| 意味 | 例文 (999件) |
scan inとは 意味・読み方・使い方
追加できません
(登録数上限)
scan inの |
|
「scan in」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 3579件
The plurality of flip-flops generate scan chains in scan test.例文帳に追加
複数のフリップフロップは、スキャンテスト時にスキャンチェーンを形成する。 - 特許庁
SCAN EXPOSURE APPARATUS AND METHOD FOR CONVEYING SUBSTRATE IN SCAN EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
スキャン露光装置およびスキャン露光装置の基板搬送方法 - 特許庁
METHOD FOR PRESERVING SCAN DATA IN PC例文帳に追加
スキャンデータのPCへの保存方法 - 特許庁
scan (game in the forest) with binoculars発音を聞く 例文帳に追加
双眼鏡での走査(森でのゲーム) - 日本語WordNet
The scan chain circuit (20) takes in test data (S1-1, 2, ...) contained in scan-in data (SI) to perform scan test.例文帳に追加
スキャンチェーン回路(20)は、スキャンインデータ(SI)に含まれるテストデータ(S1−1,2…)を取り込んでスキャンテストを行う。 - 特許庁
Scan data are stored in a data storage circuit in a RAM or a hard macro core, and the scan data are shifted in a scan chain, in the shift of the scan test.例文帳に追加
これを防ぐため、制御用スキャンFFや観測用スキャンFFを追加するとチップ面積の増加やハードマクロ接続部分の速度性能低下を招く。 - 特許庁
To provide a dot sequential scan similar to a raster scan even in a projection display with a radial scan.例文帳に追加
ラジアルスキャンによる投影表示においても、ラスタースキャンと同様の点順次走査を可能とする。 - 特許庁
-
履歴機能過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断診断回数が
増える! -
マイ単語帳便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳文章で
単語を理解! -
「scan in」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 3579件
In a test mode, the flip-flops constitute a scan chain, and scan data is input to the scan chain.例文帳に追加
テストモード時、フリップフロップはスキャンチェーンを構成し、そのスキャンチェーンにはスキャンデータが入力される。 - 特許庁
The scan path control circuit (5) considers the scan paths included in the scan path route as selective scan paths, considers the scan paths excluded from the scan path route as nonselective scan paths, and inhibits the nonselective scan paths from being supplied with a clock.例文帳に追加
ここにおいて、スキャンパス制御回路(5)は、スキャンパス経路に含まれるスキャンパスを選択スキャンパスとし、スキャンパス経路に含まれないスキャンパスを非選択スキャンパスとし、非選択スキャンパスに対するクロックの供給を禁止する。 - 特許庁
A plasma display apparatus includes a plasma display panel including a scan electrode and a data electrode, and a scan driver for supplying a scan bias voltage and a scan voltage to the scan electrode so that magnitudes of the scan bias voltage and the scan voltage supplied in an address period of a first subfield are different from magnitudes of the scan bias voltage and the scan voltage supplied in an address period of a second subfield, respectively.例文帳に追加
本発明は、スキャン電極及びデータ電極を含むプラズマディスプレイパネルと、前記スキャン電極にスキャンバイアス電圧及びスキャン電圧を第1サブフィールドと第2サブフィールドのアドレス期間に互いに異なる大きさで印加するスキャン駆動部と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁
SCAN PATH BUILT-IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
スキャンパス内蔵半導体集積回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WITH BUILT-IN CIRCUIT CONTAINING SCAN PATHS例文帳に追加
スキャンパス内蔵の半導体集積回路 - 特許庁
A B_0 magnetic field map for each scan slice of a scan volume is obtained from the B_0 magnetic field distribution in the scan volume.例文帳に追加
走査空間のB_0磁場分布から、走査空間の各々の走査スライスについてのB_0磁場マップを得る。 - 特許庁
| 意味 | 例文 (999件) |
|
|
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
「scan in」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|