の探針で、電子ビームまたはガスイオンビームエッチングで加工中の欠陥の高さを測定して終点検出を行う。 - 特許庁